檢驗盤缺陷管理區信息的方法及執行該方法的測試設備的製作方法
2023-08-04 04:55:36 1
專利名稱：：檢驗盤缺陷管理區信息的方法及執行該方法的測試設備的製作方法
技術領域：
：本發明涉及一種能夠在一記錄和再現盤上記錄信息並從該盤再現信息的設備，尤其涉及一種檢驗盤記錄和再現設備是否正常地產生或更新盤的缺陷管理區(DMA)信息的方法以及用於執行該方法的測試設備。記錄和再現盤是採用諸如雷射束的光來記錄和再現信息的光碟，例如是數字通用盤隨機存取存儲器(DVD-RAM)。DVD-RAM是可重寫盤。根據「可重寫盤DVD規範，部分1，物理規範版本2.0(DVDSpecificationsforRewritab1eDiscPart1PhysicalSpecificationsVersion2.0)」,DVD-RAM在其每側包括4個DMA，即DMA1、DMA2、DMA3和DMA4，用於管理其上的缺陷。如圖1所示，DMA1和DMA2位於靠近盤內徑的導入區，DMA3和DMA4位於靠近盤外經的導出區。每個DMA後跟隨保留扇區。DMA中存儲有盤定義結構(DDS)、主缺陷列表(PDL)和次缺陷列表(SDL)。DDS包括有關盤格式結構的信息，例如盤認證標記、DDS/PDL更新計數器和每個區的開始邏輯扇區號。PDL包括有關在盤初始化期間在盤上檢測到的所有缺陷扇區的信息。SDL包括有關在使用盤時出現的缺陷塊(糾錯碼(ECC)塊)中每個第一扇區的扇區號的信息、有關被用來替代缺陷塊的備用塊中每個第一扇區的扇區號的信息、以及有關備用區的信息。可以立即讀取和使用DMA中所包含的一些信息。另一方面，DMA包括隨盤上缺陷位置和數目變化的信息。此外，可通過基於DMA中所登記的缺陷信息來執行一算法來獲得一些信息，例如，每個區域的開始扇區號或邏輯扇區號0的位置信息。為了防止由於DMA信息中的差錯引起的錯誤的缺陷管理，因此在盤的每側存在4個DMA。由於這種DMA信息與物理數據扇區緊密相關，因此，當不正確地寫入或讀出DMA信息時，諸如可移動光碟的記錄介質可能與兩種不同的盤記錄和再現設備不兼容。這是因為，當將盤記錄和再現設備(例如DVD-RAM記錄和再現設備)的記錄和再現體系結構分成文件系統層、用於將主計算機與記錄和再現設備相接口的主接口層、用於記錄和再現物理信號的物理盤記錄和再現設備(或盤驅動單元)層、和記錄介質層時，在物理盤記錄和再現設備層及其下面的層執行DMA信息的寫入和讀取。在實際的文件系統中，僅基於邏輯扇區號將要被記錄或再現的用戶信息發送到盤記錄和再現設備，並且盤記錄和再現設備將邏輯扇區號變換成物理扇區號，以記錄或再現用戶信息。在這種情況下，使用DMA信息。因此，當在給定的盤記錄和再現設備中錯誤地讀取或寫入DMA信息時，在其他記錄和再現設備上不能正確地讀取或寫入數據。因此，需要一種用於檢驗盤記錄和再現設備是否正確地讀取記錄在盤上的信息並且將DMA信息正確地記錄到盤上以產生或更新DMA信息的方法。為了解決上述問題，本發明的第一目的是提供一種用於檢驗在輔助備用區擴展模式下盤記錄和再現設備是否正常地產生或更新缺陷管理區(DMA)信息的方法。本發明的第二目的是提供一種用於檢驗在輔助備用區擴展模式下盤記錄和再現設備是否正常地產生或更新盤的缺陷管理區(DMA)信息的方法，其中該DMA信息是使用空白盤和用作測試基準的DMA鏡像文件產生的。本發明的第三目的是提供一種用於檢驗在輔助備用區擴展模式下盤記錄和再現設備是否正常地產生或更新DMA信息的測試設備。為了實現本發明的上述和其他目的，提供了一種用於檢驗在具有DMA信息的盤上記錄信息或從這種盤再現信息的記錄和再現設備的DMA信息產生或更新功能的方法。該方法包括下列步驟採用具有測試基準信息的測試盤，擴展記錄和再現設備中測試盤的輔助備用區，並從測試盤中產生測試信息；和，將從測試基準信息中得到的基準信息與測試信息相比較，並提供對測試信息的檢驗結果。為了實現本發明的上述和其他目的，還提供了一種用於測試在具有DMA信息的盤上記錄信息或從這種盤再現信息的記錄和再現設備的DMA信息產生或更新功能的設備。該設備包括測試盤，其具有測試基準信息；基準驅動器，用於在記錄和再現設備在輔助備用區擴展模式下對測試盤進行處理之後，從測試盤產生測試信息；和檢驗器，用於將從測試基準信息中得到的基準信息與測試信息相比較，並提供對測試信息的檢驗結果。通過下面結合附圖對優選實施例的描述，本發明的上述和其他目的和優點將會變得更加清楚，其中圖1表示可重寫盤的示意性配置；圖2的框圖表示本發明測試設備的功能；圖3A至3D是由圖2的檢驗器所具有的用於檢驗的詳細檢查表的示例；圖4表示輔助備用區擴展的示例；圖5表示本發明檢驗方法的流程圖；和圖6的框圖表示圖2所示的待測試驅動器。下面將通過下面結合示例性地示出示例的附圖對本發明優選實施例進行詳細描述，其中，相同部件採用相同標號。下面將參照附圖描述實施例，以解釋本發明。參照圖2，測試設備包括C-1盤201、缺陷管理區(DMA)鏡像文件提供器203、基準驅動器205、C-3盤207、待測試盤209、C-3』盤211、C-3』盤DMA鏡像文件213、和檢驗器215。C-1盤201是測試盤，其具有故意的物理缺陷，目的是測試能夠在諸如數字通用盤隨機存取存儲器(DVD-RAM)的可重寫盤上記錄信息或由其再現信息的盤驅動器，並且C-1盤201基本上是其上未記錄用戶數據的空白盤。只要C-1盤201上未記錄「信息」或其上未出現「故意缺陷」，則可將C-1盤201視作空白盤。因此，當測試盤驅動器時，將C-1盤201上的物理缺陷用作已知信息。另外，設計C-1盤201使之滿足在「可重寫盤DVD規範2.0版(DVDSpecificationforRewritableDiscVersion2.0)」中所規定的容量為4.7千兆字節的相位變化記錄DVD-RAM的條件。DMA鏡像文件提供器203提供作為測試基準信息的DMA鏡像文件，該測試基準信息包括如圖1所示的盤定義結構(DDS)信息、主缺陷列表(PDL)信息和次缺陷列表(SDL)信息，並滿足輔助備用區(SSA)為滿的條件。為了滿足SSA為滿的條件，配置測試基準DMA鏡像文件，使得PDL中主備用區(PSA)的備用區滿標記被設置成表示滿狀態的「1b」，並使得SDL中SSA的備用區滿標記被設置成表示滿狀態的「1b」。在主缺陷的初始化或再初始化期間，在盤的用戶數據區的第一部分設置PSA。在滑移(slipping)替換後餘下的PSA被用於線性替換。當PSA不足時，在初始化或再初始化期間，或在使用盤的同時，另外指定或擴展SSA的尺寸。不給PSA和SSA指定邏輯扇區號。邏輯扇區號(LSN)與物理扇區號之間的關係隨盤上的缺陷而改變。換言之，由於每當出現缺陷扇區時為PSA指定從區域的結尾到開頭的一個扇區，因此LSN改變。有關採用滑移替換方式替換的缺陷扇區位置的信息被記錄在PDL中。在線性替換期間使用SSA，其中，當在正使用的盤上檢測到缺陷(次缺陷)時，糾錯碼(ECC)塊被備用區中正常的塊替換。對於線性替換期間盤上的LSN與物理扇區號之間的關係，當在將LSN指定為物理扇區號的扇區中檢測到缺陷時，即當檢測到次缺陷時，從可用SSA的結尾開始指定用於替換具有LSN的缺陷扇區的扇區。換言之，採用物理備用區中的一扇區來替換具有LSN的缺陷扇區。有關採用線性替換方式替換的缺陷扇區位置的信息被記錄在DMA的SDL中。可這樣配置測試基準DMA鏡像文件，使得備用區滿標記被設置成表示滿狀態的值，而不管PSA和SSA是否根據上述替換方式被填充數據。基準驅動器205是用於測試能夠在盤上記錄信息或從該盤再現信息的設備的改進的測試記錄和再現設備。當將C-1盤201加載到基準驅動器205並且從DMA鏡像文件提供器203提供測試基準DMA鏡像文件時，基準驅動器205在C-1盤201上記錄的測試基準DMA鏡像文件，以產生C-3盤207。測試基準DMA鏡像文件被記錄到C-1盤201上，而不管C-1盤201上的物理缺陷如何。因此，除物理缺陷之外，C-3盤207還包括測試基準DMA信息，該信息用於進行測試，而不管C-1盤201上的物理缺陷如何，因此，記錄在C-3盤207上的測試基準DMA信息是用戶已知的預先確定的(pre-firxed)信息。設計C-3盤207使之滿足在「可重寫盤DVD規範2.0版(DVDSpecificationforRewritableDiscVersion2.0)」中所規定的容量為4.7千兆字節的相位變化記錄DVD-RAM的條件。當將其上擴展了SSA的C-3』盤211加載到基準驅動器205中時，基準驅動器205立即讀取記錄在C-3』盤211上的DMA信息，並根據DMA信息輸出C-3』盤DMA鏡像文件213，作為測試信息。該測試信息可以是C-3』盤DMA鏡像文件213的一部分。可使用C-3』盤DMA鏡像文件213的任何部分。待測試驅動器209是能夠在可重寫盤上記錄信息和從該盤再現信息的記錄和再現設備。當將C-3盤207加載到待測試驅動器209中時，待測試驅動器209在SSA擴展模式下執行一處理。因此，待測試驅動器209產生或更新C-3盤207上的DMA，以產生其上擴展了C-3盤207的SSA的C-3』盤211。與C-1盤201一樣，C-3』盤211被設計成滿足容量為4.7千兆(GB)字節的相位變化記錄DVD-RAM的條件。由待測試驅動器209產生的C-3』盤211被加載到基準驅動器205，並因此如上所述地輸出測試信息。來自基準驅動器205的測試信息被提供給檢驗器215。在提供測試信息時，基準驅動器205可立即向檢驗器205提供測試信息。檢驗器215使用有關當待測試驅動器209在SSA擴展模式下對C-3盤207進行正常處理時所獲得的DMA的所期望基準信息(期望值)，來檢驗C-3』盤DMA鏡像文件213。所期望的基準信息可由檢驗器215根據從DMA鏡像文件提供器203提供的測試基準DMA鏡像文件和先前提供的C-1盤211中所包含的物理缺陷信息來設置。另外，如圖3A至3D所示，可預先準備和使用DMA信息表。圖3A表示檢驗器215所能包括的用於DMA檢驗的檢查表。該列表的檢查項目包括DMA1至DMA4的差錯條件、DDS1至DDS4中及SDL1至SDL4中的DDS/PDL更新計數器、SDL1至SDL4中的SDL更新計數器、以及DMA1至DMA4中的內容。DMA項目中的差錯條件用於檢查DMA中是否存在差錯，其中的兩個位於導入區，另兩個位於導出區。在DMA1、DMA2、DMA3和DMA這4個DMA的任意一個中不能存在不能糾正的差錯。如果在任意一個DMA中存在任何不能糾正的差錯，則輸出測試結果，以通知用戶待測試驅動器209未能產生或更新C-3盤207的DMA。當DMA的產生或更新以失敗告終時，用戶需要採用另一測試盤從頭重新測試。為了在再初始化時檢驗DDS/PDL和SDL更新計數器項目，檢查表示4個DDS，即DDS1、DDS2、DDS3和DDS4，及4個SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中DDS/PDL更新計數器值的「M+k」值，以查看值「M」是否為先前值和值「k」是否為「1」，因為當更新或重寫DDS/PDL時每個DDS/PDL更新計數器值遞增1。「先前值」是指待測試驅動器209執行輔助備用區的擴展之前的「M」值。還檢查4個DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA中的8個DDS/PDL更新計數器的值是否相同。檢查表示4個SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中SDL更新計數器值的「N+k」值，以查看值「N」是否為先前值和值「k」是否為「1」，因為當更新或重寫SDL時每個SDL更新計數器值遞增1。「先前值」是指待測試驅動器209執行輔助備用區的擴展之前的「N」值。還檢查4個SDL中的值是否相同。另外，還檢查4個DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA的內容是否相同。圖3B表示檢驗器215可包括的用於DDS的檢驗的檢查表。該列表的檢查項目包括DDS標識符、盤認證標記、DDS/PDL更新計數器、組數、區域數、主備用區位置、第一邏輯扇區號(LSN0)位置、每個區域的開始LSN等。驗證DDS標識符為「0A0Ah」。檢查盤認證標記的一個字節中表示是否在進程中的比特位置b7的值是否為「0b」。如果比特位置b7的值為「0b」，則表明正在進行格式化。因此，當比特位置b7的值為「1b」時，檢驗器215確定格式化失敗。此外，檢查盤認證標記中保留的比特位置b6至b2是否全部為「0b」，並檢查表示用戶認證標記的比特位置b1的值是否為「1b」。還檢查表示盤製造商認證標記的比特位置b0的值是否為「1b」。為了檢驗相應的DDS/PDL更新計數器，檢查表示DDS/PDL更新計數器值的值M是否為先前值，並且表示DDS/PDL更新計數器增量的值k是否為1，該增量表示DDS/PDL更新計數器「M」在測試前和測試後的差值。還檢查組數的值是否為表示組數為「1」的「0001h」，並且區域數的值是否為表示區域數為35的「0023h」。另外，檢查主備用區中第一扇區號是否為「031000h」和主備用區中最後的扇區號是否為「0341FFh」。檢查是否根據在PDL中登記的缺陷數來確定每個區域的開始LSN(LSN0)，即第二區域(區域1)至第35區域(區域34)的開始LSN的位置。在PDL中登記的缺陷覆蓋C-1盤201上的物理缺陷和從DMA鏡像文件提供器203提供的測試基準DMA鏡像文件的PDL中登記的缺陷。檢查DDS結構中剩餘的保留區域(字節位置396至2047)是否全部為「00h」。如圖3C所示，用於檢驗PDL結構的檢查項目包括PDL標識符、PDL中項目數、PDL項目的完整性(integrity)、和未使用區域。檢查PDL標識符是否為「0001h」。PDL中的項目數是C-1盤201上物理缺陷數與從DMA鏡像文件提供器203提供的測試基準DMA鏡像文件的PDL中登記的缺陷數之和。為了檢驗每個PDL項目中的完整性，檢查項目的類型和有缺陷的扇區號。對於PDL項目類型，檢查表示C-3盤207上存在的已知的P列表的「00b」、表示在用戶認證期間檢測到的有缺陷扇區的G1列表的「10b」、以及表示由於SDL變換引起的G2列表的「11b」是否與測試基準DMA鏡像文件中的那些相同。檢查PDL中有缺陷的扇區號是否以遞增順序寫入。此外，還檢查未使用區域是否設置成「FFh」。如圖3D所示，用於檢驗SDL結構的檢查項目包括SDL標識符、SDL更新計數器、次備用區(SSA)的開始扇區號、邏輯扇區總數、DDS/PDL更新計數器、備用區滿標記、SDL中的項目數、SDL項目的完整性、未使用區域、保留區域等。檢查SDL標識符是否為「0002h」。為了檢驗相應的SDL更新計數器的項目，檢查表示SDL更新計數器值的值N是否為先前值，並且表示SDL更新計數器增量的值k是否為1，該增量表示DDS/PDL更新計數器「N」在測試前和測試後的差值。為了檢驗相應的DDS/PDL更新計數器的項目，檢查表示DDS/PDL更新計數器值的值M是否為先前值，並且表示DDS/PDL更新計數器增量的值k是否為1。檢查備用區滿標記是否表示次備用區為不滿，因為當待測試驅動器209擴展SSA時SSA滿標記被設置成表示不滿狀態的值。當測試基準DMA鏡像文件包括有關用於擴展SSA的可用區域的信息時，待測試驅動器209要將C-3盤207的SSA擴展預定區域，如圖4所示。因此，通過檢查SSA的開始扇區號和邏輯上讀取總數來檢驗是否正常地執行了SSA的擴展。當測試基準DMA鏡像文件包括有關最大可用SSA的信息時，待測試驅動器209應採用有關最大可用SSA的信息來計算當前SSA和SSA的額外的可指定區域，並擴展SSA。待測試驅動器209還應在DDS中記錄有關擴展的信息。因此，檢查是否正常地執行該擴展。與此同時，由於備用區未被指定LSN並且其不包括在文件系統區域中，因此，當擴展SSA時，文件系統信息改變。這是因為，包括文件系統區域的尺寸的文件系統信息通常記錄在卷區域的開始和結尾部分上，因此，其上記錄有文件系統信息的位置可能改變，如圖4所示。因此，最好檢查在驗證SSA被適當地擴展時文件系統信息是否被正確地更新。由於已知SDL的總使用區域，因此，如果檢查SDL中的項目數，則可確定SDL的未使用區域尺寸。因此，檢查C-3』盤DMA鏡像文件213的未使用區域尺寸是否等於基於SDL中項目數的SDL的未使用區域尺寸，並且還檢查未使用區域是否被設置成「FFh」。另外，還檢查所有保留區域的期望值是否為「00h」如上所述，通過檢查C-3』盤DMA鏡像文件213中所包含的信息是否與預定的基準信息相一致，檢驗器215檢驗待測試驅動器209在根據從C-3盤207中讀出的DMA擴展SSA後是否正常地產生或更新DMA。檢查結果可顯示給用戶。為此，本發明可包括顯示單元。因此，能夠通知用戶在SSA擴展模式下待測試驅動器209是否正常地讀取和產生或更新DMA信息。圖5是本發明的檢驗方法的流程圖。在步驟501，通過在滿足圖2所示條件的C-1盤201上記錄滿足圖2所示條件的測試基準DMA鏡像文件，產生C-3盤207。接下來，在步驟502，將C-3盤207加載到待測試驅動器209。在步驟S503，待測試驅動器209在預定的SSA擴展模式下對C-3盤207進行處理。在步驟504，從具有擴展的SSA的C-3』盤211中讀出DMA信息，並根據該DMA信息來產生C-3』盤DMA鏡像文件213作為測試信息。在步驟505，檢驗C-3』盤DMA鏡像文件213。該檢驗是以由圖2所示檢驗器215執行的相同的方式採用期望的基準信息(或期望值)來執行的。在完成檢驗之後，在步驟506輸出檢驗結果，從而用戶能夠評估待測試驅動器209的性能。圖6表示的待測試驅動器110具有用於發出光的光源22、用於將來自光源的光聚焦到盤D時的聚焦部件24、和用於控制光源22的控制器26。上述檢驗處理試圖檢驗控制器26的適當操作。如上所述，在本發明中，在SSA擴展模式下，待測試驅動器對採用其上未記錄信息的空白盤(C-1盤)產生的測試盤(C-3盤)和用於測試SSA擴展的基準DMA鏡像文件進行處理，從而使得用戶能夠在SSA擴展模式下檢驗待測試驅動器是否正常地讀取和產生或更新DMA信息。另外，根據本發明，用戶自己就可生成測試盤，從而由於不需製造商生產和提供測試盤而降低成本。用戶可採用基準驅動器、DMA鏡像文件提供器和C-1盤來生成C-3盤。儘管已圖示和描述了本發明的幾個優選實施例，但是，本領域內的普通技術人員可在不背離本發明原理和宗旨的前提下對實施例進行修改，本發明的範圍由其權利要求書和其等同物限定。權利要求1.一種用於檢驗在具有缺陷管理區域(DMA)信息的盤上記錄信息或從該盤再現信息的記錄和再現設備的DMA信息產生或更新功能的方法，該方法包括下列步驟採用具有測試基準信息的測試盤，擴展記錄和再現設備中測試盤的輔助備用區，並從測試盤中產生測試信息；和將從測試基準信息中得到的基準信息與測試信息相比較，以提供對測試信息的檢驗結果。2.如權利要求1所述的方法，其中所述測試基準信息是鏡像文件。3.如權利要求2所述的方法，其中，所述測試基準信息具有被設置成表示次備用區為滿的值的備用區滿標記。4.如權利要求3所述的方法，其中所述測試信息是鏡像文件。5.如權利要求3所述的方法，其中所述測試信息是直接從測試盤上的DMA讀取的。6.如權利要求5所述的方法，其中所述比較步驟包括檢驗所述測試信息中DMA的結構；檢驗所述測試信息的盤定義結構(DDS)；檢驗所述測試信息的主缺陷列表(PDL)結構；和檢驗所述測試信息的次缺陷列表(SDL)結構。7.如權利要求6所述的方法，其中檢驗DMA結構的步驟包括檢查4個DMA，即寫入測試盤4個位置的DMA中的任意一個中是否存在差錯，其中的兩個位於測試盤導入區，而另兩個位於導出區；檢查4個DDS中和4個SDL中的DDS/PDL更新計數器的值是否為「先前值」，表示DDS/PDL更新計數器在擴展輔助備用區之前和之後的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否為「1」，並且DDS/PDL更新計數器的值是否相同；檢查4個SDL中SDL更新計數器的值是否為「先前值」，表示SDL更新計數器在擴展輔助備用區之前和之後的差值的SDL更新計數器增量是否為「1」，並且SDL更新計數器的值是否相同；和檢查4個DMA的內容是否相同。8.如權利要求6所述的方法，其中檢驗DDS的步驟包括檢查DDS標識符是否為預定值；檢查盤認證標記中表示在進程中的比特的值是否為「0b」，並且表示盤製造商認證的比特的值和表示用戶認證的比特的值是否為「1b」；檢查DDS/PDL更新計數器的值是否為「先前值」，表示DDS/PDL更新計數器在擴展輔助備用區之前和之後的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否為「1」；檢查組數是否為預定值；檢查區域數是否為預定值；分別檢查主備用區的第一和最後扇區號是否為預定的扇區號；檢查是否根據PDL中登記的缺陷數來確定第一邏輯扇區號的位置；和檢查是否根據PDL中登記的缺陷數來確定每個區域的開始邏輯扇區號。9.如權利要求6所述的方法，其中檢驗PDL結構的步驟包括檢查PDL標識符是否為預定值；檢查PDL中的項目數是否與測試基準信息的PDL中登記的缺陷數相同；和檢查PDL項目的完整性中所包括的缺陷列表是否與測試基準信息中的相同。10.如權利要求6所述的方法，其中檢驗SDL結構的步驟包括檢查SDL標識符是否為預定值；檢查SDL更新計數器的值是否為「先前值」，表示SDL更新計數器在擴展輔助備用區之前和之後的差值的SDL更新計數器增量是否為「1」；檢查DDS/PDL更新計數器的值是否為「先前值」，表示DDS/PDL更新計數器在擴展輔助備用區之前和之後的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否為「1」；檢查是否根據由用戶指定的次備用區(SSA)的尺寸適當地設置了SSA的開始扇區號和邏輯扇區的總數；和檢查備用區滿標記是否表示SSA為不滿。11.如權利要求1所述的方法，還包括將測試基準信息記錄到空白盤上，以產生測試盤。12.如權利要求11所述的方法，其中所述測試基準信息記錄到空白盤上，而不管空白盤的物理條件如何。13.如權利要求1所述的方法，其中，擴展輔助備用區的步驟包括，產生測試信息，從而測試盤的文件系統信息被包含在測試信息中；和比較步驟包括，檢驗測試信息中所包含的文件系統信息是否被正確地更新。14.一種用於測試在具有缺陷管理區域(DMA)信息的盤上記錄信息或從該盤再現信息的記錄和再現設備的DMA信息產生或更新功能的設備，包括基準驅動器，用於在記錄和再現設備在輔助備用區擴展模式下對測試盤進行處理之後，從測試盤產生測試信息；和檢驗器，用於將從測試基準信息中得到的基準信息與測試信息相比較，以提供對測試信息的檢驗結果。15.如權利要求14所述的設備，其中所述測試基準信息是鏡像文件。16.如權利要求15所述的設備，其中，所述測試基準信息具有被設置成表示次備用區為滿的值的備用區滿標記。17.如權利要求16所述的設備，其中所述測試信息是鏡像文件。18.如權利要求16所述的設備，其中所述測試信息是直接從測試盤上的DMA讀取的。19.如權利要求18所述的設備，其中所述檢驗器檢驗所述測試信息中DMA的結構、所述測試信息的盤定義結構(DDS)、所述測試信息的主缺陷列表(PDL)結構；和所述測試信息的次缺陷列表(SDL)結構。20.如權利要求19所述的設備，其中為了檢驗DMA結構，所述檢驗器檢查4個DMA，即寫入測試盤4個位置的DMA中的任意一個中是否存在差錯，其中的兩個位於測試盤導入區，而另兩個位於導出區，檢查4個DDS中和4個SDL中的DDS/PDL更新計數器的值是否為「先前值」，表示DDS/PDL更新計數器在擴展輔助備用區之前和之後的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否為「1」,DDS/PDL更新計數器的值是否相同，4個SDL中SDL更新計數器的值是否為「先前值」，表示SDL更新計數器在擴展輔助備用區之前和之後的差值的SDL更新計數器增量是否為「1」,SDL更新計數器的值是否相同，和4個DMA的內容是否相同。21.如權利要求19所述的設備，其中為了檢驗DDS，檢驗器檢查DDS標識符是否為預定值，盤認證標記中表示在進程中的比特的值是否為「0b」，表示盤製造商認證的比特的值和表示用戶認證的比特的值是否為「1b」，DDS/PDL更新計數器的值是否為「先前值」，表示DDS/PDL更新計數器在擴展輔助備用區之前和之後的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否為「1」，組數是否為預定值，區域數是否為預定值，主備用區的第一和最後扇區號是否分別為預定的扇區號，是否根據PDL中登記的缺陷數來確定第一邏輯扇區號的位置，和是否根據PDL中登記的缺陷數來確定每個區域的開始邏輯扇區號。22.如權利要求19所述的設備，其中為了檢驗PDL結構，所述檢驗器檢查PDL標識符是否為預定值，PDL中的項目數是否與測試基準信息的PDL中登記的缺陷數相同，和PDL項目的完整性中所包括的缺陷列表是否與測試基準信息中的相同。23.如權利要求19所述的設備，其中為了檢驗SDL結構，所述檢驗器檢查SDL標識符是否為預定值，並檢查表示在擴展輔助備用區之前和之後的SDL更新計數器的差值的SDL更新計數器值是否為「先前值」，表示SDL更新計數器在擴展輔助備用區之前和之後的差值的SDL更新計數器增量是否為「1」,DDS/PDL更新計數器的值是否為「先前值」，表示DDS/PDL更新計數器在擴展輔助備用區之前和之後的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否為「1」，是否根據由用戶指定的次備用區(SSA)的尺寸適當地設置了SSA的開始扇區號和邏輯扇區的總數，和備用區滿標記是否表示SSA為不滿。24.如權利要求14所述的設備，其中所述基準驅動器產生測試信息，從而測試信息中包括其上未擴展輔助備用區的測試盤的文件系統信息，並且所述檢驗器檢驗測試信息中所包括的文件系統信息是否被正確地更新。25.如權利要求14所述的設備，其中基準驅動器將測試基準信息記錄到空白盤上，以產生測試盤。26.如權利要求25所述的設備，其中所述基準驅動器將測試基準信息記錄到空白盤上，而不管空白盤的物理條件如何。27.一種用於檢驗在具有缺陷管理區域(DMA)信息的盤上記錄信息或從該盤再現信息的記錄和再現設備中是否適當地產生或更新DMA信息的方法，該方法包括下列步驟根據輔助備用區擴展測試模式來設置測試基準；根據所述輔助備用區擴展測試模式來從DMA信息中產生測試信息，所述DMA信息是由所述記錄和再現設備產生或更新的；和在再初始化測試模式下，採用測試基準來執行用於檢驗測試信息的測試。28.如權利要求27所述的方法，其中所述測試信息是DMA鏡像文件。29.如權利要求27所述的方法，其中所述測試信息是直接從被用於測試的盤上的DMA區域讀取的。30.如權利要求27所述的方法，其中產生測試信息的步驟包括記錄DMA的預先確定的內容，並選擇具有足夠的次缺陷列表(SDL)缺陷的DMA鏡像文件，以填充輔助備用區。31.如權利要求30所述的方法，還包括通過在空白盤上形成已知的物理缺陷，來得到第一測試盤；和通過在第一測試盤上記錄DMA的預先確定的內容來得到第二測試盤，在第一測試盤中記錄表示輔助備用區為滿的鏡像文件，並且在產生測試信息時採用的第二測試盤。32.如權利要求31所述的方法，其中，執行測試的步驟包括檢查第二測試盤的DMA信息是否與具有預定文件系統的預定DMA結構相一致。33.一種用於檢驗在具有缺陷管理區域(DMA)信息的盤上記錄信息或從該盤再現信息的記錄和再現設備中是否適當地產生或更新DMA的方法，該方法包括下列步驟根據所述輔助備用區擴展測試模式來從DMA信息中產生測試信息，所述DMA信息是由所述記錄和再現設備產生或更新的；和採用用於檢驗DMA信息的測試基準來檢驗測試信息。34.如權利要求33所述的方法，其中所述測試信息是DMA鏡像文件。35.一種用於測試在具有缺陷管理區域(DMA)信息的可記錄和可再現光碟上記錄信息或從該盤再現信息的記錄和再現設備以檢查DMA信息是否被適當地產生或更新的設備，包括改進的驅動器單元，用於從測試盤的產生或更新的DMA信息中產生測試信息，它是在記錄和再現設備相應於輔助備用區的擴展對具有DMA鏡像文件的測試盤上的輔助備用區進行擴展後得到的；和檢驗器，用於相應於輔助備用區的擴展將測試信息與預定的測試信息相比較，以檢驗測試結果。36.如權利要求35所述的設備，其中所述測試信息是DMA鏡像文件。37.如權利要求35所述的設備，其中所述改進的驅動單元從測試盤上的DMA區域讀取測試信息，並將該測試信息提供給檢驗器。38.如權利要求37所述的設備，其中測試盤是在第一測試盤上記錄有DMA的預先確定的內容的第二測試盤，第一測試盤是通過在空白盤上形成已知的物理缺陷而得到的，在第一測試盤中記錄具有用於填充輔助備用區的足夠的次缺陷列表(SDL)缺陷的鏡像文件。39.一種檢驗記錄和再現設備是否適當地讀取和處理缺陷管理區(DMA)信息的方法，包括下列步驟採用再現和記錄設備擴展包含預定缺陷信息的測試盤上的輔助備用區，以測試測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗。40.如權利要求39所述的方法，還包括得知空白盤中預定位置上的物理缺陷，以產生第一測試盤；通過在第一測試盤中記錄DMA的預先確定的內容，得到第二測試盤，在第一測試盤中記錄具有用於填充輔助備用區的足夠的次缺陷列表(SDL)缺陷的鏡像文件；使記錄和再現設備對第二測試盤進行輔助備用區的擴展，以產生具有DMA信息的第二測試盤；和採用基準驅動器從具有DMA信息的第二測試盤僅讀取DMA信息，以產生測試DMA鏡像文件作為測試信息，其中，基準測試信息是基準DMA鏡像文件。41.如權利要求40所述的方法，其中所述比較步驟包括檢查第二測試盤的DMA信息是否與預定的DMA結構相一致，檢查是否保持P列表，檢查與第一測試盤的已知缺陷相同的缺陷列表，和檢查第二測試盤的每個區域的開始邏輯扇區號。42.一種檢驗記錄和再現設備是否適當地翻譯和處理缺陷信息的方法，包括下列步驟準備具有已知的物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤；通過使記錄和再現設備對測試盤進行輔助備用區擴展，來產生測試信息；和對測試信息進行檢驗測試。43.一種檢驗記錄和再現設備是否適當地讀取和處理缺陷管理區(DMA)信息的方法，包括下列步驟採用記錄和再現設備對具有已知的物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤執行輔助備用區擴展，以產生DMA信息；根據所產生的DMA信息產生測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗。44.如權利要求43所述的方法，其中所述比較步驟包括檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次列表(SDL)結構。45.一種由記錄和再現設備採用下列處理步驟適當地產生的DMA信息，該處理步驟包括採用記錄和再現設備對具有已知的物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤執行輔助備用區擴展，以產生DMA信息；根據所產生的DMA信息產生測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗。46.如權利要求45所述的DMA信息，其中所述比較步驟包括檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次列表(SDL)結構。47.一種按照下列處理步驟檢驗的記錄和再現設備，該處理步驟包括採用記錄和再現設備對具有已知的物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤執行輔助備用區擴展，以產生DMA信息；根據所產生的DMA信息產生測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗。48.如權利要求47所述的記錄和再現設備，其中所述比較步驟包括檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次列表(SDL)結構。49.一種採用下列處理步驟檢驗的記錄和再現設備，該處理步驟包括採用記錄和再現設備對具有已知的物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤執行輔助備用區擴展，以產生DMA信息；將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗。50.如權利要求49所述的記錄和再現設備，其中所述比較步驟包括檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次列表(SDL)結構。51.一種用於測試在具有缺陷管理區域信息的可記錄和可再現光碟上記錄信息或從該盤再現信息的記錄和再現設備以檢查DMA信息是否被適當地產生的設備，包括改進的驅動器單元，用於採用記錄和再現設備，根據再現裝置通過對包含已知的物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤執行輔助備用區擴展而產生的測試盤的DMA信息，來產生測試信息，以產生DMA信息；和檢驗器，用於將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗。52.如權利要求51所述的設備，其中改進的驅動器單元僅從具有DMA信息的測試盤讀取DMA信息，以產生DMA鏡像文件作為測試信息，其中，基準測試信息是基準DMA鏡像文件。53.如權利要求51所述的設備，其中，通過在具有已知的物理缺陷的第一測試盤上記錄DMA的預先確定的內容，並且記錄具有用於填充輔助備用區的足夠的次缺陷列表(SDL)缺陷的測試基準DMA鏡像文件，改進的驅動器單元產生第二測試盤；所述記錄和再現設備對第二測試盤執行輔助備用區的擴展，以產生具有DMA信息的第二測試盤；和所述改進的驅動器單元僅從具有DMA信息的第二測試盤讀取DMA信息，以產生測試DMA鏡像文件作為測試信息，其中，基準測試信息是基準DMA鏡像文件。54.如權利要求53所述的設備，其中所述檢驗器檢查第二測試盤的DMA信息是否與預定的DMA結構相一致，檢查是否保持P列表，檢查與第一測試盤的已知缺陷相同的缺陷列表，和檢查第二測試盤的每個區域的開始邏輯扇區號。55.如權利要求53所述的設備，其中通過檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次列表(SDL)結構，所述檢驗器比較測試信息和基準測試信息。56.如權利要求35所述的設備，還包括DMA鏡像文件提供器，其向檢驗器提供基準測試信息，以比較測試信息和基準測試信息。57.如權利要求47所述的設備，還包括DMA鏡像文件提供器，其向檢驗器提供基準測試信息，以比較DMA鏡像文件和基準DMA鏡像文件。58.一種製造相一致的記錄和再現設備的方法，包括下列步驟製造更新和產生缺陷管理區(DMA)信息的未認證的記錄和再現設備；和檢驗所述未認證的記錄和再現設備是否與標準相一致，所述檢驗標準包括採用記錄和再現設備，對包含預定缺陷信息和測試基準DMA信息的測試盤執行輔助備用區擴展，以產生測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗，所述檢驗表示所述未認證的記錄和再現設備是否與標準相一致。59.如權利要求58所述的方法，其中所述比較步驟包括檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次列表(SDL)結構。60.一種用於記錄和再現光碟上的信息的盤記錄和再現設備，包括光源，用於發出光；聚焦部件，用於將光聚焦到光碟上，以記錄和再現信息；和控制器，用於控制所述光源，通過如下處理來檢驗所述控制器，以更新和產生缺陷管理區(DMA)信息，即，採用記錄和再現設備，對包含預定的缺陷信息和測試基準DMA信息的測試盤執行輔助備用區擴展，以產生測試信息，和，將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗。61.如權利要求60所述的盤記錄和再現設備，其中所述比較包括檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次列表(SDL)結構。62.一種用於記錄和再現光碟上的信息的盤記錄和再現設備，包括光源，用於發出光；聚焦部件，用於將光聚焦到光碟上，以記錄和再現信息；和控制器，用於控制所述光源，和在對光碟執行輔助備用區擴展之後更新和產生缺陷管理區信息，從而缺陷管理區信息與標準相一致。63.如權利要求62所述的盤記錄和再現設備，其中所述控制器檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次列表(SDL)結構。64.如權利要求8所述的方法，其中所述檢驗DDS的步驟還包括檢查剩餘的保留區域是否具有預定值。65.如權利要求9所述的方法，其中所述檢驗PDL的步驟還包括檢查未使用的區域是否是預定值。66.如權利要求43所述的方法，其中所述測試基準DMA鏡像文件具有表示主備用區為滿的第一備用區滿標記和表示次備用區志滿標記為滿的第二備用區滿標記。67.如權利要求51所述的記錄和再現設備，其中所述測試基準信息具有表示主備用區為滿的第一備用區滿標記和表示次備用區志滿標記為滿的第二備用區滿標記。68.如權利要求47所述的方法，其中所述測試基準DMA鏡像文件具有表示主備用區為滿的第一備用區滿標記和表示次備用區志滿標記為滿的第二備用區滿標記。69.如權利要求51所述的記錄和再現設備，其中所述測試基準DMA鏡像文件具有表示主備用區為滿的第一備用區滿標記和表示次備用區志滿標記為滿的第二備用區滿標記。70.如權利要求58所述的方法，其中所述測試基準DMA鏡像文件具有表示主備用區為滿的第一備用區滿標記和表示次備用區志滿標記為滿的第二備用區滿標記。71.如權利要求27所述的方法，其中所述測試基準具有包括有關次備用區最大可用量的信息，並且所述執行步驟包括檢查當前的次備用區和採用有關次備用區最大可用量的信息的額外的可指定備用區是否被正確地確定。72.如權利要求71所述的方法，其中所述執行步驟包括檢查在擴展輔助備用區時是否正確地更新DMA的文件系統信息。73.如權利要求35所述的設備，其中，所述DMA鏡像文件具有有關次備用區最大可用量的信息，並且所述檢驗器檢查當前的次備用區和採用有關次備用區最大可用量的信息的額外的可指定備用區是否被正確地確定。74.如權利要求73所述的設備，其中所述檢驗器檢查在擴展輔助備用區時是否正確地更新DMA的文件系統信息。75.如權利要求45所述的DMA鏡像信息，其中所述測試基準DMA鏡像文件具有有關次備用區最大可用量的信息，並且所述比較步驟包括檢查當前的次備用區和採用有關次備用區最大可用量的信息的額外的可指定備用區是否被正確地確定。76.如權利要求75所述的DMA鏡像信息，其中所述比較步驟包括檢查在擴展輔助備用區時是否正確地更新DMA的文件系統信息。77.如權利要求58所述的方法，其中所述DMA鏡像文件具有有關次備用區最大可用量的信息，並且所述比較步驟包括檢查當前的次備用區和採用有關次備用區最大可用量的信息的額外的可指定備用區是否被正確地確定。78.如權利要求75所述的方法，其中所述比較步驟包括檢查在擴展輔助備用區時是否正確地更新DMA的文件系統信息。全文摘要一種用於檢驗在輔助備用區擴展模式下盤記錄和再現設備是否正常產生或更新缺陷管理區(DMA)信息的方法及其測試設備。該方法包括下列步驟:採用具有測試基準信息的測試盤,在記錄和再現設備中擴展測試盤的輔助備用區,並從測試盤中產生測試信息;和將從測試基準信息中得到的基準信息與測試信息相比較,並提供對測試信息的檢驗結果。因此,可容易地檢驗當擴展輔助備用區時記錄和再現設備的DMA信息產生或更新功能。文檔編號G11B27/00GK1320923SQ0111620公開日2001年11月7日申請日期2001年4月6日優先權日2000年4月8日發明者高禎完,鄭鉉權申請人:三星電子株式會社