樣本分析儀的製作方法

2023-07-13 19:24:46

專利名稱：樣本分析儀的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種樣本分析儀，特別是涉及一種樣本分析儀，它可以配置帶有記錄著試劑信息的電子標籤的試劑容器。
背景技術：
人們已經知道，歷來有一種樣本分析儀可以配置帶有記錄著試劑信息的電子標籤的試劑容器。比如日本專利公報No. 2009/210444上公開了一種自動分析裝置，其包括分內圈列和外圈列兩列固定複數個試劑容器的圓環形試劑容器固定部件，其中所述試劑容器上帶有記錄著試劑信息的無線IC標籤；向固定在內圈列試劑容器固定部件的試劑容器的無線 IC標籤發射電波的內圈天線部件；向固定在外圈列試劑容器固定部件的試劑容器的無線 IC標籤發射電波的外圈天線部件；從內圈天線部件和外圈天線部件接收無線IC標籤返回的電波的信息讀取及存儲部件。此專利文獻1中記述的自動分析裝置中，內圈天線部件配置於內圈列試劑容器固定部件的內側，外圈天線部件配置於外圈列試劑容器固定部件的外側。然而，日本專利公報No. 2009/210444上公開的自動分析裝置必須留出內圈列試劑容器固定部件的內側區域和外圈列試劑容器固定部件的外側區域用來配置天線部件，因此有裝置主體過大的缺陷。本項發明正是為了解決上述課題，其目的之一是提供一種可以抑制裝置主體體積過大的樣本分析裝置。

發明內容
本發明的範圍只由後附權利要求書所規定，在任何程度上都不受這一節發明內容的陳述所限。即，本發明提供(1) 一種用試劑容器內的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括第一試劑容器固定部件，用於固定第一試劑容器，所述第一試劑容器上有記錄著與試劑相關的試劑信息的第一電子標籤；第二試劑容器固定部件，配置在所述第一試劑容器固定部件的一側，用於固定第二試劑容器，所述第二試劑容器上有記錄著與試劑相關的試劑信息的第二電子標籤；試劑信息讀取部件，用於讀取所述第一電子標籤上記錄的試劑信息和所述第二電子標籤上記錄的試劑信息；及控制部件；其中，所述試劑信息讀取部件配置在所述第一試劑容器固定部件的另一側，有發射到達範圍互不相同的數種電波的電波發射部件；所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，根據讀取目標是所述第一電子標籤還是所述第二電子標籤而切換從所述電波發射部件發射的電波。(2) (1)所述的樣本分析儀，其中，所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，當讀取目標是所述第一電子標籤時，從所述電波發射部件發射第一到達範圍的電波，當讀取目標是所述第二電子標籤時，從所述電波發射部件發射大於所述第一到大範圍的第二到達範圍的電波。(3) (1)所述的樣本分析儀，其中，所述電波發射部件包含有選擇性地發射到達範圍各異的數種電波的共用天線部件；及所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，根據讀取目標是所述第一電子標籤還是所述第二電子標籤切換從所述共用天線部件發射的電波。(4) (3)所述的樣本分析儀，還包括驅動部件，用於移動所述第一試劑容器固定部件和所述共用天線部件中的至少其中之一，其中所述控制部件控制所述驅動部件，當讀取目標是所述第二電子標籤時，讓所述第一試劑容器讓開所述共用天線部件對面的位置。(5) (1)所述的樣本分析儀，其中，所述電波發射部件包括發射第一到達範圍電波的第一天線部件和發射第二到達範圍電波的第二天線部件；及所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，根據讀取目標是所述第一電子標籤還是所述第二電子標籤，將發射電波的所述電波發射部件切換到所述第一天線部件或所述第二天線部件。(6) (1)所述的樣本分析儀，其中，所述控制部件判斷是否已從讀取目標的電子標籤讀取到試劑信息。(7) 1)所述的樣本分析儀，其中，所述第一電子標籤和所述第二電子標籤所記錄的試劑信息包含識別試劑種類用的種類識別信息；及所述控制部件根據所述試劑信息讀取部件讀取的試劑信息中所含種類識別信息，判斷是否已從所述讀取目標的電子標籤讀取了試劑信息。(8) (7)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器盛放第一種試劑；及所述第二試劑容器盛放第二種試劑。(9) (1) (8)其中任意一項所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件固定著複數個所述第一試劑容器，從平面看呈圓環形；所述第二試劑容器固定部件固定著複數個所述第二試劑容器，從平面看在所述第一試劑容器固定部件內側呈圓環形；及所述電波發射部件配置在所述第一試劑容器固定部件外側。(10) (9)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件等間隔地固定一定數量的所述第一試劑容器；及所述第二試劑容器固定部件等間隔地固定所述一定數量的所述第二試劑容器。(11) (1)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件配置於所述電波發射部件和所述第二試劑容器固定部件之間。(12) 一種用試劑容器內的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括第一試劑容器固定部件，用於固定第一試劑容器，所述第一試劑容器上有記錄著與試劑相關的試劑信息的第一電子標籤；第二試劑容器固定部件，配置在所述第一試劑容器固定部件的一側，用於固定第二試劑容器，所述第二試劑容器上有記錄著與試劑相關的試劑信息的第二電子標籤；天線部件，配置在所述第一試劑容器固定部件的另一側，從所述第一試劑容器的第一電子標籤和所述第二試劑容器的第二電子標籤分別接收電波；及試劑信息獲取部件，根據所述天線部件接收的電波，獲取所述第一電子標籤記錄的試劑信息和所述第二電子標籤記錄的試劑信息。(13) (12)所述的樣本分析儀，還包括驅動部件，用於移動所述第一試劑容器固定部件和所述天線部件中的至少其中之；
驅動控制部件，控制所述驅動部件，當所述天線部件從所述第二試劑容器的第二電子標籤接收電波時，讓所述第一試劑容器讓開所述天線部件對面的位置。(14) (13)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件以並排狀態固定複數個所述第一試劑容器；及當所述天線部件從所述第二試劑容器的第二電子標籤接收電波時，所述驅動控制部件控制所述驅動部件，使所述第一試劑容器固定部件上的相鄰第一試劑容器之間的間隙位於所述第二電子標籤和所述天線部件相對的區域。(15) (14)所述的樣本分析儀，其中，所述天線部件固定在一定位置上；所述驅動部件移動所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件；及當所述天線部件從所述第二試劑容器的第二電子標籤接收電波時，所述驅動控制部件控制所述驅動部件，向固定在所述一定位置的天線部件移動所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件，使所述間隙和所述第二電子標籤都位於所述天線部件的正面位置。(16) (12)所述的樣本分析儀，其中，所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標籤和所述第二試劑容器的第二電子標籤分別發射電波，並接收所述第一電子標籤和所述第二電子標籤回應所述天線部件發射的電波所發射的電波；所述第一試劑容器固定部件並排固定複數個所述第一試劑容器；及所述樣本分析儀還具備一個天線控制部件，用於控制所述天線部件，使所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標籤發射電波的到達範圍小於所述天線部件向所述第二試劑容器的第二電子標籤發射電波的到達範圍。(17) (12)所述的樣本分析儀，還包括限制部件，用於限制所述天線部件發射電波的到達範圍和所述天線部件的電波接收範圍中的至少其中之一。(18) (12)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件固定複數個所述第一試劑容器；所述第二試劑容器固定部件固定複數個所述第二試劑容器；及所述天線部件從固定在所述第一試劑容器固定部件上的所述複數個第一試劑容器的各個第一電子標籤接收電波，從固定在所述第二試劑容器固定部件上的所述複數個第二試劑容器的各個第二電子標籤接收電波。(19) (12) (18)其中任意一項所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件從平面看呈圓環形；所述第二試劑容器固定部件從平面看在所述第一試劑容器固定部件內側呈圓環形；及所述天線部件配置在所述第一試劑容器固定部件外側。(20) (12)所述的樣本分析儀，還包括判斷所述天線部件是否從試劑信息讀取目標的電子標籤收到電波的第一判斷控制部件。(21) (20)所述的樣本分析儀，其中，所述第一和第二電子標籤各自記錄的試劑信息中包含識別試劑種類的種類識別信息；及所述第一判斷控制部件根據所述試劑信息獲取部件獲取的試劑信息中所含種類識別信息，判斷所述天線部件是否從所述讀取目標的電子標籤收到電波。(22) (12)所述的樣本分析儀，其中，所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標籤和所述第二試劑容器的第二電子標籤分別發射寫入用電波，以此將試劑信息分別寫入所述第一電子標籤和所述第二電子標籤；及所述樣本分析儀還具備第二判斷控制部件， 用於在所述天線部件向待寫入試劑信息的電子標籤發射所述寫入用電波前，判斷所述天線部件能否與所述待寫入試劑信息的電子標籤進行通信。(23) (12)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件配置在所述天線部件和所述第二試劑容器固定部件之間。根據本發明第一層面涉及的上述(1)的結構，只要確保第一試劑容器固定部件的另一側區域用來配置電波發射部件即可，無需確保第一試劑容器固定部件的一側區域，因此可以相應地抑制儀器主體增大。此外，控制部件可以使電波發射部件發射電波的到達範圍與讀取目標相應，因此，即使電波發射部件僅配置在第一試劑容器固定部件另一側，也能夠更切實地進行試劑信息讀取運作。根據上述O)的結構，即使電波發射部件僅配置在第一試劑容器固定部件另一側，也能避免從第一試劑容器的第一電子標籤讀取試劑信息時，誤從與讀取目標的第一電子標籤相鄰的、周圍的數個第一電子標籤和第二電子標籤讀取試劑信息。根據上述(3)的結構，無需分別設置讀取第一試劑容器的第一電子標籤的天線部件和讀取第二試劑容器額第二電子標籤的天線部件，從而相應控制了零部件件數的增加。根據上述的結構，可以防止第一試劑容器妨礙第二電子標籤的讀取。根據上述(5)的結構，可以同時讀取第一電子標籤和第二電子標籤，與單獨設置天線部件相比，能夠在短時間內讀取更多的電子標籤的試劑信息。根據上述(6)的結構，可以防止誤將從非讀取目標電子標籤讀取的試劑信息當作從讀取目標電子標籤讀取的試劑信息使用。根據上述(7)的結構，用種類識別信息可以進一步防止從非讀取目標的電子標籤讀取的試劑信息誤當作從讀取目標的電子標籤讀取的試劑信息使用。根據上述(8)的結構，第一試劑容器固定部件上固定的各第一試劑容器中只盛放一種(第一種)試劑，第二試劑容器固定部件上固定的各第二試劑容器中也只盛放一種 (第二種)試劑。如此，控制部件可以很容易地判斷讀取的是第一電子標籤上的試劑信息還是第二電子標籤上的試劑信息。根據上述(9)的結構，外圈的第一試劑容器固定部件的周長大於內圈的第二試劑容器固定部件的周長，因此當分別在第一試劑容器固定部件和第二試劑容器固定部件上配置複數個試劑容器時，第一試劑容器固定部件與第二試劑容器固定部件相比，可以將相鄰試劑容器之間的間隔拉得更大。因此，將電波發射部件配置在第一試劑容器固定部件外側， 當從第二試劑容器的第二電子標籤讀取試劑信息時，可以防止誤從第一試劑容器的第一電子標籤讀取試劑信息。根據上述(10)的結構，當各配置有相同數量的試劑容器時，第一試劑容器固定部件與第二試劑容器固定部件相比，能夠切實拉開相鄰試劑容器之間的間隔。因此，從第二試劑容器的第二電子標籤讀取試劑信息時，可以進一步防止誤從第一試劑容器的第一電子標籤讀取試劑信息。根據本發明第二層面涉及的上述(1 的結構，無需對第一試劑容器固定部件和第二試劑容器固定部件分別設置天線部件。從而得以相應控制零部件件數的增加。而且， 只要確保第一試劑容器固定部件的另一側區域用來配置天線部件即可，無需確保第二試劑容器固定部件的一側區域，因此可以相應地抑制儀器主體增大。根據上述(13)的結構，可以防止因第一試劑容器位於天線部件對面而妨礙從第二電子標籤接收電波。根據上述(14)的結構，可以使第二電子標籤和天線部件通過相鄰第一試劑容器之間的間隙相對，因此，天線部件可以很容易地接收第二電子標籤的電波。根據上述(15)的結構，可以通過將天線部件固定在一定位置上來固定天線部件的電波接收位置，從而使天線部件更容易從第一電子標籤和第二電子標籤接收電波。此外， 間隙和第二電子標籤均位於天線部件的正面位置，因此更加便於天線部件接收第二電子標籤的電波。根據上述(16)的結構，向第一電子標籤發射第一電波時，可以防止第一電波誤到達周圍相鄰的數個第一電子標籤和第二電子標籤。根據上述(17)的結構，可以防止天線部件誤對無需讀取或寫入試劑信息的電子標籤進行試劑信息的讀取或寫入。根據上述(18)的結構，可以通過天線部件從數個第一試劑容器的各個第一電子標籤和數個第二試劑容器的各個第二電子標籤接收電波，因此可以從更多的電子標籤接收電波。根據上述(19)的結構，外圈的第一試劑容器固定部件的周長大於內圈的第二試劑容器固定部件的周長，因此當在第一試劑容器固定部件和第二試劑容器固定部件上分別配置複數個試劑容器時，第一試劑容器固定部件與第二試劑容器固定部件相比，可以將相鄰試劑容器之間的間隔拉得更大。因此，將天線部件配置在第一試劑容器固定部件外側，當從第二試劑容器的第二電子標籤讀取試劑信息時，可以防止誤從第一試劑容器的第一電子標籤讀取試劑信息。根據上述00)的結構，可以防止誤將非讀取目標的電子標籤發出的電波當作讀取目標的電子標籤發出的電波使用。根據上述的結構，用種類識別信息可以進一步防止將非讀取目標的電子標籤發出的電波誤當作讀取目標的電子標籤發出的電波使用。根據上述02)的結構，第二判斷控制部件可以在將試劑信息寫入待寫入的電子標籤之前，判斷是否能與待寫入的電子標籤通信。以此可以更切實地將試劑信息寫入待寫入的電子標籤。


圖1為本發明第一實施方式涉及的免疫分析儀的整體結構斜視圖；圖2為圖1所示第一實施方式涉及的免疫分析儀的整體結構平面圖；圖3為說明圖1所示第一實施方式涉及的免疫分析儀結構的框圖；圖4為圖1所示第一實施方式涉及的免疫分析儀的試劑放置部件內部斜視圖；圖5為圖1所示第一實施方式涉及的免疫分析儀的試劑放置部件內部平面圖；圖6為圖1所示第一實施方式涉及的、讀取試劑放置部件的R2試劑容器IC標籤時的狀態放大平面圖；圖7為圖1所示第一實施方式涉及的、讀取試劑放置部件的Rl試劑容器IC標籤時的狀態放大平面圖；圖8為圖1所示第一實施方式涉及的試劑放置部件近距離天線部件的斜視圖；圖9為圖8的試劑放置部件的近距離天線部件沿500-500線的截面圖；圖10為圖1所示第一實施方式涉及的近距離天線部件的天線基板的平面圖11為圖1所示第一實施方式涉及的試劑放置部件遠距離天線部件的斜視圖；圖12為圖11的試劑放置部件的遠距離天線部件沿600-600線的截面圖；圖13為圖1所示第一實施方式涉及的遠距離天線部件的天線基板的平面圖；圖14為圖1所示第一實施方式涉及的試劑放置部件的Rl試劑容器箭頭X2方向一側的側面圖；圖15為圖1所示第一實施方式涉及的試劑放置部件的R2試劑容器箭頭Y2方向一側的側面圖；圖16為圖1所示第一實施方式涉及的IC標籤上存儲的固有信息和試劑信息的概念圖；圖17為圖1所示第一實施方式涉及的試劑放置部件的R2試劑容器位於E區的狀態的放大平面圖；圖18為圖1所示第一實施方式涉及的免疫分析儀測定運作的流程圖；圖19為圖1所示第一實施方式涉及的免疫分析儀讀取試劑信息處理的流程圖；圖20為圖1所示第一實施方式涉及的免疫分析儀的吸移試劑和寫入試劑信息的處理的流程圖；圖21為本發明第二實施方式涉及的免疫分析儀的結構說明框圖；圖22為圖21所示第二實施方式涉及的免疫分析儀的試劑放置部件內部平面圖；圖23為圖21所示第二實施方式涉及的、讀取試劑放置部件的R2試劑容器IC標籤時的狀態放大平面圖；圖M為圖21所示第二實施方式涉及的、讀取試劑放置部件的Rl試劑容器IC標籤時的狀態放大平面圖；圖25為圖21所示第二實施方式涉及的免疫分析儀讀取試劑信息處理的流程圖； 及圖沈為圖21所示第二實施方式涉及的免疫分析儀吸移試劑和寫入試劑信息的處理的流程圖。
具體實施例方式下面根據

本發明的具體實施方式
。(第一實施方式)首先參照圖1 圖17就本發明第一實施方式涉及的免疫分析儀1的結構進行說明。本發明第一實施方式涉及的免疫分析儀1是一種用血液等樣本進行與傳染病(B 型肝炎、C型肝炎等)相關的蛋白質、腫瘤標記及甲狀腺激素等各項檢查的儀器。此免疫分析儀1是定量測定或定性測定待測血液等樣本(血樣)中所含抗原和抗體等的裝置。當定量測定樣本中所含抗原時，此免疫分析儀1先讓磁性粒子(R2試劑第二試劑)結合到與樣本所含抗原結合了的捕捉抗體(Rl試劑第一試劑)，然後用一次BF (結合分離，Bound Free)分離器11的磁鐵(無圖示)吸引結合後(結合，Bound)的抗原、捕捉抗體和磁性粒子，以此除去含有未反應(自由，Free)的捕捉抗體的Rl試劑。然後，免疫分析儀1讓磁性粒子結合後的抗原與標記抗體(R3試劑)結合，用二次BF分離器12的磁鐵(無圖示)將結合後(Bound)的磁性粒子、抗原和標記抗體吸過來，以此除去含未反應 (Free)的標記抗體的R3試劑。添加分散液(R4試劑)和在與標記抗體反應過程中發光的發光底物(R5試劑)後，測定標記抗體與發光底物反應產生的發光量。經過這一過程，定量測定與標記抗體結合的樣本中所含抗原。免疫分析儀1如圖1和圖2所示，包括測定裝置2、與測定裝置2相鄰配置的運樣裝置(供樣器)3以及由與測定裝置2電路連接的PC (電腦)組成的控制裝置4。運樣裝置3可運送放置盛有樣本的、無圖示的數個試管的樣架。運樣裝置3可以將裝有樣本的試管運送到樣本分裝臂5的吸樣位置。控制裝置4如圖3所示，包括CPU4a、顯示器4b、輸入設備如和存儲部件4d。CPU4a 可以根據用戶用輸入設備4c輸入的測定條件等，讓測定裝置2 (後述的CPU2a)進行測定， 同時分析測定裝置2測得的測定結果，將該分析結果顯示到顯示器4b上。存儲部件4d由硬碟構成，用於分別存儲後述Rl試劑容器22、R3試劑容器23和R2試劑容器M各自的試劑信息和位置信息。關於存儲部件4d待後詳述。測定裝置2如圖2所示，由樣本分裝臂5、Rl試劑分裝臂6、R2試劑分裝臂7、R3 試劑分裝臂8、反應部件9、供杯部件10、一次BF分離器11、二次BF分離器12、吸頭供應部件13、檢測部件14、R4/R5試劑供應部件15、試劑放置部件16及RFID (射頻識別(Radio FrequencyIdentification))模塊 17 構成。如圖3所示，測定裝置2中各機械裝置(各種分裝臂和反應部件9等)由設置在測定裝置2的CPUh控制。運樣裝置3也受CPU2a的控制。測定裝置2中還設有存儲部件 2b，存儲部件2b中存有使CPUh控制測定裝置2的各機械裝置運作的控制程序。如圖2所示，供杯部件10可容納無圖示的多個反應杯，能夠依次、逐個地向樣本分裝臂5的注樣位供應反應杯。 Rl試劑分裝臂6吸移放置在試劑放置部件16的Rl試劑，並將吸移的Rl試劑分裝 (注入)到配置在注樣位的反應杯中。Rl試劑分裝臂6還能用無圖示的抓鉗將配置在注樣位的反應杯移送到反應部件9。吸頭供應部件13的作用是將被放入的數個吸頭(無圖示)逐一運到樣本分裝臂 5的吸頭安裝位。吸頭在吸頭安裝位被安裝到樣本分裝臂5的吸移管前端。樣本分裝臂5在吸頭安裝位裝上吸頭後，吸移由運樣裝置3運送到吸樣位的試管內的樣本，將樣本分裝(注入)到已由Rl試劑分裝臂6分裝了 Rl試劑的、注樣位上的反應杯中。R2試劑分裝臂7具有吸移放置在試劑放置部件16的R2試劑的功能。R2試劑分裝臂7將吸移的R2試劑分裝(注入)到裝有Rl試劑和樣本的反應杯中。反應部件9圍繞在平面看時基本呈圓形的試劑放置部件16周圍，並基本呈圓環形。反應部件9可順時針方向旋轉，可以將放在反應杯固定部件9a的反應杯移到進行各種處理(分裝試劑等)的各個處理位上。一次BF分離器11的作用是在無圖示的抓鉗將裝有樣本、Rl試劑和R2試劑的反應杯從反應部件9運送到一次BF分離器11後，從反應杯內的試樣分離(B/F分離)未反應的Rl試劑(不需要的成份)和磁性粒子。R3試劑分裝臂8可吸移放置在試劑放置部件16的R3試劑。當裝有一次BF分離器11進行了 B/F分離後的試樣的反應杯從一次BF分離器11運到反應部件9時，R3試劑分裝臂8將吸移的R3試劑分裝(注入)到該反應杯中。二次BF分離器12的作用是在無圖示的抓鉗將裝有一次BF分離器11進行了 B/F 分離的試樣和R3試劑的反應杯從反應部件9運送到二次BF分離器12後，從反應杯內的試樣分離未反應的R3試劑(不需要的成份)和磁性粒子。R4/R5試劑供應部件15通過無圖示的管向裝有二次BF分離器12B/F分離後的試樣的反應杯中依次分裝R4試劑和R5試劑。檢測部件14用於通過光電倍增管(Photo Multiplier Tube)獲取與經一定處理的樣本的抗原結合的標記抗體和發光底物在反應過程中發出的光，以此測定該樣本內所含抗原的量。試劑放置部件16如圖2所示，包括基本呈圓筒形的機殼16a(參照圖4)、從上方覆蓋機殼16a的蓋部16b、設置在蓋部16b上、供用戶更換後述Rl試劑容器22、R3試劑容器 23和R2試劑容器M時開關用的開關部件16c。在蓋部16b上與Rl試劑、R2試劑和R3試劑的吸移位相對應的位置上面有可開關的窗口(無圖示)。通過此窗口可以由Rl試劑分裝臂6、R2試劑分裝臂7和R3試劑分裝臂8分別吸移Rl試劑、R2試劑和R3試劑。在此，第一實施方式如圖4和圖5所示，試劑放置部件16的機殼16a上設有R1/R3 放置部件18、R2放置部件19、近距離天線部件20和遠距離天線部件21。具體而言，如圖5 所示，從平面看，有著與機殼16a中心O基本相同的中心O且基本圓環形R1/R3放置部件18 以及有著與機殼16a中心〇基本相同的中心〇且基本呈圓環形的R2放置部件19配置在機殼16a內部。R1/R3放置部件18設置在R2放置部件19的內環一側(中心〇一側)。近距離天線部件20和遠距離天線部件21安裝在試劑放置部件16的機殼16a上。 具體而言，如圖5所示，在機殼16a的圓環形側壁上隔一定距離(一定旋轉角度間隔)的兩處有二個缺口 116a和216a。這二個缺口 116a和216a是機殼16a的一部分從上端向下端切削而形成的。機殼16a的缺口 116a如圖6所示，通過扣(鎖)住近距離天線部件20的樹脂制鎖件(locking part) 20a而固定住。機殼16a的缺口 216a如圖7所示，通過扣(鎖) 住遠距離天線部件21的樹脂制鎖件(locking part)21a而固定住。如圖5所示，近距離天線部件20和遠距離天線部件21都設置在R2放置部件19的外側。試劑放置部件16上設有內側旋轉驅動部件16d(參照圖幻及外側旋轉驅動部件 16e(參照圖3)，其中所述內側旋轉驅動部件16d以中心〇為旋轉中心向箭頭Cl方向和箭頭C2方向轉動R1/R3放置部件18 ；所述外側旋轉驅動部件16e以中心〇為旋轉中心向箭頭Dl方向和箭頭D2方向轉動R2放置部件19。內側旋轉驅動部件16d和外側旋轉驅動部件16e由CPUh分別控制驅動。機殼16a底部中心〇設有冷卻Rl試劑、R2試劑和R3試劑的無圖示帕爾貼元件(Peltier device)及風扇16f。由於此冷卻處理，試劑放置部件16內有時可能會結露。近距離天線部件20如圖8和圖9所示，除上述鎖件20a外，還包括天線基板20b、 天線基板20b固定在其內部的基板安裝部件20c、從外側(箭頭X2方向一側)覆蓋天線基板20b的蓋組件20d和安裝在基板安裝部件20c上與天線基板20b相反一側(箭頭Xl方向一側)表面的金屬板20e。近距離天線部件20的天線基板20b如圖10所示，由在板狀基板的箭頭Xl方向一
12側表面(參照圖9)的線圈形天線配線120b構成。可以通過此線圈形天線配線120b收發電波。遠距離天線部件21如圖11和圖12所示，除上述鎖件21a外，還包括天線基板21b、 天線基板21b固定在其內部的基板安裝部件21c、從外側(箭頭Y2方向一側)覆蓋天線基板21b的蓋組件21d和安裝在基板安裝部件21c上與天線基板21b相反一側(箭頭Yl方向一側)表面的金屬板21e。遠距離天線部件21的天線基板21b如圖13所示，由在板狀基板的箭頭Yl方向一側表面(參照圖12)的線圈形天線配線121b構成。可以通過此線圈形天線配線121b收發電波。天線基板20b如圖6所示配置在基板安裝部件20c內部，使天線基板20b的箭頭 Xl方向一側表面與機殼16a的中心O (參照圖5)相對，同時，天線基板21b如圖7所示， 配置在基板安裝部件21c內部，使天線基板21b的箭頭Yl方向一側表面與機殼16a的中心 〇(參照圖5)相對。這樣，如圖6和圖7所示，天線基板20b和21b可以向試劑放置部件 16內側(圖5的中心〇一側)發射讀取用電波和寫入用電波，同時還可以接收後述IC標籤 25和沈為回應讀取用電波而發射的應答電波。天線基板20b和21b連接在RFID模塊17 的後述天線切換基板17c上。在第一實施方式，遠距離天線部件21的天線基板21b的天線配線121b(參照圖 13)的線圈匝數比近距離天線部件20的天線基板20b的天線配線120b (參照圖10)的線圈匝數大。另外，從後述讀寫型基板17a通過後述天線切換基板17c向近距離天線部件20的天線基板20b輸出的電功率(第一輸出)比讀寫型基板17a通過天線切換基板17c向遠距離天線部件21的天線基板21b輸出的電功率(第二輸出)小。如此，如圖6所示，近距離天線部件20發射範圍A的近距離讀取用電波和近距離寫入用電波。如圖7所示，遠距離天線部件21發射比範圍A大的範圍B的遠距離讀取用電波和遠距離寫入用電波。其結果，近距離天線部件20的讀取範圍和寫入範圍比遠距離天線部件21的讀取範圍和寫入範圍小。近距離天線部件20的基板安裝部件20c和蓋組件20d均由可透過電波的樹脂構成。如圖9所示，基板安裝部件20c和蓋組件20d用於保護天線基板20b不受結露等影響， 天線基板20b被基板安裝部件20c和蓋組件20d與外部隔離。同樣，遠距離天線部件21的基板安裝部件21c和蓋組件21d均由可透過電波的樹脂構成。如圖12所示，基板安裝部件 21c和蓋組件21d用於保護天線基板21b不受結露等影響，天線基板21b被基板安裝部件 21c和蓋組件21d與外部隔離。天線基板20b如圖9所示，用螺絲20f和螺母20g固定在基板安裝部件20c上，天線基板21b如圖12所示，用螺絲21f和螺母21g固定在基板安裝部件21c上。金屬板20e和21e均由可吸收電波(讀取用電波、寫入用電波和應答電波)的鋁板構成。金屬板20e如圖8所示，由螺絲20h和無圖示的螺母固定在基板安裝部件20c的箭頭Xl方向一側表面。同樣，金屬板21e如圖11所示，由螺絲21h和無圖示的螺母固定在基板安裝部件21c的箭頭Yl方向一側表面。如圖8和圖11所示，金屬板20e和21e上分別有略呈U字形的缺口 20i和21i。 通過此缺口 20i和21i，天線基板20b和21b向試劑放置部件16內側(箭頭Xl方向和箭頭Yl方向)發射電波，而未通過此缺口 20i和21i的天線基板20b和21b的電波被金屬板20e和21e吸收。即，金屬板20e限制天線基板20b發射的電波範圍和天線基板20b接收的電波範圍，以此來限制近距離天線部件20 (天線基板20b)的讀取範圍和寫入範圍。同樣， 金屬板21e可以限制天線基板21b發射的電波範圍和天線基板21b接收的電波範圍，以此來限制遠距離天線部件21 (天線基板21b)的讀取範圍和寫入範圍。R1/R3放置部件18上如圖5所示，以等角度(約14. 4度)間隔配置了 25個由可透過電波的樹脂製成的R1/R3固定件18a。此R1/R3固定件18a上分別固定有Rl試劑容器 22和R3試劑容器23，其中所述Rl試劑容器22盛放含捕捉抗體的Rl試劑(第一試劑)； 所述R3試劑容器23盛放含標記抗體的R3試劑。即R1/R3放置部件18上等角度(約14. 4 度)間隔地配置有25個Rl試劑容器22。R1/R3固定件18a在外側(R2放置部件一側)固定Rl試劑容器22，在內側(中心0 —側)固定R3試劑容器23。R2放置部件19上以等角度(約14. 4度)間隔配置了 25個由可透過電波的樹脂製成的R2固定件19a。此R2固定件19a上分別固定有盛放含磁性粒子的R2試劑(第二試劑)的R2試劑容器M。即R2放置部件19上等角度(約14. 4度)間隔地配置有25個R2 試劑容器對。Rl試劑容器22、R3試劑容器23和R2試劑容器M可由用戶放置和更換。如圖14所示，Rl試劑容器22上有吸移Rl試劑時開關的蓋2 和盛放Rl試劑的試劑收納部件22b。另如圖15所示，R2試劑容器M上有吸移R2試劑時開關的蓋2 和盛放R2試劑的試劑收納部件Mb。另外，如圖6和圖7所示，R3試劑容器23與Rl試劑容器 22形狀基本相同，R3試劑容器23上有吸移R3試劑時開關的蓋23a和盛放R3試劑的、無圖示的試劑收納部件。蓋2 和蓋23a隨著R1/R3放置部件18的轉動而開關，蓋2 則隨著 R2放置部件19的轉動而開關。如圖14所示，Rl試劑容器22的試劑收納部件22b外側(圖6箭頭X2方向)的側面上有安裝IC標籤25的IC標籤安裝部件22c。如圖15所示，R2試劑容器M的試劑收納部件24b外側(圖7箭頭Y2方向)的側面上有安裝IC標籤沈的IC標籤安裝部件Mc。 即如圖6所示，當R2試劑容器M放在R2放置部件19上時，R2試劑容器M的IC標籤沈正好衝著試劑放置部件16的外側(箭頭X2方向)，如圖7所示，當Rl試劑容器22放在Rl/ R3放置部件18上時，Rl試劑容器22的IC標籤25正好衝著試劑放置部件16的外側(箭頭Y2方向)。R3試劑容器23的側面與Rl試劑容器22不同，未裝IC標籤。IC標籤25上記錄有Rl試劑容器22中的Rl試劑試劑信息以及和Rl試劑容器22 共用的R1/R3固定件18a上固定的R3試劑容器23中的R3試劑的試劑信息。IC標籤沈上記錄有R2試劑容器M中的R2試劑的試劑信息。如圖16所示，IC標籤25和沈上可以存儲1 字節信息。此存儲容量1 字節中表示固有信息的唯一 ID區分配有16位元組，表示試劑信息的用戶數據區分配有112位元組。 唯一 ID區為記錄可分別識別IC標籤25和沈的唯一 ID的區域，為只讀區。而用戶數據區為用戶可自由寫入信息的區域。用戶數據區中設定有只能讀不能寫的區域(只讀區)和讀寫均可的(可寫入區)區域。唯一 ID在CPUh對試劑信息加密時使用。以此，由於唯一 ID不同，試劑信息的密碼無法解開，即使試劑信息被複製到其他IC標籤時，也可以避免試劑信息和試劑容器中的試劑對應錯誤。只讀區記錄著與帶IC標籤(IC標籤25或26)的試劑容器(Rl試劑容器22或R2
14試劑容器24)相關的測定項目、批號、序號、試劑種類(種類識別信息)、保存期限和填充量， 可寫入區可寫入餘量和使用期限。IC標籤25還一併記錄R3試劑容器23的相關信息。初次放入R1/R3放置部件18的Rl試劑容器22上貼的IC標籤25和初次放入R2放置部件19 的R2試劑容器M上貼的IC標籤沈的可寫入區未寫入信息。測定項目指用貼有此IC標籤的試劑容器所裝試劑進行的測定項目。試劑種類指貼有此IC標籤的試劑容器是Rl試劑容器22還是R2試劑容器24。保存期限表示此試劑可保存的期限。填充量表示用此試劑可進行的測定次數。餘量表示用此試劑還可以進行幾次測定。使用期限表示此試劑可使用的期限。使用期限在此試劑開始使用時設定。在第一實施方式中，如圖6所示，R2試劑容器M的IC標籤沈在近距離天線部件 20的正面位置(正對面位置)進行讀取和寫入。此時，IC標籤沈根據近距離天線部件20 發射的範圍A (粗點劃線)的近距離讀取用電波，發射含IC標籤沈中存儲的試劑信息的應答電波。IC標籤沈根據近距離天線部件20發射的範圍A的近距離寫入用電波，將存儲的試劑信息改寫為近距離寫入用電波中所含新的試劑信息。如圖7和圖17所示，Rl試劑容器22的IC標籤25在遠距離天線部件21的正面位置進行讀寫。此時，IC標籤25根據遠距離天線部件21發射的範圍B(粗雙點劃線)的遠距離讀取用電波，發射含IC標籤25中存儲的試劑信息的應答電波。IC標籤25根據遠距離天線部件21發射的範圍B的遠距離寫入用電波，將存儲的試劑信息改寫為遠距離寫入用電波中所含新的試劑信息。設定相鄰的R1/R3固定件18a之間的間隔、相鄰的R2固定件19a之間的間隔以及範圍A和範圍B，以使得在對一個IC標籤25和沈進行讀寫時，不對其他IC標籤25和沈進行讀寫。試劑信息在密碼鎖定的狀態下，儲存在IC標籤25和沈中。控制裝置4的存儲部件4d如圖3所示，與IC標籤25和沈區分開來，分別存儲25 個Rl試劑容器22、25個R2試劑容器M和25個R3試劑容器23各自的試劑信息。存儲部件4d還存儲25個Rl試劑容器22、25個R3試劑容器23和25個R2試劑容器M各自的初始位置和從R1/R3放置部件18及R2放置部件19各初始位置的旋轉角度，將其作為位置信息。如此，存儲部件4d中相互對應地存儲著25個Rl試劑容器22、25個R3試劑容器23和 25個R2試劑容器M的位置信息和試劑信息。控制裝置4的存儲部件4d在密碼被解讀的狀態下存儲試劑信息。免疫分析儀1接通電源(無圖示)後，便讀取放置在試劑放置部件16的所有試劑容器的IC標籤(IC標籤25和26)，獲取各試劑容器的位置信息和試劑信息。當存儲部件 4d中存有試劑信息時，控制裝置4的CPMa將存儲部件4d中存儲的試劑信息更新為接通電源時從IC標籤獲取的試劑信息。這樣，即使在免疫分析儀1切斷電源期間Rl試劑容器 22、R3試劑容器23和R2試劑容器M分別被更換為新的Rl試劑容器22、R3試劑容器23 和R2試劑容器24，也可以將控制裝置4的存儲部件4d中的試劑信息更新為現在放置在試劑放置部件16的試劑的信息。RFID模塊17如圖2所示，設於試劑放置部件16外部，如圖3所示包括讀寫型基板 17a、連接讀寫型基板17a和CPU2a的接口基板17b及天線切換基板17c。讀寫型基板17a根據CPU2a的指示讓遠距離天線部件21 (近距離天線部件20)發射約13. 56MHz頻帶的遠距離讀取用電波(近距離讀取用電波)和遠距離寫入用電波(近距離寫入用電波)。讀寫型基板17a還從IC標籤25和沈為回應遠距離讀取用電波(近距離讀取用電波)而發射的、被近距離天線部件20和遠距離天線部件21接收的應答電波中獲取試劑信息，並將試劑信息輸出到CPU2a。讀寫型基板17a包括設定值存儲部件17d，用於存儲天線基板20b相應的設定值、 天線基板21b的相應設定值和向天線基板的傳送輸出設定值，此設定值由CPUh設定。天線切換基板17c的作用是從讀寫型基板17a接收與存在設定值存儲部件17d中的設定值相應的信號，根據該接收信號切換使用近距離天線部件20或遠距離天線部件21其中之一來收發讀取用電波和寫入用電波。如圖3所示，在第一實施方式，由RFID模塊17、近距離天線部件20和遠距離天線部件21構成了讀取IC標籤25和沈上記錄的試劑信息的試劑信息讀取部件200。近距離天線部件20和遠距離天線部件21分別作為向IC標籤沈和25發射電波的電波發射部件 200a發揮作用。下面參照圖3和圖18就本發明第一實施方式涉及的免疫分析儀1 (測定裝置2) 的測定運作進行說明。首先當測定裝置2接通電源後，測定裝置2的CPUh在步驟Sl進行程序初始化、 測定裝置2各部件運行檢查等初始化處理。然後，在步驟S2進行試劑信息讀取處理。關於此試劑信息讀取處理待後詳述。在步驟S3，由CPUh判斷是否有用戶的測定指示。用戶下達的此測定指示通過控制裝置4(參照圖幻傳達到CPU2a。當判斷沒有用戶的測定指示時，進入步驟S6。在步驟S3如果判斷有用戶的測定指示，則在步驟S4由CPUh進行試劑吸移和試劑信息寫入處理。關於此試劑吸移和試劑信息寫入處理待後詳述。在步驟S5，在測定裝置2進行樣本測定。在步驟S6由CPUh判斷用戶是否下達了關機指示。如果判斷沒有關機指示，則返回步驟S3。如果判斷有關機指示，則在步驟S7由 CPU2a實施測定裝置2的關機處理。至此，測定裝置2的CPUh測定運作結束。下面參照圖6、圖7、圖17和圖19就圖18的步驟S2所示本發明第一實施方式涉及的免疫分析儀1的試劑信息讀取處理進行詳細說明。在步驟S201，由CPUh判斷讀取目標的IC標籤是否為Rl試劑容器22的IC標籤 25。當讀取目標的IC標籤是Rl試劑容器22的IC標籤25時，進入步驟S202。當讀取目標的IC標籤是R2試劑容器M的IC標籤沈時，進入步驟S206。 在步驟S202，發射讀取用電波的天線部件被CPU2a設定為遠距離天線部件21。即， CPUh在讀寫型基板17a的設定值存儲部件17d設定遠距離天線部件21天線基板21b的相應設定值和天線基板21b的相應傳送輸出設定值。在步驟S203，CPUh使R1/R3放置部件18向箭頭Cl方向或箭頭C2方向(參照圖 17)由旋轉，以使讀取目標的IC標籤25位於正對遠距離天線部件21的位置。在步驟S204，由CPU2a判斷R2試劑容器M是否位於遠距離天線部件21正對面位置附近的E區(參照圖17)。此時，根據R2試劑容器M的位置信息判斷R2試劑容器M是否位於E區。當R2試劑容器M位於E區時，由於裝在R2試劑容器M的R2試劑會吸收電波，即使遠距離天線部件21發射範圍B(參照圖17)的遠距離讀取用電波和遠距離寫入用電波，也有可能無法進行IC標籤25的讀寫。因此，當判斷R2試劑容器M位於E區時，在步驟S205由CPU2a向箭頭Dl方向或箭頭D2方向(參照圖17)旋轉R2放置部件19，使在 E區的R2試劑容器M讓出E區。這樣，如圖7所示，相鄰的R2試劑容器M之間的間隙F 和讀取目標的IC標籤25配置在正對遠距離天線部件21的位置，同時R2試劑容器M的IC 標籤沈不在遠距離天線部件21的正對面。然後，進入步驟S208。此外，若果在步驟S204 判斷沒有任何一個R2試劑容器M在E區時，也進入步驟S208。另一方面，當在步驟S201判斷讀取目標的IC標籤為R2試劑容器M的IC標籤沈時，在步驟S206，CPUh將發射讀取用電波的天線部件設定為近距離天線部件20。即CPU2a 在讀寫型基板17a的設定值存儲部件17d設定近距離天線部件20的天線基板20b的相應設定值和天線基板20b的相應傳送輸出設定值。在步驟S207，CPUh使R2放置部件19向箭頭Dl方向或箭頭D2方向(參照圖6) 旋轉，讓讀取目標的IC標籤沈位於正對近距離天線部件20的位置。然後進入步驟S208。在步驟S208，在CPU2a、讀寫型基板17a和天線切換基板17c的控制下，遠距離天線部件21 (近距離天線部件20)向讀取目標的Rl試劑容器22的IC標籤25 (R2試劑容器 24的IC標籤沈)發射範圍B的遠距離讀取用電波(範圍A的近距離讀取用電波)。此後，在步驟S209，CPUh判斷遠距離天線部件21 (近距離天線部件20)是否在一定時間內收到IC標籤25或沈發射的對遠距離讀取用電波或近距離讀取用電波的應答電波。即，CPU2a判斷RFID模塊17的讀寫型基板17a根據從遠距離天線部件21 (近距離天線部件20)收到的應答電波獲取的試劑信息是否在一定時間內輸出到CPU2a。當判斷遠距離大線部件21 (近距離天線部件20)未在一定時間內收到應答電波時，在步驟S210由CPU2a 將讀取錯誤信息傳送到控制裝置4。在控制裝置4的顯示器4b上顯示位於一定位置的試劑容器的試劑信息(讀取目標的試劑容器的試劑信息)讀取失敗。然後進入步驟S213。當在步驟S209判斷遠距離天線部件21 (近距離天線部件20)在一定時間內收到應答電波時，在步驟S211由CPUh判斷遠距離天線部件21(近距離天線部件20)收到的應答電波中所含試劑信息是否為讀取目標的試劑信息。此時，CPU^1根據從應答電波獲得的試劑種類(種類識別信息)，判斷是否為讀取目標的試劑信息。當判斷應答電波中所含試劑信息不是讀取目標的試劑信息時，進入上述步驟S210。當判斷應答電波中所含試劑信息是讀取目標的試劑信息時，在步驟S212，應答電波中所含讀取目標的試劑信息由CPUh傳送至控制裝置4。當遠距離天線部件21 (近距離天線部件20)接收數個應答電波，而且數個應答電波中有讀取目標的試劑信息時，只向控制裝置4傳送讀取目標的試劑信息。在控制裝置4，根據從CPUh收到的試劑信息更新存儲部件4d的試劑信息。然後進入步驟S213。最後，在步驟S213，CPUh判斷25個IC標籤25和25個IC標籤沈是否已全部讀完。當判斷尚未讀完時，返回步驟S201，進行新的IC標籤的讀取。當判斷全部讀完時，試劑信息讀取處理結束，進入圖18所示步驟S3。下面參照圖17和圖20，就圖18的步驟S4所示本發明第一實施方式涉及的免疫分析儀1的試劑吸移和試劑信息寫入處理進行詳細說明。首先，在步驟S401，CPU2a判斷待吸移試劑(吸移目標)的試劑容器是否為Rl試劑容器22或R3試劑容器23。待吸移試劑容器根據用戶在輸入設備如輸入的測定條件等， 通過CPU4a傳至CPU2a。
當判斷待吸移試劑容器是Rl試劑容器22或R3試劑容器23時，在步驟S402，CPU2a 將發射讀取用電波和寫入用電波的天線部件設定為遠距離天線部件21。在步驟S403， CPU2a向箭頭Cl方向或箭頭C2方向(參照圖17)轉動R1/R3放置部件18，使待吸移Rl試劑容器22 (R3試劑容器23)位於Rl試劑分裝臂6 (R3試劑分裝臂8)吸移Rl試劑(R3試劑)的吸移位。此時，Rl試劑容器22的蓋22a(R3試劑容器23的蓋23a)隨著R1/R3放置部件18的轉動而打開。在步驟S404，Rl試劑分裝臂6 (R3試劑分裝臂8)吸移Rl試劑(R3試劑)。此後， 在步驟S405，CPUh使R1/R3放置部件18向箭頭Cl方向或箭頭C2方向轉動，使得待寫入的Rl試劑容器22的IC標籤25處於面對遠距離天線部件21的位置。此時，Rl試劑容器 22的蓋22a (R3試劑容器23的蓋23a)隨著R1/R3放置部件18的轉動而關閉。在步驟S406，CPU2a判斷R2試劑容器M是否位於E區(參照圖17)。當判斷R2 試劑容器M位於E區時，在步驟S407，CPU2a向箭頭Dl方向或箭頭D2方向(參照圖17) 轉動R2放置部件19，使位於E區的R2試劑容器M從E讓開。然後進入步驟S412。另一方面，當在步驟S401，CPU2a判斷待吸移試劑容器為R2試劑容器M時，在步驟S408，CPUh將發射讀取用電波和寫入用電波的天線部件設定為近距離天線部件20。在步驟S409，CPU2a使R2放置部件19向箭頭Dl方向或箭頭D2方向轉動，讓待吸移R2試劑容器M位於R2試劑分裝臂7吸移R2試劑的吸移位。此時，R2試劑容器M的蓋2 隨著 R2放置部件19的轉動而打開。在步驟S410，R2試劑分裝臂7吸移R2試劑。此後，在步驟S411，CPUh使R2放置部件19向箭頭Dl方向或箭頭D2方向轉動，讓待寫入的R2試劑容器M的IC標籤沈處於面對近距離天線部件20的位置。此時，R2試劑容器M的蓋2 隨著R2放置部件19的轉動而關閉。然後進入步驟S412。在步驟S412，CPUh從遠距離天線部件21 (近距離天線部件20)向待寫入的Rl試劑容器22的IC標籤25 (R2試劑容器M的IC標籤26)發射範圍B的遠距離讀取用電波 (範圍A的近距離讀取用電波)。然後，在步驟S413，CPUh判斷遠距離天線部件21 (近距離天線部件20)是否在一定時間內收到應答電波。當判斷遠距離天線部件21 (近距離天線部件20)沒有在一定時間內收到應答電波時，在步驟S414，CPU2a向控制裝置4發送讀取錯誤信息，在控制裝置4的顯示器4b上出現試劑信息未能寫入待寫入的IC標籤的信息。然後結束試劑吸移和試劑信息寫入處理，進入圖18所示步驟S5。當在步驟S413，判斷遠距離天線部件21 (近距離天線部件20)在一定時間內收到應答電波時，在步驟S415，CPUh判斷遠距離天線部件21 (近距離天線部件20)收到的應答電波中所含試劑信息是否為待寫入IC標籤中所存的試劑信息。此時，CPUh根據從應答電波獲得的試劑種類(種類識別信息)判斷是否為待寫入IC標籤中所存試劑信息。當判斷應答電波中所含試劑信息不是待寫入IC標籤中所存儲的試劑信息時，進入上述步驟S414。當判斷應答電波中所含試劑信息是待寫入IC標籤中所存試劑信息時，在步驟 S416，包含試劑餘量信息等在內的遠距離寫入用電波(近距離寫入用電波)由遠距離天線部件21 (近距離天線部件20)發射到待寫入Rl試劑容器22的IC標籤25 (R2試劑容器M 的IC標籤26)。在步驟S417，與寫入IC標籤的試劑信息相同的信息由CPUh傳送至控制裝置4後，試劑吸移和試劑信息寫入處理完成，進入圖18所示步驟S5。在控制裝置4，根據CPU2a傳送的試劑信息，存儲部件4d的試劑信息被更新。在第一實施方式，如上所述，平面看基本呈圓環形的R1/R3放置部件18設置在基本呈圓環形的R2放置部件19的內側，同時將近距離天線部件20和遠距離天線部件21都設置在R2放置部件19外側。這樣，只要確保R2放置部件19外側的區域用來配置近距離天線部件20和遠距離天線部件21即可，無需確保R1/R3放置部件18內側的區域，從而可以相應縮小R1/R3放置部件18內側的區域。這樣將可以相應控制免疫分析儀1機器主體的增大。而且，將近距離天線部件20和遠距離天線部件21都設置在R2放置部件19外側， 當從IC標籤25讀取試劑信息時，可以防止誤從IC標籤沈讀取試劑信息。在第一實施方式，如上所述，使讀取R2放置部件19上放置的R2試劑容器M的IC 標籤沈上所存試劑信息時發射電波的到達範圍(範圍A)小於讀取R1/R3放置部件18上放置的Rl試劑容器22的IC標籤25上所存試劑信息時發射電波的到達範圍(範圍B)。如此，當讀取IC標籤沈上存儲的試劑信息時，可以防止誤讀取讀取目標的IC標籤沈周圍相鄰數個IC標籤沈和IC標籤25上存儲的試劑信息。在第一實施方式，如上所述，分別設置近距離天線部件20和遠距離天線部件21， 可以同時讀取IC標籤25和26，因此，比只設置一個天線部件來讀取IC標籤時相比，能夠以更短的時間讀取更多的IC標籤25和沈的試劑信息。在第一實施方式，如上所述，CPU2a根據應答電波中所含試劑種類(種類識別信息)判斷近距離天線部件20和遠距離天線部件21收到的應答電波中所含試劑信息是否為讀取目標的試劑信息。以此可以進一步防止非讀取目標的IC標籤25或沈發射的應答電波被當作讀取目標的應答電波。在第一實施方式，如上所述，Rl試劑容器22盛放Rl試劑，R2試劑容器M盛放R2 種類的試劑。以此，固定在R1/R3放置部件18上的各Rl試劑容器22可以分別只盛放一種 (Rl種類)試劑，同時R2放置部件19上的各R2試劑容器M分別只盛放一種(R2種類)試劑。這樣，CPUh可以很容易地判斷讀取了 IC標籤25或沈中哪一個的試劑信息。在第一實施方式，如上所述，基本呈圓環形的R1/R3放置部件18上等角度(約 14. 4度)間隔地配置有25支Rl試劑容器22，配置在R1/R3放置部件18外側、基本呈圓環形的R2放置部件19上等角度(約14. 4度)間隔地配置有25支R2試劑容器M。如此，可以切實確保R2放置部件19上相鄰試劑容器之間的間隔比R1/R3放置部件18更大。因此， 當從IC標籤25讀取試劑信息時，可以避免誤從IC標籤沈讀取試劑信息。在第一實施方式，如上所述，遠距離天線部件21發射範圍B的遠距離讀取用電波時，讓位於E區的R2試劑容器M從E區讓開。這樣可以防止因R2試劑容器M在E區而難以讀取Rl試劑容器22的IC標籤25。在第一實施方式，如上所述，通過設置限制遠距離天線部件21發射電波的到達範圍的金屬板21e，可以將遠距離天線部件21發射電波的到達範圍限制在讀取目標的Rl試劑容器22的IC標籤25所處範圍內。從而可以防止遠距離天線部件21誤讀取非讀取目標的 IC標籤25和26。在第一實施方式，如上所述，通過設置限制近距離天線部件20發射電波的到達範圍的金屬板20e，可以將近距離天線部件20發射電波的到達範圍限制在讀取目標的R2試劑容器M的IC標籤沈所處範圍內。從而可以防止近距離天線部件20誤讀取非讀取目標的IC標籤25和26。(第二實施方式)下面參照圖21 圖沈說明第二實施方式。第一實施方式將近距離天線部件20 和遠距離天線部件21兩個天線部件設置在測定裝置2的試劑放置部件16，此第二實施方式涉及的免疫分析儀301與第一實施方式不同，僅在測定裝置302的試劑放置部件316設置了一個天線部件321，下面就此進行說明。首先參照圖21 圖M就本發明第二實施方式涉及的免疫分析儀301的結構進行說明。在第二實施方式，如圖21所示，試劑放置部件316設有一個天線部件321。此天線部件321如圖22所示，通過鎖件(locking part)21a扣(鎖)在試劑放置部件316的機殼 316a的缺口 216a上而安裝在機殼316a。第二實施方式的機殼316a上未設置第一實施方式的缺口 116a。天線部件321如圖21所示，包括天線基板321b。此天線基板321b如圖23和圖 M所示，可以向試劑放置部件316內側(圖22的中心〇一側(箭頭Yl方向一側)發射讀取用電波和寫入用電波，同時可以接收IC標籤25和沈應答讀取用電波發射的應答電波。 天線部件321的其他結構與第一實施方式的遠距離天線部件21的結構相同。在此，第二實施方式如圖21所示，RFID模塊317包含讀寫型基板317a。讀寫型基板317a有設定值存儲部件317d，用於存儲向天線基板321b傳送輸出的設定值，此設定值由 CPU2a設定。讀寫型基板317a向天線基板321b的傳送輸出通過CPUh更改設定值存儲部件317d的設定值而切換，可從天線部件321發射讀取範圍較小的範圍G(圖23的點劃線) 的近距離讀取用電波和讀取範圍較大的範圍H(圖M的雙點劃線)的遠距離讀取用電波兩種讀取用電波。同樣，可以通過CPU2a變更設定值存儲部件317d的設定值，讓天線部件321 發射寫入範圍較小的範圍G的近距離寫入用電波和寫入範圍較大的範圍H的遠距離寫入用電波兩種寫入用電波。因此，通過CPUh和讀寫型基板317a可以在圖23的範圍G (粗點劃線)和大於範圍G的圖M範圍H(粗雙點劃線)之間切換天線部件321發射的讀取用電波的讀取範圍和寫入用電波的寫入範圍。在第二實施方式，只設置有一個天線部件321，不需要切換天線部件用的、第一實施方式中的天線切換基板17c。如圖21所示，天線部件321的天線基板321b直接連接在讀寫型基板317a。如圖21所示，在第二實施方式，讀取存儲在IC標籤(IC標籤25和沈)的試劑信息的試劑信息讀取部件400由RFID模塊317和天線部件321構成。天線部件321還作為向IC標籤發射電波的電波發射部件400a發揮功能。第二實施方式的其他結構與第一實施方式相同。下面就第二實施方式涉及的免疫分析儀301的測定動作進行說明。另外，除試劑信息讀取處理以及試劑吸移和試劑信息寫入處理以外的處理，均與圖18所示第一實施方式相同。下面參照圖23 圖25詳細說明本發明第二實施方式涉及的免疫分析儀301的試劑信息讀取處理。首先在步驟S221，由CPUh判斷讀取目標的IC標籤是否為Rl試劑容器22的IC標籤25。當判斷讀取目標的IC標籤是Rl試劑容器22的IC標籤25時，在步驟S222，由 CPUh設定從讀寫型基板317a向天線基板321b的傳送輸出，使天線部件321發射範圍H(參照圖的遠距離讀取用電波。即CPUhS定讀寫型基板317a的設定值存儲部件317d的設定值，加大天線部件321的讀取範圍。然後，在步驟S223，CPUh使R1/R3放置部件18向箭頭Cl或箭頭C2方向(參照圖24)轉動，讓讀取目標的IC標籤25正對天線部件321。在步驟S2M，CPU2a判斷R2試劑容器M是否在E區(參照圖23)。當判斷R2試劑容器 在E區時，在步驟S225，CPUh使R2放置部件19向箭頭Dl或箭頭D2方向(參照圖23)轉動，使得位於E區的R2試劑容器M讓開E區。然後進入步驟S2^。當在步驟 S224判斷所有R2試劑容器M都不在E區時，也進入步驟S2^。另一方面，在步驟S221，當讀取目標的IC標籤是R2試劑容器M的IC標籤沈時， 在步驟，CPUh設定從讀寫型基板317a向天線基板321b的傳送輸出，使天線部件321 發射範圍G(參照圖23)的近距離讀取用電波。即CPUhS定讀寫型基板317a的設定值存儲部件317d的設定值，縮小天線部件321的讀取範圍。然後，在步驟S227，CPUh使R2放置部件19向箭頭Dl或箭頭D2方向轉動，讓讀取目標的IC標籤沈正對天線部件321。然後進入步驟S2^。在步驟，CPU^i使天線部件321向讀取目標的Rl試劑容器22的IC標籤25 (R2 試劑容器M的IC標籤26)發射範圍H的遠距離讀取用電波(範圍G的近距離讀取用電波)。此後，進行與圖19所示第一實施方式步驟S209 S213相同的處理，再進入圖18所示步驟S3。下面參照圖23、圖M和圖沈詳細說明本發明第二實施方式涉及的免疫分析儀 301的試劑吸移和試劑信息寫入處理。首先與第一實施方式一樣，在步驟S421，由CPUh判斷要吸移試劑(待吸移)的試劑容器是否為Rl試劑容器22或R3試劑容器23。當判斷待吸移試劑容器是Rl試劑容器22或R3試劑容器23時，在步驟S422，由 CPU2a進行設定，使天線部件321發射範圍H(參照圖24)的遠距離讀取用電波和遠距離寫入用電波。即進行設定，使得天線部件321的讀取範圍和寫入範圍更大一些。在步驟S423， CPUh使R1/R3放置部件18向箭頭Cl方向或箭頭C2方向(參照圖24)轉動，讓待吸移的 Rl試劑容器22 (R3試劑容器23)位於吸移位。此時，Rl試劑容器22的蓋22a (R3試劑容器 23的蓋23a)隨著R1/R3放置部件18的轉動而打開。在步驟S4M，吸移Rl試劑(R3試劑)。在步驟S425，CPUh使R1/R3放置部件18 向箭頭Cl方向或箭頭C2方向(參照圖24)轉動，讓待寫入的Rl試劑容器22的IC標籤25 正對天線部件321。此時，Rl試劑容器22的蓋22a(R3試劑容器23的蓋23a)隨著R1/R3 放置部件18的轉動而關閉。在步驟S似6，CPUh判斷R2試劑容器M是否在E區(參照圖23)。當判斷R2試劑容器M在E區時，在步驟S427，CPU2a使R2放置部件19向箭頭Dl或箭頭D2方向(參照圖24)轉動，以便位於E區的R2試劑容器M讓開E區。然後進入步驟S432。另一方面，當在步驟S421判斷待吸移的試劑容器是R2試劑容器M時，在步驟 S428, CPUh進行設定，使得天線部件321發射範圍G(參照圖23)的近距離讀取用電波和
21近距離寫入用電波。即進行設定，使得天線部件321的讀取範圍和寫入範圍小一些。在步驟S429，CPU2a使R2放置部件19向箭頭Dl方向或箭頭D2方向轉動，使待吸移的R2試劑容器M位於吸移位。此時，R2試劑容器M的蓋2 隨著R2放置部件19的轉動而打開。在步驟S430，吸移R2試劑。此後，在步驟S431，CPU2a使R2放置部件19向箭頭 Dl方向或箭頭D2方向轉動，使待寫入的R2試劑容器M的IC標籤沈正對天線部件321。 此時，R2試劑容器M的蓋2 隨著R2放置部件19的轉動而關閉。然後進入步驟S432。在步驟S432，CPU^i使天線部件321向待寫入的Rl試劑容器22的IC標籤25 (R2 試劑容器M的IC標籤26)發射範圍H的遠距離讀取用電波(範圍G的近距離讀取用電波)。然後進行與圖20所示第一實施方式的步驟S413 S417相同的處理，再進入圖18所示步驟S5。在第二實施方式，如上所述，可以通過更換讀寫型基板317a向天線基板321b的傳送輸出，將一個天線部件321發射的讀取用電波的讀取範圍和寫入用電波的寫入範圍轉換為範圍G和比範圍G大的範圍H。由此，無需分別設置讀取Rl試劑容器22的IC標籤25的天線部件和讀取R2試劑容器M的IC標籤沈的天線部件，從而可以控制零部件件數的相應增加。第二實施方式的其他效果與第一實施方式相同。此次公開的實施方式應該認為其在所有方面均為例示，絕無限制性。本發明的範圍不受上述實施方式的說明所限，僅由權利要求書的範圍所示，而且包括與權利要求範圍具有同樣意思及同等範圍內的所有變形。比如上述第一和第二實施方式列舉了本發明的樣本分析儀應用於免疫分析儀 1(301)的例子，但本發明不限於此。只要是具備用於讀取電子標籤的試劑信息的試劑信息讀取部件的裝置，本發明均可適用，除免疫分析儀外，也可適用於凝血分析儀、尿樣測定儀和基因擴增檢測儀等。在上述第一實施方式，在R2放置部件19外側設置有近距離天線部件20和遠距離天線部件21兩個天線部件，在上述第二實施方式，在R2放置部件19外側設置一個天線部件321，但本發明不限於此。本發明也可以在R2放置部件外側設置三個以上天線部件(電波發射部件)。在上述第一和第二實施方式，近距離天線部件20和遠距離天線部件21 (天線部件 321)都設置在R2放置部件19外側，但本發明不限於此。本發明也可以將天線部件(電波發射部件)設置在Rl放置部件的內側。此時，無需為電波發射部件而確保R2放置部件外側的區域，可以抑制儀器主體體積過大。在上述第一和第二實施方式，R1/R3放置部件18和R2放置部件19基本呈圓環形， 但本發明不限於此。也可以R1/R3放置部件和R2放置部件在並列狀態下向一定方向直線排列。 在上述第一和第二實施方式，近距離天線部件20和遠距離天線部件21 (天線部件 321)可以發射讀取用電波和寫入用電波，但本發明不限於此。本發明也可以設計成天線部件(電波發射部件)只能發射讀取用電波。 在上述第一和第二實施方式，設置了帶IC標籤25的Rl試劑容器22、帶IC標籤 26的R2試劑容器M和未帶IC標籤的R3試劑容器23，但本發明不限於此。本發明也可以不含不帶IC標籤的試劑容器，僅由帶IC標籤的試劑容器構成。在上述第一和第二實施方式，Rl試劑容器22的Rl試劑的試劑信息及固定在與Rl 試劑容器22共用的R1/R3固定件18a上的R3試劑容器23的R3試劑的試劑信息均記錄在 IC標籤25上，但本發明不限於此。本發明也可以將三個以上試劑信息記錄在一個IC標籤上。在上述第一和第二實施方式，設置有25支Rl試劑容器22、25支R3試劑容器23 和25支R2試劑容器對，但本發明不限於此。本發明也可以使Rl試劑容器、R3試劑容器和 R2試劑容器的個數各不相同。Rl試劑容器(R3試劑容器和R2試劑容器)的個數也可以為 25個以外的其他個數。比如Rl試劑容器、R3試劑容器和R2試劑容器也可以僅各有一個。在上述第一和第二實施方式，配置了二列試劑容器固定部件(R1/R3放置部件18 和R2放置部件19)，但也可以配置三列以上試劑容器固定部件。在上述第一和第二實施方式，由內側旋轉驅動部件16d和外側旋轉驅動部件16e 分別轉動R1/R3放置部件18和R2放置部件19，但本發明不限於此。本發明也可以不讓Rl/ R3放置部件和R2放置部件轉動，同時設置轉動天線部件(電波發射部件)的驅動部件，以此來使電波發射部件旋轉。此時，相鄰R2容器之間的間隙最好位於R1/R3放置部件的Rl 試劑容器和電波發射部件相對的區域。在上述第二實施方式，通過切換從讀寫型基板317a向天線基板321b的傳送輸出來切換天線部件321發射的讀取用電波的讀取範圍和寫入用電波的寫入範圍，但本發明不限於此。比如，也可以通過CPU適當調整金屬板(限制部件)的缺口形狀和大小，以此切換讀取用電波的讀取範圍和寫入用電波的寫入範圍。在上述第一和第二實施方式，當天線部件發射範圍B的遠距離讀取用電波時，使位於E區的R2試劑容器退讓出E區，但本發明不限於此。本發明只要天線部件可以讀取到 Rl試劑容器的IC標籤即可，也可以不讓在E區的R2試劑容器退出E區。比如，如果R2試劑容器內的試劑餘量減少，天線部件發出的電波不會被R2試劑容器內的試劑吸收的話，也可以不讓R2試劑容器退出E區。另外，也可以不讓所有R2試劑容器退出E區，一部分R2 試劑容器可以位於E區。在上述第一和第二實施方式，將相鄰R2試劑容器之間的間隙F和讀取目標的Rl 試劑容器的IC標籤配置在正對天線部件的位置，但本發明不限於此。在本發明中，只要能讀取到Rl試劑容器的IC標籤即可，間隙F和讀取目標的Rl試劑容器的IC標籤也可以不配置在正對天線部件的位置。在上述第一和第二實施方式，天線部件發射範圍B的遠距離讀取用電波時，將R2 試劑容器的IC標籤配置在不正對天線部件的位置，但本發明不限於此。在本發明中，也可以將R2試劑容器的IC標籤配置在正對天線部件的位置。此時，即使讀取了 R2試劑容器的 IC標籤，也可以根據試劑種類(種類識別信息)，只向控制裝置傳送讀取目標的Rl試劑容器的IC標籤的試劑信息。 在上述第一和第二實施方式，CPU判斷R2試劑容器是否位於正對天線部件附近的 E區後，讀寫試劑信息，但本發明不限於此。在本發明中，也可以先進行試劑信息的讀寫，僅在試劑信息的讀寫失敗時，才移動R2放置部件，使位於E區的R2試劑容器退出E區。
在上述第一和第二實施方式，分別進行對Rl試劑容器的IC標籤的讀取(寫入)
23和對R2試劑容器的IC標籤的讀取(寫入)，但也可以同時進行對Rl試劑容器的IC標籤的讀取(寫入)和對R2試劑容器的IC標籤的讀取(寫入)。
權利要求
1.一種用試劑容器內的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括第一試劑容器固定部件，用於固定第一試劑容器，所述第一試劑容器上有記錄著與試劑相關的試劑信息的第一電子標籤；第二試劑容器固定部件，配置在所述第一試劑容器固定部件的一側，用於固定第二試劑容器，所述第二試劑容器上有記錄著與試劑相關的試劑信息的第二電子標籤；試劑信息讀取部件，用於讀取所述第一電子標籤上記錄的試劑信息和所述第二電子標籤上記錄的試劑信息；及控制部件；其中，所述試劑信息讀取部件配置在所述第一試劑容器固定部件的另一側，有發射到達範圍互不相同的數種電波的電波發射部件；所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，根據讀取目標是所述第一電子標籤還是所述第二電子標籤而切換從所述電波發射部件發射的電波。
2.根據權利要求1所述的樣本分析儀，其特徵在於所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，當讀取目標是所述第一電子標籤時，從所述電波發射部件發射第一到達範圍的電波，當讀取目標是所述第二電子標籤時，從所述電波發射部件發射大於所述第一到大範圍的第二到達範圍的電波。
3.根據權利要求1所述的樣本分析儀，其特徵在於所述電波發射部件包含有選擇性地發射到達範圍各異的數種電波的共用天線部件；及所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，根據讀取目標是所述第一電子標籤還是所述第二電子標籤切換從所述共用天線部件發射的電波。
4.根據權利要求3所述的樣本分析儀，還包括驅動部件，用於移動所述第一試劑容器固定部件和所述共用天線部件中的至少其中之一，其中所述控制部件控制所述驅動部件，當讀取目標是所述第二電子標籤時，讓所述第一試劑容器讓開所述共用天線部件對面的位置。
5.根據權利要求1所述的樣本分析儀，其特徵在於所述電波發射部件包括發射第一到達範圍電波的第一天線部件和發射第二到達範圍電波的第二天線部件；及所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，根據讀取目標是所述第一電子標籤還是所述第二電子標籤，將發射電波的所述電波發射部件切換到所述第一天線部件或所述第二天線部件。
6.根據權利要求1所述的樣本分析儀，其特徵在於所述控制部件判斷是否已從讀取目標的電子標籤讀取到試劑信息。
7.根據權利要求1所述的樣本分析儀，其特徵在於所述第一電子標籤和所述第二電子標籤所記錄的試劑信息包含識別試劑種類用的種類識別信息；及所述控制部件根據所述試劑信息讀取部件讀取的試劑信息中所含種類識別信息，判斷是否已從所述讀取目標的電子標籤讀取了試劑信息。
8.根據權利要求7所述的樣本分析儀，其特徵在於 所述第一試劑容器盛放第一種試劑；及所述第二試劑容器盛放第二種試劑。
9.根據權利要求1 8其中任意一項所述的樣本分析儀，其特徵在於所述第一試劑容器固定部件固定著複數個所述第一試劑容器，從平面看呈圓環形； 所述第二試劑容器固定部件固定著複數個所述第二試劑容器，從平面看在所述第一試劑容器固定部件內側呈圓環形；及所述電波發射部件配置在所述第一試劑容器固定部件外側。
10.根據權利要求9所述的樣本分析儀，其特徵在於所述第一試劑容器固定部件等間隔地固定一定數量的所述第一試劑容器；及所述第二試劑容器固定部件等間隔地固定所述一定數量的所述第二試劑容器。
11.根據權利要求1所述的樣本分析儀，其特徵在於所述第一試劑容器固定部件配置於所述電波發射部件和所述第二試劑容器固定部件之間。
12.—種用試劑容器內的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括第一試劑容器固定部件，用於固定第一試劑容器，所述第一試劑容器上有記錄著與試劑相關的試劑信息的第一電子標籤；第二試劑容器固定部件，配置在所述第一試劑容器固定部件的一側，用於固定第二試劑容器，所述第二試劑容器上有記錄著與試劑相關的試劑信息的第二電子標籤；天線部件，配置在所述第一試劑容器固定部件的另一側，從所述第一試劑容器的第一電子標籤和所述第二試劑容器的第二電子標籤分別接收電波；及試劑信息獲取部件，根據所述天線部件接收的電波，獲取所述第一電子標籤記錄的試劑信息和所述第二電子標籤記錄的試劑信息。
13.根據權利要求12所述的樣本分析儀，還包括驅動部件，用於移動所述第一試劑容器固定部件和所述天線部件中的至少其中之一； 驅動控制部件，控制所述驅動部件，當所述天線部件從所述第二試劑容器的第二電子標籤接收電波時，讓所述第一試劑容器讓開所述天線部件對面的位置。
14.根據權利要求13所述的樣本分析儀，其特徵在於所述第一試劑容器固定部件以並排狀態固定複數個所述第一試劑容器；及當所述天線部件從所述第二試劑容器的第二電子標籤接收電波時，所述驅動控制部件控制所述驅動部件，使所述第一試劑容器固定部件上的相鄰第一試劑容器之間的間隙位於所述第二電子標籤和所述天線部件相對的區域。
15.根據權利要求14所述的樣本分析儀，其特徵在於 所述天線部件固定在一定位置上；所述驅動部件移動所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件；及當所述天線部件從所述第二試劑容器的第二電子標籤接收電波時，所述驅動控制部件控制所述驅動部件，向固定在所述一定位置的天線部件移動所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件，使所述間隙和所述第二電子標籤都位於所述天線部件的正面位置。
16.根據權利要求12所述的樣本分析儀，其特徵在於所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標籤和所述第二試劑容器的第二電子標籤分別發射電波，並接收所述第一電子標籤和所述第二電子標籤回應所述天線部件發射的電波所發射的電波；所述第一試劑容器固定部件並排固定複數個所述第一試劑容器；及所述樣本分析儀還具備一個天線控制部件，用於控制所述天線部件，使所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標籤發射電波的到達範圍小於所述天線部件向所述第二試劑容器的第二電子標籤發射電波的到達範圍。
17.根據權利要求12所述的樣本分析儀，還包括限制部件，用於限制所述天線部件發射電波的到達範圍和所述天線部件的電波接收範圍中的至少其中之一。
18.根據權利要求12所述的樣本分析儀，其特徵在於所述第一試劑容器固定部件固定複數個所述第一試劑容器； 所述第二試劑容器固定部件固定複數個所述第二試劑容器；及所述天線部件從固定在所述第一試劑容器固定部件上的所述複數個第一試劑容器的各個第一電子標籤接收電波，從固定在所述第二試劑容器固定部件上的所述複數個第二試劑容器的各個第二電子標籤接收電波。
19.根據權利要求12 18其中任意一項所述的樣本分析儀，其特徵在於 所述第一試劑容器固定部件從平面看呈圓環形；所述第二試劑容器固定部件從平面看在所述第一試劑容器固定部件內側呈圓環形；及所述天線部件配置在所述第一試劑容器固定部件外側。
20.根據權利要求12所述的樣本分析儀，還包括判斷所述天線部件是否從試劑信息讀取目標的電子標籤收到電波的第一判斷控制部件。
21.根據權利要求20所述的樣本分析儀，其特徵在於所述第一和第二電子標籤各自記錄的試劑信息中包含識別試劑種類的種類識別信息；及所述第一判斷控制部件根據所述試劑信息獲取部件獲取的試劑信息中所含種類識別信息，判斷所述天線部件是否從所述讀取目標的電子標籤收到電波。
22.根據權利要求12所述的樣本分析儀，其特徵在於所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標籤和所述第二試劑容器的第二電子標籤分別發射寫入用電波，以此將試劑信息分別寫入所述第一電子標籤和所述第二電子標籤；及所述樣本分析儀還具備第二判斷控制部件，用於在所述天線部件向待寫入試劑信息的電子標籤發射所述寫入用電波前，判斷所述天線部件能否與所述待寫入試劑信息的電子標籤進行通信。
23.根據權利要求12所述的樣本分析儀，其特徵在於所述第一試劑容器固定部件配置在所述天線部件和所述第二試劑容器固定部件之間。
全文摘要
本發明提供一種用試劑容器內的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括固定第一試劑容器的第一試劑容器固定部件，第一試劑容器上有記錄著與試劑相關的試劑信息的第一電子標籤；固定第二試劑容器的第二試劑容器固定部件，配置在第一試劑容器固定部件的一側，第二試劑容器上有記錄著與試劑相關的試劑信息的第二電子標籤；讀取第一電子標籤上記錄的試劑信息和第二電子標籤上記錄的試劑信息的試劑信息讀取部件；控制部件；試劑信息讀取部件配置在第一試劑容器固定部件的另一側，有發射到達範圍互不相同的數種電波的電波發射部件；控制部件控制試劑信息讀取部件，根據讀取目標是第一電子標籤還是第二電子標籤而切換從電波發射部件發射的電波。
文檔編號G06K7/00GK102221622SQ201110066018
公開日2011年10月19日 申請日期2011年3月18日 優先權日2010年3月18日
發明者德永一敏 申請人:希森美康株式會社