一種測試三價鍍層鉻層的檢測方法
2023-11-09 18:14:17
一種測試三價鍍層鉻層的檢測方法
【專利摘要】本發明屬於汽車零部件檢測【技術領域】，提供了一種測試三價鍍層鉻層的檢測方法，該檢測方法包括以下步驟：對需檢測的樣品進行切割；除去部分樣品上的三價鉻，使得樣品呈現有鉻層區和無鉻層區，去除三價鉻層利用的藥水為濃度37%的配方液進行去除；將樣品放在雷射顯微鏡的測量臺上，調整顯微鏡的放大倍數；將雷射顯微鏡調整到有鉻層和無鉻層的區域；通過測量多點有鉻層區域的高度S1和多點無鉻層區域的高度S2，通過有鉻層和無鉻層的高度差（S1-S2）來得出三價鉻的厚度。本發明的優點在於利用雷射顯微鏡通過測定高度差原理，來提升測量三價鉻的測試準確性，準確度高，完全可以滿足測試三價鉻的需求，本發明檢測準確、可靠性強。
【專利說明】—種測試三價鍍層鉻層的檢測方法
【技術領域】
[0001]本發明屬於汽車零部件產品檢測【技術領域】，涉及一種測試三價鍍層鉻層的檢測方法。
【背景技術】
[0002]目前測試三價鉻的方法有電解法、X螢光測試法及SEM測試法，但目前電解法針對三價層有很大的偏差，原因是三價鉻的成份和六價鉻的成份和含量不一樣，所以導致測試結果的差異。而X螢光測試法同樣存在這樣的問題，利用SEM測試法，由於三價鉻比較薄，且不能分辨出顏色差異，所用測量有很大的差異，目前電解法利用電化學電解的方法，通過計算電量的方法來測試三價鉻的厚度，但三價鉻由於成分和結構的差異，到時檢測結果不準確，X螢光法同樣由於三價鉻成分和結構的差異，導致檢測結果又很大的差異，SEM利用斷面測試，由於不能分辨顏色且由於鉻層很薄，只有0.1-0.3微米，測量不確定度很大，且制樣繁瑣。
【發明內容】
[0003]本發明所要解決的技術問題是針對現有技術的現狀，而提供一種利用雷射顯微鏡通過測定高度差原理，來提升測量三價鉻的測試準確性，以此來測試三價鍍層鉻層的檢測方法。
[0004]本發明解決上述技術問題所採用的技術方案為:一種測試三價鍍層鉻層的檢測方法，該檢測方法包括以下步驟:
[0005]步驟一:對需檢測的樣品進行切割；
[0006]步驟二:除去部分樣品上的三價鉻，使得樣品呈現有鉻層區和無鉻層區，去除三價鉻層利用的藥水為濃度37%的配方液進行去除；
[0007]步驟三:將樣品放在雷射顯微鏡的測量臺上，調整顯微鏡的放大倍數；
[0008]步驟四:將雷射顯微鏡調整到有鉻層和無鉻層的區域；
[0009]步驟五:通過測量多點有鉻層區域的高度SI和多點無鉻層區域的高度S2，通過有鉻層和無鉻層的高度差(S1-S2)來得出三價鉻的厚度。
[0010]在上述的一種測試三價鍍層鉻層的檢測方法，所述的配方液為過硫酸銨和硝酸銀，所述的過硫酸銨為氧化劑，所述的硝酸銀為接觸劑，反應的公式如下:Cr2 (SO4) 3+3 (NH4)2S208+8H20=2H2Cr204+3 (NH4) 2S204+6H2S04。
[0011]在上述的一種測試三價鍍層鉻層的檢測方法，所述的配方液為硫磷混合酸溶液:硫酸:磷酸:水=150mL:150mL:700mL。這裡也可以採用硫磷和磷酸的混合酸溶液,這是由於採用過硫酸銨時反應時間過長，而且當溶液中酸度過高時，三價鉻被氧化成六價的過程進行得很慢，而溶液中的過硫酸銨可將六價鉻還原成三價。因此必須嚴格控制硫酸的濃度和氧化的時間，若硫酸的濃度過高，氧化時間過長，三價鉻不但不能被氧化成六價鉻，反而使六價鉻被還原成三價，使得檢測結果出現錯誤，使得檢測結果出現錯誤，可以避免氧化還原滴定法煩瑣的步驟，及可能由於酸度的控制或氧化時間的控制過程中造成的錯誤。
[0012]與現有技術相比，本發明的優點在於利用雷射顯微鏡通過測定高度差原理，來提升測量三價鉻的測試準確性，準確度為:解析度可以為0.0005μπι，測量重複性為
0.012 μ m，完全可以滿足測試三價鉻的需求，本發明檢測準確、可靠性強。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0013]圖1是測試三價鍍層鉻層的檢測方法分層後的照片。
【具體實施方式】
[0014]以下是本發明的具體實施例並結合附圖，對本發明的技術方案作進一步的描述，但本發明並不限於這些實施例。
[0015]本測試三價鍍層鉻層的檢測方法主要是利用雷射顯微鏡通過測定高度差原理，來提升測量三價鉻的測試準確性，在檢測前首先配置濃度為37%的配方液，這裡配方液是極為重要的，配方液要求能夠完全去掉三價鉻，配方液有兩種方式，配方液一為過硫酸銨和硝酸銀，所述的過硫酸銨為氧化劑，所述的硝酸銀為接觸劑，反應的公式如下:Cr2 (SO4) 3+3 (NH4) 2S208+8H20=2H2Cr204+3 (NH4) 2S204+6H2S04。
[0016]配方液二為硫磷混合酸溶液:硫酸:磷酸:水=150mL:150mL:700mL,這裡採用硫磷和磷酸的混合酸溶液，這是由於採用過硫酸銨時反應時間過長，而且當溶液中酸度過高時，三價鉻被氧化成六價的過程進行得很慢，而溶液中的過硫酸銨可將六價鉻還原成三價，因此必須嚴格控制硫酸的濃度和氧化的時間，若硫酸的濃度過高，氧化時間過長，三價鉻不但不能被氧化成六價鉻，反而使六價鉻被還原成三價，使得檢測結果出現錯誤，使得檢測結果出現錯誤，通過第二種方式的配方液可以避免氧化還原滴定法煩瑣的步驟，及可能由於酸度的控制或氧化時間的控制過程中造成的錯誤。
[0017]該檢測方法包括以下步驟:步驟一:對需檢測的樣品進行切割；步驟二:除去部分樣品上的三價鉻，使得樣品呈現有鉻層區和無鉻層區，去除三價鉻層利用的藥水為37%的配方液一或者配方液二進行去除；步驟三:將樣品放在雷射顯微鏡的測量臺上，調整顯微鏡的放大倍數；步驟四:將雷射顯微鏡調整到有鉻層和無鉻層的區域，如圖1中所看到的分層照片顯示；步驟五:通過測量多點有鉻層區域的高度SI和多點無鉻層區域的高度S2，通過有鉻層和無鉻層的高度差(S1-S2)來得出三價鉻的厚度，這裡為保證數據的準確性，可以測試多個區域的點求平均值後提高測試的精度，通過以上方法可以使得準確度為:解析度可以為0.0005 μ m，測量重複性為0.012 μ m。
[0018]本文中所描述的具體實施例僅僅是對本發明精神作舉例說明。本發明所屬【技術領域】的技術人員可以對所描述的具體實施例做各種各樣的修改或補充或採用類似的方式替代，但並不會偏離本發明的精神所定義的範圍。
【權利要求】
1.一種測試三價鍍層鉻層的檢測方法，其特徵在於，該檢測方法包括以下步驟: 步驟一:對需檢測的樣品進行切割； 步驟二:除去部分樣品上的三價鉻，使得樣品呈現有鉻層區和無鉻層區，去除三價鉻層利用的藥水為濃度37%的配方液進行去除； 步驟三:將樣品放在雷射顯微鏡的測量臺上，調整顯微鏡的放大倍數； 步驟四:將雷射顯微鏡調整到有鉻層和無鉻層的區域； 步驟五:通過測量多點有鉻層區域的高度SI和多點無鉻層區域的高度S2，通過有鉻層和無鉻層的高度差(S1-S2)來得出三價鉻的厚度。
2.根據權利要求1所述的一種測試三價鍍層鉻層的檢測方法，其特徵在於，所述的配方液為過硫酸銨和硝酸銀，所述的過硫酸銨為氧化劑，所述的硝酸銀為接觸劑，反應的公式如下:Cr2 (SO4) 3+3 (NH4) 2S208+8H20=2H2Cr204+3 (NH4) 2S204+6H2S04。
3.根據權利要求1所述的一種測試三價鍍層鉻層的檢測方法，其特徵在於，所述的配方液為硫磷混合酸溶液:硫酸:磷酸:水=150mL:150mL:700mL。
【文檔編號】G01B11/06GK104006752SQ201410082728
【公開日】2014年8月27日 申請日期:2014年3月7日 優先權日:2014年3月7日
【發明者】傅相林, 郝俊峰, 李輝龍 申請人:寧波信泰機械有限公司