光拾取裝置製造方法

2023-08-13 06:53:31 3

光拾取裝置製造方法【專利摘要】本發明提供光拾取裝置及包括該裝置的光碟裝置。該光拾取裝置抑制了產生無用的光。在光碟裝置的光拾取裝置中包括衍射光柵，該衍射光柵將第1波長光至少分為第1主光束和第1副光束，將第2波長光至少分為第2主光束和第2副光束且具有應對第2波長光的衍射面部，相對於規格化後的光檢測器的照射有第1主光束的第1主受光部與照射有第1副光束的第1副受光部之間的距離，光檢測器(73)的照射有第1主光束的第1主受光部(74a)與照射有第1副光束的第1副受光部(74b、74c)之間的距離Ys(cd)發生變化。【專利說明】光拾取裝置[0001]本申請是申請日為2008年08月11日、國際申請號為PCT/JP2008/064668，國內申請號為200880102919.4、發明名稱為「光拾取裝置及包括該裝置的光碟裝置」的申請的分案申請。【
技術領域：
】[0002]本發明涉及光拾取裝置及包括該裝置的光碟裝置。【
背景技術：
】[0003]在包括光拾取裝置的光碟裝置(未圖示)內插入有光碟。進入到未圖示的光碟裝置內的光碟形成為大致圓盤狀。[0004]作為磁碟，例如可列舉「CD-ROM」、「DVD-ROM」、「HDDVD-ROM」、「BD-ROM，，等讀取數據專用的光碟、「CD-R」、「DVD-R」、「DVD+R」、「HDDVD-R」、「BD-R」等數據可記錄式光碟、「CD-RW」、「DVD-RW」、「DVD+RW」(註冊商標)、「DVD-RAM」、「HDDVD-RW」、「HDDVD_RAM」、「BD-RE」等能夠寫入、消除數據、更新數據的類型的光碟等。[0005]在說明光碟時，「CD」是「CompactDisc」(商標)的簡稱。另外，「DVD」(註冊商標)是「DigitalVersatileDisc」的簡稱。另外，「HDDVD」(註冊商標)是「HighDefinitionDVD」的簡稱。另外，「Blu-rayDisc」(註冊商標)的「Blu-ray」是指相對於以往的用於讀寫信號的紅色雷射而為了實現高密度存儲所採用的藍紫色雷射。「HDDVD」與以往的DVD系列的設備具有互換性，而且，其存儲容量大於以往的DVD系列的磁碟的存儲容量。在以往的CD中採用紅外雷射。另外，在以往的DVD中採用紅色雷射。但是，在讀取存儲於「Blu-rayDisc」或「HDDVD」的光碟中的數據、信息、信號時、向「Blu-rayDisc」或「HDDVD」的光碟中寫入數據、信息、信號時，採用藍紫色雷射。[0006]另外，「CD-ROM'「DVD-ROM」及「HDDVD-ROM」的「ROM」是「ReadOnlyMemory」的簡稱。另夕卜，「BD-R0M」是「Blu-rayDisc-ROM」的簡稱。「CD-ROM」、「DVD-ROM」、「HDDVD-ROM」及「BD-R0M」是讀取數據、信息專用的光碟。另外，「CD-R」、「DVD-R」、「DVD+R」及「HDDVD-R"的「R」是「Recordable」的簡稱。另外，「BD-R」是「Blu-rayDisc-R」的簡稱。「CD-R」、「DVD-R」、「DVD+R」、「HDDVD-R」及「BD-R」能夠寫入數據、信息。另外，「CD-RW」、「DVD-RW」、「DVD+RW」及「HDDVD-RW」的「RW」是「Re-Writable」的簡稱。另外，「BD-RE」是「Blu-rayDisc-RE」的簡稱。「CD-RW」、「DVD-RW」、「DVD+RW」、「HDDVD-RW」及「BD-RE」能夠更新數據、信息。另夕卜，「DVD-RAM」及「HDDVD-RAM」的「RAM」是「RandomAccessMemory」的簡稱。「DVD-RAM」及「HDDVD-RAM」能夠讀寫、消除數據、信息。[0007]在光碟裝置內的能夠記錄數據、信息、信號的光碟中，在作為光碟的信號記錄面的信號層中設有用於保存數據、信息、信號的槽(未圖示)。槽是指例如細長的凹狀的結構。在俯視圓盤狀光碟時，槽形成為大致螺旋狀。在向光碟照射雷射時，從照射有雷射的信號層側看光碟的情況下，槽為漩渦狀。由於槽非常小，因此，無法通過視覺觀察到槽。[0008]光拾取裝置包括光學系統，該光學系統用於為了控制物鏡的位置而對處於光碟內的規定的記錄光道上適當地照射聚光點而檢測調焦錯誤信號、跟蹤錯誤信號等錯誤信號。[0009]焦點例如是指英文的focus或者荷蘭語的punt。另外,聚焦是例如使焦點對準或焦點被對準。另外，跟蹤是例如使用光來跟蹤觀測光碟的信號層、設置於光碟的信號層等上的微小的凹坑(孔、凹陷)、槽(溝)、搖擺(蜿蜒)等，決定描畫為大致螺旋狀的軌道的位置。另外，凹坑是例如孔、凹狀。另外，搖擺(wobble)是例如記錄有信息等數據信號的光道的蜿蜒。[0010]作為光拾取裝置中的光碟的聚光點聚焦檢測法，例如可列舉基於差動像散法的檢測法等。差動像散法是指例如通過對由帶有像散的光學系統成像的點像應變進行檢測來檢測聚光點的移位的方法。另外，作為光拾取裝置中的光碟的聚光點跟蹤檢測法，例如可列舉基於差動推挽法的檢測法等。差動推挽法是指例如利用數據讀寫用的主光束和用於檢測錯位的校正信號的2個副光束來檢測聚光點的移位的方法。[0011]對跟蹤錯誤信號的檢測方式進行說明，在利用光拾取裝置對例如光道間距為1.6um(微米、測微器)的⑶標準(⑶-ROM、⑶-R、⑶-RW等)的光碟檢測跟蹤錯誤信號的情況下，作為跟蹤錯誤信號的檢測方式，主要採用使用3道光束的例如「3光束方式(或者也稱作3光點方式)」。另外，在利用光拾取裝置對例如光道間距為0.74iim的DVD標準(DVD-ROM、DVD-R、DVD-Rff等)的光碟檢測跟蹤錯誤信號的情況下，作為跟蹤錯誤信號的檢測方式，主要採用至少使用3道光束的例如「直線(inline)方式」(0級光的主光點和±1級衍射光的副光點在同一信號軌道上排成一列)。這裡的跟蹤錯誤信號的各檢測方式的稱呼是簡稱。[0012]另外，相對於Versionl的DVD-RAM、DVD-ROM、DVD-R、DVD-RW等的光道間距為大致0.74um,Version2.0及2.1的DVD-RAM的光道間距為大致0.615um。這樣，在Versionl的DVD-RAM、DVD-ROM、DVD-R、DVD-Rff等、和Version2.0及2.1的DVD-RAM中，光道間距不同。[0013]首先，對檢測CD標準的錯誤信號時主要採用的「3光束方式」進行說明。如圖17所示，在光拾取裝置中，在半導體雷射元件210與偏振光分束器230之間的光路上配置有CD用衍射光柵320。CD用衍射光柵320具有以恆定的周期等間隔地刻出的直線狀的光柵槽，具有使從半導體雷射元件210發出的雷射衍射分支為主光束(0級光)及2個副光束(±1級衍射光束)的合計3個光束的功能。[0014]這3個光束經過偏振光分束器230、準直透鏡240、物鏡250，結果，如圖18的左側所不，在光碟D的信號層Da上形成與主光束相對應的主光點100、和分別與2個副光束相對應的副光點101、102。另外，在光碟D的信號層Da上周期性地設有用於記錄信號的光道D100，主光點100及副光點101、102在光碟半徑方向上的間隔d可通過使⑶用衍射光柵320繞光軸旋轉調整的方法等調整為與光道D100的周期Dtp的大致1/2—致。然後，主光點100及副光點101、102的反射光再次到達物鏡250、準直透鏡240、偏振光分束器230，其一部分光量在透過偏振光分束器230之後經過檢測透鏡260而入射到光檢測器270。[0015]如圖18的右側所示，在光檢測器270中配置有分別與主光點100及副光點101、102的反射光相對應的受光面200a、200b、200c。在主光點100及副光點101、102的反射光分別入射到受光面200a、200b、200c中時，分別形成與主光點100相對應的主檢測光點200、和與副光點101、102相對應的副檢測光點201、202。[0016]在此，在主光點100在光道DlOO上正確地掃描的情況下，副檢測光點201、202的光量相同。但是，在主光點100的掃描從光道DlOO上偏移的情況下，副檢測光點201、202之間的光量產生差異。因此，例如通過由減法器400對副檢測光點201、202的光量進行減去處理，生成表示跟蹤的掃描偏移的跟蹤錯誤信號。[0017]接著，對檢測DVD標準的錯誤信號時主要採用的「直線方式」進行說明。作為直線方式的光學系統，基本上能夠基於與3光束方式大致相同的光學系統來檢測跟蹤錯誤信號。但是，與3光束方式的光學系統相比不同點在於，如圖20的左側所示，使用形成於一個半平面341上的光柵槽的周期構造的相位相對於形成於另一個半平面342上的光柵槽的周期構造的相位錯位約180度的DVD用衍射光柵340。[0018]在此，假定將DVD用衍射光柵340與⑶用衍射光柵320調換而設置在與圖17所示的CD用衍射光柵320大致相同的位置的情況。另外，為了應對直線方式，如圖19的左側所示，假定將DVD用衍射光柵340、聚光光學系統等的配置位置調整為照射於光碟D的信號層Da上的主光點100及副光點101、102照射在相同的光道DlOO上的情況。[0019]在形成主檢測光點200的DVD用主光束照射於光檢測器270的受光面200a上時，連接於受光面200a的減法器500a計算來自受光面200a的輸出信號的差，生成為例如主推挽信號Sa。[0020]另外，在形成副檢測光點201的DVD用第I副光束照射於光檢測器270的受光面200b上時，連接於受光面200b的減法器500b計算來自受光面200b的輸出信號的差，生成為例如先行副推挽信號Sb。[0021]另外，在形成副檢測光點202的DVD用第2副光束照射於光檢測器270的受光面200c上時，連接於受光面200c的減法器500c計算來自受光面200c的輸出信號的差，生成為例如滯後副推挽信號Sc。[0022]如圖19的右側所示，由主檢測光點200檢測出的推挽信號Sa、和由分別與副光點101、102相對應的副檢測光點201、202檢測出的推挽信號Sb、Sc與3光束方式同樣地相互以反相位輸出。之後，由加法器510將推挽信號Sb、Sc相加,利用減法器530對該相加後的信號相對於推挽信號Sa進行減法處理,從而能夠生成推挽信號Sa、Sb、Sc的各偏離成分相抵而成的跟蹤錯誤信號。[0023]但是，近年來，提出了能夠對CD標準的光碟和DVD標準的光碟這兩者進行記錄和再現的光拾取裝置。另外，在該光拾取裝置中，為了謀求由光學系統的簡化帶來的成本降低，採用這樣的多頭雷射單元，該多頭雷射單元包括發出適合CD標準的紅外波長頻帶765nm?805nm(納米)的第I波長的第I雷射的⑶用半導體雷射元件、及發出適合DVD標準的紅色波長頻帶645nm?675nm的第2波長的第2雷射的DVD用半導體雷射元件。[0024]另外，在該光拾取裝置中，為了謀求進一步簡化光學系統，採用應對CD標準的3光束方式及DVD標準的直線方式這兩者的2波長應對衍射光柵(例如參照以下所示的專利文獻I)。作為2波長應對衍射光柵300A的構造，例如圖20所示，對於在光學玻璃板360的厚度方向相面對的一個平面及另一個平面，在該一個平面上粘著CD用衍射光柵320，在該另一個平面上粘著DVD用衍射光柵340而構成。[0025]除圖20所示的2波長應對衍射光柵300A的構造之外，提出了例如圖21所示的構造的2波長應對衍射光柵300B(例如參照以下所示的專利文獻2)。例如作為2波長應對衍射光柵300B的構造，在使含有液晶材料等而構成的CD用衍射光柵320及DVD用衍射光柵340重合地粘著之後，將其夾持在2枚光學玻璃板361、362之間粘著而構成。[0026]專利文獻1:日本特開2007-164962號公報(第I頁，第1-8圖)[0027]專利文獻2:日本特開2007-149249號公報(第I頁，第1_7圖)[0028]但是，在使用將上述那樣的⑶用衍射光柵320及DVD用衍射光柵340組合而成的2波長應對衍射光柵300A或300B的情況下，例如在使CD標準的第I雷射入射到CD用衍射光柵320時,該第I雷射被CD用衍射光柵320衍射而分支為主光束(0級光)及2個副光束(±I級衍射光束)這3個光束。然後，該3個光束利用DVD用衍射光柵340進一步衍射而分支。[0029]這樣，自多頭雷射單元發出的第I雷射或第2雷射通過2波長應對衍射光柵300A或300B的⑶用衍射光柵320及DVD用衍射光柵340這兩者，結果，由於在⑶用及DVD用的各自的衍射光柵320、340中進行衍射分支，因此，會導致產生無用的衍射光。結果，產生跟蹤錯誤信號等的錯誤信號檢測精度變差這樣的問題。[0030]另外，由於例如產生無用的衍射光，衍射光柵320、340中的0級光及土I級衍射光的透射率降低，結果，也會產生自多頭雷射單元發出的射出光的利用效率降低這樣的問題。[0031]另外，近年來，為了能夠良好地應對DVD-ROM、DVD-R,DVD-RW,DVD-RAM(Version1、2.0,2.1)等光道間距Dtp不同的多種光碟D，市場上要求易於進行跟蹤控制等控制的高度的光拾取裝置、和包括易於進行跟蹤控制等控制的高度的光拾取裝置的光碟裝置。[0032]例如，市場上要求在光道間距Dtp不同的多種光碟D記錄、再現數據時，不會使隨著物鏡250的移位而產生的跟蹤錯誤信號等錯誤信號的振幅惡化的光拾取裝置、和不會在跟蹤錯誤信號等錯誤信號中殘留偏離的光拾取裝置。[0033]另外，在解決上述問題的同時，也尋求廉價的光拾取裝置和廉價的光碟裝置。【
發明內容】[0034]為了解決上述課題，本發明的技術方案I的光拾取裝置的特徵在於，至少包括:衍射光柵，其將第I波長光至少分為第I主光束和第I副光束，將第2波長光至少分為第2主光束和第2副光束,具有應對第2波長光的衍射面部；光檢測器，包括供上述第I主光束照射的第I主受光部、供上述第I副光束照射的第I副受光部、供上述第2主光束照射的第2主受光部、和供上述第2副光束照射的第2副受光部；相對於規格化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離，上述第I主受光部與上述第I副受光部之間的距離發生變化。[0035]採用上述構造，能構成抑制了產生無用的光的光拾取裝置。具有應對第2波長光的衍射面部的衍射光柵裝備於光拾取裝置，只要在第I波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部時，第I波長光被至少分為第I主光束和第I副光束，就能大體上防止第I波長光透過衍射光柵時產生無用的光。另外，在第2波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部時，第2波長光大體上不會產生無用的光，且第2波長光至少被分為第2主光束和第2副光束。另外，由於相對於規格化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離，在該光檢測器中第I主受光部與第I副受光部之間的距離發生變化，因此，在第I波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部時,能避免發生被應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部分出的第I波長光的第I副光束不照射於光檢測器的第I副受光部這樣的不良。為了方便起見，本發明中的規格化例如在說明已廣泛普及的以往的形態等時採用。通過第I波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部而大體上不會產生無用的光地被分出的第I波長光的第I副光束照射於距光檢測器的第I主受光部的距離變化後的第I副受光部。另外，通過第I波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部而大體上不會產生無用的光地被分出的第I波長光的第I主光束照射於光檢測器的第I主受光部。另外，通過第2波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部而大體上不會產生無用的光地被分出的第2波長光的第2副光束照射於光檢測器的第2副受光部。另外，通過第2波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部而大體上不會產生無用的光地被分出的第2波長光的第2主光束照射於光檢測器的第2主受光部。[0036]在技術方案I所述的光拾取裝置中，技術方案2的光拾取裝置的特徵在於，變化後的上述第I主受光部與上述第I副受光部之間的上述距離被設定得大於上述規格化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離。[0037]採用上述構造，能構成提高了信號檢測精度的光拾取裝置。易於避免第I波長光被衍射光柵的衍射面部分開而產生的第I主光束對光檢測器的第I副受光部產生不良影響。另外，易於避免第I波長光被衍射光柵的衍射面部分開而產生的第I副光束對光檢測器的第I主受光部產生不良影響。例如，在變化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離被設定得小於規格化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離時，擔心第I主光束有可能干涉到光檢測器的第I副受光部。另外，例如，在變化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離被設定得小於規格化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離時，擔心第I副光束有可能干涉到光檢測器的第I主受光部。但是，由於變化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離被設定得大於規格化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離，因此，在第I主光束照射於光檢測器的第I主受光部時，易於避免第I主光束幹涉到第I副受光部。另外，由於變化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離被設定得大於規格化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離，因此，在第I副光束照射於光檢測器的第I副受光部時，易於避免第I副光束幹涉到第I主受光部。[0038]在技術方案I所述的光拾取裝置中，技術方案3的光拾取裝置的特徵在於，在將上述規格化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離的值定為100%的值時，相對於上述規格化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離的值，變化後的上述第I主受光部與上述第I副受光部之間的上述距離的值被設定為大致111%的值。[0039]採用上述構造，能構成提高了信號檢測精度的光拾取裝置。能避免第I波長光被衍射光柵的衍射面部分開而產生的第I主光束對光檢測器的第I副受光部產生不良影響。還能避免第I波長光被衍射光柵的衍射面部分開而產生的第I副光束對光檢測器的第I主受光部產生不良影響。例如，在變化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離被設定得小於規格化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離時，擔心第I主光束有可能干涉到光檢測器的第I副受光部。另外，例如，在變化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離被設定得小於規格化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離時，擔心第I副光束有可能干涉到光檢測器的第I主受光部。但是，由於在將規格化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離的值定為100%的值時，相對於規格化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離的值，變化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離的值被設定為大致111%的值，因此，在第I主光束照射於光檢測器的第I主受光部時，能避免第I主光束幹涉於第I副受光部。另外，由於在將規格化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離的值定為100%的值時，相對於規格化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離的值，變化後的第I主受光部與第I副受光部之間的距離的值被設定為大致111%的值，因此，在第I副光束照射於光檢測器的第I副受光部時，能避免第I副光束幹涉於第I主受光部。[0040]在技術方案I所述的光拾取裝置中，技術方案4的光拾取裝置的特徵在於，在將上述規格化後的第2主受光部與第2副受光部之間的距離的值定為100%的值時，相對於上述規格化後的第2主受光部與第2副受光部之間的距離的值，上述第2主受光部與上述第2副受光部之間的上述距離的值被設定為大致100%的值。[0041]採用上述構造，能構成提高了信號檢測精度的光拾取裝置。能避免第2波長光被衍射光柵的衍射面部分開而產生的第2主光束對光檢測器的第2副受光部產生不良影響。還能避免第2波長光被衍射光柵的衍射面部分開而產生的第2副光束對光檢測器的第2主受光部產生不良影響。例如，在第2主受光部與第2副受光部之間的距離被設定得小於規格化後的第2主受光部與第2副受光部之間的距離時，擔心第2主光束有可能干涉到光檢測器的第2副受光部。另外，例如，在第2主受光部與第2副受光部之間的距離被設定得小於規格化後的第2主受光部與第2副受光部之間的距離時，擔心第2副光束有可能干涉到光檢測器的第2主受光部。但是，由於在將規格化後的第2主受光部與第2副受光部之間的距離的值定為100%的值時，相對於規格化後的第2主受光部與第2副受光部之間的距離的值，第2主受光部與第2副受光部之間的距離的值被設定為大致100%的值，因此，在第2主光束照射於光檢測器的第2主受光部時，能避免第2主光束幹涉於第2副受光部。另外，由於在將規格化後的第2主受光部與第2副受光部之間的距離的值定為100%的值時，相對於規格化後的第2主受光部與第2副受光部之間的距離的值，第2主受光部與第2副受光部之間的距離的值被設定為大致100%的值，因此，在第2副光束照射於光檢測器的第2副受光部時，能避免第2副光束幹涉於第2主受光部。[0042]技術方案5的光拾取裝置的特徵在於，至少包括:衍射光柵，其將第I波長光至少分為第I主光束和第I副光束，將第2波長光至少分為第2主光束和第2副光束，具有應對第2波長光的衍射面部；光檢測器，其包括供上述第I主光束照射的第I主受光部、供上述第I副光束照射的第I副受光部、供上述第2主光束照射的第2主受光部、和供上述第2副光束照射的第2副受光部；在以上述第I主受光部為中心地配置有一對位置變化後的上述第I副受光部，在前側的上述第I副受光部、中央的上述第I主受光部、後側的上述第I副受光部並列設置時，前側的上述第I副受光部、中央的上述第I主受光部、後側的上述第I副受光部的分光比相對於規格化後的前側的第I副受光部、中央的第I主受光部、後側的第I副受光部的分光比發生變化。[0043]採用上述構造，能構成抑制了產生無用的光的光拾取裝置。具有應對第2波長光的衍射面部的衍射光柵裝備於光拾取裝置，只要在第I波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部時，第I波長光被至少分為第I主光束和第I副光束，就能大體上防止第I波長光透過衍射光柵時產生無用的光。另外，在第2波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部時，第2波長光大體上不會產生無用的光，第2波長光至少被分為第2主光束和第2副光束。另外，易於利用設定變化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。只要在第I波長光透過具有應對第2波長光的衍射面部的衍射光柵時，第I波長光被至少分為前側的第I副光束、中央的第I主光束和後側的第I副光束時，供前側的第I副光束照射的前側的第I副受光部、供中央的第I主光束照射的中央的第I主受光部、供後側的第I副光束照射的後側的第I副受光部的分光比相對於規格化後的前側的第I副受光部、中央的第I主受光部、後側的第I副受光部的分光比發生變化，就易於利用設定變化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。[0044]在技術方案5所述的光拾取裝置中，技術方案6的光拾取裝置的特徵在於，在以上述第I主受光部為中心地配置有一對位置變化後的上述第I副受光部，前側的上述第I副受光部、中央的上述第I主受光部、後側的上述第I副受光部並列設置時，前側的上述第I副受光部、中央的上述第I主受光部、後側的上述第I副受光部的分光比為大致1:(20?26):I。[0045]採用上述構造，能利用設定變化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。例如，在第I波長光透過具有應對第I波長光的第I衍射面部、和應對第2波長光的第2衍射面部的以往的衍射光柵，第I波長光至少被分為前側的第I副受光部、中央的第I主受光部、後側的第I副受光部時，供前側的第I副光束照射的前側的第I副受光部、供中央的第I主光束照射的中央的第I主受光部、供後側的第I副光束照射的後側的第I副受光部的分光比被設定為例如大致1:16:1，從而，能利用以往的規格化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。但是，在第I波長光透過省略了應對第I波長光的衍射面部而具有應對第2波長光的衍射面部的衍射光柵，第I波長光至少被分為前側的第I副受光部、中央的第I主受光部、後側的第I副受光部的情況下，供前側的第I副光束照射的前側的第I副受光部、供中央的第I主光束照射的中央的第I主受光部、供後側的第I副光束照射的後側的第I副受光部的分光比被設定為例如大致1:16:I時，在以往規格化後的光檢測器中，有可能無法高精度地檢測第I主光束和第I副光束。相對於此，只要在第I波長光透過具有應對第2波長光的衍射面部的衍射光柵，第I波長光至少被分為前側的第I副受光部、中央的第I主受光部、後側的第I副受光部時，供前側的第I副光束照射的前側的第I副受光部、供中央的第I主光束照射的中央的第I主受光部、供後側的第I副光束照射的後側的第I副受光部的分光比被設定為大致1:(20?26):1，就能利用設定變化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。在供前側的第I副光束照射的前側的第I副受光部、供中央的第I主光束照射的中央的第I主受光部、供後側的第I副光束照射的後側的第I副受光部的分光比為例如大致1:小於20:I的情況、或者該分光比為例如大致1:大於26:I的情況下，有可能無法高精度地檢測第I主光束和第I副光束，但通過將該分光比設定為大致1:(20?26):1、優選為大致1:(21?25):1，能高精度地檢測第I主光束和第I副光束。[0046]在技術方案5所述的光拾取裝置中，技術方案7的光拾取裝置的特徵在於，在以上述第2主受光部為中心地配置有一對上述第2副受光部，前側的上述第2副受光部、中央的上述第2主受光部、後側的上述第2副受光部並列設置時，前側的上述第2副受光部、中央的上述第2主受光部、後側的上述第2副受光部的分光比為大致1:(12?18):I。[0047]採用上述構造，能利用光檢測器高精度地檢測第2主光束和第2副光束。只要在第2波長光透過具有應對第2波長光的衍射面部的衍射光柵，第2波長光至少被分為前側的第2副受光部、中央的第2主受光部、後側的第2副受光部時，供前側的第2副光束照射的前側的第2副受光部、供中央的第2主光束照射的中央的第2主受光部、供後側的第2副光束照射的後側的第2副受光部的分光比被設定為大致1:(12?18):1，就能利用光檢測器高精度地檢測第2主光束和第2副光束。在供前側的第2副光束照射的前側的第2副受光部、供中央的第2主光束照射的中央的第2主受光部、供後側的第2副光束照射的後側的第2副受光部的分光比為例如大致1:小於12:I的情況、或者該分光比為例如大致1:大於18:I的情況下，有可能無法高精度地檢測第2主光束和第2副光束，但通過該分光比被設定為大致1:(12?18):1、優選為大致1:(14?18):1，能高精度地檢測第2主光束和第2副光束。[0048]技術方案8的光拾取裝置的特徵在於，至少包括:衍射光柵，其將第I波長光至少分為第I主光束和第I副光束，將第2波長光至少分為第2主光束和第2副光束，具有應對第2波長光的衍射面部；光檢測器，其包括供上述第I主光束照射的第I主受光部、供上述第I副光束照射的第I副受光部、供上述第2主光束照射的第2主受光部、和供上述第2副光束照射的第2副受光部；上述第I主受光部的受光靈敏度的值相對於規格化後的第I主受光部中的受光靈敏度的值發生變化或與規格化後的第I主受光部中的受光靈敏度的值相同，上述第I副受光部的受光靈敏度的值相對於規格化後的第I副受光部的受光靈敏度的值發生變化。[0049]採用上述構造，能構成抑制了產生無用的光的光拾取裝置。具有應對第2波長光的衍射面部的衍射光柵裝備於光拾取裝置，只要在第I波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部時，第I波長光被至少分為第I主光束和第I副光束，就能大體上防止第I波長光透過衍射光柵時產生無用的光。另外，在第2波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部時，第2波長光大體上不會產生無用的光，第2波長光至少被分為第2主光束和第2副光束。另外，易於利用設定變化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。通過第I主受光部的受光靈敏度的值相對於規格化後的第I主受光部中的受光靈敏度發生變化或與規格化後的第I主受光部中的受光靈敏度相同，第I副受光部的受光靈敏度的值相對於規格化後的第I副受光部的受光靈敏度發生變化，易於利用設定變化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。[0050]在技術方案8所述的光拾取裝置中，技術方案9的光拾取裝置的特徵在於，在將上述規格化後的第I主受光部的受光靈敏度的值定為100%的值時，相對於上述規格化後的第I主受光部的受光靈敏度的值，發生了變化的或與上述規格化後的第I主受光部的受光靈敏度的值相同的上述第I主受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%以下的較低的值，在將上述規格化後的第I副受光部的受光靈敏度的值定為100%的值時，相對於上述規格化後的第I副受光部的受光靈敏度的值，變化後的上述第I副受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%以上的較高的值。[0051]採用上述構造，易於利用設定變化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。通過在將規格化後的第I主受光部的受光靈敏度的值定為100%時，相對於規格化後的第I主受光部的受光靈敏度的值，發生了變化的或與規格化後的第I主受光部的受光靈敏度的值相同的第I主受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%以下的較低的值，相對於規格化後的第I副受光部的受光靈敏度的值為100%，變化後的第I副受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%以上的較高的值，易於利用設定變化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。[0052]在技術方案8所述的光拾取裝置中，技術方案10的光拾取裝置的特徵在於，在將上述規格化後的第I主受光部的受光靈敏度的值定為100%的值時，相對於上述規格化後的第I主受光部的受光靈敏度的值，發生了變化的或與上述規格化後的第I主受光部的受光靈敏度的值相同的上述第I主受光部的受光靈敏度的值被設定為大致95?100%的值，在將上述規格化後的第I副受光部的受光靈敏度的值定為100%的值時，相對於上述規格化後的第I副受光部的受光靈敏度的值，變化後的上述第I副受光部的受光靈敏度的值被設定為大致120?160%的值。[0053]採用上述構造，能利用設定變化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。通過相對於將規格化後的第I主受光部的受光靈敏度的值定為100%，發生了變化的或與規格化後的第I主受光部的受光靈敏度的值相同的第I主受光部的受光靈敏度的值被設定為大致95?100%的值，相對於規格化後的第I副受光部的受光靈敏度的值為100%，變化後的第I副受光部的受光靈敏度的值被設定為大致120?160%的值，能利用設定變化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。[0054]在技術方案8所述的光拾取裝置中，技術方案11的光拾取裝置的特徵在於，在將規格化後的第2主受光部的受光靈敏度的值定為100%的值時，相對於上述規格化後的第2主受光部的受光靈敏度的值，上述第2主受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%的值，在將規格化後的第2副受光部的受光靈敏度的值定為100%的值時，相對於上述規格化後的第2副受光部的受光靈敏度的值，上述第2副受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%的值。[0055]採用上述構造，易於利用光檢測器高精度地檢測第2主光束和第2副光束。通過相對於將規格化後的第2主受光部的受光靈敏度的值定為100%，第2主受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%的值，相對於將規格化後的第2副受光部的受光靈敏度的值定為100%，第2副受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%的值，能利用光檢測器高精度地檢測第2主光束和第2副光束。[0056]技術方案12的光拾取裝置的特徵在於，由技術方案I所述的光拾取裝置和技術方案5所述的光拾取裝置組合而成。[0057]採用上述構造，能構成抑制了產生無用的光的光拾取裝置。另外，易於利用設定變化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。[0058]技術方案13的光拾取裝置的特徵在於，由技術方案I所述的光拾取裝置和技術方案8所述的光拾取裝置組合而成。[0059]採用上述構造，能構成抑制了產生無用的光的光拾取裝置。另外，易於利用設定變化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。[0060]技術方案14的光拾取裝置的特徵在於，由技術方案5所述的光拾取裝置和技術方案8所述的光拾取裝置組合而成。[0061]採用上述構造，能構成抑制了產生無用的光的光拾取裝置。另外，易於利用設定變化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。[0062]技術方案15的光拾取裝置的特徵在於，由技術方案I所述的光拾取裝置、技術方案5所述的光拾取裝置和技術方案8所述的光拾取裝置組合而成。[0063]採用上述構造，能構成抑制了產生無用的光的光拾取裝置。另外，易於利用設定變化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。[0064]在技術方案1、5或8中任一項所述的光拾取裝置中，技術方案16的光拾取裝置的特徵在於，上述衍射面部兼作將上述第I波長光至少分為上述第I主光束和上述第I副光束的衍射面部、和將上述第2波長光至少分為上述第2主光束和上述第2副光束的衍射面部。[0065]採用上述構造，能構成抑制在衍射光柵中產生無用的光、且防止光的效率降低、並且將價格抑制得較低的光拾取裝置。只要衍射光柵的衍射面部兼作將第I波長光至少分為第I主光束和第I副光束的衍射面部、和將第2波長光至少分為第2主光束和第2副光束的衍射面部地形成，就能避免第I波長光無用地衍射而使第I波長光的效率降低，或者第2波長光無用地衍射而使第2波長光的效率降低。另外，由於衍射面部兼作將第I波長光至少分為第I主光束和第I副光束的衍射面部、和將第2波長光至少分為第2主光束和第2副光束的衍射面部地形成，因此，能構成減少了加工部分、加工工時的衍射光柵。由於減少了衍射光柵的加工部分、加工工時，因此，能將衍射光柵的價格抑制得較低。隨之，能夠構成能將價格抑制得較低的光拾取裝置。[0066]在技術方案1、5或8中任一項所述的光拾取裝置中，技術方案17的光拾取裝置的特徵在於，上述衍射光柵被分為多個區域部。[0067]採用上述構造，易於良好地進行光拾取裝置對介質的錯誤信號檢測。例如，易於良好地進行光拾取裝置對介質的跟蹤。介質是指記錄信息而將其傳播的構件、或記錄信息而將其傳遞的構件。另外，光拾取裝置的跟蹤是指追隨介質在半徑方向上的振動而使光點始終存在於目標光道上的動作。通過衍射光柵被分為多個區域部，向介質照射各自獨立的至少三個光點。由於向介質各自獨立地照射至少三個光點，因此，在兩種以上介質上記錄、再現時，易於避免跟蹤錯誤信號等錯誤信號的檢測精度降低。[0068]在技術方案1、5或8中任一項所述的光拾取裝置中，技術方案18的光拾取裝置的特徵在於，上述衍射光柵被分為偶數的區域部。[0069]採用上述構造，形成於介質的光點形成為高精度的光點。由於衍射光柵被分割為例如一個區域部和另一個區域部偶數的區域部，因此，在衍射光柵裝備於光拾取裝置時，照在衍射光柵上的光易於以大致二等分的狀態照在衍射光柵的一個區域部和衍射光柵的另一個區域部。通過光易於以大致二等分的狀態照在衍射光柵的一個區域部和衍射光柵的另一個區域部，衍射光柵易於高精度地裝備於光拾取裝置。因而，易於在介質中高精度地形成光點。隨之，提高了兩種以上的介質在記錄、再現時的錯誤信號檢測精度。[0070]在技術方案1、5或8中任一項所述的光拾取裝置中，技術方案19的光拾取裝置的特徵在於，上述衍射光柵被分為第I區域部、第2區域部、第3區域部和第4區域部這至少四個區域部。[0071]採用上述構造，易於良好地進行光拾取裝置對介質的錯誤信號檢測。例如，易於良好地進行光拾取裝置對介質的跟蹤。通過衍射光柵被分為四個區域部，向介質照射各自獨立的至少三個光點。由於向介質各自獨立地照射至少三個光點，因此，在兩種以上介質的記錄、再現時，易於避免跟蹤錯誤信號等錯誤信號的檢測精度降低。[0072]在技術方案1、5或8中任一項所述的光拾取裝置中，技術方案20的光拾取裝置的特徵在於，還包括能夠射出多種波長光的發光元件。[0073]採用上述構造，能夠隨著削減光拾取裝置的零件件數來謀求降低價格。由於發光兀件構成為能夠射出第I波長光和作為與第I波長光的波長不同的第2波長光這兩種以上波長光的、射出多種波長光的發光元件，因此，光拾取裝置能夠應對多種介質。另外，與此同時，由於能夠射出第I波長光的發光元件與能夠射出第2波長光的發光元件合為一個發光元件，因此，能謀求削減光拾取裝置的零件。隨著光拾取裝置的零件削減化而將光拾取裝置的價格抑制得較低。因而，能夠提供實現了零件削減化、價格降低化的光拾取裝置。[0074]在技術方案1、5或8中任一項所述的光拾取裝置中，技術方案21的光拾取裝置的特徵在於，上述第I波長光的波長為大致765nm?830nm，上述第2波長光的波長為大致630nm?685nm。[0075]採用上述構造，能大體上防止作為大致765nm?830nm的波長光的第I波長光透過衍射光柵時產生無用的光。另外，能大體上防止作為大致630nm?685nm的波長光的第2波長光透過衍射光柵時產生無用的光。通過規定波長光的第I波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部而大體上不會產生無用的光地被分出的、規定波長光的第I波長光的第I副光束照射在變化了距光檢測器的第I主受光部的距離後的第I副受光部上。另夕卜，通過規定波長光的第I波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部而大體上不會產生無用的光地被分出的、規定波長光的第I波長光的第I主光束照射在光檢測器的第I主受光部上。另外，在規定波長光的第2波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部時，規定波長光的第2波長光不會產生無用的光地至少被分為第2主光束和第2副光束。規定波長光的第2波長光的第2副光束照射在光檢測器的第2副受光部上，規定波長光的第2波長光的第2主光束照射在光檢測器的第2主受光部上。[0076]在技術方案1、5或8中任一項所述的光拾取裝置中，技術方案22的光拾取裝置的特徵在於，上述第I波長光的波長為大致630nm?685nm，上述第2波長光的波長為大致340nm?450nmo[0077]採用上述構造，能大體上防止作為大致630nm?685nm的波長光的第I波長光透過衍射光柵時產生無用的光。另外，能大體上防止作為大致340nm?450nm的波長光的第2波長光透過衍射光柵時產生無用的光。通過規定波長光的第I波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部而大體上不會產生無用的光地被分出的、規定波長光的第I波長光的第I副光束照射在變化了距光檢測器的第I主受光部的距離後的第I副受光部。另外，通過規定波長光的第I波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部而大體上不會產生無用的光地被分出的、規定波長光的第I波長光的第I主光束照射在光檢測器的第I主受光部。另外，在規定波長光的第2波長光透過應對第2波長光的衍射光柵的衍射面部時，規定波長光的第2波長光不會產生無用的光地至少被分為第2主光束和第2副光束。規定波長光的第2波長光的第2副光束照射在光檢測器的第2副受光部，規定波長光的第2波長光的第2主光束照射在光檢測器的第2主受光部。[0078]在技術方案1、5或8中任一項所述的光拾取裝置中，技術方案23的光拾取裝置的特徵在於，能夠應對具有多個信號面部的介質。[0079]採用上述構造，能良好地進行光拾取裝置對具有多個信號面部的介質的信號、信息的讀取及/或光拾取裝置對具有多個信號面部的介質的信號、信息寫入。由於能構成抑制了產生無用的光的光拾取裝置，因此，在利用光拾取裝置讀取具有多個信號面的介質的信號、信息等時、或向具有多個信號面部的介質中寫入信號、信息等時，例如能避免產生不良。[0080]技術方案24的光拾取裝置的特徵在於，包括:雷射單元，其在同一個面上配置有發出第I雷射的第I光源、和發出波長比該第I雷射的波長更短的第2雷射的第2光源；衍射光柵，其具有與上述第2雷射的波長相對應的光柵間隔，使上述第I雷射或上述第2雷射衍射而產生主光束和2個副光束；聚光光學系統，其會聚上述主光束和上述2個副光束，在光碟的光道上大致一列地照射與上述主光束相對應的主光點、和與上述2個副光束相對應的2個副光點；光檢測器，配設有第I主受光部及兩個第I副受光部、第2主受光部及第2副受光部，在基於上述第I雷射的上述主光點和上述2個副光點照射於上述光碟之後，該第I主受光部接受自上述光碟反射的、與上述主光點相對應的反射光點，這兩個第I副受光部接受自上述光碟反射的、分別與上述2個副光點相對應的反射光點，在基於上述第2雷射的上述主光點和上述2個副光點照射於上述光碟之後，該第2主受光部接受自上述光碟反射的、與上述主光點相對應的反射光點，該第2副受光部接受自上述光碟反射的、分別與上述2個副光點相對應的兩個反射光點；上述第I主受光部與上述第I副受光部之間的間隔以及上述第2主受光部與上述第2副受光部之間的間隔根據上述主光點的第I照射點與上述副光點的第2照射點之間的距離來設定，該上述主光點的第I照射點與表示上述第I或上述第2光源在與上述衍射光柵的面相對的上述雷射單元的面上的位置的第I發光點相對應，該上述副光點的第2照射點根據從上述第I發光點到上述衍射光柵的面之間的法線距離、和上述衍射光柵的衍射角來決定且與表示上述第I或上述第2光源在上述雷射單元的面上的外觀上的位置的第2發光點相對應。[0081]採用上述構造，能提供與波長不同的2種雷射相對應地抑制無用的衍射光而提高錯誤信號檢測進度的光拾取裝置。[0082]技術方案25的光碟裝置至少包括技術方案1、5、8或24中任一項所述的光拾取裝置。[0083]採用上述構造，能構成至少包括抑制了產生無用的光的光拾取裝置的光碟裝置。[0084]採用本發明，能夠構成抑制了產生無用的光的光拾取裝置。[0085]另外，採用本發明，能夠易於利用設定變化後的光檢測器高精度地檢測第I主光束和第I副光束。[0086]另外，採用本發明，能夠提供與波長不同的2種雷射相對應地抑制無用的衍射光而提高錯誤信號檢測精度的光拾取裝置。[0087]另外，採用本發明，能夠構成至少包括抑制了產生無用的光的光拾取裝置的光碟>J-U裝直。【專利附圖】【附圖說明】[0088]圖1是本發明的一個實施方式的光拾取裝置的光學配置圖。[0089]圖2是本發明的一個實施方式的光拾取裝置的說明圖。[0090]圖3是用於說明本發明的一個實施方式的衍射光柵的圖。[0091]圖4是用於說明本發明的一個實施方式的直線方式中的光碟上的聚光點配置和跟蹤錯誤信號檢測系統的概要的圖。[0092]圖5是用於說明本發明的一個實施方式的光檢測器的受光區域的圖。[0093]圖6是用於說明本發明的一個實施方式的光檢測器的受光區域中的各受光部間隔的導出方法的圖。[0094]圖7是表不裝備於光拾取裝置的衍射光柵的第一實施方式的概略俯視圖。[0095]圖8是表示圖7中的衍射光柵的光碟半徑方向與相位差的關係的圖。[0096]圖9是表示裝備於光拾取裝置的衍射光柵的第二實施方式的概略圖。[0097]圖10是表不裝備於光拾取裝置的衍射光柵的第三實施方式的概略俯視圖。[0098]圖11是表示圖10中的衍射光柵的光碟半徑方向與相位差的關係的圖。[0099]圖12是表示裝備於光拾取裝置的衍射光柵的第四實施方式的概略俯視圖。[0100]圖13是表示圖12中的衍射光柵的光碟半徑方向與相位差的關係的圖。[0101]圖14是表示光拾取裝置的視場特性的說明圖。[0102]圖15是表示光拾取裝置的副推挽信號振幅級別特性的說明圖。[0103]圖16是表示光拾取裝置的跟蹤錯誤相位差特性的說明圖。[0104]圖17是表示以往的光拾取裝置的光學系統的圖。[0105]圖18是用於說明3光束方式的圖。[0106]圖19是用於說明直線方式的圖。[0107]圖20是用於說明以往的2波長應對衍射光柵的圖。[0108]圖21是用於說明以往的另一2波長應對衍射光柵的圖。[0109]附圖標記說明[0110]20、340、DVD用衍射光柵(衍射光柵);20a、30a、40a、衍射面部(面部);21、22、341、342、半平面(區域部);21w、22w、31w、32w、33w、40w、41w、44w、寬度;26、35、37、45、46、47、分界線部(分界部)；30m、40m、中央部；31、41、第一區域部(區域部)；32、42、第二區域部(區域部)；33、43、第三區域部(區域部)；42w、43w、分割部寬度(寬度)；44、第四區域部(區域部)；48、一個區域部；49、另一區域部；50、360、361、362、光學玻璃板(玻璃基板)；50a、平面部；61、雷射單兀(發光兀件)；61a、發光面；62、第I光源(光源)；63、第2光源(光源);64A、64B、64C、64D、衍射光柵;651、稱合透鏡；65i1、受光兀件；66、230、偏振光分束器；67、240、準直透鏡；68、1/4波長板；69、反射鏡;70、250、物鏡;70a、光瞳面部;70b、光的直徑(直徑)；71、第I平行平板(平行平板)；72、第2平行平板(平行平板)；73、270、光檢測器;74、75、280、290、受光區域;74a、75a、主受光部(受光部);74b、74c、75b、75c、副受光部(受光部);76、運算部;77、510、加法器;78、400、500a、500b、500c、530、減法器；79、物鏡驅動部(驅動部);80、100、主光點(光點);81、82、101、102、副光點(光點);901、90i1、200、主檢測光點；911、91i1、921、92i1、201、202、副檢測光點；200a、200b、200c、受光面(受光部)；210、半導體雷射元件；260、檢測透鏡；300A、300B、2波長應對衍射光柵(衍射光柵);302、第I衍射面部(衍射面部);304、第2衍射面部(衍射面部);320、CD用衍射光柵(衍射光柵)；D、光碟(介質)；D80、D100、光道；Da、信號層(信號面部)；DL0、第I層(層)；DL1、第2層(層);Dtp、光道間距(周期);d、光柵間距；L、法線距離;N、法線；O、X、發光點；0(cd)、X(cd)、O(dvd)、X(dvd)、照射點；S、面；S11、凹部；S12、凸部；S21、凹面；S22、凸面；S1、底面；Si1、外表面；Sii1、Siv、側面；Sal、Sbl、Scl、Sa2、Sb2、Sc2、推挽信號；Yr、距離；Ys、Ys(cd)、Ys(dvd)、Yt(cd)、Yt(dvd)、間隔(距離);0、衍射角;d、間隔。【具體實施方式】[0111]下面，根據附圖詳細說明本發明的光拾取裝置及包括該裝置的光碟裝置的實施方式。[0112]實施例1[0113]光拾取裝置的光學系統[0114]圖1是本發明的一個實施方式的光拾取裝置的光學配置圖，圖2是本發明的一個實施方式的光拾取裝置的說明圖。[0115]另外，該光拾取裝置應對⑶標準(⑶-ROM、⑶-R、⑶-RW等)或者DVD標準(DVD-ROM、DVD-RAM(Versionl、2.0、2.1)、DVD-R、DVD+R、DVD-RW、DVD+Rff等)的光碟D等介質D。介質是指記錄並傳播信息、或記錄並傳遞信息的設備。例如，這裡的介質是指保存有數據、信息、信號等的磁碟等。[0116]作為磁碟，可列舉上述各種光碟。作為磁碟，例如還可列舉在磁碟兩面設有信號面且能夠寫入、消除數據、更新數據的光碟D等。另外，作為磁碟，例如還可列舉設有兩層信號面、能夠寫入、消除數據、更新數據的光碟D等。另外，作為磁碟，例如還可列舉設有三層信號面、能夠寫入、消除數據、更新數據的「HDDVD」用光碟(未圖示)等。另外，作為磁碟，例如還可列舉設有四層信號面、能夠寫入、消除數據、更新數據的「Blu-rayDisc」用光碟(未圖示)等。另外，例如還可列舉能夠對磁碟的標籤面側也照射雷射而對標籤等進行各種寫入的光碟D等。光碟D的信號層Da例如由金屬薄膜等的金屬層等形成。在由金屬薄膜等形成的信號層Da中記錄有信息、數據等。[0117]包括光拾取裝置的光碟裝置例如能夠應對上述各種磁碟。使用包括光拾取裝置的光碟裝置對記錄於各種光碟的信息等數據進行再現。另外，使用包括光拾取裝置的光碟裝置在各種光碟中記錄信息等數據。[0118]該光拾取裝置中的光碟D的聚光點聚焦檢測法例如為基於差動像散法的檢測法。如上所述，差動像散法是例如通過對由帶有像散的光學系統成像的點像應變進行檢測來檢測聚光點的移位的方法。該光拾取裝置是包括基於差動像散法的光學系統的光拾取裝置。[0119]另外，該光拾取裝置中的光碟D的聚光點跟蹤檢測法例如為基於差動推挽法、相位差法的檢測法。如上所述，差動推挽法是例如利用數據讀寫用的主光束、和用於檢測錯位的校正信號的2個副光束來檢測聚光點的移位的方法。相位差法是基於例如由四分割型光檢測器73檢測的相位差信號的檢測法。[0120]雷射單元61是在同一個發光面61a上具有發出適合⑶標準的紅外波長頻帶大致765nm?830nm的第I波長(例如782nm)的第I雷射的第I光源62、及發出適合DVD標準的紅色波長頻帶大致630nm?685nm的第2波長(例如655nm)的第2雷射的第2光源63的多頭雷射單元。雷射單元61構成為能夠射出第I雷射和作為與第I雷射波長不同、且波長比第I雷射更短的雷射的第2雷射這2種波長的雷射的、例如兩波長發光元件61。這樣，雷射單元61是能夠射出多種波長的雷射的發光元件61。另外，第I光源62、第2光源63構成半導體雷射元件。[0121]自構成雷射單元61的第I光源62及/或第2光源63射出例如0.2?500mW(毫瓦)、具體地講為2?400mW的輸出值的雷射。在例如小於0.2mff的輸出值的雷射的情況下，照射於光碟D之後反射而到達光檢測器73的雷射的光量不足。在使光碟D的各數據等再現時，例如2?20mW左右的幾?幾十mW的輸出值的雷射就足夠。在向光碟D中寫入各數據等時，需要幾十?幾百mW的輸出值的雷射。例如向光碟D中高速地寫入各數據等時，有時需要400mW、500mW等的較高輸出值的脈衝雷射。[0122]雷射單元61構成為例如散熱性優良的大致圓筒狀或大致圓柱狀的CAN封裝型的雷射二極體。根據光拾取裝置的設計、規格等，也可以替代CAN封裝型的雷射單元61，例如使用能夠應對薄型化、小型化等的大致板狀的引線框封裝型的雷射二極體(未圖示)。[0123]分別自第I光源62及第2光源63射出的第I雷射及第2雷射在為了利用衍射光柵64A產生由主光束(0級光)和2個副光束(±1級衍射光束)構成的至少合計3個光束而衍射之後，例如利用耦合透鏡65i調整其擴張角而被平板型的偏振光束分束器66的偏振光濾光面反射。[0124]被偏振光束分束器66反射的雷射在利用作為光學透鏡的準直透鏡67形成為平行光之後，通過1/4波長板68變換為圓偏振光，進而利用反射鏡69彎折其光軸而入射到作為光學透鏡的物鏡70，利用物鏡70集束而照射到光碟D。[0125]另外，為了應對具有第I層DLO(圖2)和第2層DLl這些多個層DLO、DLl的光碟D，物鏡70以能夠大致沿著物鏡70的光軸方向(P軸方向)移動的狀態裝備於光拾取裝置。通過物鏡70以能夠大致沿著物鏡70的光軸方向(P軸方向)移動的狀態裝備於光拾取裝置，構成能夠應對具有多個信號層Da的光碟D的光拾取裝置。另外，物鏡70為了正確地追隨光碟D的信號層Da的光道等，以能夠大致沿著磁碟半徑方向(R軸方向)移動的狀態裝備於光拾取裝置。[0126]為了能夠根據光拾取裝置的設計、規格等來應對具有第I層DLO(圖2)和第2層DLl這多個層DL0、DL1的光碟D，準直透鏡67以能夠大致沿著準直透鏡67的光軸方向移動的狀態裝備於光拾取裝置。通過準直透鏡67以能夠大致沿著準直透鏡67的光軸方向移動的狀態裝備於光拾取裝置，構成能夠更可靠地應對具有多個信號層Da的光碟D的光拾取裝置。[0127]如上所述，稱合透鏡651、偏振光束分束器66、準直透鏡67、1/4波長板68、反射鏡69、物鏡70成為聚光光學系統的一個例子。衍射光柵64A將被衍射光柵64A分支的主光束和2個副光束會聚，在光碟D的光道上，與細長的光道大致平行或傾斜地大致一列地照射與主光束相對應的主光點和與2個副光束相對應的2個副光點。[0128]另外，根據光拾取裝置的設計、規格等，例如也可以不裝備耦合透鏡65i而將其省略。另外，在圖1中，表示了1/4波長板68位於準直透鏡67與反射鏡69之間的光拾取裝置的光學配置例子，但根據光拾取裝置的設計、規格等，例如也可以使用在準直透鏡67與反射鏡69之間不裝備1/4波長板68、而使1/4波長板68位於偏振光束分束器66與準直透鏡67之間的光拾取裝置。[0129]另外，在能夠向光碟D中記錄信號的光拾取裝置中，為了監控自雷射單元61射出的雷射且控制雷射單元61而實施反饋的受光元件65ii例如裝備在偏振光束分束器66的周圍附近。[0130]物鏡70設計成，例如使適合各種光碟D的波長的各雷射符合各自的光學特性地衍射的衍射光柵(未圖示)以光軸為中心地呈環狀地形成在入射面，被該衍射光柵衍射分支後的3個光束對各光碟D校正球面像差而帶有聚光作用。於是，通過沿調焦方向(圖1中所示的P軸方向)及跟蹤方向(圖1中所示的作為與表示光道的形成方向的Q軸正交的方向、且與P軸正交的方向的R方向)驅動物鏡70，從而使雷射從物鏡70照射到光碟D上，以使雷射對焦於光碟D的信號層Da,並且,雷射追隨光碟D的規定光道。[0131]被光碟D的信號層Da調製而反射後的雷射返回到物鏡70，經由去路和作為直到中間都大致相同的光路的迴路而到達偏振光束分束器66。在向光碟D的信號層Da照射例如右迴轉的雷射時，反射的雷射成為例如翻轉為左迴轉的雷射的狀態的圓偏振光。在向光碟D的去路中為S偏振光的雷射在迴路中成為P偏振光的雷射而從1/4波長板68射出，P偏振光的雷射入射到偏振光束分束器66。[0132]迴路的P偏振光的雷射大致透過偏振光束分束器66。返回到偏振光束分束器66的雷射透過例如為了校正透過偏振光束分束器66時的像散而傾斜地配置的第I平行平板71。另外，通過透過第I平行平板71的雷射透過傾斜地配置的第2平行平板72，從而付與作為例如照射於光碟D的雷射的調焦錯誤成分的像散、且校正了由偏振光束分束器66及第I平行平板71產生的幀像差，在此基礎之上，向光檢測器73引導雷射。結果，光檢測器73基於由第2平行平板72引導的雷射，生成跟蹤錯誤信號、調焦錯誤信號等。[0133]光檢測器73用於接受自光碟D反射的雷射，將該信號變為跟蹤錯誤信號、調焦錯誤信號等電信號，使帶有構成光拾取裝置的物鏡70的透鏡保持架(未圖示)等伺服機構(未圖示)動作。伺服是指例如測定控制對象的狀態後與預先決定的基準值相比較而自動地將其修正控制的機構等。另外，光檢測器73用於接受自光碟D反射的雷射，將該信號變為電信號，檢測記錄於光碟D的信息。[0134]衍射光柵64A和光檢測器73[0135]下面，利用圖3、圖4說明衍射光柵64A及光檢測器73。[0136]圖3是用於說明本發明的一個實施方式的衍射光柵的圖，圖4是用於說明本發明的一個實施方式的直線方式中的光碟上的聚光點配置和跟蹤錯誤信號檢測系統的概要的圖。[0137]本實施方式的光拾取裝置對應CD標準及DVD標準中的任一種光碟D。衍射光柵64A(圖3)是與DVD用衍射光柵20大致相同結構的、廉價的應對直線方式的衍射光柵64A。衍射光柵64A不使用應對3光束方式的CD用衍射光柵,而僅由應對直線方式的DVD用衍射光柵20構成。本申請中的衍射光柵是指例如形成有使光衍射的衍射面部的構件，例如稱作直線光柵(inlinegrating)等。另外，本申請中圖示的衍射光柵等為了易於理解各詳細部分而簡便地描繪。[0138]在以往的包括⑶用衍射光柵320(圖20、圖21)及DVD用衍射光柵340這兩者的2波長應對衍射光柵300A、300B中，依據CD標準的第I雷射或依據DVD標準的第2雷射通過CD用衍射光柵320及DVD用衍射光柵340這兩者，結果，出現產生無用的衍射光的問題。為了解除產生這樣的無用的衍射光，衍射光柵64A(圖3)做成僅是DVD用衍射光柵20的構造。[0139]具體地講，如圖3的左側所示，衍射光柵64A是形成於一個半平面21的光柵槽的周期構造的相位相對於形成於另一個半平面22的光柵槽的周期構造的相位錯位約180度的DVD用衍射光柵構件20。另外，衍射光柵64A的光學配置依據直線方式，如圖4所示地調整為，使基於照射在光碟D上的第I或第2雷射的主光束的主光點80、以及基於第I或第2雷射的副光束的副光點81、82以大致平行或傾斜的狀態大致一列地照射在同一個光道D80上。[0140]通過採用僅是以上那樣的DVD用衍射光柵20的衍射光柵64A的構造及其光學配置，如上所述，抑制了無用的衍射光，並且，能夠基於直線方式適當地檢測跟蹤錯誤信號。具體地說明，如圖4所示，在依據DVD標準的第2雷射的情況下，如下地檢測跟蹤錯誤信號。[0141]在形成應對DVD標準的主檢測光點80的DVD用主光束自光碟D的信號層Da反射而作為主檢測光點90ii照射於光檢測器73的DVD受光區域75中的主受光部75a時，連接於主受光部75a的未圖示的減法器計算來自主受光部75a的輸出信號的差分，例如生成為主推挽信號Sa2。[0142]另外，在形成應對DVD標準的第I副檢測光點81的DVD用第I副光束自光碟D的信號層Da反射而作為第I副檢測光點91ii照射於光檢測器73的DVD受光區域75中的第I副受光部75b時，連接於第I副受光部75b的未圖示的減法器計算來自第I副受光部75b的輸出信號的差分，例如生成為先行副推挽信號Sb2。[0143]另外，在形成應對DVD標準的第2副檢測光點82的DVD用第2副光束自光碟D的信號層Da反射而作為第2副檢測光點92ii照射於光檢測器73的DVD受光區域75中的第2副受光部75c時，連接於第2副受光部75c的未圖示的減法器計算來自第2副受光部75c的輸出信號的差分，例如生成為滯後副推挽信號Sc2。[0144]由與主檢測光點80相對應的主檢測光點90ii檢測出的推挽信號Sa2、和由分別與副光點81、82相對應的副檢測光點91i1、92ii檢測出的推挽信號Sb2、Sc2互相以反相位輸出。之後，由加法器77將推挽信號Sb2、Sc2相加,利用減法器78將該相加後的信號相對於推挽信號Sa2進行減法處理，從而能夠生成推挽信號Sa2、Sb2、Sc2的各偏離成分相抵而成的聞精度的跟蹤錯誤彳目號。[0145]另一方面，在依據⑶標準的第I雷射的情況下，也能如下地檢測跟蹤錯誤信號。[0146]在形成應對⑶標準的主檢測光點80的⑶用主光束自光碟D的信號層Da反射而作為主檢測光點90i照射於光檢測器73的CD受光區域74中的主受光部74a時，連接於主受光部74a的未圖示的減法器計算來自主受光部74a的輸出信號的差分，例如生成為主推挽信號Sal。[0147]另外，在形成應對CD標準的第I副檢測光點81的CD用第I副光束自光碟D的信號層Da反射而作為第I副檢測光點91i照射於光檢測器73的CD受光區域74中的第I副受光部74b時，連接於第I副受光部74b的未圖示的減法器計算來自第I副受光部74b的輸出信號的差分，例如生成為先行副推挽信號SM。[0148]另外，在形成應對CD標準的第2副檢測光點82的CD用第2副光束自光碟D的信號層Da反射而作為第2副檢測光點92i照射於光檢測器73的CD受光區域74中的第2副受光部74c時，連接於第2副受光部74c的未圖示的減法器計算來自第2副受光部74c的輸出信號的差分，例如生成為滯後副推挽信號Scl。[0149]由與主檢測光點80相對應的主檢測光點90i檢測出的推挽信號Sal、和由分別與副光點81、82相對應的副檢測光點911、92i檢測出的推挽信號SbUScl互相以反相位輸出。之後，利用減法器78，能夠生成推挽信號Sal、SbUScl的各偏離成分相抵而成的跟蹤錯誤信號。[0150]由光檢測器73生成的信號被輸送到運算部76而進行計算，由運算部76生成的信號被輸送到物鏡驅動部79。通過電信號流入到物鏡驅動部79，使物鏡70運動。由運算部76生成的跟蹤誤差信號被輸送到物鏡驅動部79，能自動地調整物鏡70相對於光碟D的光道D80的跟蹤。[0151]但是，衍射光柵64A例如僅是應對依據DVD標準的第2雷射的第2波長的DVD用衍射光柵構件20的構造，不應對依據CD標準的第I雷射的第I波長。因此，依據CD標準的第I雷射被衍射光柵64A衍射分支而成的主檢測光點90i與副檢測光點911、92i的間隔(以下稱作主-副間距)成為與衍射光柵64A所對應的波長成反比的長度，因此，與利用原本應該使用的CD用衍射光柵衍射分支的情況下的主-副間距相比有所擴大。另外，作為主-副間距擴大的結果，導致主檢測光點90i與副檢測光點911、92i的分光比也發生變化。[0152]因此，在光檢測器73中，需要與基於各自雷射的主-副間距相符合地適當地設定接受主檢測光點90ii的第2主受光部75a與接受一副檢測光點91ii的一第2副受光部75b及接受另一副檢測光點92ii的另一第2副受光部75c之間的受光間隔Ys(dvd)、和接受主檢測光點90i的第I主受光部74a與接受一副檢測光點91i一第I副受光部74b及接受另一副檢測光點92i的另一第I副受光部74c之間的受光間隔Ys(cd)。[0153]光檢測器73的受光區域74、75[0154]下面，利用圖5、圖6說明光檢測器73的受光區域74、75。[0155]圖5是用於說明本發明的一個實施方式的光檢測器的受光區域的圖，圖6是用於說明本發明的一個實施方式的光檢測器的受光區域中的各受光部間隔的導出方法的圖。[0156]在光檢測器73的同一個受光面中，用於DVD標準的光碟D的記錄再現的DVD受光區域75、與用於⑶標準的光碟D的記錄再現的⑶受光區域74並列地形成。[0157]在DVD受光區域75中，與利用衍射光柵64A使依據DVD標準的第2雷射衍射分支而成的3個光束、具體地講是與主光束(0級光)和配置在該主光束的前後的2個副光束(±1級衍射光束)分別相對應地形成有第2主受光部75a和第2副受光部75b、75c。本申請中的「前」、「後」的定義是為了方便起見的定義。第2主受光部75a、第2副受光部75b、75c分別被四分割而由4個分塊構成。通過對由構成第2主受光部75a、第2副受光部75b及第2副受光部75c的各分塊獲得的各受光輸出實施規定的運算，從而在再現DVD標準的光碟D的記錄時，能獲得主信息信號、調焦錯誤信號及跟蹤錯誤信號。另外，第2主受光部75a、第2副受光部75b、75c並不限定為四分割，例如也可以是二分割。[0158]在CD受光區域74中，與利用衍射光柵64A使依據CD標準的第I雷射衍射分支而成的3個光束、具體地講是與主光束(0級光)和配置在該主光束的前後的2個副光束(±1級衍射光束)分別相對應地形成有第I主受光部74a和2個第I副受光部74b、74c。第I主受光部74a、第I副受光部74b、74c分別被四分割而由4個分塊構成。通過對由構成第I主受光部74a、第I副受光部74b、74c的各分塊獲得的各受光輸出實施規定的計算，在再現CD標準的光碟D的記錄時，能獲得主信息信號、調焦錯誤信號及跟蹤錯誤信號。另外，第I主受光部74a、第I副受光部74b、74c並不限定為四分割，例如也可以是二分割。[0159]DVD受光區域75中的第2主受光部75a與第2副受光部75b、75c之間的受光間隔Ys(dvd)、和⑶受光區域74中的第I主受光部74a與第I副受光部74b、74c之間的受光間隔Ys(cd)如下地導出。[0160]首先，根據自雷射單元61的第I或第2光源62、63射出的第I或第2雷射的波長入、和以在衍射光柵64A中連續的從凹部Sll到凸部S12或者從凸部S12到凹部Sll為一個周期的光柵間隔d，利用基於下式(I)的布拉格角條件的近似計算式求得衍射角9(參照圖6)。另外，衍射間隔d例如為幾iim-幾百iim左右。[0161]9=Sin-1(A/d)…(I)[0162]另外，凹部Sll包括底面Si和與底面Si大致正交的兩側面Sii1、Siv而構成。另外，構成凹部Sll的凹面S21也包括底面Si和與底面Si大致正交的兩側面Sii1、Siv而構成。另外，凸部S12包括與底面Si大致平行的外表面Si1、和與底面Si及外表面Sii大致正交的兩側面Sii1、Siv而構成。另外，構成凸部S12的凸面S22也包括與底面Si大致平行的外表面Si1、和與底面Si及外表面Sii大致正交的兩側面Sii1、Siv而構成。另外，衍射角9是指衍射光與構成衍射光柵64A的大致平滑面S的裡側的衍射面部20a的凹面S21的底面S1、凸面S22的外表面Sii的法線N所成的角度。另外，圖6所示的說明圖是為了容易地說明而簡便地描繪的圖，實際上，假想的發光點X以法線N為中心軸而大致對稱地設定為一對的程度。[0163]接著，根據從表示雷射單元61的發光面61a所包含的第I或第2光源62、63的現實位置的第I發光點0到衍射光柵64A的大致平滑面S的裡側的構成凹面S21的底面S1、構成凸面S22的外表面Sii之間的法線距離L、和由上式(I)求得的衍射角0，能夠決定表示第I或第2光源62、63在雷射單元61的發光面61a上的與副光束相關的外觀上的位置的第2發光點X。另外，雷射單元61的發光面61a與衍射光柵64A的大致平滑面S的法線N垂直，成為位於距面S裡側的構成凹面S21的底面S1、構成凸面S22的外表面Sii分離大致法線距離L的位置。於是，利用下式(2)，求得雷射單元61的發光面61a上的從第I發光點0到第2發光點X之間的距離Yr(參照圖6)。[0164]Yr=LXtan(Q)…(2)[0165]在此，對光碟D的信號層Da上的主光點的第I照射點0』(未圖示)、和與假想地自第2發光點X發出的第I或第2雷射相對應的、光碟D的信號層Da上的副光點的第2照射點X』(未圖示)簡單地進行說明。[0166]例如，根據準直透鏡67的焦點距離f2(未圖示)和物鏡70的焦點距離fI(未圖示)，求得與假想地自第I發光點0發出的第I或第2雷射相對應的、光碟D的信號層Da上的主光點的第I照射點0』(未圖示)、和與假想地自第2發光點X發出的第I或第2雷射相對應的、光碟D的信號層Da上的副光點的第2照射點X』(未圖不)。於是，根據從發光點0到發光點X的距離Yr、準直透鏡67的焦點距離f2和物鏡70的焦點距離fl，例如利用下式⑶求得光碟D的信號層Da上的第I照射點0』與第2照射點X』之間的距離Ys』(未圖示)。[0167]Ys，=YrXfl/f2…(3)[0168]整理以上內容，在將第I或第2雷射的波長設為例如入、衍射光柵64A的衍射間隔設為d、從雷射單元61的發光面61a到衍射光柵64A的面S的裡側的構成凹面S21的底面S1、構成凸面S22的外表面Sii之間的法線距離設為L、物鏡70的焦點距離設為fl、準直透鏡67的焦點距離設為f2時，根據下式(4)求得光碟D的信號層Da上的第I照射點0』與第2照射點X』之間的距離Ys，。另外，距離Ys』表示第I或第2雷射利用衍射光柵64A衍射分支的情況下在光碟D的信號層Da上的各主-副間距。[0169]Ys，=LXtan{sirf1(X/d)}Xfl/f2…(4)[0170]照射於光碟D的信號層Da的第I或第2雷射的主光束及2個副光束被光碟D的信號層Da反射而最終照射於光檢測器73。[0171]接著，繼續說明光檢測器73中的第I主受光部74a與第I副受光部74b、74c之間的受光間隔Ys(cd)、以及第2主受光部75a與第2副受光部75b、75c之間的受光間隔Ys(dVd)的設定方法。[0172]根據上式(I)及式(2)求得下式(5)。[0173]Yr=LXtan{sirf1(入/d)}…(5)[0174]在此，為了將雷射單元61的發光面61a中的DVD用發光點0、X和與DVD用反射光相對應的光檢測器73的受光面中的DVD用照射點O(dvd)、X(dvd)配置在例如在光學上等效的位置，假定與DVD用出射光相對應的假想的光源間隔Yr(dvd)和與DVD用反射光相對應的實際的受光間隔Ys(dvd)大致相等。[0175]例如假定下式(6)。[0176]Ys(dvd)^Yr(dvd)(6)[0177]接著，根據式(5)及式(6)例如設定下式(7)。[0178]Ys(dvd)=LXtan{sin1(A(dvd)/d)}...(7)[0179]在DVD標準的波長(第2波長)入(dvd)例如為大致660nm的情況下，將660代入式(7)的入(dvd)中時，求得下式(S)0[0180]Ys(dvd)=LXtan{sirf1(660/d)}...(8)[0181]通過將預先決定的法線距離L的數值和預先決定的光柵間隔d的數值代入式(8)中，求得光檢測器73的DVD受光區域75中的受光間隔Ys(dvd)。[0182]為了將雷射單元61的發光面61a中的⑶用發光點O、X和與⑶用反射光相對應的光檢測器73的受光面中的⑶用照射點O(Cd)、X(cd)配置在例如在光學上等效的位置，假定與CD用出射光相對應的假想的光源間隔Yr(Cd)和與CD用反射光相對應的實際的受光間隔Ys(Cd)大致相等。[0183]例如假定下式(9)。[0184]Ys(cd)^Yr(cd)(9)[0185]接著，根據式(5)及式(9)例如設定下式(10)。[0186]Ys(cd)=LXtan{sirf1(入(cd)/d)}...(10)[0187]在⑶標準的波長(第I波長)入(Cd)例如為大致785nm的情況下，將785代入式(10)的入(cd)中時，求得下式(11)。[0188]Ys(cd)=LXtan{sirf1(785/d)}...(11)[0189]通過將預先決定的法線距離L的數值和預先決定的光柵間隔d的數值代入式(11)中，求得光檢測器73的CD受光區域74中的受光間隔Ys(Cd)。[0190]這樣地決定光檢測器73的DVD受光區域75中的受光間隔Ys(dvd)、和光檢測器73的⑶受光區域74中的受光間隔Ys(cd)。[0191]由於預先決定的法線距離L的數值與預先決定的光柵間隔d的數值均為恆定值，因此，將根據式(8)導出的與DVD用反射光相對應的實際的受光間隔Ys(dvd)、和根據式(11)導出的與CD用反射光相對應的實際的受光間隔Ys(Cd)相比較，受光間隔Ys(Cd)明顯長於受光間隔Ys(dvd)。[0192]這樣，根據由式(11)求得的距離Ys(Cd)來設定光檢測器73中的第I主受光部74a和第I副受光部74b、74c之間的受光間隔Ys(cd)。另外，根據由式(8)求得的距離Ys(dvd)來設定光檢測器73中的第2主受光部75a和第2副受光部75b、75c之間的受光間隔Ys(dvd)。[0193]具體地講，將第I主受光部74a的4個分塊的中心、與第I副受光部74b、74c的4個分塊的中心之間的距離Ys(cd)設定為由式(11)求得的距離Ys(Cd)。另外，將第2主受光部75a的4個分塊的中心、與第2副受光部75b、75c的4個分塊的中心之間的距離Ys(dvd)設定為由式(8)求得的距離Ys(dvd)。由此，光檢測器73能夠適當地應對利用衍射光柵64A使第I或第2雷射衍射分支的情況下的各主-副間距。_4]照射於光檢測器73的的各光點901、911、92i/90i1、91i1、92ii的分光比、光檢測器73的受光靈敏度[0195]下面，利用圖4說明例如作為各光點901、911、92i/90i1、91i1、92ii的光的強度比的分光比等。[0196]首先，對照射於光檢測器73的DVD受光區域75的光的強度、分光比等進行說明。[0197]例如，與基於DVD標準的光碟D的光道D80上的先行副光點81相對應的副檢測光點91i1、與基於DVD標準的光碟D的光道D80上的主光點80相對應的主檢測光點90i1、和與基於DVD標準的光碟D的光道D80上的滯後副光點82相對應的副檢測光點92ii的分光比大致為1:15:1。[0198]這種情況下的副檢測光點91ii或92ii中的光的強度為照射於光檢測器73的DVD受光區域75的光的整體強度的大致1/17。另外，這種情況下的主檢測光點90ii中的光的強度為照射於光檢測器73的DVD受光區域75的光的整體強度的大致15/17。[0199]照射於圖4所示的直線方式的光檢測器73的DVD受光區域75的雷射的分光比與照射於圖19所示的直線方式的DVD用光檢測器270的雷射的分光比大致相同。[0200]例如，與基於DVD標準的光碟D的光道DlOO上的先行副光點101相對應的副檢測光點201、與基於DVD標準的光碟D的光道DlOO上的主光點100相對應的主檢測光點200、和與基於DVD標準的光碟D的光道DlOO上的滯後副光點102相對應的副檢測光點202的分光比大致為1:15:1。[0201]這種情況下的副檢測光點201或202中的光的強度為照射於光檢測器270的光的整體強度的大致1/17。另外，這種情況下的主檢測光點200中的光的強度為照射於光檢測器270的光的整體強度的大致15/17。[0202]接著，對照射於圖4所示的光檢測器73的CD受光區域74的光的強度、分光比等進行說明。[0203]例如，與基於⑶標準的光碟D的光道D80上的先行副光點81相對應的副檢測光點911、與基於⑶標準的光碟D的光道D80上的主光點80相對應的主檢測光點901、和與基於CD標準的光碟D的光道D80上的滯後副光點82相對應的副檢測光點92i的分光比大致為1:23:1。[0204]這種情況下的副檢測光點91i或92i中的光的強度為照射於光檢測器73的CD受光區域74的光的整體強度的大致1/25。另外，這種情況下的主檢測光點90i中的光的強度為照射於光檢測器73的CD受光區域74的光的整體強度的大致23/25。[0205]照射於圖4所示的直線方式的光檢測器73的CD受光區域74的雷射的分光比與照射於圖18所示的3光束方式的CD用光檢測器270的雷射的分光比不同。[0206]例如，與基於⑶標準的光碟D的光道DlOO上的先行副光點101相對應的副檢測光點201、與基於⑶標準的光碟D的光道DlOO上的主光點100相對應的主檢測光點200、和與基於⑶標準的光碟D的光道DlOO上的滯後副光點102相對應的副檢測光點202的分光比大致為1:16:1。[0207]這種情況下的副檢測光點201或202中的光的強度為照射於光檢測器270的光的整體強度的大致1/18。另外，這種情況下的主檢測光點200中的光的強度為照射於光檢測器270的光的整體強度的大致16/18。[0208]在構成包括後述的衍射光柵64A的光拾取裝置的情況下，透過衍射光柵64A後的CD用雷射照射於光檢測器73的CD受光區域74時，照射於CD受光區域74的各雷射的分光比相對於以往的方式發生變化；前述的衍射光柵64A不具有應對CD用雷射的衍射光柵部。`[0209]相對於以往方式，隨著照射於CD受光區域74的各雷射的分光比發生變化，光檢測器73的⑶受光區域74中的主受光部74a及各副受光部74b、74c的受光靈敏度發生變化。[0210]例如，利用下式(12)求得照射有副檢測光點911、92i的副受光部74b、74c的受光靈敏度的變化倍率。[0211]{(1/18)/(1/25)}X100=138.88889…(12)[0212]這樣，在例如將以往的方式設為100%的情況下，光檢測器73的CD受光區域74中的副受光部74b或74c的受光靈敏度(mV/iiW)(毫伏每微瓦)設定為以往方式的大致139%的值。[0213]例如，利用下式(13)求得照射有主檢測光點90i的主受光部74a的受光靈敏度的變化倍率。[0214]{(16/18)/(23/25)}X100=96.61836…(13)[0215]這樣，在例如將以往的方式設為100%的情況下，光檢測器73的CD受光區域74中的主受光部74a的受光靈敏度(mV/iiW)設定為以往方式的大致97%的值。[0216]根據光拾取裝置的設計、規格等，例如，與基於DVD標準的光碟D的光道DlOO上的先行副光點101相對應的副檢測光點201、與基於DVD標準的光碟D的光道DlOO上的主光點100相對應的主檢測光點200、和與基於DVD標準的光碟D的光道DlOO上的滯後副光點102相對應的副檢測光點202的分光比也可以大致為1:16:1。[0217]這種情況下的副檢測光點201或202中的光的強度為照射於光檢測器270的光的整體強度的大致1/18。另外，這種情況下的主檢測光點200中的光的強度為照射於光檢測器270的光的整體強度的大致16/18。[0218]另外，根據光拾取裝置的設計、規格等，例如，與基於⑶標準的光碟D的光道D80上的先行副光點81相對應的副檢測光點911、與基於⑶標準的光碟D的光道D80上的主光點80相對應的主檢測光點901、和與基於⑶標準的光碟D的光道D80上的滯後副光點82相對應的副檢測光點92i的分光比也可以大致為1:23.5:1。[0219]這種情況下的副檢測光點91i或92i中的光的強度為照射於光檢測器73的⑶受光區域74的光的整體強度的大致1/25.5。另外，這種情況下的主檢測光點90i中的光的強度為照射於光檢測器73的CD受光區域74的光的整體強度的大致23.5/25.5。[0220]在這種情況下，例如利用下式(14)求得照射有副檢測光點911、92i的副受光部74b、74c的受光靈敏度的變化倍率。[0221]{(1/18)/(1/25.5)}X100=141.66667…(14)[0222]這樣，在例如將以往的方式設為100%的情況下，光檢測器73的⑶受光區域74中的副受光部74b或74c的受光靈敏度(mV/yW)設定為以往方式的大致142%的值。[0223]在這種情況下，例如利用下式(15)求得照射有主檢測光點90i的主受光部74a的受光靈敏度的變化倍率。[0224]{(16/18)/(23.5/25.5)}X100=96.45390…(15)[0225]這樣，在例如將以往的方式設為100%的情況下，光檢測器73的⑶受光區域74中的主受光部74a的受光靈敏度(mV/yW)設定為以往方式的大致96%的值。[0226]另外，根據光拾取裝置的設計、規格等，例如，與基於⑶標準的光碟D的光道D80上的先行副光點81相對應的副檢測光點911、與基於⑶標準的光碟D的光道D80上的主光點80相對應的主檢測光點901、和與基於⑶標準的光碟D的光道D80上的滯後副光點82相對應的副檢測光點92i的分光比也可以大致為1:20:1。[0227]這種情況下的副檢測光點91i或92i中的光的強度為照射於光檢測器73的CD受光區域74的光的整體強度的大致1/22。另外，這種情況下的主檢測光點90i中的光的強度為照射於光檢測器73的CD受光區域74的光的整體強度的大致20/22。[0228]在這種情況下，例如利用下式(16)求得照射有副檢測光點911、92i的副受光部74b、74c的受光靈敏度的變化倍率。[0229]{(1/18)/(1/22)}X100=122.22222???(16)[0230]這樣，在例如將以往的方式設為100%的情況下，光檢測器73的⑶受光區域74中的副受光部74b或74c的受光靈敏度(mV/yW)設定為以往方式的大致122%的值。[0231]在這種情況下，例如利用下式(17)求得照射有主檢測光點90i的主受光部74a的受光靈敏度的變化倍率。[0232]{(16/18)/(20/22)}X100=97.77778…(17)[0233]這樣，在例如將以往的方式設為100%的情況下，光檢測器73的⑶受光區域74中的主受光部74a的受光靈敏度(mV/iiW)設定為以往方式的大致98%的值。[0234]另外，根據光拾取裝置的設計、規格等，例如，與基於⑶標準的光碟D的光道D80上的先行副光點81相對應的副檢測光點911、與基於⑶標準的光碟D的光道D80上的主光點80相對應的主檢測光點901、和與基於⑶標準的光碟D的光道D80上的滯後副光點82相對應的副檢測光點92i的分光比也可以大致為1:26:1。[0235]這種情況下的副檢測光點91i或92i中的光的強度為照射於光檢測器73的CD受光區域74的光的整體強度的大致1/28。另外，這種情況下的主檢測光點90i中的光的強度為照射於光檢測器73的CD受光區域74的光的整體強度的大致26/28。[0236]在這種情況下，例如利用下式(18)求得照射有副檢測光點911、92i的副受光部74b、74c的受光靈敏度的變化倍率。[0237]{(1/18)/(1/28)}X100=155.55556…(18)[0238]這樣，在例如將以往的方式設為100%的情況下，光檢測器73的⑶受光區域74中的副受光部74b或74c的受光靈敏度(mV/yW)設定為以往方式的大致156%的值。[0239]在這種情況下，例如利用下式(19)求得照射有主檢測光點90i的主受光部74a的受光靈敏度的變化倍率。[0240]{(16/18)/(26/28)}X100=95.72650...(19)[0241]這樣，在例如將以往的方式設為100%的情況下，光檢測器73的CD受光區域74中的主受光部74a的受光靈敏度(mV/yW)設定為以往方式的大致96%的值。[0242]通過構成包括上述衍射光柵64A和上述光檢測器73的上述光拾取裝置，光檢測器73固然能夠應對與利用衍射光柵64A使依據DVD標準的第2雷射衍射分支而成的3個光束相關的主-副間距，也能夠應對與利用衍射光柵64A使依據CD標準的第I雷射衍射分支而成的3個光束相關的主-副間距以及分光比，從而能夠提高跟蹤錯誤信號等的錯誤信號檢測精度等。[0243]另外，由於光檢測器73的DVD受光區域75中的受光間隔Ys(dvd)以DVD用衍射光柵構件20或DVD用衍射光柵64A的光柵間隔d為基準，因此，例如在DVD標準的光碟D的信號層Da為第I層DLO和第2層DLl的2層構造的情況下，能夠抑制在第I層DLO再現時不僅在第2主受光部75a中、在另一個第2副受光部75b及另一個第2副受光部75c中也接受來自第2層DLl的反射光的狀況於未然。[0244]光拾取裝置的總論[0245]下面，利用圖1~圖8說明光拾取裝置。[0246]圖7是表示裝備於光拾取裝置的衍射光柵的第一實施方式的概略俯視圖，圖8是表示圖7中的衍射光柵的光碟半徑方向與相位差的關係的圖。[0247]如圖1及圖2所示，該光拾取裝置包括具有上述第I光源62及第2光源63的上述發光兀件61、上述衍射光柵64A、上述偏振光束分束器66、上述準直透鏡67、上述1/4波長板68、上述反射鏡69、上述物鏡70、上述第I平行平板71、上述第2平行平板72、上述光檢測器73、上述運算部76(圖2)和上述物鏡驅動部79。另外，根據需要，該光拾取裝置(圖1、圖2)還包括上述耦合透鏡65i和上述受光元件65ii。[0248]詳細地說明，該光拾取裝置包括衍射光柵64A和光檢測器73而構成；上述衍射光柵64A至少應對第I雷射波長光、和作為與第I雷射波長光的波長不同的雷射且作為波長比第I雷射波長光短的雷射的第2雷射波長光，將第I雷射波長光至少分為一道第I主光束和兩道第I副光束,將第2雷射波長光至少分為一道第2主光束和兩道第2副光束,具有應對第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射面部20a(圖3、圖6、圖7);上述光檢測器73具有第I受光區域74和第2受光區域75，該第I受光區域74包括照射有一道第I主光束的一個第I主受光部74a(圖4、圖5)、和照射有兩道第I副光束的兩個第I副受光部74b、74c，該第2受光區域75包括照射有一道第2主光束的一個第2主受光部75a、和照射有兩道第2副光束的兩個第2副受光部75b、75c。[0249]只要構成圖1、圖2等所示的光拾取裝置，就能構成抑制在衍射光柵64A中產生無用的衍射光的光拾取裝置。[0250]以往的光拾取裝置通常包括衍射光柵300A、300B，該衍射光柵300A、300B具有應對第I雷射波長光的第I衍射面部302(圖20、圖21)、和應對第2雷射波長光的第2衍射面部304這兩個衍射面部302、304。因此，在以往的光拾取裝置中，在第I雷射波長光透過應對第I雷射波長光的衍射光柵300A、300B的第I衍射面部302時，第I雷射波長光至少被分為一道第I主光束和兩道第I副光束，但在第I雷射波長光透過應對第2雷射波長光的衍射光柵300A、300B的第2衍射面部304時，產生無用的衍射光。[0251]另外，在以往的光拾取裝置中，在第2雷射波長光透過應對第I雷射波長光的衍射光柵300A、300B(圖20、圖21)的第I衍射面部302時，產生無用的衍射光。在第2雷射波長光透過應對第2雷射波長光的衍射光柵300A、300B的第2衍射面部304時，第2雷射波長光至少被分為一道第2主光束和兩道第2副光束。[0252]相對於此，具有應對第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射面部20a(圖3、圖6、圖7)的衍射光柵64A裝備於光拾取裝置，只要在第I雷射波長光透過應對第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射光柵64A的衍射面部20a時，第I雷射波長光至少被分為一道第I主光束和兩道第I副光束，就能大體上防止在第I雷射波長光透過衍射光柵64A時產生無用的衍射光。[0253]另外，在第2雷射波長光透過應對第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a時，大體上不會產生無用的衍射光，第2雷射波長光至少被分為一道第2主光束和兩道第2副光束。[0254]另外，以往的光檢測器270(圖18)的⑶受光區域280中的第I主受光部200a與第I副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(cd)為與第I雷射波長光相對應地規格化的通常的距離Yt(Cd)。為了方便起見，本發明中的「規格化」例如在說明已廣泛普及的以往的形態等時採用。例如，規格化的尺寸相當於通過進行大量生產等而實質上規格化的尺寸等。例如，規格化的光檢測器270是迄今為止大量生產而在市場等中廣泛普及的通用的光檢測器270等。第I雷射波長光的一道第I主光束照射於以往規格的一個第I主受光部200a，第I雷射波長光的兩道第I副光束照射於以往規格的第I副受光部200b、200c。[0255]但是，例如相對於應對第I雷射波長光而規格化的光檢測器270(圖18)的通常的第I主受光部200a與第I副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(cd)，光檢測器73(圖5)中的第I主受光部74a與第I副受光部74b、74c的中心點之間距離Ys(cd)發生變化。[0256]例如，相對於應對第I雷射波長光而規格化的光檢測器270(圖18)的通常的第I主受光部200a與第I副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(cd)，在該光檢測器73(圖5)中，第I主受光部74a與第I副受光部74b、74c的中心點之間距離Ys(cd)發生變化，因此，能避免產生在第I雷射波長光通過應對第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a時，由應對第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射光柵64A的衍射面部20a分出的第I雷射波長光的兩道第I副光束無法良好地照射在裝備於光檢測器73(圖4、圖5)的第I受光區域74的兩個第I副受光部74b、74c這樣的不良。[0257]通過第I雷射波長光透過應對第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a而大體上不會產生無用的衍射光地被分出的第I雷射波長光的兩道第I副光束可靠地照射於兩個第I副受光部74b、74c，該第I副受光部74b,74c與裝備於光檢測器73(圖5)的第I受光區域74的一個第I主受光部74a的距離Ys(cd)發生了變化。[0258]另外，通過第I雷射波長光透過應對第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a而大體上不會產生無用的衍射光地被分出的第I雷射波長光的一道第I主光束可靠地照射於裝備於光檢測器73(圖4、圖5)的第I受光區域74的一個第I主受光部74a。[0259]另外，光檢測器73(圖5)的第2受光區域75中的第2主受光部75a與第2副受光部75b、75c的中心點之間距離Ys(dvd)和與第2雷射波長光相對應地規格化的光檢測器270(圖19)的通常距離Yt(dvd)相同。[0260]通過第2雷射波長光透過應對第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a而大體上不會產生無用的衍射光地被分出的第2雷射波長光的兩道第2副光束可靠地照射於裝備於光檢測器73(圖4、圖5)的、與以往規格相同的第2受光區域75的兩個第2副受光部75b、75c。[0261]另外，通過第2雷射波長光透過應對第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a而大體上不會產生無用的衍射光地被分出的第2雷射波長光的一道第2主光束可靠地照射於裝備於光檢測器73的、與以往規格相同的第2受光區域75的一個第2主受光部75a。[0262]在光檢測器73(圖5)中變化的第I主受光部74a與第I副受光部74b、74c的中心點之間距離Ys(cd)被設定為長於例如規格化後的光檢測器270(圖18)的通常的第I主受光部200a與第I副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(cd)。[0263]詳細地說明，在規格化後的光檢測器270(圖18)的通常的第I主受光部200a與第I副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(cd)的值定為100%的值時，在光檢測器73(圖5)中變化的第I主受光部74a與第I副受光部74b、74c的中心點之間距離Ys(cd)的值被設定為例如規格化後的光檢測器270(圖18)的通常的第I主受光部200a與第I副受光部200b,200c的中心點之間距離Yt(cd)的值的大致111%的值。[0264]只要構成圖4及圖5所示的光檢測器73，就能構成提高了錯誤信號等信號的檢測精度的光拾取裝置。能避免由衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a分開第I雷射波長光而產生的一道第I主光束對光檢測器73(圖4、圖5)的兩個第I副受光部74b、74c產生不良影響。[0265]另外，只要構成圖4及圖5所示的光檢測器73，就能構成提高了錯誤信號等信號的檢測精度的光拾取裝置。能避免由衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a分開第I雷射波長光而產生的兩道第I副光束中的任一個或兩個對光檢測器73(圖4、圖5)的一個第I主受光部74a產生不良影響。[0266]例如，在光檢測器73(圖5)中變化的第I主受光部74a與第I副受光部74b、74c的中心點之間距離Ys(cd)被設定為短於規格化後的光檢測器270(圖18)的通常的第I主受光部200a與第I副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(cd)時，一道第I主光束有可能干涉到光檢測器73(圖4、圖5)的兩個第I副受光部74b、74c。[0267]另外，例如，在光檢測器73(圖5)中變化的第I主受光部74a與第I副受光部74b、74c的中心點之間距離Ys(Cd)被設定為短於規格化後的光檢測器270(圖18)的通常的第I主受光部200a與第I副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(cd)時，兩道第I副光束中的任一個或兩個有可能干涉到光檢測器73(圖4、圖5)的一個第I主受光部74a。[0268]但是，由於在新的光檢測器73(圖5)中變化的第I主受光部74a與第I副受光部74b,74c的中心點之間距離Ys(Cd)被設定得長於規格化後的光檢測器270(圖18)的通常的第I主受光部200a與第I副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(cd)，因此，在一道第I主光束照射於光檢測器73的一個第I主受光部74a時，易於避免一道第I主光束幹涉於兩個第I副受光部74b、74c中的任一個或兩個。[0269]由於在將規格化後的光檢測器270(圖18)的通常的第I主受光部200a與第I副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(cd)的值定為100%的值時，在新的光檢測器73(圖5)中變化的第I主受光部74a與第I副受光部74b、74c的中心點之間距離Ys(cd)的值被設定為規格化後的光檢測器270(圖18)的通常的第I主受光部200a與第I副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(cd)的值的大致111%的值，因此，在一道第I主光束照射於光檢測器73(圖5)的一個第I主受光部74a時，易於避免一道第I主光束幹涉到兩個第I副受光部74b、74c中的任一個或兩個。[0270]另外，由於在新的光檢測器73(圖5)中變化的第I主受光部74a與第I副受光部7仙、74(:的中心點之間距離￥8((3(1)被設定得長於規格化的光檢測器270(圖18)的通常的第I主受光部200a與第I副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(cd)，因此，在前後兩道第I副光束照射於光檢測器73的前後兩個第I副受光部74b、74c時，易於避免兩道第I副光束中的任一個或兩個幹涉到一個第I主受光部74a。[0271]由於在將規格化後的光檢測器270(圖18)的通常的第I主受光部200a與第I副受光部200b、200c的中心點之`間距離Yt(cd)的值定為100%的值時，在新的光檢測器73(圖5)中變化的第I主受光部74a與第I副受光部74b、74c的中心點之間距離Ys(cd)的值被設定為規格化的光檢測器270(圖18)的通常的第I主受光部200a與第I副受光部200b,200c的中心點之間距離Yt(cd)的值的大致111%的值，因此，在前後兩道第I副光束照射於光檢測器73(圖5)的前後兩個第I副受光部74b、74c時，易於避免兩道第I副光束中的任一個或兩個幹涉於一個第I主受光部74a。[0272]光檢測器73的第2主受光部75a與第2副受光部75b、75c的中心點之間距離Ys(dvd)與規格化後的光檢測器270(圖19)的通常的第2主受光部200a與第2副受光部200b,200c的中心點之間距離Yt(dvd)相同。[0273]在規格化後的光檢測器270(圖19)的通常的第2主受光部200a與第2副受光部200b,200c的中心點之間距離Yt(dvd)的值定為100%的值時，在光檢測器73(圖5)中第2主受光部75a與第2副受光部75b、75c的中心點之間距離Ys(dvd)的值例如被設定為規格化後的光檢測器270(圖19)的通常的第2主受光部200a與第I副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(dvd)的值的大致100%的值。[0274]只要構成圖4及圖5所示的光檢測器73，就能構成提高了錯誤信號等信號的檢測精度的光拾取裝置。能避免由衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a分開第2雷射波長光而產生的一道第2主光束對光檢測器73(圖4、圖5)的兩個第2副受光部75b、75c產生不良影響。還能避免由衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a分開第2雷射波長光而產生的兩道第2副光束中的任一個或兩個對光檢測器73(圖4、圖5)的一個第2主受光部75a產生不良影響。[0275]例如在光檢測器73(圖5)中，第I主受光部74a與第I副受光部74b、74c的中心點之間距離Ys(cd)不變而將第I主受光部74a與第I副受光部74b、74c的中心點之間距離Ys(Cd)被設定得與規格化後的光檢測器270(圖18)的通常的第I主受光部200a與第I副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(cd)相等的情況下，有必要縮窄光檢測器73(圖5)中的第2主受光部75a與第2副受光部75b,75c的中心點之間距離Ys(dvd)。[0276]例如，在光檢測器73中第2主受光部75a與第2副受光部75b、75c的中心點之間距離Ys(dvd)被設定得短於規格化後的光檢測器270(圖19)的通常的第2主受光部200a與第2副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(dvd)時，由衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a分開第2雷射波長光而產生的一道第2主光束有可能干涉到光檢測器73(圖4、圖5)的兩個第2副受光部75b、75c。[0277]例如圖5所示，在具有第I層DLO與第2層DLl這多個層DLO、DLl的DVD標準的光碟D的第I層DLO中進行信號再現或信號記錄時，DVD標準的光碟D的第2層DLl中的無用的反射光有可能作為贗像進入到光檢測器73中的DVD受光區域75的一個第2副受光部75b或另一個第2副受光部75c中的任一個或兩個。[0278]這樣，在使用具有多個層DLO、DLl的DVD標準的光碟D而在第I層DLO或第2層DLl中的任一個層DLO或層DLl中進行信號再現或者信號記錄時，有可能發生洩漏信號進入到光檢測器73中的DVD受光區域75的一個第2副受光部75b或另一個第2副受光部75c中的任一個或兩個中這樣的所謂的層間串擾。[0279]另外，例如在光檢測器73中第2主受光部75a與第2副受光部75b、75c的中心點之間距離Ys(dvd)被設定得短於規格化後的光檢測器270(圖19)的通常的第2主受光部200a與第2副受光部200b,200c的中心點之間距離Yt(dvd)時，由衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a分開第2雷射波長光而產生的兩道第2副光束中的任一個或兩個有可能干涉到光檢測器73(圖4、圖5)的一個第2主受光部75a。[0280]只要光檢測器73中第2主受光部75a與第2副受光部75b、75c的中心點之間距離Ys(dvd)被設定得與規格化後的光檢測器270(圖19)的通常的第2主受光部200a與第2副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(dvd)相同，就能避免例如一道第2主光束幹涉於光檢測器73(圖5)的兩個第2副受光部75b、75c中的任一個或兩個、或者兩道第2副光束中的任一個或兩個幹涉於光檢測器73的一個第2主受光部75a。[0281]由於在將規格化後的光檢測器270(圖19)的通常的第2主受光部200a與第2副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(dvd)的值定為100%的值時，在新的光檢測器73(圖5)中第2主受光部75a與第2副受光部75b、75c的中心點之間距離Ys(dvd)的值被設定為規格化後的光檢測器270(圖19)的通常的第2主受光部200a與第2副受光部200b,200c的中心點之間距離Yt(dvd)的值的大致100%的值，因此，在一道第2主光束照射於光檢測器73(圖5)的一個第2主受光部75a時，能避免一道第2主光束幹涉到兩個第2副受光部75b、75c中的任一個或兩個。[0282]另外，由於在將規格化後的光檢測器270(圖19)的通常的第2主受光部200a與第2副受光部200b、200c的中心點之間距離Yt(dvd)的值定為100%的值時，在新的光檢測器73(圖5)中第2主受光部75a與第2副受光部75b、75c的中心點之間距離Ys(dvd)的值被設定為規格化後的光檢測器270(圖19)的通常的第2主受光部200a與第2副受光部200b,200c的中心點之間距離Yt(dvd)的值的大致100%的值，因此，在前後兩道第2副光束照射於光檢測器73(圖5)的前後兩個第2主受光部75b、75c時，能避免兩道第2副光束中的任一個或兩個幹涉於一個第2主受光部75a。[0283]在以光檢測器73(圖4、圖5)的第I主受光部74a為中心地配置有一對位置變化後的第I副受光部74b、74c，前側的位置變化後的第I副受光部74b、中央的第I主受光部74a、後側的位置變化後的第I副受光部74c並列設置在大致一條直線上時，前側的位置變化後的第I副受光部74b、中央的第I主受光部74a、後側的位置變化後的第I副受光部74c的分光比相對於以往規格化後的光檢測器270(圖18)的前側的第I副受光部200b、中央的第I主受光部200a、後側的第I副受光部200c的分光比發生變化。[0284]詳細地說明，在以光檢測器73(圖4、圖5)的第I主受光部74a為中心地配置有一對位置變化後的第I副受光部74b、74c，前側的位置變化後的第I副受光部74b、中央的第I主受光部74a、後側的位置變化後的第I副受光部74c並列設置在大致一條直線上時，前側的位置變化後的第I副受光部74b、中央的第I主受光部74a、後側的位置變化後的第I副受光部74c的分光比為大致1:(20?26):I。即，前例的位置變化後的第I副受光部74b、中央的第I主受光部74a、後側的位置變化後的第I副受光部74c的分光比為大致1:(23±3):I。[0285]只要設定變化後的光檢測器73(圖4、圖5)的第I雷射波長光的分光比相對於以往規格化後的光檢測器270(圖18)的第I雷射波長光的分光比發生變化，就易於利用新的設定變化後的光檢測器73高精度且良好地檢測一道第I主光束和兩道第I副光束。只要相對於以往規格化後的光檢測器270(圖18)的第I雷射波長光的分光比被設定為大致I:16:1，設定變化後的光檢測器73(圖4、圖5)的第I雷射波長光的分光比被設定為大致1:(20?26):1、即大致1:(23±3):1，就易於利用新的設定變化後的光檢測器73高精度且良好地檢測一道第I主光束和兩道第I副光束。[0286]例如，在第I雷射波長光透過具有與第I雷射波長光相對應的第I衍射面部302(圖20、圖21)、和與第2雷射波長光相對應的第2衍射面部304這兩個衍射面部302、304的以往的衍射光柵300A、300B，第I雷射波長光至少被分為前側的一道第I副光束、中央的一道第I主光束、後側的一道第I副光束時，照射有前側的一道第I副光束的前側的第I副受光部200b(圖18)、照射有中央的一道第I主光束的中央的第I主受光部200a、照射有後側的一道第I副光束的後側的第I副受光部200c的分光比例如被設定為通常的大致I:16:1，從而能利用以往規格化後的光檢測器270高精度地檢測一道第I主光束和兩道第I副光束。[0287]但是，例如在不設置具有與第I雷射波長光相對應的衍射面部302(圖20、圖21)的衍射光柵320而將其省略，第I雷射波長光透過應對第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的、具有衍射面部304的衍射光柵300A、300B，第I雷射波長光至少被分為前側的一道第I副光束、中央的一道第I主光束、後側的一道第I副光束的情況下，照射有前側的一道第I副光束的前側的位置變化後的第I副受光部200b(圖18)、照射有中央的一道第I主光束的中央的第I主受光部200a、照射有後側的一道第I副光束的後側的位置變化後的第I副受光部200c的分光比例如被設定為通常的大致1:16:1時，在以往規格化後的光檢測器270中，有可能無法高精度地檢測一道第I主光束和兩道第I副光束。[0288]相對於此，在第I雷射波長光透過應對第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的、具有衍射面部20a(圖3、圖6、圖7)的衍射光柵64A，第I雷射波長光至少被分為前側的一道第I副光束、中央的一道第I主光束、後側的一道第I副光束時，只要照射有前側的一道第I副光束的前側的位置變化後的第I副受光部74b(圖4、圖5)、照射有中央的一道第I主光束的中央的第I主受光部74a、照射有後側的一道第I副光束的後側的位置變化後的第I副受光部74c的分光比相對於以往規格化後的光檢測器270(圖18)的前側的第I副受光部200b、中央的第I主受光部200a、後側的第I副受光部200c的分光比發生變化而被設定為大致1:(20?26):1、即1:(23±3):1，就能利用設定變化後的光檢測器73(圖4、圖5)高精度地且良好地檢測一道第I主光束和兩道第I副光束。[0289]另外，在照射有前側的一道第I副光束的前側的位置變化後的第I副受光部74b、照射有中央的一道第I主光束的中央的第I主受光部74a、照射有後側的一道第I副光束的後側的位置變化後的第I副受光部74c的分光比例如為1:小於20:I的情況下、或該分光比例如為大致1:大於26:I的情況下，有可能無法高精度地檢測一道第I主光束和兩道第I副光束，但通過該分光比被設定為大致1:(20?26):1、優選為大致1:(21?25):1，能高精度且良好地檢測一道第I主光束和兩道第I副光束。[0290]在以光檢測器73的第2主受光部75a為中心地配置有一對第2副受光部75b、75c，前側的第2副受光部75b、中央的第2主受光部75a、後側的第2副受光部75c並列設置在大致一條直線上時，前側的第2副受光部75b、中央的第2主受光部75a、後側的第2副受光部75c的分光比為大致1:(12?18):I。即，前側的第2副受光部75b、中央的第2主受光部75a、後側的第2副受光部75c的分光比為大致1:(15±3):1。[0291]只要這樣地決定分光比，就能利用光檢測器73高精度且良好地檢測一道第2主光束和兩道第2副光束。只要在第2雷射波長光透過應對第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的、具有衍射面部20a(圖3、圖6、圖7)的衍射光柵64A，第2雷射波長光至少被分為前側的一道第2副光束、中央的一道第2主光束、後側的一道第2副光束時，照射有前側的一道第2副光束的前側的第2副受光部75b(圖4、圖5)、照射有中央的一道第2主光束的中央的第2主受光部75a、照射有後側的一道第2副光束的後側的第2副受光部75c的分光比被設定為大致1:(12?18):1、即大致1:(15±3):1，就能利用光檢測器73高精度且良好地檢測一道第2主光束和兩道第2副光束。[0292]另外，在照射有前側的一道第2副光束的前側的第2副受光部75b、照射有中央的一道第2主光束的中央的第2主受光部75a、照射有後側的一道第2副光束的後側的第2副受光部75c的分光比例如為1:小於12:I的情況下、或該分光比例如為大致1:大於18:I的情況下，有可能無法高精度地檢測一道第2主光束和兩道第2副光束，但通過該分光比被設定為大致1:(12?18):1、優選為大致1:(14?18):1，能高精度且良好地檢測一道第2主光束和兩道第2副光束。[0293]相對於規格化後的一個第I主受光部200a(圖18)中的通常受光靈敏度的值，一個第I主受光部74a(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值變化或與其相同。詳細地說明，在將規格化後的一個第I主受光部200a(圖18)中的通常受光靈敏度的值定為100%的值時，相對於規格化後的一個第I主受光部200a中的通常受光靈敏度的值，發生了變化的或與其相同的一個第I主受光部74a(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值被設定為大致小於100%或大致100%以下的較低的值。[0294]另外，相對於規格化後的兩個第I副受光部200b、200c(圖18)中的通常受光靈敏度的值，兩個第I副受光部74b、74c(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值發生變化。詳細地說明，在將規格化後的兩個第I副受光部200b、200c(圖18)中的通常受光靈敏度的值均定為100%的值時，相對於規格化後的兩個第I副受光部200b、200c中的通常受光靈敏度的值，變化後的兩個第I副受光部74b、74c(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值均被設定為大致100%以上或大致大於100%的較高的值。[0295]只要受光靈敏度的值這樣地相對於以往的值變化或與其相同地設定，就易於利用新的設定變化後的光檢測器73比較高精度地檢測一道第I主光束和兩道第I副光束。通過相對於規格化後的一個第I主受光部200a(圖18)中的通常受光靈敏度，一個第I主受光部74a(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值變化或與其相同，相對於規格化後的兩個第I副受光部200b、200c(圖18)中的通常受光靈敏度，兩個第I副受光部74b、74c(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值發生變化，就易於利用新的設定變化後的光檢測器73比較高精度地檢測一道第I主光束和兩道第I副光束。[0296]詳細地說明，通過相對於將規格化後的一個第I主受光部200a(圖18)中的通常受光靈敏度的值設為100%，變化或與其相同的一個第I主受光部74a(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值被設定為大致小於100%或大致100%以下的較低的值，相對於將規格化後的兩個第I副受光部200b、200c(圖18)中的通常受光靈敏度的值均設為100%，變化後的兩個第I副受光部74b、74c(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值均被設定為大致100%以上或大致大於100%的較高的值，易於利用新的設定變化後的光檢測器73比較高精度地檢測一道第I主光束和兩道第I副光束。[0297]在將規格化後的一個第I主受光部200a(圖18)中的通常受光靈敏度的值定為100%的值時，相對於規格化後的一個第I主受光部200a(圖18)中的通常受光靈敏度的值，變化或與其相同的一個第I主受光部74a(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值被設定為大致95?100%、優選為大致96?100%的值。另外，在將規格化後的兩個第I副受光部200b、200c(圖18)中的通常受光靈敏度的值均定為100%的值時，相對於規格化後的兩個第I副受光部200b、200c中的通常受光靈敏度的值，變化後的兩個第I副受光部74b、74c(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值均被設定為大致120?160%、均優選為大致138?142%的值。[0298]只要這樣地設定受光靈敏度的值，就能利用新的設定變化後的光檢測器73高精度且良好地檢測一道第I主光束和兩道第I副光束。相對於將規格化後的一個第I主受光部200a(圖18)中的通常受光靈敏度的值設為100%，變化或與其相同的一個第I主受光部74a(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值被設定為大致95?100%、優選為大致96?100%的值，相對於將規格化後的兩個第I副受光部200b、200c(圖18)中的通常受光靈敏度的值均設為100%，變化後的兩個第I副受光部74b、74c(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值均被設定為大致120?160%、均優選為大致138?142%的值，從而能利用新的設定變化後的光檢測器73高精度且良好地檢測一道第I主光束和兩道第I副光束。[0299]一個第2主受光部75a中的受光靈敏度的值為規格化後的一個第2主受光部200a(圖19)中的通常受光靈敏度的值。在將規格化後的一個第2主受光部200a中的通常受光靈敏度的值定為100%的值時，相對於規格化後的一個第2主受光部200a中的通常受光靈敏度的值，一個第2主受光部75a(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值被設定為大致100%的值。[0300]另外，兩個第2副受光部75b、75c中的受光靈敏度的值為規格化後的兩個第2副受光部200b、200c(圖19)中的通常受光靈敏度的值。在將規格化後的兩個第2副受光部200b、200c中的通常受光靈敏度的值均定為100%的值時，相對於規格化後的兩個第2副受光部200b、200c中的通常受光靈敏度的值，兩個第2副受光部75b、75c(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值均被設定為大致100%的值。[0301]只要這樣地設定受光靈敏度的值，就能利用光檢測器73高精度地檢測一道第2主光束和兩道第2副光束。通過一個第2主受光部75a中的受光靈敏度的值為規格化後的一個第2主受光部200a(圖19)中的通常受光靈敏度的值，兩個第2主受光部75b、75c(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值為規格化後的兩個第2主受光部200b、200c(圖19)中的通常受光靈敏度的值，能利用光檢測器73高精度地檢測一道第2主光束和兩道第2副光束。[0302]通過相對於將規格化後的一個第2主受光部200a(圖19)中的通常受光靈敏度的值設為100%，一個第2主受光部75a(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值被設定為大致100%的值，相對於將規格化後的兩個第2副受光部200b、200c(圖19)中的通常受光靈敏度的值均設為100%，兩個第2副受光部75b、75c(圖4、圖5)中的受光靈敏度的值均被設定為大致100%的值，能利用光檢測器73高精度地檢測一道第2主光束和兩道第2副光束。[0303]衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a兼作將第I雷射波長光至少分為一道第I主光束和兩道第I副光束的衍射面部20a、和將第2雷射波長光至少分為一道第2主光束和兩道第2副光束的衍射面部20a,形成為與多種雷射波長光的衍射相對應的一個面部20a。[0304]只要這樣地形成衍射光柵64A的衍射面部20a，就能構成能夠抑制在衍射光柵64A中產生無用的衍射光、且防止雷射的效率降低、並且將價格抑制得較低的光拾取裝置。[0305]例如在第I雷射波長光透過具有與第I雷射波長光相對應的第I衍射面部302(圖20、圖21)、和與第2雷射波長光相對應的第2衍射面部304這兩個衍射面部302、304的以往的衍射光柵300A、300B的第I衍射面部302，第I雷射波長光至少被分為一道第I主光束和兩道第I副光束時，因衍射光柵300A、300B的第2衍射面部304而第I雷射波長光的第I主光束進一步無用地衍射、且第I副光束進一步無用地衍射，隨之，有可能導致第I雷射波長光的第I主光束及第I副光束的光的效率降低。[0306]另外，例如在第2雷射波長光透過具有與第I雷射波長光相對應的第I衍射面部302、和與第2雷射波長光相對應的第2衍射面部304這兩個衍射面部302、304的以往的衍射光柵300A、300B的第2衍射面部304，第2雷射波長光至少被分為一道第2主光束和兩道第2副光束時，因衍射光柵300A、300B的第I衍射面部302而第2雷射波長光無用地衍射，隨之，有可能導致第2雷射波長光的光的效率降低。[0307]但是，只要衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a兼作將第I雷射波長光至少分為一道第I主光束和兩道第I副光束的衍射面部20a、和將第2雷射波長光至少分為一道第2主光束和兩道第2副光束的衍射面部20a,形成為與多種雷射波長光的衍射相對應的一個面部20a，就能避免第I雷射波長光的第I主光束及第I副光束無用地衍射而第I雷射波長光的第I主光束及第I副光束的光的效率降低、或者第2雷射波長光無用地衍射而第2雷射波長光的光的效率降低。[0308]另外，由於衍射光柵64A的衍射面部20a兼作將第I雷射波長光至少分為一道第I主光束和兩道第I副光束的衍射面部20a、和將第2雷射波長光至少分為一道第2主光束和兩道第2副光束的衍射面部20a，形成為與多種雷射波長光的衍射相對應的一個面部20a，因此，能構成減少了加工部分、加工工時等的衍射光柵64A。由於衍射光柵64A的加工部分、加工工時等減少，因此，能將衍射光柵64A的價格抑制得較低。隨之，能夠構成能將價格抑制得較低的光拾取裝置。[0309]如圖3及圖7所示，在衍射光柵64A中設有在從雷射單元61(圖1、圖2)射出的雷射的一部分產生P弧度的相位移位的相位移位區域部21、22(圖3、圖7)。衍射光柵64A被分為大致長方形狀的第一區域部21、和與第一區域部21相鄰的大致長方形狀的第二區域部22這至少2個區域部21、22。衍射光柵64A被分為多個區域部21、22。在各區域部21、22內構成規定的周期構造。[0310]在圖3及圖7所示的衍射光柵64A中，構成衍射光柵64A的各區域部21、22的周期構造為重複微細的凹凸狀的周期構造。另外，衍射光柵64A為例如做成大致3?IOmm方形的縱橫尺寸的、厚度為大致0.3?3mm的玻璃板。[0311]只要構成被分為多個區域部21、22的衍射光柵64A，就易於良好地進行光拾取裝置相對於介質D(圖4、圖5)的信號面部Da的錯誤信號檢測。例如，易於良好地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。通過衍射光柵64A(圖3、圖7)被分為多個區域部21、22地構成，對介質D(圖4)的信號面部Da照射有各自獨立的至少三個聚光點80、81、82。由於在介質D的信號面部Da各自獨立地照射有至少三個聚光點80、81、82，因此，在光道間距Dtp不同的兩種以上介質D記錄、再現時，易於避免跟蹤錯誤信號等錯誤信號的檢測精度降低。因而，能夠提供易於進行跟蹤控制的光拾取裝置。[0312]如圖3及圖7所示，衍射光柵64A被分為偶數的區域部21、22。[0313]只要構成被分為偶數的區域部21、22的衍射光柵64A，形成於介質D(圖4)的信號面部Da的聚光點80、81、82就形成為高精度的聚光點80、81、82。衍射光柵64A例如被衍射光柵64A(圖3、圖7)的分界線部26二等分而偶數分割為一個區域部21和另一個區域部22，因此，在光拾取裝置中裝備有衍射光柵64A時，照在衍射光柵64A上的光易於以大致二等分的狀態照在衍射光柵64A的一個區域部21、和衍射光柵64A的另一個區域部22。由於光易於以大致二等分的狀態照在衍射光柵64A的一個區域部21、和衍射光柵64A的另一個區域部22，因此，衍射光柵64A易於高精度地裝備於光拾取裝置。因而，易於在介質D(圖4)的信號面部Da高精度地形成聚光點80、81、82。隨之，提高了光道間距Dtp不同的兩種以上介質D在記錄、再現時的跟蹤錯誤信號等錯誤信號的檢測精度。另外，易於高精度地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。[0314]如圖3及圖7所示，衍射光柵64A被分為第一區域部21、和與第一區域部21相鄰的具有與第一區域部21的周期構造不同的周期構造的第二區域部22這2個區域部21、22。衍射光柵64A構成為所謂的二分割型的直線光柵。[0315]只要圖3及圖7所示的被分為多個區域部21、22的衍射光柵64A裝備於光拾取裝置，就能良好地進行光拾取裝置對介質D(圖2、圖4、圖5)的信號面部Da的錯誤信號檢測。例如，能良好地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。通過衍射光柵64A(圖3、圖7)被分為2個區域部21、22地構成，對介質D(圖4)的信號面部Da照射有各自獨立的至少3個聚光點80、81、82。由於在介質D的信號面部Da各自獨立地照射有至少3個聚光點80、81、82，因此，在進行光道間距Dtp不同的兩種以上介質D的數據記錄、或進行光道間距Dtp不同的兩種以上介質D的數據再現時，能避免例如隨著物鏡70(圖1、圖2)的移位而使跟蹤錯誤信號等錯誤信號的檢測精度降低。因而，能夠提供易於進行跟蹤控制的光拾取>J-U裝直。[0316]如圖7所示，衍射光柵64A具有作為第一區域部21的大致長方形狀的一個區域部21、和與一個區域部21相鄰的作為第二區域部22的大致長方形狀的另一個區域部22。衍射光柵64A的第一區域部21的寬度21w與第二區域部22的寬度22w為大致相等的寬度。利用衍射光柵64A的第一區域部21和與該第一區域部21相鄰的衍射光柵64A的第二區域部22的邊界線部26，衍射光柵64A被二等分為構成衍射光柵64A的一個區域部21、和構成衍射光柵64A的另一個區域部22。衍射光柵64A被分割為偶數部分。[0317]由此，形成於介質D(圖4)的信號面部Da的聚光點80、81、82形成為高精度的聚光點80、81、82。由於衍射光柵64A被偶數分割而成的衍射光柵64A(圖3、圖7)的第一區域部21、和與第一區域部21相鄰的第二區域部22之間的分界線部26二等分為作為第一區域部21的一個區域部21、和與一個區域部21相鄰的作為第二區域部22的另一個區域部22，因此，在光拾取裝置的機殼(未圖示)中裝備有衍射光柵64A時，從雷射單元61(圖1、圖2)射出而照在衍射光柵64A的雷射利用例如未圖示的光軸調整用照相機等容易地調整光軸。從雷射單元61射出而照在衍射光柵64A之後透過物鏡70的雷射能夠使用例如光軸調整用照相機等來觀察。[0318]在二分割型衍射光柵64A(圖3、圖7)中，在衍射光柵64A中設有將衍射光柵64A的大致中央二等分而構成大致長方形狀的一個區域部21、和大致長方形狀的另一個區域部22的分界線部26，因此，在使用光軸調整用照相機等調整雷射的光軸時，雷射易於以被大致二等分的狀態照在構成衍射光柵64A的大致長方形狀的一個區域部21、和構成衍射光柵64A的大致長方形狀的另一個區域部22中。[0319]通過雷射易於以被大致二等分的狀態照在構成衍射光柵64A的大致長方形狀的一個區域部21、和構成衍射光柵64A的大致長方形狀的另一個區域部22中，衍射光柵64A易於在高精度地定位調整的同時、裝備於光拾取裝置的機殼。因而，易於在介質D(圖4)的信號面部Da高精度地形成聚光點80、81、82。隨之，易於高精度地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。[0320]構成衍射光柵64A的大致線狀的分界線部26位於構成衍射光柵64A(圖3、圖7)的大致長方形狀的第一區域部21及大致長方形狀的第二區域部22之間。相對於第一區域部21的周期構造，第二區域部22的周期構造為具有不同的相位的周期構造。相對於第一區域部21的周期構造，第二區域部22的周期構造為具有大致相差180度左右相位的周期構造。[0321]由此，衍射光柵64A中的第一區域部21與第二區域部22被區別化，並且，衍射光柵64A中的第一區域部21與第二區域部22的相位差明確化。相對於衍射光柵64A的第一區域部21的周期構造，衍射光柵64A的第二區域部22的周期構造為具有大致相差180度左右相位的周期構造，因此，在介質D(圖4)的信號面部Da中良好地形成有至少3個各聚光點80、81、82。利用良好地形成於介質D的信號面部Da的至少3個各聚光點80、81、82，在光道間距Dtp不同的多種介質D的數據記錄、再現時，易於避免例如隨著物鏡70(圖1、圖2)的移位而導致跟蹤錯誤信號惡化。[0322]利用劃分第一區域部21(圖3、圖7)和第二區域部22的邊界線部26，將第一區域部21和第二區域部22分開。[0323]通過衍射光柵64A被分為2個區域部而區別化，在介質D的信號面部Da照射有各自獨立的至少3個聚光點80、81、82。由於在介質D的信號面部Da各自獨立地照射有至少3個聚光點80、81、82，因此，易於進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。[0324]衍射光柵64A(圖3、圖7)形成為大致矩形板狀。在俯視衍射光柵64A時，衍射光柵64A目測為大致矩形板狀。[0325]在縱長的大致長方形狀的第一區域部21和縱長的大致長方形狀的第二區域部22橫向並列地排列的狀態下，俯視衍射光柵64A時，在與一區域部右側相鄰的另一區域部的相位相對於衍射光柵64A的一區域部的相位以大致右上升臺階狀錯開的情況下，另一區域部的相位定為向正(+)側錯開。[0326]另外，在縱長的大致長方形狀的第一區域部21和縱長的大致長方形狀的第二區域部22橫向並列地排列的狀態下，俯視衍射光柵64A時，在與一區域部右側相鄰的另一區域部的相位相對於衍射光柵64A的一區域部的相位以大致右下降臺階狀錯開的情況下，另一區域部的相位定為向負(_)側錯開。[0327]另外，本申請的正⑴相位及負㈠相位的定義是用於說明衍射光柵的相位差狀態的簡便的定義。另外，本申請的「縱」、「橫」的定義也是用於說明衍射光柵的簡便的定義。[0328]在俯視衍射光柵64A時，相對於第一區域部21的周期構造，與第一區域部21右側相鄰的第二區域部22的周期構造為具有向正側錯開的相位的周期構造(圖8)。相對於第一區域部21(圖7)的周期構造，第二區域部22的周期構造為具有大致相差+180度相位的周期構造。[0329]該光拾取裝置能夠裝備於臺式個人計算機(PC:PersonalComputer)用的光拾取裝置來使用，並且，能夠裝備於筆記本式或可攜式PC用的光拾取裝置來使用。[0330]該光拾取裝置(圖1、圖2)例如包括俯視大致矩形的衍射光柵64A(圖7)、會聚至少3道光束而對介質D(圖1、圖2、圖4)的信號面部Da(圖4)照射各自獨立的至少3個聚光點80、81、82的物鏡70(圖1、圖2)、和接受介質D中的3個各聚光點80、81、82(圖4)的反射光的光檢測器73(圖1、圖2、圖4、圖5)而構成。[0331]只要這樣地構成光拾取裝置，就能高精度地進行光拾取裝置對介質D(圖4)的信號面部Da的跟蹤。在光道間距Dtp不同的多種介質D的數據記錄、再現時，易於避免隨著物鏡70(圖1、圖2)的移位而使跟蹤錯誤信號的振幅惡化、或在跟蹤錯誤信號中殘留偏離。[0332]通過構成包括相位移位型二分割衍射光柵64A(圖3、圖7)的光拾取裝置，能可靠地進行光拾取裝置對DVD-RAM的數據再現動作或者數據記錄動作。另外，也能可靠地進行光拾取裝置對DVD±R、DVD±RW的數據再現動作或者數據記錄動作。[0333]圖1、圖2所示的光檢測器73構成為例如能夠接受兩種雷射波長光、三種雷射波長光等這樣的多種雷射波長光的一個光檢測器73。[0334]只要將能夠接受多種雷射波長光的一個光檢測器73裝備於光拾取裝置，就能構成能夠應對多種介質D(圖1、圖2、圖4、圖5)的光拾取裝置，並隨著削減光拾取裝置的零件件數來謀求降低價格。由於光檢測器73(圖1、圖2)構成為能夠接受第I波長光和作為與第I波長光的波長不同、且波長比第I波長光更短的雷射的第2波長光這兩種以上波長光的、應對多種波長光的光檢測器73，因此，光拾取裝置能夠應對多種介質D。另外，與此同時，由於能夠接受第I波長光的光檢測器與能夠接受第2波長光的光檢測器合為一個光檢測器73，因此，能謀求光拾取裝置的零件削減化、小型化、輕薄化等。隨著光拾取裝置的零件削減化而將光拾取裝置的價格抑制得較低。因而，能夠提供能夠應對多種介質D、並謀求零件削減化、價格降低化、小型化、輕薄化等的光拾取裝置。[0335]另外，該光拾取裝置包括能夠射出兩種雷射波長光、三種雷射波長光等這樣的多種雷射波長光的一個發光元件61(圖1、圖2)。[0336]只要將能夠射出多種雷射波長光的一個發光元件61裝備於光拾取裝置，就能構成能夠應對多種介質D(圖1、圖2、圖4、圖5)的光拾取裝置，並隨著削減光拾取裝置的零件件數來謀求降低價格。由於發光元件61(圖1、圖2)構成為能夠射出第I波長光和作為與第I波長光的波長不同、且波長比第I波長光更短的雷射的第2波長光這兩種以上波長光的、射出多種波長光的發光元件61，因此，光拾取裝置能夠應對多種介質D。另外，與此同時，由於能夠射出第I波長光的發光元件與能夠射出第2波長光的發光元件合為一個發光元件61，因此，能謀求光拾取裝置的零件削減化、小型化、輕薄化等。隨著光拾取裝置的零件削減化而將光拾取裝置的價格抑制得較低。因而，能夠提供能夠應對多種介質D、並謀求零件削減化、價格降低化、小型化、輕薄化等的光拾取裝置。[0337]另外，通過削減光拾取裝置的零件件數，也能謀求光拾取裝置的性能、質量穩定化。例如，在能夠射出第I波長光的第I發光元件和能夠射出第2波長光的第2發光元件各自裝備於機殼等的情況下，例如根據第I發光元件及/或第2發光元件的安裝誤差等，有可能在第I波長光的光軸及第2波長光的光軸等中產生「偏差」。但是，只要能夠射出第I波長光的發光兀件和能夠射出第2波長光的發光兀件合為一個發光兀件61,就能減少由安裝誤差等導致光軸等產生「偏差」。因而，光拾取裝置的性能、質量穩定化。[0338]第I雷射波長光為依據CD標準的波長光。第I雷射波長光為依據CD標準的紅外雷射。詳細地說明，第I雷射波長光的波長與⑶標準的光碟D相對應地為大致765?830nm，作為基準的波長為大致780?782nm。例如作為基準的波長收入在大致765?830nm範圍內的波長光為第I雷射波長光。自二波長發光兀件61的第I光源62射出的第I雷射波長光有時會根據例如發光元件61的蓄熱溫度等而變動。[0339]另外,第2雷射波長光為依據DVD標準的波長光。第2雷射波長光為依據DVD標準的紅色雷射。詳細地說明，第2雷射波長光的波長與DVD標準的光碟D相對應地為大致630?685nm,作為基準的波長為大致635?660nm。例如作為基準的波長收入在大致630?685nm範圍內的波長光為第2雷射波長光。自二波長發光兀件61的第2光源63射出的第2雷射波長光有時會根據例如發光元件61的蓄熱溫度等而變動。[0340]只要採用僅在單面具有衍射面部20a(圖3、圖6、圖7)的衍射光柵64A，就能大體上防止在波長光為與⑶標準的光碟D(圖1、圖2)相對應的大致765~830nm、基準波長為大致780~782nm的、依據CD標準的第I雷射波長光透過衍射光柵64A時產生無用的衍射光。[0341]另外，只要採用僅在單面具有衍射面部20a(圖3、圖6、圖7)的衍射光柵64A，就能大體上防止在波長光為與DVD標準的光碟D(圖1、圖2)相對應的大致630~685nm、基準波長為大致635~660nm的、依據DVD標準的第2雷射波長光透過衍射光柵64A時產生無用的衍射光。[0342]通過依據CD標準的、規定波長光的第I雷射波長光透過應對依據DVD標準的第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a而大體上不會產生無用的衍射光地被分出的、依據CD標準的第I雷射波長光的兩道第I副光束可靠地照射於兩個第I副受光部74b、74c，該第I副受光部74b、74c的中心點之間相對於裝備於光檢測器73(圖5)的第I受光區域74的一個第I主受光部74a的距離Ys(cd)發生了變化。另外，通過依據CD標準的、規定波長光的第I雷射波長光透過應對依據DVD標準的第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a而大體上不會產生無用的衍射光地被分出的、依據CD標準的第I雷射波長光的一道第I主光束可靠地照射於裝備於光檢測器73(圖5)的第I受光區域74的一個第I主受光部74a。[0343]另外，在依據DVD標準的、規定波長光的第2雷射波長光透過應對依據DVD標準的第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射光柵64A(圖3、圖6、圖7)的衍射面部20a時，大體上不會產生無用的衍射光，依據DVD標準的、規定波長光的第2雷射波長光至少被分為一道第2主光束和兩道第2副光束。依據DVD標準的第2雷射波長光的兩道第2副光束可靠地照射於裝備於光檢測器73(圖5)的、與以往規格相同的第2受光區域75的兩個第2副受光部75b、75c，依據DVD標準的第2雷射波長光的一道第2主光束可靠地照射於裝備於光檢測器73的、與以往規格相同的第2受光區域75的一個第2主受光部75a。[0344]根據光拾取裝置等的設計、規格等，例如第I雷射波長光也可以為依據「DVD」標準的波長光。例如第I雷射波長光也可以為依據「DVD」標準的紅色雷射。詳細地說明，第I雷射波長光的波長與「DVD」標準的光碟(D)相對應地為大致630~685nm，作為基準的波長為大致635~660nm。例如作為基準的波長收入在大致630~685nm範圍內的波長光為第I雷射波長光。自二波長發光兀件(61)的第I光源(62)射出的第I雷射波長光有時會根據例如發光元件(61)的蓄熱溫度等而變動。[0345]另外，根據光拾取裝置等的設計等，例如第2雷射波長光也可以為依據「Blu-rayDisc」標準或「HDDVD」標準的波長光。例如第2雷射波長光也可以為依據「Blu-rayDisc」標準或「HDDVD」標準的綠紫色雷射。詳細地說明，第2雷射波長光的波長與「Blu-rayDisc」標準或「HDDVD」標準的光碟(D)相對應地為大致340~450nm，作為基準的波長為大致405nm。例如作為基準的波長收入在大致340~450nm範圍內的波長光為第2雷射波長光。自二波長發光兀件(61)的第2光源(63)射出的第2雷射波長光有時會根據例如發光元件(61)的蓄熱溫度等而變動。[0346]只要採用僅在單面具有衍射面部(20a)(圖3、圖6、圖7)的衍射光柵(64A)，就能大體上防止在波長光為與「DVD」標準的光碟⑶(圖1、圖2)相對應的大致630~685nm、基準波長為大致635~660nm的、依據「DVD」標準的第I雷射波長光透過衍射光柵(64A)時產生無用的衍射光。[0347]另外，只要採用僅在單面具有衍射面部(20a)(圖3、圖6、圖7)的衍射光柵(64A)，就能大體上防止在波長光為與「Blu-rayDisc」標準或「HDDVD」標準的光碟⑶(圖1、圖2)相對應的大致340~450nm、基準波長為大致405nm的、依據[0348]「Blu-rayDisc」標準或「HDDVD」標準的第2雷射波長光透過衍射光柵^4A)時產生無用的衍射光。[0349]通過依據「DVD」標準的、規定波長光的第I雷射波長光透過應對依據「Blu-rayDisc」標準或「HDDVD」標準的第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射光柵(64A)(圖3、圖6、圖7)的衍射面部(20a)而大體上不會產生無用的衍射光地被分出的、依據「DVD」標準的第I雷射波長光的兩道第I副光束可靠地照射於兩個第I副受光部(74b、74c)，該第I副受光部(74b,74c)的中心點之間相對於裝備於光檢測器(73)(圖5)的第I受光區域(74)的一個第I主受光部(74a)的距離(Ys(cd))發生了變化。另外，通過依據「DVD」標準的、規定波長光的第I雷射波長光透過應對依據「Blu-rayDisc」標準或「HDDVD」標準的第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射光柵(64A)(圖3、圖6、圖7)的衍射面部(20a)而大體上不會產生無用的衍射光地被分出的、依據「DVD」標準的第I雷射波長光的一道第I主光束可靠地照射於裝備於光檢測器(73)(圖5)的第I受光區域(74)的一個第I主受光部(74a)。[0350]另外，在依據「Blu-rayDisc」標準或「HDDVD」標準的、規定波長光的第2雷射波長光透過應對依據「Blu-rayDisc」標準或「HDDVD」標準的第2雷射波長光而以第2雷射波長光為基準的衍射光柵^4A)(圖3、圖6、圖7)的衍射面部(20a)時，大體上不會產生無用的衍射光，依據「Blu-rayDisc」標準或「HDDVD」標準的、規定波長光的第2雷射波長光至少被分為一道第2主光束和兩道第2副光束。依據「Blu-rayDisc」標準或「HDDVD」標準的第2雷射波長光的兩道第2副光束可靠地照射於裝備於光檢測器(73)(圖5)的、與以往規格相同的第2受光區域(75)的兩個第2副受光部(75b、75c)，依據「Blu-rayDisc」規格或「HDDVD」標準的第2雷射波長光的一道第2主光束可靠地照射於裝備於光檢測器(73)的、與以往規格相同的第2受光區域(75)的一個第2主受光部(75a)。[0351]另外，圖1、圖2等所示的光拾取裝置能夠應對具有第I層DLO(圖5)和第2層DLl等多個信號面部Da的介質D。[0352]通過構成上述光拾取裝置，能良好地進行光拾取裝置對具有第I層DLO(圖5)和第2層DLl等多個信號面部Da的介質D的信號、信息讀取及/或光拾取裝置對具有第I層DLO和第2層DLl等多個信號面部Da的介質D的信號、信息寫入。由於構成抑制了由衍射光柵64A(圖1~圖3、圖6、圖7)產生無用的光的光拾取裝置(圖1、圖2)，因此，在利用光拾取裝置對具有多個信號面部Da的介質D進行信號、信息等的讀取時、或對具有多個信號面部Da的介質D進行信號、信息等的寫入時，能避免例如因產生無用的光而導致產生不良。[0353]例如能避免這樣的狀況，即，在具有第I層DLO(圖5)和第2層DLl這多層DL0、DLl的DVD標準的介質D的第I層DLO中進行信號再現或信號記錄時，由衍射光柵64A(圖1?圖3、圖6、圖7)產生的無用的光照射於DVD標準的介質D的第2層DLl，結果，DVD標準的介質D的第2層DLl中的無用的反射光作為贗像進入到光檢測器73中的DVD受光區域75的一個第2副受光部75b或另一個第2副受光部75c中的任一個或兩個，在光檢測器73中產生所謂的層間串擾。[0354]例如還能避免這樣的狀況，即，在具有第I層(DLO)(圖5)和第2層(DLl)這多層(DLO)、(DLl)的「Blu-rayDisc」標準或「HDDVD」標準的介質⑶的第I層(DLO)中進行信號再現或信號記錄時，由衍射光柵(64A)(圖1?圖3、圖6、圖7)產生的無用的光照射於「Blu-rayDisc」標準或「HDDVD」標準的介質(D)的第2層(DLl)，結果，「Blu-rayDisc」標準或「HDDVD」標準的介質(D)的第2層(DLl)中的無用的反射光作為贗像進入到光檢測器(73)中的DVD受光區域(75)的一個第2副受光部(75b)或另一個第2副受光部(75c)中的任一個或兩個，在光檢測器(73)中產生所謂的層間串擾。[0355]實施例2[0356]圖9是表示裝備於光拾取裝置的衍射光柵的第二實施方式的概略圖。[0357]圖3的右側及圖9所示的衍射光柵64B替代圖1、圖2及圖6所示的衍射光柵64A而裝備於光拾取裝置(圖1、圖2)。除將圖1、圖2及圖6所示的衍射光柵64A調換為圖3的右側及圖9所示的衍射光柵64B之外，在光拾取裝置及光碟裝置中沒有變化。在圖1、圖2及圖6所示的衍射光柵64A調換為圖3的右側及圖9所示的衍射光柵64B這一點上，實施例I與實施例2不同，但在除衍射光柵64A、64B之外的其他部分中，實施例1與實施例2通用。為了方便起見，同時使用圖1?圖8說明實施例2。另外，在實施例2中，對與實施例1中說明的構件相同的部分標註相同的附圖標記，省略其詳細說明。[0358]如圖3所示，衍射光柵64B通過將形成於一個半平面21的光柵槽的周期構造的相位相對於形成於另一個半平面22的光柵槽的周期構造的相位錯位約180度的DVD用衍射光柵構件20粘著於光學玻璃板50的一個平面部50a而構成。通過裝備光學玻璃板50,衍射光柵64B的機械強度優於衍射光柵64A(圖3中的左側、圖6)的機械強度。[0359]首先，根據自雷射單元61的第I或第2光源62、63射出的第I或第2雷射的波長入、和以在衍射光柵64B中連續的從凹部Sll到凸部S12或者從凸部S12到凹部Sll為一個周期的光柵間隔d，利用基於下式(I)的布拉格角條件的近似計算式求得衍射角9(參照圖9)。另外，圖9所示的說明圖是為了容易地說明而簡便地描繪的圖，實際上，假想的發光點X以法線N為中心軸而大致對稱地設定為一對的程度。[0360]其次,根據從表不雷射單兀61的發光面61a所包含的第I或第2光源62、63的現實位置的第I發光點0到衍射光柵64B的大致平滑面S裡側的構成凹面S21的底面S1、構成凸面S22的外表面Sii之間的法線距離L、和由上式(I)求得的衍射角0，能夠決定表示第I或第2光源62、63在雷射單元61的發光面61a上的與副光束相關的外觀上的位置的第2發光點X。另外，雷射單元61的發光面61a與衍射光柵64B的大致平滑面S的法線N垂直，成為位於距面S裡側的構成凹面S21的底面S1、構成凸面S22的外表面Sii分離大致法線距離L的位置的平面。於是，利用下式(2)，求得雷射單元61的發光面61a上的從第I發光點0到第2發光點X之間的距離Yr(參照圖9)。[0361]根據上式⑴及式⑵求得下式(5)。另外，根據上式(6)、(7)、⑶求得光檢測器73的DVD受光區域75中的受光間隔Ys(dvd)。另外，根據上式(9)、(10)、(11)求得光檢測器73的CD受光區域74中的受光間隔Ys(cd)。[0362]實施例3[0363]圖10是表不裝備於光拾取裝置的衍射光柵的第三實施方式的概略俯視圖，圖11是表示圖10的衍射光柵中的光碟半徑方向與相位差的關係的圖。[0364]圖10所示的衍射光柵64C替代圖1、圖2及圖6所示的衍射光柵64A而裝備於光拾取裝置(圖1、圖2)。除將圖1、圖2及圖6所示的衍射光柵64A調換為圖10所示的衍射光柵64C之外，在光拾取裝置及光碟裝置中沒有變化。在圖1、圖2及圖6所示的衍射光柵64A調換為圖10所示的衍射光柵64C這一點上，實施例1與實施例3不同，但在除衍射光柵64A、64C之外的其他部分中，實施例1與實施例3通用。為了方便起見，同時使用圖1?圖6及圖14?圖16說明實施例3。另外，在實施例3中，對與實施例1中說明的構件相同的部分標註相同的附圖標記，省略其詳細說明。[0365]另外，圖14是表示光拾取裝置的視場特性的說明圖，圖15是表示光拾取裝置的副推挽信號振幅級別特性的說明圖，圖16是表示光拾取裝置的跟蹤錯誤相位差特性的說明圖。[0366]衍射光柵64C(圖10)的衍射面部30a兼作將第I雷射波長光至少分為一道第I主光束和兩道第I副光束的衍射面部30a、和將第2雷射波長光至少分為一道第2主光束和兩道第2副光束的衍射面部30a，形成為與多種雷射波長光的衍射相對應的一個面部30a。[0367]只要這樣地形成衍射光柵64C的衍射面部30a，就能構成能夠抑制在衍射光柵64C中產生無用的衍射光、且防止雷射的效率降低、並且將價格抑制得較低的光拾取裝置。[0368]例如在第I雷射波長光透過具有與第I雷射波長光相對應的第I衍射面部302(圖20、圖21)、和與第2雷射波長光相對應的第2衍射面部304這兩個衍射面部302、304的以往的衍射光柵300A、300B的第I衍射面部302，第I雷射波長光至少被分為一道第I主光束和兩道第I副光束時，因衍射光柵300A、300B的第2衍射面部304而第I雷射波長光的第I主光束進一步無用地衍射、且第I副光束進一步無用地衍射，隨之，有可能導致第I雷射波長光的第I主光束及第I副光束的光的效率降低。[0369]另外，例如在第2雷射波長光透過具有與第I雷射波長光相對應的第I衍射面部302、和與第2雷射波長光相對應的第2衍射面部304這兩個衍射面部302、304的以往的衍射光柵300A、300B的第2衍射面部304，第2雷射波長光至少被分為一道第2主光束和兩道第2副光束時，因衍射光柵300A、300B的第I衍射面部302而第2雷射波長光無用地衍射，隨之，有可能導致第2雷射波長光的光的效率降低。[0370]但是，只要衍射光柵64C(圖10)的衍射面部30a兼作將第I雷射波長光至少分為一道第I主光束和兩道第I副光束的衍射面部30a、和將第2雷射波長光至少分為一道第2主光束和兩道第2副光束的衍射面部30a,形成為與多種雷射波長光的衍射相對應的一個面部30a，就能避免第I雷射波長光的第I主光束及第I副光束無用地衍射而使第I雷射波長光的第I主光束及第I副光束的光的效率降低、或者第2雷射波長光無用地衍射而使第2雷射波長光的光的效率降低。[0371]另外，由於衍射光柵64C的衍射面部30a兼作將第I雷射波長光至少分為一道第I主光束和兩道第I副光束的衍射面部30a、和將第2雷射波長光至少分為一道第2主光束和兩道第2副光束的衍射面部30a，形成為與多種雷射波長光的衍射相對應的一個面部30a，因此，能構成減少了加工部分、加工工時等的衍射光柵64C。由於衍射光柵64C的加工部分、加工工時等減少，因此，將衍射光柵64C的價格抑制得較低。隨之，能夠構成能將價格抑制得較低的光拾取裝置。[0372]如圖10所示，在衍射光柵64C中設有在從雷射單元61(圖1、圖2)射出的雷射的一部分產生P弧度的相位移位的相位移位區域部31、33(圖10)。衍射光柵64C被分為大致長方形狀的第一區域部31、與第一區域部31相鄰的大致線狀的第二區域部32、和與第二區域部32相鄰的大致長方形狀的第三區域部33這至少3個區域部31、32、33。衍射光柵64C被分為多個區域部31、32、33。在各區域部31、32、33內構成規定的周期構造。[0373]在圖10所示的衍射光柵64C中，為了易於了解第二區域部32的相位狀態，方便起見，第二區域部32被帶有一定程度寬度地描繪。實際上，衍射光柵64C的第二區域部32為例如寬度32w為20?200iim左右的細線形狀。另外，構成衍射光柵64C的各區域部31、32,33的周期構造為重複微細的凹凸狀的周期構造。另外，衍射光柵64C為例如做成大致3?IOmm方形的縱橫尺寸的、厚度為大致0.3?3mm的玻璃板。在立體看圖10所示的衍射光柵64C時,衍射光柵64C被觀察為例如圖1所不的衍射光柵64A的形態。[0374]只要構成被分為多個區域部31、32、33(圖10)的衍射光柵64C，就易於良好地進行光拾取裝置相對於介質D(圖4、圖5)的信號面部Da的錯誤信號檢測。例如，易於良好地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。通過衍射光柵64C(圖10)被分為多個區域部31、32、33地構成，對介質D(圖4)的信號面部Da照射有各自獨立的至少三個聚光點80、81、82。由於在介質D的信號面部Da各自獨立地照射有至少三個聚光點80、81、82，因此，在光道間距Dtp不同的兩種以上介質D記錄、再現時，易於避免跟蹤錯誤信號等錯誤信號的檢測精度降低。因而，能夠提供易於進行跟蹤控制的光拾取裝置。[0375]如圖10所示，衍射光柵64C被分為第一區域部31、與第一區域部31相鄰的具有與第一區域部31的周期構造不同的周期構造的第二區域部32、和與第二區域部32相鄰的具有與第二區域部32的周期構造不同的周期構造的第三區域部33這三個區域部31、32、33。衍射光柵64C構成為所謂的三分割型的直線光柵。[0376]只要圖10所示的被分為多個區域部31、32、33的衍射光柵64C裝備於光拾取裝置，就能良好地進行光拾取裝置對介質D(圖2、圖4、圖5)的信號面部Da的錯誤信號檢測。例如，能良好地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。通過衍射光柵64C(圖10)被分為3個區域部31、32、33地構成，對介質D(圖4)的信號面部Da照射有各自獨立的至少3個聚光點80、81、82。由於在介質D的信號面部Da各自獨立地照射有至少3個聚光點80、81、82，因此，在進行光道間距Dtp不同的兩種以上介質D的數據記錄、或進行光道間距Dtp不同的兩種以上介質D的數據再現時，能避免例如隨著物鏡70(圖1、圖2)的移位而跟蹤錯誤信號等錯誤信號的檢測精度降低。因而，能夠提供易於進行跟蹤控制的光拾取裝置。[0377]如圖10所示，衍射光柵64C具有作為第一區域部31的大致長方形狀的一個區域部31、和作為第三區域部33的大致長方形狀的另一個區域部33。衍射光柵64C的第一區域部31的寬度31w與第三區域部33的寬度33w為大致相等的寬度。利用衍射光柵64C的第二區域部32,衍射光柵64C被分為構成衍射光柵64C的一個區域部31、和構成衍射光柵64C的另一個區域部33。衍射光柵64C被分割為奇數。[0378]構成衍射光柵64C的大致線狀的第二區域部32配置在構成衍射光柵64C的大致長方形狀的第一區域部31及大致長方形狀的第三區域部33之間。相對於第一區域部31的周期構造，第二區域部32的周期構造為具有不同的相位的周期構造。另外，相對於第二區域部32的周期構造，第三區域部33的周期構造為具有不同的相位的周期構造。相對於第一區域部31的周期構造，第三區域部33的周期構造為具有大致相差180度左右相位的周期構造。[0379]由此，衍射光柵64C中的第一區域部31、第二區域部32和第三區域部33被區別化，並且，衍射光柵64C中的第一區域部31與第三區域部33的相位差明確化。相對於衍射光柵64C的第一區域部31的周期構造，衍射光柵64C的第三區域部33的周期構造為具有大致相差180度左右相位的周期構造，因此，在介質D(圖4)的信號面部Da中良好地形成有至少3個各聚光點80、81、82。利用良好地形成於介質D的信號面部Da的至少3個各聚光點80、81、82，在光道間距Dtp不同的多種介質D的數據記錄、再現時，易於避免例如隨著物鏡70(圖1、圖2)的移位而導致跟蹤錯誤信號惡化。[0380]利用劃分第一區域部31(圖10)和第二區域部32的邊界線部35，將第一區域部31和第二區域部32分開。另外，利用劃分第二區域部32和第三區域部33的邊界線部37，將第二區域部32和第三區域部33分開。[0381]通過衍射光柵64C被分為3個區域部而區別化，在介質D(圖4)的信號面部Da照射有各自獨立的至少3個聚光點80、81、82。由於在介質D的信號面部Da各自獨立地照射有至少3個聚光點80、81、82，因此，易於進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。[0382]衍射光柵64C(圖10)形成為大致矩形板狀。在俯視衍射光柵64C時，衍射光柵64C目測為大致矩形板狀。[0383]在縱長的大致長方形狀的第一區域部31、縱長的大致線狀的第二區域部32和縱長的大致長方形狀的第三區域部33橫向並列地排列的狀態下，俯視衍射光柵64C時，在與一區域部右側相鄰的另一區域部的相位相對於衍射光柵64C的一區域部的相位以大致右上升臺階狀錯開的情況下，另一區域部的相位定為向正(+)側錯開。[0384]另外，在縱長的大致長方形狀的第一區域部31、縱長的大致線狀的第二區域部32和縱長的大致長方形狀的第三區域部33橫向並列地排列的狀態下，俯視衍射光柵64C時，在與一區域部右側相鄰的另一區域部的相位相對於衍射光柵64C的一區域部的相位以大致右下降臺階狀錯開的情況下，另一區域部的相位定為向負(_)側錯開。[0385]在俯視衍射光柵64C時，相對於第一區域部31的周期構造，與第一區域部31右側相鄰的第二區域部32的周期構造為具有向正側錯開的相位的周期構造。另外，在俯視衍射光柵64C時，相對於第二區域部32的周期構造，與第二區域部32右側相鄰的第三區域部33的周期構造為具有向正側錯開的相位的周期構造。[0386]衍射光柵64C通過各區域部31、32、33的周期構造的各相位按順序階梯狀地錯開而構成(圖11)。衍射光柵64C(圖10)為具有所謂的順相位周期構造的衍射光柵64C。[0387]根據光拾取裝置的設計、規格等，也可以使用在例如圖10所示的衍射光柵64C中附圖標記、引出線、尺寸線等大致保持原樣、僅是輪廓線左右翻轉而成的衍射光柵(64C)。具體說明這樣的方式，例如在俯視衍射光柵(64C)時，相對於第一區域部(31)的周期構造，與第一區域部(31)右側相鄰的第二區域部(32)的周期構造也可以為具有向負側錯開的相位的周期構造。另外，例如在俯視衍射光柵(64C)時，相對於第二區域部(32)的周期構造，與第二區域部(32)右側相鄰的第三區域部(33)的周期構造也可以為具有向負側錯開的相位的周期構造。[0388]本申請中附圖標記所帶有的括號是為了說明與附圖所示的構件有些許不同的部分而出於方便所使用的。[0389]衍射光柵(64C)通過各區域部(31、32、33)的周期構造的各相位按順序階梯狀地錯開而構成。衍射光柵(64C)為具有所謂的順相位周期構造的衍射光柵(64C)。[0390]只要將具有順相位周期構造的衍射光柵裝備於光拾取裝置，就能增加副推挽信號振幅級別(Sub-PP振幅級別)，易於提高副推挽信號振幅級別特性(Sub-PP振幅級別特性)(圖15)。能避免Sub-PP振幅級別)減小，Sub-PP振幅級別特性降低。[0391]照射於介質D(圖1、圖2、圖4)的信號面部Da(圖4)的至少3個聚光點80、81、82包括主光點80、和夾著主光點80的一對副光點81、82。作為與主光點80和副光點81、82相關的信號振幅級別的Sub-PP振幅級別基於下式(20)來決定。[0392]數I[0393]另外，能減小跟蹤錯誤相位差量(TE相位差量)，易於提高跟蹤錯誤相位差特性(TE相位差特性)(圖16)。能避免TE相位差量增加，TE相位差特性降低。[0394]由於提高了Sub-PP振幅級別特性、並提高了TE相位差特性，因此，該光拾取裝置能夠裝備於臺式PC用的光拾取裝置來使用，並且，也能夠裝備於筆記本式或可攜式PC用的光拾取裝置來使用。由於例如臺式PC用的光拾取裝置所採用的光拾取裝置能夠使用很大尺寸的物鏡，因此，在考慮到視場特性的同時、Sub-PP振幅級別特性、TE相位差特性在設計上相比於視場特性有時更為重要。[0395]另外，由於抑制了跟蹤錯誤視場特性(TE視場特性)的降低，因此，該光拾取裝置能夠裝備於臺式PC用的光拾取裝置來使用，並且，也能夠裝備於筆記本式或可攜式PC用的光拾取裝置來使用。[0396]如圖10、圖11所示，相對於第一區域部31的周期構造，第二區域部32的周期構造為具有大致相差+90度相位的周期構造。另外，相對於第二區域部32的周期構造，第三區域部33的周期構造為具有大致相差+90度相位的周期構造。相對於第一區域部31的周期構造，第三區域部33的周期構造為具有大致相差+180度相位的周期構造。[0397]只要這樣地構成的衍射光柵64C裝備於光拾取裝置，Sub-PP振幅級別)就增力口，提高了Sub-PP振幅級別特性(圖1)。能避免Sub-PP振幅級別)減小，Sub-PP振幅級別特性降低。另外，TE相位差量減小，提高了TE相位差特性(圖16)。能避免TE相位差量增加，TE相位差特性降低。[0398]採用相位移位型三分割衍射光柵64C(圖10)而執行依據直線DPP法的跟蹤誤差檢測法的光拾取裝置(圖1、圖2)能夠將TE相位差量抑制得較小(圖16)。因而，在裝備有包括相位移位型三分割衍射光柵64C(圖10)的光拾取裝置(圖1、圖2)的光拾取裝置中，即使對於例如光道間距Dtp(圖4)不同的任何介質D，也能夠以穩定的動作對介質D進行數據、信息的讀取、寫入。[0399]由於提高了照射於介質D的信號面部Da的Sub-PP振幅級別特性、並提高了TE相位差特性，因此，該光拾取裝置能夠裝備於臺式PC用的光拾取裝置來使用，並且，也能夠裝備於筆記本式或可攜式PC用的光拾取裝置來使用。[0400]另外，只要這樣地構成的衍射光柵64C裝備於光拾取裝置，就能避免跟蹤錯誤振幅級別(TE振幅級別))大幅度減小，TE視場特性顯著降低(圖14)。由於抑制了TE視場特性大幅度降低，因此，該光拾取裝置能夠裝備於筆記本式或可攜式PC用的光拾取裝置來使用，並且，也能夠裝備於臺式PC用的光拾取裝置來使用。另外，由於抑制了TE視場特性大幅度降低，因此，該光拾取裝置也能夠用作例如包括多個較小的物鏡70的光拾取裝置。[0401]相對於通過物鏡70(圖1、圖2)的光瞳面部70a(圖2)的光的直徑70b，衍射光柵64C的中央部30m(圖10)的寬度32w為16?28%，優選為18?26%。即，衍射光柵64C的中央部比率Wr為16?28%，優選為18?26%(圖14、圖15、圖16)。[0402]只要這樣地構成的衍射光柵64C裝備於光拾取裝置，在光道間距Dtp不同的多種介質D數據記錄、再現時，易於避免隨著物鏡70的移位而導致跟蹤錯誤信號惡化。[0403]在相對於通過物鏡70的光瞳面部70a的光的直徑70b，衍射光柵64C的中央部30m的寬度32w被設定為小於16%的情況下，TE振幅級別)減小，TE視場特性容易降低(圖14)。即，在衍射光柵64C的中央部比率Wr被設定為小於16%的情況下，OBL中心比)減小，TE視場特性易於降低。另外，通過相對於通過物鏡70的光瞳面部70a的光的直徑70b，衍射光柵64C的中央部30m的寬度32w為18%以上，能抑制TE振幅級別)減小，能抑制TE視場特性降低。即，通過衍射光柵64C的中央部比率Wr為18%以上，能抑制OBL中心比(%)減小，能抑制TE視場特性降低。OBL(objectivelens)是指物鏡的意思。[0404]另外，在相對於通過物鏡70的光瞳面部70a的光的直徑70b，衍射光柵64C的中央部30m的寬度32w被設定為大於28%的情況下，副推挽信號振幅級別(Sub-PP振幅級別)(%)減小，Sub-PP振幅級別特性容易降低(圖15)。通過相對於通過物鏡70的光瞳面部70a的光的直徑70b，衍射光柵64C的中央部30m的寬度32w為26%以內，能抑制Sub-PP振幅級別)減小，能抑制Sub-PP振幅級別特性降低。[0405]另外，在相對於通過物鏡70(圖2)的光瞳面部70a的光的直徑70b,衍射光柵64C(圖10)的中央部30m的寬度32w被設定為大於28%的情況下，跟蹤錯誤相位差量(TE相位差量)增加，跟蹤錯誤相位差特性(TE相位差特性)容易降低(圖16)。通過使相對於通過物鏡70的光瞳面部70a的光的直徑70b，衍射光柵64C的中央部30m的寬度32w為26%以內，能抑制TE相位差量增加，能抑制TE相位差特性降低。[0406]通過相對於通過物鏡70的光瞳面部70a的光的直徑70b，衍射光柵64C的中央部30m的寬度32w被設定為16?28%、優選為18?26%，易於將TE振幅級別(圖14)、Sub-PP振幅級別(圖15)和TE相位差量(圖16)設定為適當的值。[0407]例如，通過相對於通過物鏡70的光瞳面部70a的光的直徑70b，衍射光柵64C的中央部30m的寬度32w被設定為大致20%，易於將TE振幅級別(圖14)、Sub_PP振幅級別(圖15)和TE相位差量(圖16)設定為最佳的值。由於TE振幅級別、Sub-PP振幅級別和TE相位差量被平衡地設定為適當的值，因此，易於進行光拾取裝置的跟蹤控制。[0408]衍射光柵64C(圖10)的第二區域部32的寬度32w被設定為20?200iim，優選為60?160V-m,更優選為96?144um0S卩，衍射光柵64C的分割部寬度32w被設定為20?200um,優選為60?160um,更優選為96?144um。[0409]由此，易於良好地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。在光道間距Dtp不同的多種介質D的數據記錄、再現時，易於避免例如隨著物鏡70的移位而導致跟蹤錯誤信號惡化。[0410]在衍射光柵64C的第二區域部32的寬度32w為小於20ym的較窄寬度的情況、或者衍射光柵64C的第二區域部32的寬度32w為大於200um的較寬寬度的情況下，TE視場特性、Sub-PP振幅級別特性和TE相位差特性的平衡被破壞。在各特性的平衡破壞時，跟蹤錯誤信號惡化，難以正確地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。[0411]例如，通過衍射光柵64C的第二區域部32的寬度32w被設定為60?160iim左右，易於大體上保持TE視場特性、Sub-PP振幅級別特性和TE相位差特性的平衡。隨之，易於正確地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。[0412]優選為，通過衍射光柵64C的第二區域部32的寬度32w被設定為96?144ym的範圍內，保持TE視場特性、Sub-PP振幅級別特性和TE相位差特性的平衡。由此，能避免跟蹤錯誤信號的惡化。因而，能正確地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。[0413]該光拾取裝置(圖1、圖2)例如包括俯視大致矩形的衍射光柵64C(圖10)、會聚至少3道光束而對介質D(圖1、圖2、圖4)的信號面部Da(圖4)照射各自獨立的至少3個聚光點80、81、82的物鏡70(圖1、圖2)、和接受介質D中的3個各聚光點80、81、82(圖4)的反射光的光檢測器73(圖1、圖2、圖4、圖5)而構成。[0414]只要這樣地構成光拾取裝置，就能高精度地進行光拾取裝置對介質D(圖4)的信號面部Da的跟蹤。在光道間距Dtp不同的多種介質D的數據記錄、再現時，易於避免隨著物鏡70(圖1、圖2)的移位而跟蹤錯誤信號的振幅惡化、在跟蹤錯誤信號中殘留偏離。[0415]通過構成包括相位移位型三分割衍射光柵64C(圖10)的光拾取裝置，能可靠地進行光拾取裝置對DVD-RAM的數據再現動作或者數據記錄動作。另外，也能可靠地進行光拾取裝置對DVD±R、DVD±RW的數據再現動作或者數據記錄動作。[0416]實施例4[0417]圖12是表示裝備於光拾取裝置的衍射光柵的第四實施方式的概略俯視圖，圖13是表示圖12的衍射光柵中的光碟半徑方向與相位差的關係的圖。[0418]圖12所示的衍射光柵64D替代圖1、圖2及圖6所示的衍射光柵64A而裝備於光拾取裝置(圖1、圖2)。除將圖1、圖2及圖6所示的衍射光柵64A調換為圖12所示的衍射光柵64D之外，在光拾取裝置及光碟裝置中沒有變化。在圖1、圖2及圖6所示的衍射光柵64A調換為圖12所示的衍射光柵64D這一點上，實施例1與實施例4不同，但在除衍射光柵64A、64D之外的其他部分中，實施例1與實施例4通用。為了方便起見，同時使用圖1?圖6及圖14?圖16說明實施例4。另外，在實施例4中，對與實施例4中說明的構件相同的部分標註相同的附圖標記，省略其詳細說明。[0419]衍射光柵64D(圖12)的衍射面部40a兼作將第I雷射波長光至少分為一道第I主光束和兩道第I副光束的衍射面部40a、和將第2雷射波長光至少分為一道第2主光束和兩道第2副光束的衍射面部40a，形成為與多種雷射波長光的衍射相對應的一個面部40a。[0420]只要這樣地形成衍射光柵64D的衍射面部40a，就能構成能夠抑制在衍射光柵64D中產生無用的衍射光、且防止雷射的效率降低、並且將價格抑制得較低的光拾取裝置。[0421]例如在第I雷射波長光透過具有與第I雷射波長光相對應的第I衍射面部302(圖20、圖21)、和與第2雷射波長光相對應的第2衍射面部304這兩個衍射面部302、304的以往的衍射光柵300A、300B的第I衍射面部302，第I雷射波長光至少被分為一道第I主光束和兩道第I副光束時，因衍射光柵300A、300B的第2衍射面部304而使第I雷射波長光的第I主光束進一步無用地衍射、且第I副光束進一步無用地衍射，隨之，有可能導致第I雷射波長光的第I主光束及第I副光束的光的效率降低。[0422]另外，例如在第2雷射波長光透過具有與第I雷射波長光相對應的第I衍射面部302、和與第2雷射波長光相對應的第2衍射面部304這兩個衍射面部302、304的以往的衍射光柵300A、300B的第2衍射面部304，第2雷射波長光至少被分為一道第2主光束和兩道第2副光束時，因衍射光柵300A、300B的第I衍射面部302而第2雷射波長光無用地衍射，隨之，有可能導致第2雷射波長光的光的效率降低。[0423]但是，只要衍射光柵64D(圖12)的衍射面部40a兼作將第I雷射波長光至少分為一道第I主光束和兩道第I副光束的衍射面部40a、和將第2雷射波長光至少分為一道第2主光束和兩道第2副光束的衍射面部40a,形成為與多種雷射波長光的衍射相對應的一個面部40a，就能避免第I雷射波長光的第I主光束及第I副光束無用地衍射而第I雷射波長光的第I主光束及第I副光束的光的效率降低、或者第2雷射波長光無用地衍射而第2雷射波長光的光的效率降低。[0424]另外，由於衍射光柵64D的衍射面部40a兼作將第I雷射波長光至少分為一道第I主光束和兩道第I副光束的衍射面部40a、和將第2雷射波長光至少分為一道第2主光束和兩道第2副光束的衍射面部40a，形成為與多種雷射波長光的衍射相對應的一個面部40a，因此，能構成減少了加工部分、加工工時等的衍射光柵64D。由於衍射光柵64D的加工部分、加工工時等減少，因此，將衍射光柵64D的價格抑制得較低。隨之，能夠構成能將價格抑制得較低的光拾取裝置。[0425]如圖12所示，在衍射光柵64D中設有在從雷射單元61(圖1、圖2)射出的雷射的一部分產生P弧度的相位移位的相位移位區域部41、44(圖12)。衍射光柵64D被分為大致長方形狀的第一區域部41、與第一區域部41相鄰的大致線狀的第二區域部42、與第二區域部42相鄰的大致線狀的第三區域部43、和與第三區域部43相鄰的大致長方形狀的第四區域部44這至少4個區域部41、42、43、44。衍射光柵64D被分為多個區域部41、42、43、44。在各區域部41、42、43、44內構成規定的周期構造。[0426]在圖12所示的衍射光柵64D中，為了易於了解第二區域部42的相位狀態和第三區域部43的相位狀態，方便起見，第二區域部42及第三區域部43被帶有一定程度的寬度地描繪。實際上，衍射光柵64D的第二區域部42及衍射光柵64D的第三區域部43為例如寬度40w為20?200Um左右的細線形狀。另外，構成衍射光柵64D的各區域部41、42、43、44的周期構造為重複微細的凹凸狀的周期構造。另外，衍射光柵64D為例如做成大致3?IOmm方形的縱橫尺寸的、厚度為大致0.3?3mm的玻璃板。在立體看圖12所示的衍射光柵64D時，衍射光柵64D被觀察為例如圖1所示的衍射光柵64A的形態。[0427]只要構成被分為多個區域部41、42、43、44(圖12)的衍射光柵64D，就易於良好地進行光拾取裝置相對於介質D(圖4、圖5)的信號面部Da的錯誤信號檢測。例如，易於良好地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。通過衍射光柵64D(圖12)被分為多個區域部41、42、43、44地構成，對介質D(圖4)的信號面部Da照射有各自獨立的至少三個聚光點80、81、82。由於在介質D的信號面部Da各自獨立地照射有至少三個聚光點80、81、82，因此，在光道間距Dtp不同的兩種以上介質D記錄、再現時，易於避免跟蹤錯誤信號等錯誤信號的檢測精度降低。因而，能夠提供易於進行跟蹤控制的光拾取裝置。[0428]如圖12所示，衍射光柵64D被分為偶數的區域部41、42、43、44。[0429]只要構成被分為偶數的區域部41、42、43、44的衍射光柵64D，形成於介質D(圖4)的信號面部Da的聚光點80、81、82就形成為高精度的聚光點80、81、82。衍射光柵64D例如被衍射光柵64D(圖12)的第二區域部42和與第二區域部42相鄰的第三區域部43的分界線部46至少二等分而分割為偶數的包括第一區域部41及與第一區域部41相鄰的第二區域部42的一個區域部48、和包括第三區域部43及與第三區域部43相鄰的第四區域部44的另一個區域部49，因此，在光拾取裝置中裝備有衍射光柵64D時，照在衍射光柵64D上的光易於以大致二等分的狀態照在衍射光柵64D的一個區域部48、和衍射光柵64D的另一個區域部49。由於光易於以大致二等分的狀態照在衍射光柵64D的一個區域部48、和衍射光柵64D的另一個區域部49，因此，衍射光柵64D易於高精度地裝備於光拾取裝置。因而，易於在介質D(圖4)的信號面部Da高精度地形成聚光點80、81、82。隨之，提高了光道間距Dtp不同的兩種以上介質D在記錄、再現時的跟蹤錯誤信號等錯誤信號的檢測精度。另外，易於高精度地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。[0430]如圖12所示，衍射光柵64D被分為第一區域部41、與第一區域部41相鄰的具有與第一區域部41的周期構造不同的周期構造的第二區域部42、與第二區域部42相鄰的具有與第二區域部42的周期構造不同的周期構造的第三區域部43、和與第三區域部43相鄰的具有與第三區域部43的周期構造不同的周期構造的第四區域部44這至少四個區域部41、42、43、44。衍射光柵64D構成為所謂的四分割型的直線光柵。[0431]只要圖12所示的被分為多個區域部41、42、43、44的衍射光柵64D裝備於光拾取裝置，就能良好地進行光拾取裝置對介質D(圖2、圖4、圖5)的信號面部Da的錯誤信號檢測。例如，能良好地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。通過衍射光柵64D(圖12)被分為4個區域部41、42、43、44地構成，對介質D(圖4)的信號面部Da照射有各自獨立的至少3個聚光點80、81、82。由於在介質D的信號面部Da各自獨立地照射有至少3個聚光點80、81、82，因此，在進行光道間距Dtp不同的兩種以上介質D的數據記錄、或進行光道間距Dtp不同的兩種以上介質D的數據再現時，能避免例如隨著物鏡70(圖1、圖2)的移位而跟蹤錯誤信號等錯誤信號的檢測精度降低。因而，能夠提供易於進行跟蹤控制的光拾取裝置。[0432]如圖12所示，衍射光柵64D具有包括第一區域部41及與第一區域部41相鄰的第二區域部42的大致長方形狀的一個區域部48、和包括第三區域部43及與第三區域部43相鄰的第四區域部44的大致長方形狀的另一個區域部49。衍射光柵64D的第一區域部41的寬度41w與第四區域部44的寬度44w為大致相等的寬度。利用衍射光柵64D的第二區域部42和與該第二區域部42相鄰的衍射光柵64D的第三區域部43的分界線部46，衍射光柵64D被二等分為構成衍射光柵64D的一個區域部48、和構成衍射光柵64D的另一個區域部49。衍射光柵64D被分割為偶數。[0433]由此，形成於介質D(圖4)的信號面部Da的聚光點80、81、82形成為高精度的聚光點80、81、82。由於衍射光柵64D被偶數分割而成的衍射光柵64D(圖12)的第二區域部42、和與第二區域部42相鄰的第三區域部43的分界線部46二等分為包括第一區域部41及與第一區域部41相鄰的第二區域部42的一個區域部48、和包括第三區域部43及與第三區域部43相鄰的第四區域部44的另一個區域部49，因此，在光拾取裝置的機殼(未圖示)中裝備有衍射光柵64D時,從雷射單兀61(圖1、圖2)射出而照在衍射光柵64D的雷射利用例如未圖示的光軸調整用照相機等容易地調整光軸。從雷射單元61射出而照在衍射光柵64D之後透過物鏡70的雷射能夠使用例如光軸調整用照相機等來觀察。[0434]在圖12所不的四分割型衍射光柵64D中，在衍射光柵64D中設有將衍射光柵64D的大致中央二等分而構成大致長方形狀的一個區域部48、和大致長方形狀的另一個區域部49的分界線部46，因此，在使用光軸調整用照相機等調整雷射的光軸時，雷射易於以被大致二等分的狀態照在構成衍射光柵64D的大致長方形狀的一個區域部48、和構成衍射光柵64D的大致長方形狀的另一個區域部49中。[0435]通過雷射易於以被大致二等分的狀態照在構成衍射光柵64D的大致長方形狀的一個區域部48、和構成衍射光柵64D的大致長方形狀的另一個區域部49中，衍射光柵64D易於在高精度地定位調整的同時、裝備於光拾取裝置的機殼。因而，易於在介質D(圖4)的信號面部Da高精度地形成聚光點80、81、82。隨之，易於高精度地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。[0436]相對於衍射光柵64D的第二區域部42的周期構造，衍射光柵64D的第三區域部43的周期構造為具有相差3?180度範圍內的相位的周期構造。[0437]由此，形成於介質D的信號面部Da的聚光點80、81、82易於形成為更高精度的聚光點80、81、82。相對於衍射光柵64D的第二區域部42的周期構造,構成衍射光柵64D的第三區域部43的周期構造為具有相差3?180度範圍內的相位的周期構造，因此，衍射光柵64D的第二區域部42和與第二區域部42相鄰的衍射光柵64D的第三區域部43的分界線部46大致明確化。[0438]在相對於第二區域部42的周期構造，第三區域部43的周期構造為具有相差小於3度的相位的周期構造的情況下，第二區域部42與第三區域部43的分界線部46未明確化。在相對於第二區域部42的周期構造，第三區域部43的周期構造為具有相差例如3?90度範圍內的相位的周期構造的情況下，能形成在第二區域部42與第三區域部43的分界線部46明確化的同時、具有適當特性的衍射光柵64D。[0439]由於衍射光柵64D的第二區域部42與衍射光柵64D的第三區域部43的分界線部46大致明確化，因此，包括第一區域部41及與第一區域部41相鄰的第二區域部42的衍射光柵64D的一個區域部48、和包括第三區域部43及與第三區域部43相鄰的第四區域部44的衍射光柵64D的另一個區域部49的分界線部46明確化。因而，雷射以大致二等分的狀態照在衍射光柵64D的一個區域部48和衍射光柵64D的另一個區域部49。在雷射以大致二等分的狀態照在衍射光柵64D的一個區域部48和衍射光柵64D的另一個區域部49時，衍射光柵64D能高精度地裝備於光拾取裝置的機殼。[0440]構成衍射光柵64D的大致線狀的第二區域部42及大致線狀的第三區域部43配置在構成衍射光柵64D的大致長方形狀的第一區域部41及大致長方形狀的第四區域部44之間。相對於第一區域部41的周期構造，第二區域部42的周期構造為具有不同的相位的周期構造。另外，相對於第二區域部42的周期構造，第三區域部43的周期構造為具有不同的相位的周期構造。另外，相對於第三區域部43的周期構造，第四區域部44的周期構造為具有不同的相位的周期構造。相對於第一區域部41的周期構造，第四區域部44的周期構造為具有大致相差180度左右相位的周期構造。[0441]由此，衍射光柵64D中的第一區域部41、第二區域部42、第三區域部43和第四區域部44被區別化，並且，衍射光柵64D中的第一區域部41與第四區域部44的相位差明確化。相對於衍射光柵64D的第一區域部41的周期構造，衍射光柵64D的第四區域部44的周期構造為具有大致相差180度左右相位的周期構造，因此，在介質D(圖4)的信號面部Da中良好地形成有至少3個各聚光點80、81、82。利用良好地形成於介質D的信號面部Da的至少3個各聚光點80、81、82，在光道間距Dtp不同的多種介質D的數據記錄、再現時，易於避免例如隨著物鏡70(圖1、圖2)的移位而導致跟蹤錯誤信號惡化。[0442]利用劃分第一區域部41(圖12)和第二區域部42的邊界線部45，將第一區域部41和第二區域部42分開。另外，利用劃分第二區域部42和第三區域部43的邊界線部46，將第二區域部42和第三區域部43分開。另外，利用劃分第三區域部43和第四區域部44的邊界線部47，將第三區域部43和第四區域部44分開。[0443]相對於第一區域部41的周期構造，第二區域部42的周期構造為具有相差30?180度範圍內的相位的周期構造。另外，相對於第二區域部42的周期構造，第三區域部43的周期構造為具有相差3?180度範圍內的相位的周期構造。另外，相對於第三區域部43的周期構造，第四區域部44的周期構造為具有相差30?180度範圍內的相位的周期構造。[0444]由此，衍射光柵64D中的第一區域部41、第二區域部42、第三區域部43和第四區域部44被大致明確地區別化。由於相對於構成衍射光柵64D的第一區域部41的周期構造，構成衍射光柵64D的第二區域部42的周期構造為具有相差30?180度範圍內的相位的周期構造，因此，衍射光柵64D的第一區域部41與衍射光柵64D的第二區域部42被明確地區別化。另外，由於相對於構成衍射光柵64D的第二區域部42的周期構造,構成衍射光柵64D的第三區域部43的周期構造為具有相差3?180度範圍內的相位的周期構造，因此，衍射光柵64D的第二區域部42與衍射光柵64D的第三區域部43被大致區別化。另外，由於相對於構成衍射光柵64D的第三區域部43的周期構造，構成衍射光柵64D的第四區域部44的周期構造為具有相差30?180度範圍內的相位的周期構造，因此，衍射光柵64D的第三區域部43與衍射光柵64D的第四區域部44被明確地區別化。[0445]通過衍射光柵64D被分為4個區域部而區別化，在介質D(圖4)的信號面部Da照射有各自獨立的至少3個聚光點80、81、82。由於在介質D的信號面部Da各自獨立地照射有至少3個聚光點80、81、82，因此，易於進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。另外，通過各區域部的周期構造的相位被適當地設定為已決定的數值範圍內，提高了衍射光柵64D(圖12)的設計自由度，並且，也提高了光拾取裝置的設計自由度。因而，能構成易於與使用的部位相對應地發揮最佳特性的光拾取裝置。[0446]衍射光柵64D形成為大致矩形板狀。在俯視衍射光柵64D時，衍射光柵64D目測為大致矩形板狀。[0447]在縱長的大致長方形狀的第一區域部41、縱長的大致線狀的第二區域部42、縱長的大致線狀的第三區域部43、和縱長的大致長方形狀的第四區域部44橫向並列地排列的狀態下，俯視衍射光柵64D時,在與一區域部的右側相鄰的另一區域部的相位相對於衍射光柵64D的一區域部的相位以大致右上升臺階狀錯開的情況下，另一區域部的相位定為向正⑴側錯開。[0448]另外，在縱長的大致長方形狀的第一區域部41、縱長的大致線狀的第二區域部42、縱長的大致線狀的第三區域部43、和縱長的大致長方形狀的第四區域部44橫向並列地排列的狀態下，俯視衍射光柵64D時，在與一區域部的右側相鄰的另一區域部的相位相對於衍射光柵64D的一區域部的相位以大致右下降臺階狀錯開的情況下，另一區域部的相位定為向負(_)側錯開。[0449]在俯視衍射光柵64D時，相對於第一區域部41的周期構造，與第一區域部41的右側相鄰的第二區域部42的周期構造為具有向正側錯開的相位的周期構造。另外，在俯視衍射光柵64D時，相對於第二區域部42的周期構造，與第二區域部42的右側相鄰的第三區域部43的周期構造為具有向負側錯開的相位的周期構造。另外，在俯視衍射光柵64D時,相對於第三區域部43的周期構造，與第三區域部43右側相鄰的第四區域部44的周期構造為具有向正側錯開的相位的周期構造。[0450]衍射光柵64D通過僅使第三區域部43的周期構造的相位方向相對於第一區域部41、第二區域部42、第三區域部43、第四區域部44的周期構造的相位逆向錯開而構成(圖13)。衍射光柵64D(圖12)為具有所謂的反相位周期構造的衍射光柵64D。[0451]根據光拾取裝置的設計、規格等，也可以使用在例如圖12所示的衍射光柵64D中符號、引出線、尺寸線等大致保持原樣、僅是輪廓線以分界線部(46)為中心左右翻轉而成的衍射光柵(64D)。具體說明這樣的方式,例如在俯視衍射光柵(64D)時,相對於第一區域部(41)的周期構造，與第一區域部(41)的右側相鄰的第二區域部(42)的周期構造也可以為具有向負側錯開的相位的周期構造。另外，例如在俯視衍射光柵(64D)時，相對於第二區域部(42)的周期構造，與第二區域部(42)的右側相鄰的第三區域部(43)的周期構造也可以為具有向正側錯開的相位的周期構造。另外，例如在俯視衍射光柵(64D)時，相對於第三區域部(43)的周期構造，與第三區域部(43)的右側相鄰的第四區域部(44)的周期構造也可以為具有向負側錯開的相位的周期構造。[0452]衍射光柵(64D)通過僅使第三區域部(43)的周期構造的相位方向相對於第一區域部(41)、第二區域部(42)、第四區域部(44)的周期構造的相位逆向錯開而構成。衍射光柵(64D)為具有所謂的反相位周期構造的衍射光柵(64D)。[0453]只要具有反相位周期構造的衍射光柵裝備於光拾取裝置，TE振幅級別)就增力口，易於提高TE視場特性(圖14)。能避免TE振幅級別)減小，TE視場特性降低。由於提高了TE視場特性，因此，該光拾取裝置優選裝備於筆記本式或臺式PC用的光碟裝置。另外，由於提高了TE視場特性，因此，該光拾取裝置優選用作例如包括較小的物鏡70的光拾取裝置。由於筆記本式或臺式PC用的光碟裝置所採用的光拾取裝置、包括多個物鏡70的光拾取裝置使用較小尺寸的物鏡，因此，主要是視場特性較為重要。[0454]另外，根據光拾取裝置的設計、規格等，也可以在該光拾取裝置中裝備具有順相位周期構造的四分割型衍射光柵(未圖示)。另外，根據光拾取裝置的設計、規格等，該光拾取裝置也可以裝備於臺式PC用的光碟裝置。[0455]如圖12、圖13所示，相對於第一區域部41的周期構造，第二區域部42的周期構造為具有大致相差+120度相位的周期構造。另外，相對於第二區域部42的周期構造，第三區域部43的周期構造為具有大致相差-60度相位的周期構造。相對於第一區域部41的周期構造，第三區域部43的周期構造為具有大致相差+60度相位的周期構造。另外，相對於第三區域部43的周期構造，第四區域部44的周期構造為具有大致相差+120度相位的周期構造。相對於第一區域部41的周期構造，第四區域部44的周期構造為具有大致相差+180度相位的周期構造。[0456]只要這樣地構成的衍射光柵64D裝備於光拾取裝置，TE振幅級別)就增加，TE視場特性大幅度提高(圖14)。能避免TE振幅級別)減小，TE視場特性降低。與包括被分為3個相位區域部31、32、33(圖10)的衍射光柵64C的光拾取裝置的TE視場特性相t匕，該光拾取裝置的TE視場特性大幅度提高(圖14)。由於TE視場特性大幅度提高，因此，該光拾取裝置優選裝備於筆記本式或臺式PC用的光碟裝置。另外，由於TE視場特性大幅度提高，因此，該光拾取裝置優選用作例如包括多個較小的物鏡70的光拾取裝置。[0457]將衍射光柵64D的第二區域部42與第三區域部43合成的區域部42、43作為衍射光柵64D的縱長的中央部40m。相對於通過物鏡70(圖1、圖2)的光瞳面部70a(圖2)的光的直徑70b，衍射光柵64D的中央部40m(圖12)的寬度40w為16?28%，優選為18?26%。即，衍射光柵64D的中央部比率Wr為16?28%，優選為18?26%(圖14、圖15、圖16)。[0458]只要這樣地構成的衍射光柵64D裝備於光拾取裝置，在光道間距Dtp不同的多種介質D數據記錄、再現時，易於避免隨著物鏡70的移位而導致跟蹤錯誤信號惡化。[0459]在相對於通過物鏡70的光瞳面部70a的光的直徑70b，衍射光柵64D的中央部40m的寬度40w被設定為小於16%的情況下，TE振幅級別)減小，TE視場特性容易降低(圖14)。即，在衍射光柵64D的中央部比率Wr被設定為小於16%的情況下，OBL中心比)減小，TE視場特性易於降低。另外，通過相對於通過物鏡70的光瞳面部70a的光的直徑70b，衍射光柵64D的中央部40m的寬度40w為18%以上，能抑制TE振幅級別)減小，能抑制TE視場特性降低。即，通過衍射光柵64D的中央部比率Wr為18%以上，能抑制OBL中心比(％)減小，能抑制TE視場特性降低。[0460]另外，在相對於通過物鏡70的光瞳面部70a的光的直徑70b，衍射光柵64D的中央部40m的寬度40w被設定為大於28%的情況下，副推挽信號振幅級別(Sub-PP振幅級別)(%)減小，Sub-PP振幅級別特性易於降低(圖15)。通過相對於通過物鏡70的光瞳面部70a的光的直徑70b，衍射光柵64D的中央部40m的寬度40w為26%以內，能抑制Sub-PP振幅級別)減小，能抑制Sub-PP振幅級別特性降低。[0461]另外，在相對於通過物鏡70(圖2)的光瞳面部70a的光的直徑70b,衍射光柵64D(圖12)的中央部40m的寬度40w被設定為大於28%的情況下，跟蹤錯誤相位差量(TE相位差量)增加，跟蹤錯誤相位差特性(TE相位差特性)容易降低(圖16)。通過相對於通過物鏡70的光瞳面部70a的光的直徑70b，衍射光柵64D的中央部40m的寬度40w為26%以內，能抑制TE相位差量增加，能抑制TE相位差特性降低。[0462]通過相對於通過物鏡70的光瞳面部70a的光的直徑70b，衍射光柵64D的中央部40m的寬度40w被設定為16?28%、優選為18?26%，易於將TE振幅級別(圖14)、Sub-PP振幅級別(圖15)和TE相位差量(圖16)設定為適當的值。[0463]例如，通過相對於通過物鏡70的光瞳面部70a的光的直徑70b，衍射光柵64D的中央部40m的寬度40w被設定為大致20%，易於將TE振幅級別(圖14)>Sub-PP振幅級別(圖15)和TE相位差量(圖16)設定為最佳的值。由於TE振幅級別、Sub-PP振幅級別和TE相位差量被平衡地設定為適當的值，因此，易於進行光拾取裝置的跟蹤控制。[0464]衍射光柵64D(圖12)的第二區域部42的寬度42w、和衍射光柵64D的第三區域部43的寬度43w兩者均被設定為10?100um,優選為30?80ym,更優選為48?72ym。SP，衍射光柵64D的分割部寬度42w、43w被設定為10?100um,優選為30?80ym,更優選為48?72iim。[0465]由此，易於良好地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。在光道間距Dtp不同的多種介質D的數據記錄、再現時，易於避免例如隨著物鏡70的移位而導致跟蹤錯誤信號惡化。[0466]在衍射光柵64D的第二區域部42的寬度42w、和衍射光柵64D的第三區域部43的寬度43w兩者均為小於10ym的較窄寬度的情況、或者衍射光柵64D的第二區域部42的寬度42w、和衍射光柵64D的第三區域部43的寬度43w兩者均為大於100um的較寬寬度的情況下，TE視場特性、Sub-PP振幅級別特性和TE相位差特性的平衡被破壞。在各特性的平衡破壞時，跟蹤錯誤信號惡化，難以正確地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。[0467]例如，通過衍射光柵64D的第二區域部42的寬度42w、和衍射光柵64D的第三區域部43的寬度43w兩者均被設定為30?80iim左右，容易大體上保持TE視場特性、Sub-PP振幅級別特性和TE相位差特性的平衡。隨之，易於正確地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。[0468]優選為，通過衍射光柵64D的第二區域部42的寬度42w、和衍射光柵64D的第三區域部43的寬度43w兩者均被設定為48?72iim的範圍內，保持TE視場特性、Sub-PP振幅級別特性和TE相位差特性的平衡。由此，能避免跟蹤錯誤信號的惡化。因而，能正確地進行光拾取裝置對介質D的信號面部Da的跟蹤。[0469]例如在包括三分割型衍射光柵64C(圖10)的光拾取裝置中，改變TE視場特性或TE相位差特性只能通過改變三分割型衍射光柵64C的中央部30m的寬度32w來完成。[0470]相對於此，在包括四分割型衍射光柵64D(圖12)的光拾取裝置(圖1、圖2)中，在改變TE視場特性、TE相位差特性等的情況下，除改變四分割型衍射光柵64D(圖12)的中央部40m的寬度40w之外，通過改變構成四分割型衍射光柵64D的中央部40m的各區域部42,43的格子狀間距的相位差，也能夠調整改變各種特性。[0471]通過調整設定四分割型衍射光柵64D的中央部40m的寬度40w、和構成四分割型衍射光柵64D的中央部40m的各區域部42、43的格子狀間距的相位差，能夠設計能發揮期望性能、並取得各種特性的平衡的光拾取裝置。因而，提高了設計光拾取裝置時的設計自由度。[0472]該光拾取裝置(圖1、圖2)例如包括俯視大致矩形的衍射光柵64D(圖12)、會聚至少3道光束而對介質D(圖1、圖2、圖4)的信號面部Da(圖4)照射各自獨立的至少3個聚光點80、81、82的物鏡70(圖1、圖2)、和接受介質D中的3個各聚光點80、81、82(圖4)的反射光的光檢測器73(圖1、圖2、圖4、圖5)而構成。[0473]只要這樣地構成光拾取裝置，就能高精度地進行光拾取裝置對介質D(圖4)的信號面部Da的跟蹤。在光道間距Dtp不同的多種介質D的數據記錄、再現時，容易避免隨著物鏡70(圖1、圖2)的移位而導致跟蹤錯誤信號的振幅惡化、或在跟蹤錯誤信號中殘留偏離。[0474]通過構成包括相位移位型四分割衍射光柵64D(圖12)的光拾取裝置，能可靠地進行光拾取裝置對DVD-RAM的數據再現動作或者數據記錄動作。另外，也能可靠地進行光拾取裝置對DVD±R、DVD±RW的數據再現動作或者數據記錄動作。[0475]光碟裝置的i兌明[0476]光碟裝置(未圖示)包括上述實施例1、2、3、4所示的光拾取裝置(圖1、圖2)中的至少一個光拾取裝置而構成。具體地說明，光碟裝置包括上述實施例1、2、3、4所示的光拾取裝置中的任意單一的光拾取裝置而構成。上述光拾取裝置裝備於未圖示的光碟裝置。[0477]通過上述實施例1、2、3、4所示的光拾取裝置裝備於光碟裝置，能夠構成這樣的光碟裝置，即，至少包括能抑制在衍射光柵64A、64B、64C、64D中產生無用的衍射光且防止雷射的效率降低的光拾取裝置。[0478]另外，能夠提供包括易於進行高精度的跟蹤控制等控制的單一的光拾取裝置。能利用包括光拾取裝置的光碟裝置正常地自各介質D讀取數據、或向各介質D寫入數據。在向光碟裝置中插入各介質D而讀取光道間距Dtp不同的多種介質D的數據、或者向光道間距Dtp不同的多種介質D中寫入數據時，易於避免隨著物鏡70的移位而導致跟蹤錯誤信號惡化。因而，能提供這樣的光碟裝置，即，包括易於進行高精度的跟蹤控制等控制的、單一的光拾取裝置。[0479]另外，只要在光碟裝置中內置有能夠應對光道間距Dtp不同的多種介質D的一個光拾取裝置，就能將光碟裝置的價格抑制得較低。應對光道間距Dtp不同的多種介質D而在光碟裝置中內置多個光拾取裝置，隨之，能避免光碟裝置的價格大幅度上升。[0480]上述光拾取裝置以及包括上述光拾取裝置的光碟裝置能夠用於向上述各種光碟中記錄數據、信息、信號等、或者將上述各種光碟的數據、信息、信號等再現的記錄再現裝置。另外，上述光拾取裝置以及包括上述光拾取裝置的光碟裝置也能夠用於將上述各種光碟的數據、信息、信號等再現的再現專用裝置。[0481]另外，上述光拾取裝置以及包括上述光拾取裝置的光碟裝置裝備於組裝在例如計算機、音響、視頻裝置、遊戲機、車載機(均未圖示)等的光碟裝置中。另外，上述光拾取裝置以及包括上述光拾取裝置的光碟裝置能夠裝備於例如筆記本式PC、可攜式PC、臺式PC、車載用計算機等計算機、計算機遊戲機等遊戲機、CD播放器、CD記錄器、DVD播放器、DVD記錄器等的音響及/或視頻裝置等(均未圖示)。另外，上述光拾取裝置能夠應對CD類光碟、DVD類光碟、「HDDVD」類光碟、「Blu-rayDisc」類光碟等多個磁碟。另外，上述光拾取裝置能夠應對具有多層信號面部的一張光碟。上述光拾取裝置能夠裝備於例如應對「CD」、「DVD」、「HDDVD」、「Blu-rayDisc」等各種光碟的計算機、音響及/或視頻裝置、遊戲機、車載機等(均未圖示)。[0482]以上，說明了本發明的實施方式，但上述實施方式用於容易地理解本發明，並不是用於限定地解釋本發明。本發明能夠不脫離其主旨地進行變化、改良，並且本發明中也包含其等價物。[0483]也可以替代包括例如圖3、圖7所示的兩個區域部21、22的二分割型衍射光柵64A、64B，而使用做成其他實施方式的包括兩個區域部的二分割型衍射光柵(未圖示)。另夕卜，也可以替代包括例如圖10所示的三個區域部31、32、33的三分割型衍射光柵64C，而使用做成其他實施方式的包括三個區域部的三分割型衍射光柵(未圖示)。另外，也可以替代包括例如圖12所示的四個區域部41、42、43、44的四分割型衍射光柵64D，而使用做成其他實施方式的包括四個區域部的四分割型衍射光柵(未圖示)。這樣，能夠使用包括各種多個區域部的多分割型衍射光柵。[0484]另外，也可以在包括例如圖10所示的三個區域部(31、32、33)的三分割型衍射光柵(64C)中安裝光學玻璃板(50)(圖3、圖9)。另外，也可以在包括例如圖12所示的四個區域部(41、42、43、44)的四分割型衍射光柵(64D)中安裝光學玻璃板(50)(圖3、圖9)。[0485]另外，例如第I雷射也可以是DVD標準的波長大致660nm(第I波長)的紅色雷射，第2雷射也可以是波長大致405nm(第2波長)的「HDDVD」標準或「Blu-rayDisc」標準的藍紫色雷射。另外，在這種情況下，衍射光柵64A、64B、64C、64D僅由具有基於「HDDVD」或「Blu-rayDisc」的波長的光柵間隔的衍射光柵構件。[0486]通過構成上述光拾取裝置，能夠提供在謀求簡化光學系統的同時、應對波長不同的兩個第I及第2雷射、抑制無用的衍射光而提高錯誤信號的檢測精度、並且廉價高效的光拾取裝置。【權利要求】1.一種光拾取裝置，其特徵在於，包括:雷射單元，其包括發出第I雷射的第I光源、和發出波長比該第I雷射的波長短的第2雷射的第2光源；衍射光柵，其具有與上述第2雷射的波長相對應的光柵間隔，使上述第I雷射和上述第2雷射分別衍射而產生主光束和2個副光束；聚光光學系統，其會聚對上述第I雷射和上述第2雷射分別衍射而產生的上述主光束和上述2個副光束，在光碟的光道上一列地照射與上述主光束相對應的主光點、和與上述2個副光束相對應的2個副光點；光檢測器，其配設有:當上述第I雷射照射到上述光碟後接受從上述光碟反射的上述第I雷射的第I受光區域、當上述第2雷射照射到上述光碟後接受從上述光碟反射的上述第2雷射的第2受光區域，在上述第2受光區域，用於分別接受由上述衍射光柵使上述第2雷射衍射而產生的上述主光束和上述2個副光束的第2主受光部和兩個第2副受光部並列設置在一條直線上，在上述第I受光區域，用於分別接受由上述衍射光柵使上述第I雷射衍射而產生的上述主光束和上述2個副光束的第I主受光部和兩個第I副受光部以比上述第2主受光部和上述兩個第2副受光部之間的間隔長的間隔並列設置在一條直線上，上述第I受光區域與上述第2受光區域同上述光檢測器的受光面並列形成。2.根據權利要求1所述的光拾取裝置，其特徵在於，在以上述第I主受光部為中心地配置有一對上述第I副受光部，在前側的上述第I副受光部、中央的上述第I主受光部、後側的上述第I副受光部並列設置時，前側的上述第I副受光部、中央的上述第I主受光部、後側的上述第I副受光部的分光比為1:(20?26):I。3.根據權利要求1所述的光拾取裝置，其特徵在於，在以上述第2主受光部為中心地配置有一對上述第2副受光部，在前側的上述第2副受光部、中央的上述第2主受光部、後側的上述第2副受光部並列設置時，前側的上述第2副受光部、中央的上述第2主受光部、後側的上述第2副受光部的分光比為1:(12?18):I。4.根據權利要求1所述的光拾取裝置，其特徵在於，上述衍射光柵被分為偶數個區域部。【文檔編號】G11B7/131GK103714833SQ201210313723【公開日】2014年4月9日申請日期:2008年8月11日優先權日:2007年8月10日【發明者】佐藤實申請人:三洋電機株式會社