用於檢測器的輻射導向器、散射輻射檢測器的製作方法

2023-04-26 20:23:26 2

專利名稱：用於檢測器的輻射導向器、散射輻射檢測器的製作方法
技術領域：
本發明涉及根據獨立權利要求的導言的用於輻射檢測器的輻射導向器，和散射輻 射檢測器。
背景技術：
散射光檢測器可(例如)為煙霧檢測器。此類檢測器包括輻射源(例如，LED (發 光二極體))和對所發射的輻射敏感的輻射傳感器。兩個組件處於一個實施例中，所述實施 例經布置以使得防止傳感器從源接收直接輻射。事實上，傳感器接收的輻射將是被環境大 氣中的微粒(例如，煙霧微粒)散射的輻射。已知散射光傳感器的缺點是，因為在輻射發射 裝置的一側上以及在感測裝置的一側上數值孔徑較小使得信號較弱，所以敏感性較差，或 如果需要較大孔徑，那麼裝置變得體積龐大。另一缺點是來自光學發射器的被煙霧檢測器本身的部分散射的光可被檢測器接 收，並導致由於表面汙染和老化而可能變化的偏移。此可變偏移增加了待檢測的煙霧的檢 測閾值。用於檢測大氣中的煙霧(或一般來說環境流體中的散射微粒)的另一技術是在 輻射源與傳感器(其也可包含鏡面)之間建立直接視線，以及使用分散的強度減少由傳感 器感測的信號的效果。在這些傳感器中，檢測信號弱於非檢測信號。為了實現增加的敏感 性，需要長光學路徑來實現由給定微粒濃度引起的較大聚集強度削弱效應。可通過提供折 疊路徑(例如，使用鏡面的類似五角星形路徑)來加長此類光學路徑。這再次導致體積相 當龐大的裝置。所陳述技術的已知現有技術文獻為US 6778091B2、US 6756906B2、GB 2389176A、 US 2001/0038338A1、US 6 107 925、GB 2 342 987A、US 5 821 866、GB 2 314 618A 和 EP 0 588 232B1。

發明內容
本發明的目的是提供一種輻射導向器，其允許構造具有足夠敏感性的小型散射光 檢測器，同時提供來自從除待檢測的煙霧外的部分散射的光的低偏移。根據獨立權利要求的特徵實現此目的。附屬項針對本發明的優選實施例。一種用於測量體積與電光組件之間的輻射路徑的表面可安裝輻射導向器包括第 一輻射界面，其處於朝向所述測量體積的輻射路徑中；第三輻射界面，其處於朝向所述電光 組件的輻射路徑中；以及反射部分，其形成所述第一與所述第三輻射界面之間的第一輻射 路徑，所述第一輻射路徑在所述測量體積處提供聚焦區。輻射導向器可以是笨重主體且由透明材料製成。表面可安裝與穿過反射表面在測 量體積處提供聚焦的組合同時產生大數值孔徑和卻相當小的總體構造。輻射導向器可同時 充當對電光元件及其結合線的保護。在優選實施例中，可提供第二輻射界面，其直接接收來自第三輻射界面的光且產生朝向測量體積的第二輻射路徑，其中第二輻射路徑也在所述測量體積處提供聚焦區。形成第二輻射路徑的第三輻射界面可用於俘獲不能被第一輻射路徑俘獲的光，且使其朝向測量體積。這再次增加孔徑多於增加裝置的大小。兩個此類輻射導向器可具備測量體積作為其兩者的共同聚焦區。輻射導向器的一 者被分配到輻射源，另一者被分配到輻射傳感器。其可經布置以使得沒有直接輻射(此包 含反射輻射)將從輻射源到達輻射傳感器。用於測量體積與電光組件之間的輻射路徑的另一輻射導向器包括第一反射體，所 述第一反射體具有作為旋轉橢圓體的一部分的凹面反射表面，所述反射體適於相對於電光 組件將其安裝使得反射表面的第一聚焦區在電光組件處。旋轉橢圓體反射形狀的所述部分 的第二聚焦區可界定測量體積或測量區。兩個此類輻射導向器可形成為一個共同部分且可 再次經布置使得其一者不直接接收來自其中另一者的光。一種散射輻射檢測器可包括如上文所提及的兩個凹面反射體，其具有測量體積作 為兩個形狀的共同聚焦，而在相應另一聚焦中，分別安裝輻射源和輻射傳感器。拋物線反射體實施例也可以是表面可安裝的，其方式是反射體或其至少一部分可 安裝在還攜載其它電組件(例如，電光組件)的表面上。但同樣，凹面反射體部分的若干部 分或全部可由凹面外殼部分形成。輻射導向器可經形成以使得其相應聚焦儘可能理想。但同樣，其可經定形以使得 聚焦以界定的方式尤其在測量體積處不理想，使得輻射會聚區是界定的區域或體積以便以 輻射暴露所述界定的區域或體積，或從那裡收集輻射。


下文中，將參看附圖描述本發明的實施例，附圖中圖1展示安裝在表面上的輻射導向器的第一實施例，圖2展示安裝在表面上的輻射導向器的第二實施例，圖3展示兩個此類輻射導向器的布置，圖4示意性地展示輻射導向器的另一實施例，以及其與另一輻射導向器的可能布 置，以及圖5展示形成為共同主體的兩個輻射導向器，以及圖6展示散射微粒檢測器。
具體實施例方式一般來說，本說明書中相同參考標號描述相同特徵。本說明書中描述的特徵應視 為可彼此組合，只要未另外明確敘述，且只要未出於技術原因在技術上彼此排斥。圖1是輻射導向器10的截面圖。其是表面可安裝的，因為其可用支腳部分17a、 17b直接安裝在安裝表面4上，例如其上還安裝電光組件3的電路板上。輻射導向器包括 朝向測量體積1的第一輻射界面11和朝向電光組件3的第三輻射界面13，所述電光組件3 可以是輻射源，例如LED或LED晶片(未封裝)，或者其可以是傳感器或傳感器晶片，例如紅 外傳感器。14是反射表面。參考標號18表示在第一界面11與第三界面13之間延伸並利 用反射表面14的第一光學路徑。
輻射導向器10可以是由透明材料製成的笨重主體。所述材料可以是樹脂或某一 種類的玻璃或其它可模製物質。反射表面14可從外側用反射物質塗覆，或可未經處理。反 射率因而僅可由邊界表面處的總反射率或部分反射率給定，其依賴於光的入射角和材料特 性。第三界面13、反射表面14和第一界面11全部一起形成，使得其在測量體積1處提供第 一聚焦區或會聚區以及在電光組件3或其有效部分處提供第二聚焦區。15表示反射表面14的幾何形狀所界定的光軸。在特定實施例中，表面14可以是 旋轉橢圓體或旋轉拋物面的一部分，其中軸15作為對稱/旋轉軸。接著，具有包含光軸的 平面的任一者的反射表面14的截面形狀將是橢圓或拋物線的一部分。依據第一界面11的 形狀和定位，聚焦區和測量體積1可在光軸15上或在其上方或下方。圖1展示一實施例， 其中測量體積1在反射表面14的光軸15上方，而在圖2中，測量 體積在光軸15下方。在 許多實施例中，光軸將穿過相應電光元件的有效部分，所述相應電光元件可安置(直到可 針對反射表面14界定的程度)於其聚焦區(的一者)中。第一光學界面可為平坦/平面形狀。依據其相對於光軸的傾斜角，其使光學路徑 彎曲，使得聚焦區和測量體積1在光軸15上方或在光軸15正上方或下方。但光學界面通 常可經定形以使得聚焦區出現在測量體積處。反射表面14可以是旋轉拋物面或橢圓體的 反射表面。第三界面13可保持到電光組件3的距離，但反之亦然，其也可直接模製到其上 且可能模製到安裝表面4上，使得輻射導向器10的第三輻射界面與電光組件3之間的距離 實際上為零。如果保持電光組件3與第三界面13之間的距離，那麼所述第三界面表面13 可具有凹面形狀。為了支持光束的聚焦，其可能具有部分或局部凸起形狀。在電光組件具 有非常不均勻的接收或發射特徵的情況下(例如，大多數LED晶片)，其可能具有特殊表面 形式或結構以便補償此類方向相依不均勻性或使所述方向相依不均勻性較小。其也可以是 類似球體的形狀，其中以電光組件3的有效區作為中心。光軸15與安裝表面4所成的角度 a可在0°與50°之間。如圖1所示的輻射導向器允許相當大的數值孔徑或測量體積1處有效的輻射的開 度角，使得雖然構造尺寸較小也同時獲得足夠量的有效輻射。圖2展示本發明的另一實施例。在圖2中，第一界面11、反射表面14和第三界面 13的構造可彼此間以與參看圖1所描述相同的方式形成。光軸15的角度a可較大。其可 (例如)在20°與60°之間。圖2的實施例包括導向測量體積1的第二輻射界面12。其 直接從第三界面13接收輻射，即其間沒有反射表面。因此，第二輻射路徑19形成於輻射導 向器10中，其功能上與採用第一界面11、反射表面14和第三界面13的第一輻射路徑18並 行。第二輻射界面12和第三輻射界面13可經定形以使得其使輻射聚焦於電光組件3的有 效區域與測量體積1之間。第二輻射界面12可定形為球面透鏡的一部分。此透鏡具有獨 立於反射表面14的光軸的自身的光軸，然而，其在圖中未展示。透鏡的所形成部分可使得 其不包含透鏡光軸行進所穿過的透鏡部分。通過此構造，從測量體積1所看到的數值孔徑再次較大，即通過第二輻射界面12 覆蓋的角範圍。因此在測量體積1與電光組件3之間遞送更多輻射強度，使得在構造尺寸 未實質增加的情況下增強靈敏度。由於孔徑更大，所以相對於測量體積的選擇性更好。圖2展示一實施例，其中測量體積在反射表面14的光軸15下方。一般來說，構造 應使得測量體積1不比輻射導向器10的任何部分遠離安裝表面4更遠離安裝表面4。
第一輻射界面11可以是或可具有光軸15上方的部分。第二輻射界面12可以是 或具有光軸15下方的部分。第一界面11與第二界面12之間的過渡部分可為平滑的或可 為表面中的邊緣或甚至階梯，其取決於所需的光學構造。在圖2中，輻射導向器10展示為與電光組件3(傳感器或輻射源)直接接觸。其 可模製到其及其周圍物上。接著，第三界面13不作為可自由接近的表面而存在，且實際上 與電光組件3的有效區的表面重合。一般來說，輻射導向器10可經預製且隨後通過適當構件安裝到安裝位置中。安裝 可(例如)通過將其粘附到襯底表面上或通過將其夾持到適當容器中來進行。但同樣，輻 射導向器10可在原位模製到電光元件上。為此，襯底/電路板可包括用於相對於電光組件 適當定位輻射導向器的模具的一個或一個以上對準結構。 輻射導向器可直接或間接附接、模製或鑄造到電光元件(特定來說，發射器或檢 測器)上，電光元件本身可安裝在提供電端子的襯底上，所述電端子允許將電光組件連接 到外部和/或連接到電路板上或用界定的對準構件以及可能的固持構件支撐，其中固持構 件可與上面形成電光元件和輻射導向器的襯底嚙合。具有用於如本說明書中描述的輻射導向器的模具的對準構件的電光組件的襯底 也是本發明的一部分。類似地，包括用於電光組件的布置部分和用於如所描述的輻射導向 器的布置部分的襯底也是本發明的一部分，所述布置部分優選包含用於所述輻射導向器的 對準構件。對準構件可以是適於與(預製的)輻射導向器10或其模具處的對應突出部和/ 或凹部嚙合的一個或一個以上凹部和/或突出部。襯底可以是整個煙霧檢測器的襯底，或 僅可支承其若干部分(例如，電光組件、輻射導向器和接觸件)，且可安裝到另一較大結構。此外，本發明還涵蓋包括如本說明書中描述的輻射導向器和電光元件的煙霧檢測 器組件。所述組件還可包括優選如上所述而形成的襯底。圖3以側視圖和平面圖展示散射光檢測器(例如，煙霧檢測器)的布置。提供兩 個輻射導向器10a、10b。其具有測量區1作為共同聚焦。輻射導向器的每一者可如參看圖 1和2描述而形成。在平面圖中，其展示光軸不平行，而是包含小於180°的角β。所述布 置是優選的，使得沒有直接輻射(包含反射輻射)從輻射源到達輻射傳感器。輻射導向器IOa被分配到輻射源3a，且輻射導向器IOb被分配到輻射傳感器3b。 輻射傳感器3b至少對輻射源3a發射的輻射或輻射的一部分敏感。因此，在輻射導向器IOa 中，接收來自輻射源3a的穿過其第三界面13a的輻射，且所述輻射經由反射表面14a和第 一界面Ila並經由第二界面12a導向測量體積1。在測量體積1中，光散射依據散射微粒 (例如，煙霧微粒)的存在和質量而發生。由於測量體積也是第二輻射導向器IOb的聚焦 區，所以輻射朝向第一輻射界面lib散射，且第二輻射導向器IOb的第二輻射界面12b將朝 向傳感器3b聚焦且將在那裡被感測到。角β —般來說可經選擇以使得在光學考慮因素下，輻射可僅通過環境流體中的 微粒處的散射而不直接或通過表面反射從源3a到達傳感器3b。可在此規定下適當選擇角 β。其可以是相當的鈍角。其可在175°與5°之間。31指示電路和電源。其可包括模擬和/或數字組件。32表示電路31與電光組件 之間以及朝向外部的布線。依據電路31的能力，朝向外部的信號可或多或少為未經處理的 傳感器信號，或可(反之亦然)為經良好準備和評估的信號。
圖4展示各種其它實施例的組合。其是與圖3的下部分的圖類似的平面圖。展示 兩個輻射導向器，右手側的輻射導向器如參看圖1和2所描述而形成。左手側的具有參考 標號40的輻射導向器以另一方式形成其是遵循旋轉橢圓體的凹面形狀。此形狀具有兩個 焦點。其中一者再次為測量體積1。其中另一者很大程度上被反射體40包圍。電光組件 安裝在此焦點中。反射表面是具有此成形的凹穴的主體的凹面。旋轉橢圓反射體朝向測量 體積1的端點或線41和42經選擇以使得輻射僅可通過散射從輻射源3a到達輻射傳感器 3b，且散射強度朝向傳感器3b的細微差別(shading)得以避免。提供凹反射表面的主體也可以是表面可安裝的。同樣，兩個主體可放置在一起以 用於形成總 體所需形狀。下半部分可以是安裝表面本身的表面部分，用於提供凹反射表面 的頂部部分的帽狀部件安裝到所述表面部分上。輻射導向器40或上文提及的帽的部分也 可由總體傳感器的外部覆蓋物中的凹部分形成。在圖4的輻射導向器40中，分配到電光組件的聚焦可通過反射體被其圓周的60 % 以上包圍，而測量體積處的聚焦被不到60%包圍。到目前為止，描述了煙霧檢測器應用。但一般來說，測量原理可用於採用通過流體 遞送的或流體中存在的微粒進行的散射的其它檢測。此外，依據例如可實現或必需的強度 等考慮因素，可採用起初提及的兩個測量原理中的一者或另一者，即測量散射強度或測量 直接傳輸的強度的弱化。在前一情況下，必須避免從輻射源到輻射傳感器的直接輻射(如 上文重複提及)，而在後一情況下，必須建立此路徑。圖5展示一實施例，其中對於輻射源3a和輻射傳感器3b兩者，輻射導向器40a、 40b均根據圖4的左手側而形成。除此之外，兩個輻射導向器形成為接合或共同主體。40a 表示一個輻射導向器，40b表示另一輻射導向器。一個輻射導向器被分配到輻射源3a，且另 一輻射導向器被分配到輻射傳感器3b。測量體積1處於兩個光軸45a、45b的交叉點處。反 射表面必須再次受到限制，使得在利用散射輻射強度的情況下，僅此類散射強度可到達傳 感器。圖6展示散射強度檢測器。其可以是安裝在待監視的房間的天花板5處的煙霧檢 測器。61是流體可透過且煙霧微粒可透過的覆蓋物，但視需要具有屏光特性以便避免錯誤 檢測。4是安裝表面，且示意性地展示以與圖3、4或5中所示類似的方式布置的兩個輻射導 向器10,40 ο安裝部分17a、17b經形成以使得輻射導向器10以預定姿勢安裝在安裝表面4上。 其可具有用於將輻射導向器適當地放置在安裝表面上的對準突出部。輻射導向器10的外 部可被屏光物質覆蓋以便避免外部輻射進入輻射導向器且因此可能導致錯誤。屏光物下方 可提供反射層以用於提供反射表面14。所使用的輻射可以是可見輻射或可以是紅外線輻射。輻射傳感器與輻射源的頻率 特徵至少部分匹配。此外，輻射導向器10具有對於所採用的波長來說是充分透明的材料。一個輻射導向器的最大線性延伸可為30mm且優選為20mm。包含其外殼的總體檢 測器的最大線性延伸可小於8cm，優選小於6cm。安裝表面4可以是任何種類的適宜的襯底，可能是其上還安裝電光組件3的印刷 電路板。
權利要求
一種用於測量體積(1)與電光組件(3)之間的輻射路徑的表面可安裝輻射導向器(10)，其包括第一輻射界面(11)，其處於朝向所述測量體積(1)的輻射路徑中，第三輻射界面(13)，其處於朝向所述電光組件(3)的輻射路徑中，反射部分(14)，其形成所述第一與所述第三輻射界面(11)之間的第一輻射路徑，所述第一輻射路徑在所述測量體積(1)處提供聚焦區。
2.根據前述權利要求中一個或一個以上權利要求所述的輻射導向器(10)，其包括固 定構件(17a、b)，所述固定構件(17a、b)用於將所述導向器(10)以預定姿勢固定在安裝表 面⑷上。
3.根據前述權利要求中一個或一個以上權利要求所述的輻射導向器(10)，其包括透 明塑料材料或完全由透明塑料材料組成，且/或包括優選通過注射模製、傳遞模製或鑄造 形成的模製或鑄造主體。
4.根據前述權利要求中一個或一個以上權利要求所述的輻射導向器(10)，其中所述 反射部分(14)是所述輻射導向器主體的表面的優選不用反射材料塗覆的部分。
5.根據前述權利要求中一個或一個以上權利要求所述的輻射導向器(10)，其鑄造或 模製到所述電光組件(3)上。
6.根據前述權利要求中一個或一個以上權利要求所述的輻射導向器(10)，其中所述 反射部分(14)的光軸(15)與所述安裝表面⑷相比是傾斜的。
7.根據前述權利要求中一個或一個以上權利要求所述的輻射導向器(10)，其包括第二輻射界面(12)，其處於朝向所述測量體積(1)的輻射路徑中，其中輻射在所述第二(12)與所述第三輻射界面(13)之間的第二輻射路徑上直接行 進，其中所述第二輻射路徑在所述測量體積(1)處提供聚焦區。
8.根據權利要求7所述的輻射導向器(10)，其中所述第一輻射路徑提供接近所述第三 輻射界面(11)的第三聚焦區。
9.根據權利要求8所述的輻射導向器(10)，其中所述第二輻射路徑在所述第三聚焦區 處提供聚焦區。
10.根據前述權利要求中一個或一個以上權利要求所述的輻射導向器(10)，其中所述 反射部分(14)具有橢圓體的至少一部分的橫截面形狀，且所述第一輻射界面(11)具有直 線橫截面形狀。
11.根據前述權利要求中一個或一個以上權利要求所述的輻射導向器(10)，其中所述 反射部分(14)具有拋物線的至少一部分的橫截面形狀，或遵循直線，且所述第二輻射界面 (12)具有透鏡橫截面形狀。
12.根據前述權利要求中一個或一個以上權利要求所述的輻射導向器(10)，其中，在 垂直於所述安裝表面(4)的方向上看，所述第一(11)和所述第二輻射界面(12)具有處於 所述光軸(15)的不同側上的若干部分。
13.根據權利要求7所述的輻射導向器(10)，其中所述第一輻射界面(11)比所述第二 輻射界面(12)更遠離所述安裝表面(4)。
14.根據權利要求6所述的輻射導向器(10)，其中所述光軸(15)具有相對於所述安裝 表面(4)的在0°與50°之間的傾斜角。
15.根據權利要求7所述的輻射導向器(10)，其中所述第三輻射界面(13)包括凹狀表 面部分(16)，其用於將所述電光組件(3)，特定來說是輻射傳感器或輻射源容納在其中。
16.根據前述權利要求中一個或一個以上權利要求所述的輻射導向器(10)，其中所述 第三輻射界面與所述電光組件(3)，特定來說是輻射傳感器或輻射源鄰接。
17.根據前述權利要求中任一權利要求所述的輻射導向器，其直接或間接附接、模製或 鑄造到電光元件，特定來說是發射器或檢測器上，所述電光元件本身可安裝在提供電端子 的襯底上，所述電端子允許將所述電光組件連接到外部。
18.優選根據前述權利要求中一個或一個以上權利要求所述的用於測量體積(1)與電 光組件(3)之間的輻射路徑的輻射導向器(10)，其包括第一(11)與第三輻射界面(13)之 間的第一輻射路徑，以及第二(12)與所述第三輻射界面(13)之間的第二輻射路徑，其中所述第一輻射路徑在所述第一(11)與所述第三輻射界面(13)之間具有反射部分 (14)，所述第二輻射路徑在所述第一(11)與所述第三輻射界面(13)之間不具有反射部分，且兩個輻射路徑經形成以在所述輻射導向器(10)外部在其兩側上提供聚焦區，其中所 述第一和所述第二輻射路徑的所述對應聚焦區重合。
19.根據前述權利要求中一個或一個以上權利要求所述的輻射導向器(10)，其包括以 下特徵中的一者或一者以上其適於引導優選在可見波長範圍(400歷-800歷)中且/或在波長優選達1200nm且可 能更大的IR範圍中的光輻射，其最大線性延伸小於50，優選30mm， 其是為散射輻射檢測器，特定來說為煙霧檢測器而定製，所述輻射界面(11、12、13)中的一者或一者以上是所述輻射導向器(10)的所述主體的 表面部分(14)，所述反射部分(14)至少部分為具有圍繞光軸(15)的旋轉對稱的形狀的一部分， 所述安裝表面(4)為印刷電路板。
20.一種用於測量體積(1)與電光組件(3)之間的輻射路徑的輻射導向器(40)，其包括第一反射體，其具有作為旋轉橢圓體的一部分的凹反射表面，所述反射體適於相對於 所述電光組件(3)將其安裝，使得所述反射表面的第一聚焦區處於所述電光組件(3)處。
21.根據權利要求20所述的輻射導向器(40)，其中在穿過所述第一反射體的光軸(45) 的橫截面中，所述第一聚焦區通過所述反射體被其圓周的60%以上包圍，且第二聚焦區被 不到60%包圍。
22.根據權利要求20或21所述的輻射導向器(40)，其包括用於將其安裝在安裝表面 (4)上的安裝部分。
23.根據權利要求20到22中一個或一個以上權利要求所述的輻射導向器(40)，其包 括第二反射體(40b)，所述第二反射體(40b)具有作為旋轉橢圓體的一部分的第二凹反射 表面，所述第二反射體適於相對於第二電光組件(3b)將其安裝，使得所述第二反射表面的另一聚焦區處於所述第二電光組件(3b)處，其中所述第一(40a)和所述第二反射體(40b) 形成為一個部分。
24.一種散射輻射檢測器，其優選為煙霧檢測器，其包括輻射源(3a)，測量體積(1)，其對於能夠攜載散射物質的流體來說是可接近的，輻射傳感器(3b)，根據前述權利要求中一個或一個以上權利要求所述的輻射導向器(10、40)，其在所述 測量體積(1)與輻射源(3a)和輻射傳感器(3b)中的至少一者之間，以及外殼(4、61)，其容納所述提及的元件。
25.根據權利要求24所述的檢測器，其包括根據權利要求1到20中一個或一個以上權 利要求所述的在所述測量體積(1)與所述輻射源(3a)之間的第一輻射導向器(10a、40a)， 以及根據權利要求1到20中一個或一個以上權利要求所述的在所述測量體積(1)與所述 輻射傳感器(3b)之間的第二輻射導向器(10b、40b)。
26.根據權利要求23所述的檢測器，其中分配到所述輻射傳感器(3b)的所述輻射導向 器(10b、40b)經布置以使得其朝向所述測量體積(1)的光學界面(11、12、41)不位於由分配 到所述輻射源(3a)的所述輻射導向器(10a、40a)提供的所述測量體積(1)處的孔徑角中。
27.根據權利要求25或26所述的檢測器，其中兩個輻射導向器(10a、b)是根據權利 要求1到19中一個或一個以上權利要求而形成。
28.根據權利要求25或26所述的檢測器，其中一個輻射導向器(10)是根據權利要求 1到19中一個或一個以上權利要求而形成，且另一輻射導向器(40)是根據權利要求20到 22中一個或一個以上權利要求而形成。
29.根據權利要求25或26所述的檢測器，其中兩個輻射導向器(40a、b)是根據權利 要求20到23中一個或一個以上權利要求而形成。
30.根據權利要求24到29中一個或一個以上權利要求所述的檢測器，其包括在電光組 件(3)與所述輻射導向器(10、40)之間的輔助輻射導向器。
31.根據權利要求24到30中一個或一個以上權利要求所述的檢測器，其包括電路板， 在所述電路板上安裝所述電光組件(3)和所述輻射導向器(10)。
32.根據權利要求24到31中一個或一個以上權利要求所述的檢測器，其中至少一個輻 射導向器(10、40)或其一部分形成為所述外殼(61)的一部分，且優選與所述外殼(61)的 一部分成一體。
33.一種襯底，其包括用於電光組件的布置部分和用於根據權利要求1到19中一個或 一個以上權利要求所述的輻射導向器的模具的對準構件。
34.一種襯底，其包括用於電光組件的布置部分和用於根據權利要求1到19中一個或 一個以上權利要求所述的輻射導向器的布置部分，所述布置部分包含用於所述輻射導向器 的對準構件。
35.一種煙霧檢測器組件，其包括根據權利要求1到19中一個或一個以上權利要求所 述的輻射導向器和電光元件。
36.根據權利要求35所述的組件，其包括襯底。
全文摘要
一種用於測量體積(1)與電光組件(3)之間的輻射路徑的表面可安裝輻射導向器(10)包括第一輻射界面(11)，其處於朝向所述測量體積(1)的輻射路徑中；第三輻射界面(13)，其處於朝向所述電光組件(3)的輻射路徑中；以及反射部分(14)，其形成所述第一與所述第三輻射界面(11)之間的第一輻射路徑，所述第一輻射路徑在所述測量體積(1)處提供聚焦區。
文檔編號G01N21/53GK101849251SQ200880115508
公開日2010年9月29日 申請日期2008年9月19日 優先權日2007年9月20日
發明者亞瑟·巴洛, 馬丁·利瑟 申請人:珀金埃爾默技術公司