參考面標準器及錐形物體的測量方法與流程

2023-05-19 05:07:06

本發明涉及一種測量方法，具體的說，是涉及一種參考面標準器及錐形物體的測量方法。

背景技術：

在外部測量的情況下，它涉及在由距離(3)限定的測量平面中對錐形塞規(1)直徑(2)的精確測量。

在內部測量的情況下，它涉及在由距離(6)限定的測量平面中對錐形環規(4)直徑(5)的精確測量。圖3是帶垂直掃描方向的已知的二位掃描測量機。結構包括：(7)帶計算機控制執行器的垂直軸與用於垂直位置雙面探針(8)的線性電子位移傳感器；(9)帶計算機控制執行器的水平軸與用於水平位置雙面探針(8)的線性電子位移傳感器；(10)用於設置掃描量規左右側的測量力的系統；(11)掃描臂；(12)用於支持精確可重複夾具以及可更換量規支撐的底座；(13)用於測量掃描臂的旋轉角位置的電子探針；當探針(8)的水平位置跟隨測量對象的輪廓掃描時垂直軸(7)被致動。因為在實際操作中，圓錐形量規中圓錐形部分到參考平面的過渡是圓的或倒角的，上述二維掃描測量機的參考平面位置不能被確定。請看圖25中帶圓角的兩個輪廓。為了準確地確定參考平面，本發明提及的直接參考面標準器或是已知的間接參考面標準器是必需的。

已知的二維掃描測量機也開發了帶水平掃描方向的版本。用於確定錐形量規測量平面的方法適用於帶垂直掃描方向以及帶水平掃描方向兩種版本。

錐形螺紋量規與光面錐形量規存在同樣的問題。因此，為了清楚起見，先描述光面錐形量規。

在圖4，當手柄向上時，一個錐形塞規(1)的最小端被放置在具有精確校準厚度(15)的可選平行板的上表面(18)。平行板被放置在經過精確研磨的夾具支撐(12)的參考平面(14)上側。

錐形塞規(1)的中心線在探針(8)可以移動通過機器的平面中很好地對中。探針(8)的左針尖(17)對右錐形表面線進行掃描，左針尖(17)的二維坐標以高速保存在計算機中。隨後，在圖5，左錐形表面線將被將被探針右針尖(16)掃描。

如圖6，為了能夠在一個坐標系統中變換左右輪廓，需要精確知道探針針尖(16)和(17)相對於參考平面(14)的垂直坐標(19)和(20)。

由於生產的誤差，坐標(19)有可能與坐標(20)不同。為了能夠精確地確定坐標(19)和(20)，會使用一個參考面標準器。參考面標準器具有帶著兩根非常精確研磨的圓柱形針(22)和(23)的保持器(21)，如圖7。

保持器(21)被放置在機器的參考平面(14)上，這樣的設計是為了使圓柱形針(22)和(23)相對於參考平面(14)精確地平行定位，並且每個圓柱形針具有朝向參考平面(14)精確校準的距離A(24)和B(25)。

在參考面校準過程中，首先圓柱形針(22)的輪廓會被探針針尖(16)掃描。當針尖(16)移動到中心高度B(25),針尖(16)的垂直坐標等於B(25).隨後在圖8，圓柱形針(23)的輪廓會被探針針尖(17)掃描。當針尖(17)移動到中心高度A(24),針尖(17)的垂直坐標等於A(24).

現在可以在一個坐標系統中相對於平面(18)以及量規(1)的正面變換左右輪廓。如果現在量規(1)的測量平面被距離(26)定義，直徑(2)可以被計算，如圖9。

然而，如果測量平面的直徑(2)沒有一個被定義的到參考平面(14)的距離，而是相對於量規的背面(27)或背面的凹槽被定義，則會出現問題，如圖10。

解決方案是首先將量規(1)放置在面板(30)上，並用高度計(29)測量高度或槽到表面的距離(28)，如圖11和12。

量規(1)的測量平面與量規小端/面側的距離可以通過距離(28)與(27)的差來計算：距離(28)–距離(27)。

在以與圖9相同的方式在機器上放置和掃描量規(1)後，可以用(28)-(27)的值來代替距離(26)進行計算。

此方法的缺點是需要在面板上使用額外的高度計，由此影響測量不確定度。

另一個缺點是測量有時會涉及非常大和重的量規，100千克或更多，這需要測量技術人員投入大量額外的時間和精力。還有一個缺點是帶有突起的直徑塞規，如帶有用於研磨機研磨的定心軸的塞規，不能使用上述任何一種方法確定。

技術實現要素：

針對上述現有技術中的不足，本發明提供一種方便、快捷，提高測量精度和測量效率的錐形物體的測量方法。

本發明所採取的技術方案是：

一種參考面標準器，包括：保持器；圓柱形針；保持器內設置有用於固定保持器的磁體；保持器下表面設置有一個支撐表面；

圓柱形針安裝在保持器中並與支撐平面平行；

圓柱形針的中心具有一個被校準過的到支撐表面平面的距離。

一種使用權利要求所述參考面標準器測量錐形塞規直徑的測量方法，其特徵在於包括如下步驟：

將錐形塞規居中放置於二位掃描測量機上；

錐形塞規的直徑的測量平面相對於錐形塞規的背面被定義；

錐形塞規的背面，即錐形塞規的上端面左右兩側分別設置有保持器；

保持器的支撐表面通過磁體固定在錐形塞規的背面；

探針左針尖在右圓柱形針的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖到參考平面的垂直距離已知，從而確定量規的背面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形塞規的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑被距離定義的位置上；

探針左針尖對量規的右錐形表面線掃描；

確定直徑數值；

探針右針尖在左圓柱形針的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖到參考平面的垂直距離已知，從而確定量規的背面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形塞規的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑被距離定義的位置上；

探針右針尖對錐形塞規的左錐形表面線掃描；

確定直徑數值。

一種使用參考面標準器測量錐形塞規直徑的測量方法，包括如下步驟：

將錐形塞規設置在具有研磨定心軸和二維掃描測量機上，錐形塞規被對中夾在下定心點與上定心點之間；

錐形塞規的下端面是參考平面，參考平面到測量平面的距離被限定；

左右兩個直接參考面標準器被固定在量規的這個參考平面上；

錐形塞規的下端面左右兩側分別設置有保持器；

保持器的支撐表面通過磁體固定在錐形塞規的下端面；

探針左針尖在右圓柱形針的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖到參考平面的垂直距離已知，從而確定錐形塞規的下端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形塞規的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑被距離定義的位置上；

探針左針尖對量規的右錐形表面線掃描；

確定直徑數值；

探針右針尖在左圓柱形針的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖到參考平面的垂直距離已知，從而確定錐形塞規的下端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形塞規的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑被距離定義的位置上；

探針右針尖對錐形塞規的左錐形表面線掃描；

確定直徑數值。

一種使用參考面標準器測量錐形塞規直徑的測量方法，包括如下步驟：

將錐形塞規設置在具有研磨定心軸和二維掃描測量機上，錐形塞規被對中夾在下定心點與上定心點之間；

錐形塞規的上端面是參考平面，參考平面到測量平面的距離被限定；

左右兩個直接參考面標準器被固定在量規的這個參考平面上；

錐形塞規的上端面左右兩側分別設置有保持器；

保持器的支撐表面通過磁體固定在錐形塞規的上端面；

探針左針尖在右圓柱形針的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖到參考平面的垂直距離已知，從而確定錐形塞規的上端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形塞規的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑被距離定義的位置上；

探針左針尖對錐形塞規的右錐形表面線掃描；

確定直徑數值；

探針右針尖在左圓柱形針的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖到參考平面的垂直距離已知，從而確定錐形塞規的上端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形塞規的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑被距離定義的位置上；

探針右針尖對錐形塞規的左錐形表面線掃描；

確定直徑數值。

一種使用參考面標準器測量錐形螺紋塞規中徑，小徑和大徑的測量方法，包括如下步驟：

具有研磨定心軸和的錐形螺紋塞規被夾緊在二維掃描測量機上；

測量平面與錐形螺紋塞規的上端面距離被定義；

測量平面是與錐形螺紋塞規的上端面距離的位置；

兩個直接參考面標準器被固定在量規的參考平面上；

錐形螺紋塞規的上端面左右兩側分別設置有保持器；

保持器的支撐表面通過磁體固定在錐形塞規的上端面；

探針左針尖在右圓柱形針的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖到參考平面的垂直距離已知，從而確定錐形螺紋塞規的上端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形螺紋塞規的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑被距離定義的位置上；

探針左針尖對錐形螺紋塞規的右錐形表面線掃描；

計算測量平面中，中徑，小徑和大徑數值；

探針右針尖在左圓柱形針的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖到參考平面的垂直距離已知，從而確定錐形螺紋塞規的上端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形螺紋塞規的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑被距離定義的位置上；

探針右針尖對錐形螺紋塞規的左錐形表面線掃描；

計算測量平面中，中徑，小徑和大徑數值。

一種使用參考面標準器測量錐形螺紋塞規中徑，小徑和大徑的測量方法，包括如下步驟：

參考平面在槽上並具有研磨定心軸和的錐形螺紋塞規被夾緊在二維掃描測量機上；

測量平面從槽的頂側，在距離上被定義；

測量平面與槽的頂側為距離；

兩個直接參考面標準器被固定在量規在槽上側的參考平面，即槽的下端面；槽的下端面為參考面；

兩個直接參考面標準器被固定在量規的參考平面上；

錐形螺紋塞規的槽的下端面左右兩側分別設置有保持器；

保持器的支撐表面通過磁體固定在錐形螺紋塞規的槽的下端面；

探針左針尖在右圓柱形針的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖到參考平面的垂直距離已知，從而確定錐形螺紋塞規的槽的下端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形螺紋塞規的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑被距離定義的位置上；

探針左針尖對錐形螺紋塞規的右錐形表面線掃描；

確定測量平面中，中徑，小徑和大徑數值；

探針右針尖在左圓柱形針的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖到參考平面的垂直距離已知，從而確定錐形螺紋塞規的槽的下端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形螺紋塞規的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑被距離定義的位置上；

探針右針尖對錐形螺紋塞規的左錐形表面線掃描；

確定測量平面中，中徑，小徑和大徑數值。

一種使用參考面標準器測量錐形螺紋環規中徑，小徑和大徑的測量方法，包括如下步驟：

錐形螺紋環規被夾緊在二維掃描測量機平行板的支撐平面上；

測量平面從頂側，在距離上被定義；

錐形螺紋環規與測量平面的距離通過距離確定；

兩個直接參考面標準器被固定在錐形螺紋環規的參考平面上；

錐形螺紋環規的上端面左右兩側分別設置有保持器；

保持器的支撐表面通過磁體固定在錐形螺紋環規的上端面；

探針左針尖在右圓柱形針的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖到參考平面的垂直距離已知，從而確定錐形螺紋環規的上下端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形螺紋環規的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑被距離定義的位置上；

探針左針尖對錐形螺紋環規的右錐形表面線掃描；

確定測量平面中，中徑，小徑和大徑數值；

探針右針尖在左圓柱形針的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖到參考平面的垂直距離已知，從而確定錐形螺紋環規的上端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形螺紋環規的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑被距離定義的位置上；

探針右針尖對錐形螺紋塞規的左錐形表面線掃描；

確定測量平面中，中徑，小徑和大徑數值。

本發明相對現有技術的有益效果：

本發明錐形物體的測量方法，用於快速精確地確定在錐形量規與類似物體，光面或螺紋，內部或外部中心線上的測量平面的軸向位置。根據本發明直接參考面標準器附接在待測錐形量規參考平面上，使用已知的二維掃描測量機在該測量平面中精確測量光面錐形量規的直徑以及螺紋錐形量規的大徑，小徑與中徑。

附圖說明

圖1-17是現有技術測量的光面錐形量規的直徑以及螺紋錐形量規的大徑、小徑與中徑的結構示意圖；

圖18是本發明錐形物體的測量方法的參考面標準器的結構示意圖；

圖19-21是本發明第一測量實施例的結構示意圖；圖22-25是本發明第二測量實施例本的結構示意圖；

圖26是本發明第三測量實施例的結構示意圖；

圖27是本發明第四測量實施例的結構示意圖；

圖28是本發明第四測量實施例的結構示意圖；

圖29是本發明第五測量實施例的結構示意圖；

圖30是本發明第六測量實施例的結構示意圖；

圖31是本發明第七測量實施例的結構示意圖。

具體實施方式

以下參照附圖及實施例對本發明進行詳細的說明：

附圖18可知，一種參考面標準器，包括：保持器34；圓柱形針35；保持器34內設置有用於固定保持器34的磁體36；保持器34下表面設置有一個支撐表面38；

支撐表面38被精確地磨平並且具有參考平面的功能。

圓柱形針35安裝在保持器34中並與支撐平面38平行；

圓柱形針的中心具有一個被校準過的到支撐表面平面38的距離37；

每個直接參考面標準器具有唯一的校準距離37，對右標準器37R與左標準器37L之間進行區分；每個直接參考面標準器都會標記唯一的標識號碼。

圖19-21，一種測量錐形塞規直徑的測量方法，包括如下步驟：

將錐形塞規101居中放置於二位掃描測量機上；

錐形塞規101的直徑102的測量平面相對於錐形塞規101的背面被定義；

錐形塞規101的背面，即錐形塞規101的上端面左右兩側分別設置有保持器134；

保持器134的支撐表面38通過磁體136固定在錐形塞規101的背面；

探針108左針尖117在右圓柱形針135的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖117到參考平面138的垂直距離137R已知，從而確定量規101的背面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形塞規101的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑102被距離103定義的位置上；

探針左針尖117對量規101的右錐形表面線掃描；

確定直徑102數值；

探針108右針尖116在左圓柱形針135的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖116到參考平面138的垂直距離137L已知，從而確定量規101的背面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形塞規101的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑102被距離103定義的位置上；

探針右針尖116對錐形塞規101的左錐形表面線掃描；

確定直徑102數值。

直接參考面標準器的另一個優點是帶有突起的錐形塞規，如帶有研磨定心軸的塞規，其位置，測量平面以及直徑都可以精確地確定。

圖22-25，一種測量錐形塞規直徑的測量方法，包括如下步驟：

將錐形塞規201設置在具有研磨定心軸239和240二維掃描測量機上，錐形塞規201被對中夾在下定心點243與上定心點242之間；

錐形塞規201的下端面是參考平面，參考平面到測量平面的距離203被限定；

左右兩個直接參考面標準器被固定在量規的這個參考平面上；

錐形塞規201的下端面左右兩側分別設置有保持器234；

保持器234的支撐表面238通過磁體236固定在錐形塞規201的下端面；

探針208左針尖217在右圓柱形針235的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖217到參考平面238的垂直距離237R已知，從而確定錐形塞規201的下端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形塞規201的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑202被距離203定義的位置上；

探針左針尖217對量規201的右錐形表面線掃描；

確定直徑202數值；

探針208右針尖216在左圓柱形針235的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖216到參考平面38的垂直距離237L已知，從而確定錐形塞規201的下端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形塞規201的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑202被距離203定義的位置上；

探針右針尖216對錐形塞規201的左錐形表面線掃描；

確定直徑202數值。

附圖26，一種測量錐形塞規直徑的測量方法，包括如下步驟：

將錐形塞規301設置在具有研磨定心軸339和340二維掃描測量機上，錐形塞規301被對中夾在下定心點343與上定心點342之間；

錐形塞規301的上端面是參考平面，參考平面到測量平面的距離303被限定；

左右兩個直接參考面標準器被固定在量規的這個參考平面上；

錐形塞規301的上端面左右兩側分別設置有保持器334；

保持器334的支撐表面338通過磁體336固定在錐形塞規301的上端面；

探針308左針尖317在右圓柱形針335的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖317到參考平面38的垂直距離337R已知，從而確定錐形塞規301的上端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形塞規301的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑302被距離303定義的位置上；

探針左針尖317對錐形塞規301的右錐形表面線掃描；

確定直徑302數值；

探針308右針尖316在左圓柱形針335的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖316到參考平面338的垂直距離337L已知，從而確定錐形塞規301的上端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形塞規301的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑302被距離303定義的位置上；

探針右針尖316對錐形塞規301的左錐形表面線掃描；

確定直徑302數值。

圖27展示了塞規401的參考面位於一個槽的上側的情況。在這種情況下，直接參考面標準器被固定在參考平面上。

圖28展示了環規401的參考面位於上側的情況。在這種情況下，直接參考面標準器被固定在參考平面上側。測量平面中的直徑405以及到參考平面的距離406被確定。

以相同的方式，直接參考面標準器也可以應用於錐形螺紋環規和錐形螺紋塞規。

在圖29中，一種測量錐形螺紋塞規中徑，小徑和大徑的測量方法，其特徵在於包括如下步驟：

具有研磨定心軸539和540的錐形螺紋塞規544被夾緊在二維掃描測量機上；

測量平面與錐形螺紋塞規544的上端面距離503被定義；

測量平面是與錐形螺紋塞規544的上端面距離503的位置；

兩個直接參考面標準器被固定在量規(544)的參考平面上；

錐形螺紋塞規544的上端面左右兩側分別設置有保持器534；

保持器534的支撐表面538通過磁體536固定在錐形塞規501的上端面；

探針508左針尖517在右圓柱形針535的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖517到參考平面538的垂直距離537R已知，從而確定錐形螺紋塞規544的上端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形螺紋塞規544的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑502被距離503定義的位置上；

探針左針尖517對錐形螺紋塞規544的右錐形表面線掃描；

計算測量平面中，中徑，小徑和大徑545數值；

探針508右針尖516在左圓柱形針535的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖516到參考平面38的垂直距離537L已知，從而確定錐形螺紋塞規544的上端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形螺紋塞規544的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑502被距離503定義的位置上；

探針右針尖516對錐形螺紋塞規544的左錐形表面線掃描；

計算測量平面中，中徑，小徑和大徑545數值。

在圖30中，一種測量錐形螺紋塞規中徑，小徑和大徑的測量方法，包括如下步驟：

參考平面在槽上並具有研磨定心軸639和640的錐形螺紋塞規644被夾緊在二維掃描測量機上；

測量平面從槽的頂側，在距離603上被定義；

測量平面與槽的頂側為距離603；

兩個直接參考面標準器被固定在量規(644)在槽上側的參考平面，即槽的下端面；槽的下端面為參考面；

兩個直接參考面標準器被固定在量規(644)的參考平面上；

錐形螺紋塞規644的槽的下端面左右兩側分別設置有保持器634；

保持器634的支撐表面638通過磁體636固定在錐形螺紋塞規644的槽的下端面；

探針608左針尖617在右圓柱形針635的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖617到參考平面638的垂直距離637R已知，從而確定錐形螺紋塞規644的槽的下端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形螺紋塞規644的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑602被距離603定義的位置上；

探針左針尖617對錐形螺紋塞規644的右錐形表面線掃描；

確定測量平面中，中徑，小徑和大徑645數值；

探針608右針尖616在左圓柱形針635的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖616到參考平面638的垂直距離637L已知，從而確定錐形螺紋塞規644的槽的下端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形螺紋塞規644的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑602被距離603定義的位置上；

探針右針尖616對錐形螺紋塞規644的左錐形表面線掃描；

確定測量平面中，中徑，小徑和大徑645數值。

在圖31中，一種測量錐形螺紋環規中徑，小徑和大徑的測量方法，包括如下步驟：

錐形螺紋環規746被夾緊在二維掃描測量機平行板的支撐平面718上；

測量平面從頂側，在距離76上被定義；

錐形螺紋環規746與測量平面的距離通過距離76確定；

兩個直接參考面標準器被固定在錐形螺紋環規746的參考平面上；

錐形螺紋環規746的上端面左右兩側分別設置有保持器734；

保持器734的支撐表面738通過磁體36固定在錐形螺紋環規746的上端面；

探針78左針尖717在右圓柱形針735的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖717到參考平面738的垂直距離737R已知，從而確定錐形螺紋環規746的上下端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形螺紋環規746的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑702被距離703定義的位置上；

探針左針尖717對錐形螺紋環規746的右錐形表面線掃描；

確定測量平面中，中徑，小徑和大徑745數值；

探針708右針尖716在左圓柱形針735的垂直中心高度上進行掃描；

探針左針尖716到參考平面738的垂直距離737L已知，從而確定錐形螺紋環規746的上端面與測量平面的距離；

通過垂直坐標變換，現在右錐形表面線的輪廓與錐形螺紋環規746的參考平面相關；

在右錐形表面線掃描，測量平面處於直徑702被距離703定義的位置上；

探針右針尖716對錐形螺紋塞規744的左錐形表面線掃描；

確定測量平面中，中徑，小徑和大徑747數值。

以上所述，僅是本發明的較佳實施例而已，並非對本發明的結構作任何形式上的限制。凡是依據本發明的技術實質對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均屬於本發明的技術方案範圍內。