一種用於三維重建系統的標定方法
2023-04-29 20:22:56 1
一種用於三維重建系統的標定方法
【專利摘要】本發明公開了一種標定方法，獲取標定圖像在光投射設備底片上的位置坐標；記錄光投射設備在第一焦距和第二焦距下投射的投影圖像，形成第一記錄圖像及第二記錄圖像，分析第一記錄圖像及第二記錄圖像，並計算光投射設備的光心坐標及標定圖像的坐標；基於光投射設備在第一位置及第二位置時不同的投影圖像大小及光投射設備與投影屏的相對距離，計算所述光投射設備的焦距；將光投射設備固定在第二位置，基於投影圖像及記錄圖像計算所述光感應設備的焦距。採用上述技術方案後，可以以簡單的方式精確地標定光投影設備及光感應設備的參數值。
【專利說明】一種用於三維重建系統的標定方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及光學三維測量領域，尤其涉及一種用於三維重建系統的標定方法。
【背景技術】
[0002]隨著三維列印技術的發展，快速並且精確地獲取物體的三維數據並進行三維建模具有重要的現實意義和研究價值。通常，人們獲取物體三維模型的方式有三種:第一種方式是利用建模軟體，例如AutoCAD等軟體構造出接近真實物體的三維模型；第二種方式是利用對場景實拍的一系列圖像或者視頻來重建三維模型；而第三種方式則是通過三維掃描設備對物體表面進行三維掃描以獲取物體的三維信息從而重建三維模型。
[0003]其中，第三種方式即三維掃描的方式，相比前兩種方式，能夠獲得比較精確的三維數據，適用於有一定精度要求的建模應用中，如複雜機械零件，文物等。而且三維掃描的方式除了精度高的優點外，另一個優點是使用比較簡單方便，並且建模所需時間很少。而三維掃描的方式按照測距探頭不同，基本上可以分為兩個大類:接觸式掃描和非接觸式掃描。接觸式掃描利用接觸式探頭，在測量時探頭需要和被測物體接觸，雖然測量精度非常高，而且測量時完全不受物體表面反光、色彩等屬性的影響，但是由於測距探頭要接觸被測物體表面且要產生一定的壓力，所以會對被測物體造成一定程度的損傷，而且掃描時需要逐點測量，速度較慢，獲取效率難以忍受；且由於測距探頭需要接觸被測物體並產生壓力，因此對被測物體的材質有一定的要求，只能測量表面材質比較硬的物體。
[0004]而非接觸式掃描採用光投射裝置將雷射或者可見光投射到被測物體表面，然後利用光感應設備對發射的光進行感光，再利用各種理論和技術計算出被測物體表面的深度信息，從而無需與被測物體直接接觸，所以不會直接對被測物體產生物理損傷。這種非接觸式掃描方式也稱為光學三維測量，其在工業自動檢測、產品質量控制、逆向設計、生物醫學、三維文物數字信息記錄、人體測量等眾多領域中具有廣泛應用。
[0005]以上非接觸式掃描方式實現時，為了精確測量物體表面各點的位置並在後續的三維重建中建模，需要對光投射設備和光感應設備的內部和外部參數進行標定，並將標定後的各參數引用至後續三維重建方法中。因此，標定結果的準確性直接影響到三維重建模型與目標物體的一致性。故，需要一種具有高精度、且快速有效的標定方法，以測量準確的外部及內部參數。
【發明內容】
[0006]本發明的目的在於提供一種用於三維重建系統的標定方法，以簡單的方式精確地標定光投影設備及光感應設備的參數值。
[0007]本發明公開了一種用於三維重建系統的標定方法，所述三維重建系統包括光感應設備、光投射設備及一產生標定圖像的控制設備，所述光投射設備投影所述標定圖像形成投影圖像，所述光感應設備記錄所述投影圖像以形成記錄圖像；所述標定方法包括以下步驟:S1:獲取所述標定圖像在所述光投射設備的底片上的位置坐標；S2:光感應設備分別記錄光投射設備在第一焦距Fl和第二焦距F2下投射的投影圖像，形成第一投影圖像及第二投影圖像，所述光感應設備分別記錄所述第一投影圖像及第二投影圖像形成第一記錄圖像及第二記錄圖像；S3:所述控制設備分析所述第一記錄圖像及第二記錄圖像，並計算所述光投射設備的光心的坐標。
[0008]優選地，所述標定方法還包括以下步驟:S4:移動所述光投射設備，使所述光投射設備處於第一位置及第二位置；S5:基於所述光投射設備在所述第一位置及第二位置時不同的投影圖像大小及所述光投射設備與投影屏的相對距離，計算所述光投射設備的焦距；
S6:將所述光投射設備固定在所述第二位置，基於所述投影圖像及所述記錄圖像計算所述光感應設備的焦距。
[0009]優選地，步驟S3中，還包括步驟S3-1:所述控制設備基於所述標誌圖像上的同一點在所述第一記錄圖像及第二記錄圖像的連線通過所述光投射設備的光心和等比原理，計算所述光投射設備的光心在光投射底片平面的坐標。
[0010]優選地，步驟S3中，還包括步驟S3-2:以所述光投射設備的光心為原點，以所述光投射設備的底片平面為XY平面形成第一坐標系，計算所述標定圖像在所述第一坐標系下的坐標。
[0011]優選地，步驟S3中，還包括步驟S3-3:調整所述光感應設備的焦距並保持所述投影圖像不變，所述控制設備計算所述光感應設備的光心在光投射底片平面的坐標。
[0012]優選地，步驟S3中，還包括步驟S3-4:以所述光感應設備的光心為原點，以所述光感應設備的底片平面為XY平面形成第二坐標系，計算所述標定圖像所對應的記錄圖像在所述第二坐標系下的坐標。
[0013]優選地，步驟S6中，基於所述光感應設備的焦點、所述投影圖像的兩投影點構成的三角形及所述光感應設備的焦點、所述記錄圖像上對應所述兩投影點的兩記錄點構成的三角形相似，計算所述光感應設備的焦距。
[0014]優選地，還包括如下步驟:步驟SI，:將所述光投射設備的焦點及光感應設備的焦點相連，形成一 Z軸，並以距離所述光投射設備的焦點的距離為N並垂直於所述Z軸的平面形成為一 X軸及Y軸構成的XY平面，所述X軸、Y軸、Z軸形成一第三坐標系；步驟S2』:基於所述標定圖像的每兩點在所述第三坐標系下的投影連線經過所述第三坐標系的原點，標定所述光感應設備及所述光投射設備在第三坐標系下的外部參數；步驟S3』:根據計算出的外部參數計算所述光投射設備的焦點及光感應設備的焦點間的距離L。
[0015]優選地，所述外部參數包括:以所述光投射設備的底片平面為XY平面形成的第一坐標系的X軸與所述第三坐標系的X軸及Z軸形成的XZ平面的夾角A ;所述第一坐標系的Y軸與所述XZ平面的夾角B ;所述第一坐標系的Z軸與所述第三坐標系的Z軸的夾角C ；
[0016]以所述光感應設備的底片平面為XY平面形成的第二坐標系的X軸與所述XZ平面的夾角A』;所述第二坐標系的Y軸與所述XZ平面的夾角B』;所述第二坐標系的Z軸與所述第三坐標系的Z軸的夾角C』。
[0017]優選地，步驟S2』中，還包括:步驟S2』 -1:設定一組外部參數值，調節其中的第一參數，計算所述第一參數的最優參數；步驟S2』 -2:調節所述第一參數及所述外部參數的第二參數，計算所述第二參數的最優參數；步驟S2』 -3:通過依次遞歸循環，計算每一所述外部參數的最優參數。[0018]採用上述技術方案後，對三維重建系統內的光投射設備及光感應設備的內部參數及外部參數的標定過程及及結果更加精確，並具有以下有益效果:I)定標過程簡單，避免使用高價的定標板；2)精度高，誤差小；3)操作簡單，避免複雜的數學計算；4)系統操作簡單方便，計算速度快，並且成本低。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0019]圖1為一優選實施例中標定圖像示意圖；
[0020]圖2為一優選實施例中光投射設備在第一焦距Fl下，光感應設備記錄下的記錄圖像；
[0021]圖3為一優選實施例中光投射設備在第一焦距F2下，光感應設備記錄下的記錄圖像；
[0022]圖4為光投射設備焦距的計算原理圖。
【具體實施方式】
[0023]以下結合附圖與具體實施例進一步闡述本發明的優點。
[0024]—般而言，三維重建系統包括光投射設備及光感應設備。工作時，由光投射設備產生一光柵圖案，並將該圖案投影至目標物體。由於目標物體表面並不平整，投影在目標物體上的圖案與原圖案不相同，由此，在目標物體上形成了一投影圖案。例如，當物體表面具有突起部分時，投影在突起部分的圖案由於光的反射原理將會比投影在平整表面的圖案亮度更高，同理，當物體表面具有凹陷部分時，投影在凹陷部分的圖案將會比投影在平整表面的圖案亮度更低。利用上述亮度差異，光感應設備記錄投影圖案，所記錄的投影圖案包含了目標物體的三維信息。如果光投射設備和光感應設備的內部參數和外部參數確定的話，利用光投射設備所產生的光柵圖案上每一點的坐標值和光感應設備所記錄的投影圖案的每一點的坐標值可以計算目標物體上的每一點的坐標值。因此，為了進行三維重建，需要精確標定光投射設備和光感應設備的內部參數和外部參數。
[0025]其中，內部參數是指光投射設備和光感應設備各自本身的光學參數，例如焦距、光心位置等，而外部參數則代表光投射設備和光感應設備的三維位置關係，例如光投射設備的底片成像坐標系和光感應設備的底片成像坐標系和之間的關係。
[0026]根據本發明的一種【具體實施方式】，由和光投射設備相連的控制設備可產生一標定圖像，一優選實施例中，標定圖像由多個標誌點組成，採用「點」狀的標定圖像，可方便使用者在確定標定圖像在測量過程中的參數變化。一般來說，標誌點的個數至少為六個，目的在於後續建立方程計算時，六個標誌點的參數信息是必要的。最優選的實施例中，選用了 9個標誌點，使成形的標定圖像中心點明確，使用者標定時更容易對應找到特徵標定點的位置改變。
[0027]其中，圖1為最優選實施例中控制設備產生的初始標定圖像。該最優選實施例中，上述9個標誌點在光投射設備的底片平面的位置由使用者設定。開始執行標定操作後，調整光投射設備的焦距為第一焦距Fl及第二焦距F2，光感應設備記錄下光投射設備分別在這兩個焦距下投射到投影屏的投影圖像，上述第一焦距Fl及第二焦距F2要求投影圖像成像清晰，且在投影屏的佔面大。[0028]光感應設備記錄下的分別為第一記錄圖像(如圖2所示)及第二記錄圖像(如圖3所示)，上述兩份記錄圖像傳送至控制設備後，交由控制設備分析，基於第一記錄圖像及第二記錄圖像上相應的兩點相連線經過光心的原理，來計算光投射設備的光心在光感應設備的底片平面的位置，並基於等比原理獲得光投射設備的光心在光投射底片平面的位置，進一步地，以光投射設備的光心為原點，以所述光投射設備的底片平面為XY平面，以光投射設備(光心和焦點的連線)的光軸為Z軸，形成一第一坐標系，可計算得標定圖像在第一坐標系下的坐標。
[0029]同理，保持投影圖像不變，調整光感應設備的焦距以在光感應設備的不同焦距下獲得兩張記錄圖像，同樣，可基於光感應設備的不同焦距下獲得的兩張記錄圖像上的相應兩點相連線經過光心的原理，可計算得光感應設備的光心的位置。同樣地，以光感應設備的光心為原點，以所述光感應設備的底片平面為XY平面，以光感應設備(光心和焦點的連線)的光軸為Z軸，形成一第二坐標系，可計算得標定圖像所對應的記錄圖像在第二坐標系下的坐標。
[0030]通過以上方法，可以精確標定光投射設備和光感應設備的光心位置，並可以計算標定圖像的在基於光投射設備的底片平面形成的第一坐標系下的坐標，以及相應的投影圖像在基於光感應設備的底片平面形成的第二坐標系下的坐標。
[0031]接下來，標定光投射設備和光感應設備的焦距。但應該注意的是，本發明的標定光投射設備和光感應設備的焦距的步驟也可以在上述標定光投射設備和光感應設備的光心位置之前進行。
[0032]將光投射設備移動至一第一位置，該第一位置沒有具體位置限定，只需成像清晰即可。參閱圖4，在該第一位置下，測量光投射設備上任一點A至投影屏的距離，並定義該距離為SI，同時，測量矩形投影圖像的邊框長度a。同理，將光投射設備移動至一第二位置，此時第二位置與投影屏間的距離較第一位置與投影屏間的距離小。測量下此時光投射設備上A點至投影屏的距離，並定義該距離為S2，同時，測量矩形投影圖像的邊框長度b。
[0033]由於光投射設備前後移動等價於投影底片不動時投影屏後移，根據相似三角形原理，可以知道光投射設備的焦距Fis= (S1-S2) *H/(a-b)，其中H為底片物理長度，可以直接從光投射設備的數據手冊獲取。S1-S2為光投射設備的移動距離，即相對距離，因為只需要選擇任一點A後就可以測量了，而a和b可以精確地從投影屏上的長度測量到，因此可以得到光投射設備的焦距Fs*光感應設備。以上利用相似三角形的標定方法無需獲取光投射設備底片的精確位置，因此大大減小了標定誤差。
[0034]而為了標定光感應設備的焦距，將光投射設備固定在第二位置，測量此時標誌點中任意兩點在牆面的投影距離S，並測量投影屏到光感應設備的底片的直線距離D。由於標誌點在光感應設備的底片平面形成的第二坐標系下的坐標前述已作計算，因此可以獲取到投影屏上的兩點在光感應設備的底片上的對應距離camera_a。可以通過簡單的相似三角關係(以光感應設備的焦點、投影屏上的兩投影點為頂點的三角形，和以光感應設備焦點、光感應設備的底片所拍攝的兩投影點為頂點的三角形構成相似三角形)計算得到:
[0035]光感應設備的焦距F g =D*camera_a/ (camera_a+S)。
[0036]因此，根據上述標定方法，可將光感應設備及光投射設備的內部參數(光感應設備及光投射設備的焦距和光心位置)計算得出，且無需定標板，標定方法快速簡單。[0037]基於上述標定方法，可進一步標定光感應設備及光投射設備的外部參數。首先，為了標定光感應設備及光投射設備的外部參數，利用了第一坐標系和第二坐標系的概念。首先光投射設備的底片平面形成一第一坐標系，其中該第一坐標系的Z軸為該光投射設備產生的光路所在的直線，光投射設備的底片所在的平面形成了第一坐標系的X軸及Y軸所在的XY平面，該第一坐標系的坐標原點0/為光投射設備的底片的成像中心，即光投射設備的光心。因此，根據上文中所測定的光投射設備的光心位置，可得到標定圖像上的每一個點B』在第一坐標系的第一坐標為(X1, Y1, O)。
[0038]同樣地，光感應設備的底片平面形成一第二坐標系，其中該第二坐標系的Z軸為該光感應設備接收光的光路所在的直線，光感應設備的底片所在的平面形成了第二坐標系的X及Y軸所在的XY平面，該第二坐標系的坐標原點O2 』為光感應設備的底片的成像中心，即光感應設備的光心。因此，根據上文中所測定的光感應設備的光心位置，可得到標定圖像所對應的記錄圖像中的每一個點B』 』在第二坐標系的第二坐標為(X2，Y2，O)。
[0039]此標定外部參數的標定方法中，除了光投射設備的底片成像坐標系和光感應設備的底片成像坐標系之外，引入了第三坐標系的概念，將光投射設備的焦點及光感應設備的焦點相連，形成一 Z軸，並以距離光投射設備的焦點的距離為N並垂直於Z軸的平面形成為
一X軸及Y軸構成的XY平面，其中X軸、Y軸、Z軸形成一第三坐標系，該第三坐標系的原點即為上述Z軸與XY平面相交的點O3O
[0040]該標定方法可計算的外部參數包括:第一坐標系的X軸與第三坐標系的X軸及Z軸形成的XZ平面的夾角A ;第一坐標系的Y軸與XZ平面的夾角B ;第一坐標系的Z軸與第三坐標系的Z軸的夾角C ;第二坐標系的X軸與XZ平面的夾角Α』;第二坐標系的Y軸與XZ平面的夾角B』 ；第二坐標系的Z軸與第三坐標系的Z軸的夾角C』。
[0041]根據第三坐標系的定義，XY平面距離光投射設備的焦點距離N為任意設定值，因此，參數N不需要定標。
[0042]執行標定外部參數的方法時，首先需要對上述夾角的值進行標定，可基於標定圖像和記錄圖像的對應兩點在第三坐標系下的投影連線經過第三坐標系的原點的原理進行標定，並採用遍歷算法或二分算法標定各角的參數值。優選地，設定上述六個角度的初始化值後，僅對其中的第一參數進行調節，保持其他五個角的參數值不變，利用遍歷算法或二分算法對6個角度參數中每一組可能值逐個試探，最終找到第一參數的最優參數。同樣地，通過依次遞歸循環，計算每一個參數的最優參數，從而確定6個角度參數及其他外部參數的最優參數。
[0043]其中，在一個優選實施方式中，設定一組上述六個角度的初始化值後，利用標定圖像中的9個點的第一坐標系和第二坐標系下的坐標，基於投影原理計算其在第三坐標系下的坐標，即在第三坐標系中計算得到2*9個點，其中每一組點(標定圖像和記錄圖像的對應兩點在第三坐標系下的投影點)和圓心O3形成I個角，總共得到9個角。理論上，如果該初始化參數為三維重建系統的實際參數的話，每一組點和圓心O3所構成的角度應該為零。
[0044]利用遍歷算法尋找最優參數組合。具體地，在第一步中，設定一組初始化的參數值，然後對於設定的初始值，先調節其中的第一參數，使其按照設定的精度範圍(例如按照I度間隔)進行變化，並且維持其他5個參數不變，計算9個角度的和，從而確定使得9個角度的和到達最小值的第一個參數的值。在第二步，對於設定的初始值，先調節其中的第一和第二參數，並且維持其他4個參數不變，使得9個角度的和到達最小值…依次遞歸循環，最終確定使得9個角的總和為最小的值的最優參數組合。
[0045]最後，標定光感應設備及光投射設備的焦點間的距離L。具體來說，同上述步驟相同，設定一個初始化的焦點距離L值。基於上述步驟中計算得出的其他外部參數，計算兩點在第三坐標系下的坐標，從而計算出該兩點的三維距離。同時，實際測量該兩點的三維距離，理論上，計算得到的該兩點的三維距離應該等於該兩點的物理實測距離。利用遍歷算法，調節初始化的焦點距離值，使得計算得到的兩點的三維距離最接近該兩點的物理實測距離，此時的焦點距離值，即所標定的三維系統的光感應設備和光投射設備的焦點距離值L0
[0046]採用上述技術方案後，對三維重建系統內的光投射設備及光感應設備的內部參數及外部參數的標定過程及結果更加精確，並具有以下有益效果:I)定標過程簡單，避免使用高價的定標板；2)精度高，誤差小；3)操作簡單，避免複雜的數學計算；4)系統操作簡單方便，計算速度快，並且成本低。
[0047]根據本發明，控制設備為和光投射設備相連接的一計算機，該計算機可產生不同的標定圖像並發送至光投射設備，光投射設備接收到該標定圖像後，將該標定圖像投影至投影屏上。
[0048]一優選實施例中，光投射設備為投影儀，不僅移動方便，且調整焦距時不影響其他設備工作。又一優選實施例中，所用投影屏為白塑幕，白塑幕相比於現有使用的定標板具有價格便宜，可視角度大，適用範圍最廣等優點。同樣地，投影屏的選擇並不限定於白塑幕，本領域技術人員可使用珠光屏或金屬屏等作為投影屏，但相對於白塑幕，以上兩種選擇價格較為昂貴，由於投影屏僅作為成像用，對成像亮度要求不高，最優選地仍是採用白塑幕為佳。
[0049]另一優選實施例中，光感應設備可採用照相機或攝像機等可精確記錄不同成像的設備，使用者可精確識別通過照`相或拍攝記錄下的成像中的定標圖案即可。光感應設備的選擇並不僅限於上述提到的照相機或攝像機的使用，本領域技術人員可根據上述表達的技術效果變換光感應設備的選擇，其餘選擇則均未脫離本發明關於光感應設備的技術內容。
[0050]應當注意的是，本發明的實施例有較佳的實施性，且並非對本發明作任何形式的限制，任何熟悉該領域的技術人員可能利用上述揭示的技術內容變更或修飾為等同的有效實施例，但凡未脫離本發明技術方案的內容，依據本發明的技術實質對以上實施例所作的任何修改或等同變化及修飾，均仍屬於本發明技術方案的範圍內。
【權利要求】
1.一種用於三維重建系統的標定方法，所述三維重建系統包括光感應設備、光投射設備及一產生標定圖像的控制設備，所述光投射設備投影所述標定圖像形成投影圖像，所述光感應設備記錄所述投影圖像以形成記錄圖像；其特徵在於: 所述標定方法包括以下步驟: S1:獲取所述標定圖像在所述光投射設備的底片上的位置坐標； S2:光感應設備分別記錄光投射設備在第一焦距Fl和第二焦距F2下投射的投影圖像，形成第一投影圖像及第二投影圖像，所述光感應設備分別記錄所述第一投影圖像及第二投影圖像形成第一記錄圖像及第二記錄圖像； 53:所述控制設備分析所述第一記錄圖像及第二記錄圖像，並計算所述光投射設備的光心的坐標。
2.如權利要求1所述的標定方法，其特徵在於: 所述標定方法還包括以下步驟: 54:移動所述光投射設備，使所述光投射設備處於第一位置及第二位置； 55:基於所述光投射設備在所述第一位置及第二位置時不同的投影圖像大小及所述光投射設備與投影屏的相對距離，計算所述光投射設備的焦距； 56:將所述光投射設備固定在所述第二位置，基於所述投影圖像及所述記錄圖像計算所述光感應設備的焦距。
3.如權利要求1或2所述的標定方法，其特徵在於:` 步驟S3中，還包括步驟S3-1: 所述控制設備基於所述標誌圖像上的同一點在所述第一記錄圖像及第二記錄圖像的連線通過所述光投射設備的光心和等比原理，計算所述光投射設備的光心在光投射底片平面的坐標。
4.如權利要求3所述的標定方法，其特徵在於: 步驟S3中，還包括步驟S3-2: 以所述光投射設備的光心為原點，以所述光投射設備的底片平面為XY平面形成第一坐標系，計算所述標定圖像在所述第一坐標系下的坐標。
5.如權利要求1或2所述的標定方法，其特徵在於: 步驟S3中，還包括步驟S3-3: 調整所述光感應設備的焦距並保持所述投影圖像不變，所述控制設備計算所述光感應設備的光心在光投射底片平面的坐標。
6.如權利要求5所述的標定方法，其特徵在於: 步驟S3中，還包括步驟S3-4: 以所述光感應設備的光心為原點，以所述光感應設備的底片平面為XY平面形成第二坐標系，計算所述標定圖像所對應的記錄圖像在所述第二坐標系下的坐標。
7.如權利要求2所述的標定方法，其特徵在於: 步驟S6中，基於所述光感應設備的焦點、所述投影圖像的兩投影點構成的三角形及所述光感應設備的焦點、所述記錄圖像上對應所述兩投影點的兩記錄點構成的三角形相似，計算所述光感應設備的焦距。
8.如權利要求1或2所述的標定方法，其特徵在於:還包括如下步驟: 步驟SI』:將所述光投射設備的焦點及光感應設備的焦點相連，形成一 Z軸，並以距離所述光投射設備的焦點的距離為N並垂直於所述Z軸的平面形成為一 X軸及Y軸構成的XY平面，所述X軸、Y軸、Z軸形成一第三坐標系； 步驟S2』:基於所述標定圖像的每兩點在所述第三坐標系下的投影連線經過所述第三坐標系的原點，標定所述光感應設備及所述光投射設備在第三坐標系下的外部參數； 步驟S3』:根據計算出的外部參數計算所述光投射設備的焦點及光感應設備的焦點間的距離L。
9.如權利要求8所述的標定方法，其特徵在於: 所述外部參數包括: (1)以所述光投射設備的底片平面為XY平面形成的第一坐標系的X軸與所述第三坐標系的X軸及Z軸形成的XZ平面的夾角A ； (2)所述第一坐標系的Y軸與所述XZ平面的夾角B； (3)所述第一坐標系的Z軸與所述第三坐標系的Z軸的夾角C； (4)以所述光感應設備的底片平面為XY平面形成的第二坐標系的X軸與所述XZ平面的夾角A』 ； (5)所述第二坐標系的Y軸與所述XZ平面的夾角B』； (6)所述第二坐標系的Z軸與所述第三坐標系的Z軸的夾角C』。
10.如權利要求8或9所述的標定方法，其特徵在於: 步驟S2』中，還包括: 步驟S2』 -1:設定一組外部參數值，調節其中的第一參數，計算所述第一參數的最優參數； 步驟S2』 -2:調節所述第一參數及所述外部參數的第二參數，計算所述第二參數的最優參數； 步驟S2』 -3:通過依次遞歸循環，計算每一所述外部參數的最優參數。
【文檔編號】G06T7/00GK103559710SQ201310541316
【公開日】2014年2月5日 申請日期:2013年11月5日 優先權日:2013年11月5日
【發明者】王鳳麟, 楊樹臣, 王小宇 申請人:重慶安鑽理科技股份有限公司