檢驗光碟上的缺陷管理區信息的方法及測試設備的製作方法
2023-08-04 04:54:56
專利名稱：檢驗光碟上的缺陷管理區信息的方法及測試設備的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種光碟記錄和再現技術，特別涉及到一種在利用驗證初始化時檢驗可記錄和可再現光碟的缺陷管理區信息的方法，和用於執行該方法的測試設備。
數字多用盤-隨機存取存儲器(DVD-RAM)具有用正常可記錄區取代缺陷區的缺陷管理功能，並在其上的被稱作缺陷管理區(DMA)的部分存儲用於缺陷管理所必需的信息。這個DMA被反覆記錄在光碟的四個部分兩部分在引入區，兩部分在引出區。DMA信息由盤定義結構(DDS)、主缺陷列表(PDL)和次缺陷列表(SDL)組成。
DMA信息除了包括在光碟被初始化時執行檢驗期間或使用光碟期間檢測的缺陷的信息以外，還包括在空閒區(spare area)的信息和在每個存儲區的起始邏輯扇區號中的重要信息。
在中包括的某些DMA信息可以立即讀出和使用。另一方面，DMA包括隨位置在盤上的缺陷數而改變的信息。即，一些信息，例如每個存儲區的起始邏輯扇區號的位置信息或第一邏輯扇區號的位置信息，只有通過根據給定的、基於登錄在DMA中的缺陷信息的算法執行複雜的計算才能得到。
由於這樣的DMA信息與物理數據的記錄位置密切相關，因此諸如光碟之類的可取下記錄介質在該DMA信息出錯時，不可能與記錄和再現設備都順應，其中光碟即使在其上的DMA信息是在另外的記錄和再現設備中生成或更新的情況下，也可以在指定的記錄再現設備上使用。為了克服這種問題，期望一種檢驗從盤中正確讀出DMA信息並在該盤上正確記錄DMA信息的記錄和再現設備的設備和方法。
為了解決上述問題，本發明的第一個目的是提供一種檢驗方法，用來檢驗在光碟記錄和再現設備中、在利用驗證初始化時正確生成缺陷管理區(DMA)信息。
本發明的第二個目的是提供一種檢驗方法，用來檢驗在適用於可重複記錄和再現的DVD-RAM盤的光碟記錄和再現設備中、在利用驗證的初始化時正確生成DMA信息。
本發明的第三個目的是提供一種測試設備，用來在光碟記錄和再現設備中、在利用驗證的初始化時正確生成DMA信息。
本發明的其他目的和優點將部分地在以下的描述中提出，並且部分地將會從該描述中明顯看出，或者可以通過本發明的實踐而明了。
為了實現本發明的上述和其它目的，提供一種檢驗在光碟記錄和再現設備中適當生成DMA信息的方法，其中該光碟記錄和再現設備在含有DMA信息的光碟上記錄信息或由其再現信息。該方法包括步驟生成作為測試信息的缺陷管理信息，這是在一測試盤上執行利用驗證的初始化之後生成的，而這種測試盤是通過在空白盤上形成能識別的物理缺陷而獲得的；以及使用用於利用驗證初始化的基準測試信息檢驗該測試信息，以提供測試結果。
為了實現本發明的上述和其它目的，本發明還提供一種用於測試記錄和再現設備的設備，其中的記錄和再現設備在含有DMA信息的光碟上記錄信息或由其再現信息，以檢查是否適當生成DMA信息。該設備包括改進型驅動器單元，用於從包含在該測試盤中的DMA信息生成測試信息，而這種測試盤是通過在空白盤上形成能識別的物理缺陷而獲得的；以及檢驗器，用於通過使用用於利用驗證的初始化的基準測試信息檢驗該測試信息，來檢驗該測試結果。
通過參考附圖詳細地描述其優選實施例，本發明的上述目的和優點將變得更加明顯，其中
圖1是本發明的用於在利用驗證初始化時執行檢驗光碟的缺陷管理區(DMA)信息的方法的方框圖；圖2是表示為在利用驗證的初始化時檢驗DMA結構所安排的檢查項目的表。
圖3是表示為在利用驗證的初始化時檢驗盤定義結構(DDS)所安排的檢查項目的表。
圖4是表示為在利用驗證的初始化時檢驗主缺陷列表結構所安排的檢查項目的表。
圖5是表示為在利用驗證的初始化時檢驗次缺陷列表結構所安排的檢查項目的表。
圖6是圖1所示的將被測試的驅動器的方框圖。
現在將詳細參考本發明的在該附示了其示例的本優選實施例。以下通過參考這些附圖來描述本實施例，以解釋本發明。
本發明使用的光碟為具有4.7千兆字節(GB)大小的相變記錄DVD-RAM。這種DVD-RAM以可重寫盤版本2.0的DVD規格定義。
圖1是本發明的用於在利用驗證初始化時執行檢驗光碟的缺陷管理區(DMA)信息的方法的方框圖。
測試盤(以下稱為C-1盤)11是只有在空白盤的預定位置有意形成能識別的物理缺陷的盤。只要沒有記錄任何「信息」並只在C-1盤11上出現能識別的物理缺陷，就可以將該C-1盤11認為是空白盤。要測試的驅動器110在C-1盤11上執行利用驗證的初始化，以生成DMA信息並且將所生成DMA信息記錄在該C-1盤11上。將從要測試的驅動器110抽出的利用驗證初始化了的C-1盤11，裝入能夠讀取DMA信息的改進型驅動器120。
改進型驅動器120是專門為進行測試而製造的驅動器，可以被稱為基準驅動器。改進型驅動器120隻能從利用驗證12所初始化的C-1盤中讀取DMA信息，並且在文件系統中生成針對利用驗證12所初始化的C-1所讀取的DMA信息的DMA鏡像文件(mirror file)50。要測試的驅動器110作為例如，DVD-RAM記錄和再現設備實現，並設計成不生成DMA信息的鏡像文件。
當DVD-RAM記錄和再現設備的記錄和再現結構被分成文件系統層、用於將主計算機與記錄和再現設備相連的主接口層、用於記錄和再現物理信號的物理驅動層以及記錄介質層時，由於由記錄介質和物理驅動器分配盤的邏輯扇區號，以及由主接口和文件系統分配盤的邏輯扇區號，因此在物理驅動層及其以下的各個層中執行DMA信息的寫入和讀取。
一般來說，當數據記錄在計算機中的記錄介質上時，記錄位置基於由文件系統所分配的邏輯扇區號確定。由邏輯扇區號所指示的文件位置是邏輯和相對位置信息。當在驅動器中執行記錄操作時，考慮到盤的例如缺陷狀態的物理狀態，邏輯扇區號需要換算成指示一個數據實際上記錄在盤上的位置的物理扇區號。但是，當用戶數據實際上由文件系統記錄時，該用戶數據僅僅使用邏輯扇區號傳輸到記錄和再現設備，並且該記錄和再現設備使用缺陷管理信息將該邏輯扇區號換算成物理扇區號，其中物理扇區號指示數據實際記錄的位置。因此，當包含在盤中的缺陷管理信息錯誤地讀出和寫入給定的記錄和再現設備時，不能精確地從在其它記錄和再現設備中的盤上讀出數據，或者不能精確地寫入到其它記錄和再現設備中的盤上。
另外，在使用DVD-RAM盤的情況下，假定每個缺陷管理過程由驅動器執行，從而使得文件系統或主接口可以不使用與完成的物理缺陷管理過程相關的信息記錄或再現一個文件。因此，大多數驅動器沒有提供記錄到DMA上或從DMA再現信息的功能，另外，沒有提供用於記錄到DMA上或從DMA再現信息的標準命令。然而，必須以任何方式準備一個環境，以使得計算機可以讀取數據，該計算機可以分析DMA信息，以確定DMA信息是否被適當地構成，它必須能夠記錄與DMA相應的精確的信息，以形成一個標準測試盤。為了有效地執行這樣的操作，提供一個用於記錄到DMA上或從DMA再現信息的改進型驅動器。這種改進型驅動器可以很容易由本領域的熟練人員設計或獲得，因此這裡省略關於它的描述。
檢驗器130將利用驗證12所初始化的C-1盤的DMA鏡像文件13與用於C-1盤11的基準DMA鏡像文件比較，其中的DMA鏡像文件13是由改進型驅動器120從含有DMA信息的、由將被測試的驅動器110驅動的盤中生成，檢驗器130通知製造商或用戶執行檢查DMA信息在利用驗證初始化之後是否已被適當地生成的測試的結果。基準DMA鏡像文件被預先存儲或從外部提供(用於產生DMA鏡像文件的控制器)，儘管這裡沒有顯示。該DMA鏡像文件可被稱作測試信息，而基準DMA鏡像文件可被稱作預定測試信息。另外，該基準DMA鏡像文件可被稱作包含沒有錯誤的理想數據的DMA信息文件，其中的錯誤是指當一個驅動器正常執行整個操作時可能發生的錯誤。
根據本發明的檢驗方法包括從DMA信息中生成作為測試信息的DMA鏡像文件的步驟，其中的DMA信息是在測試盤上利用驗證進行初始化之後生成的，而測試盤是通過在一個空白盤上形成能識別的物理缺陷獲得的，檢驗方法還包括以用於利用驗證初始化的基準測試信息檢驗測試信息以提供測試結果的步驟。該DMA鏡像文件包括用於測試目的的特殊信息和所有DMA信息。該改進型驅動器120可以將DMA鏡像文件中的DMA信息寫入到一個盤中的DMA存儲區，也可以將該盤中的DMA信息存儲到DMA鏡像文件中。在利用驗證初始化時將要檢驗的DMA信息的測試項目將參考圖2到5進行描述。
如圖2所示，用於檢驗DMA結構的檢驗項目是DMA1到DMA4、在DDS1到DDS4和SDL1到SDL4中的DDS/PDL更新計數器、SDL1到SDL4中的SDL更新計數器和DMA1到DMA4的內容的錯誤狀態。
DMA錯誤狀態的項目是用於檢驗是否在DMAs中存在錯誤，它們中的兩個位於引入區，兩個位於引出區。在DMA1、DMA2、DMA3和DMA4這四個DMAs中必需沒有無法修復的錯誤。如果在這個DMAs的任何一個中檢出任何無法修復的錯誤，則斷定相關的檢驗是失敗的，必須使用一張新的測試盤再次進行測試。
在利用驗證的初始化的情況下，檢查指示在四個DDSs即DDS1、DDS2、DDS3和DDS4，和在四個SDLs即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中的DDS/PDL更新計數器的值的值M是否為「0」，和指示代表DDS/PDL更新計數器在測試前和後的差的計數器的增量的值k是否為「1」。還檢驗八個DDS/PDL更新計數器的值是否相同。這裡，每個DDS/PDL更新計數器的值指示在DDS/PDL模塊上執行的更新和重寫操作的總次數。每個DDS/PDL更新計數器的值在初始化開始時必需設置為「0」，並且DDS/PDL模塊每被更新或重寫一次就增加1。當初始化完成後，DDS/PDL和SDL模塊必需具有相同的更新計數器值。同樣，還檢查指示在四個SDLs即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中的SDL更新計數器的值是否為「0」，以及指示代表SDL更新計數器在測試前和後的差的SDL計數器的增量的值k是否為「1」。還檢查四個SDL更新計數器的值是否相同。
記錄在用於檢測盤的開始處的缺陷的驗證之前的DMA的基本結構。在DMA的DDS內的盤的驗證標誌中指示「正在進行」的位值被設置為「1」的狀態下，每個更新計數器的值在驗證開始時被設置成初始值為「0」。當DMA在驗證結束後通過在DMA中記錄關於缺陷的信息進行更新時，更新計數器的值按1遞增。
為了檢驗DMA的內容，要檢查四個DMAs即DMA1、DMA2、DMA3和DMA4的內容是否相同。
如圖3所示，用於檢驗DMA中的DDS的檢查項目包括DDS識別符、盤驗證標誌、DDS/PDL更新計數器、組數、存儲區數、主空閒區(primary spsreerea)的位置、第一邏輯扇區的位置(LSN0)、每個存儲區的開始的LSN等。
檢驗DDS識別符是「0A0Ah」。檢查指示盤驗證標誌的一個字節正在進行/不在進行的該位的位置b7的值是否為「0b」。如果位位置b7的值是「0b」，這指示格式化完成。如果該位位置b7的值是「1b」，這指示正在進行格式化。因此，當該位位置b7的值是「1b」時，這指示格式化失敗。另外，檢查是否在盤的驗證標誌中的保留的位位置b6到b2都是「0b」，並且檢查指示用戶驗證標誌的位位置的值b1是否為「0b」。還檢查指示盤製造商驗證標誌的位位置的值b0是否為「0b」。
為了檢驗對應的DDS/PDL更新計數器，要檢查指示DDS/PDL更新計數器值的值M是否為「0」，以及指示該計數器的增量的值k是否為「1」。還要檢查組號數值是否為「0001h」,「0001h」指示組號數是1，以及存儲區號數是否為「0023h」,「0023h」指示存儲區號數是35。
另外，檢查主空閒區的第一扇區的號數是否為「031000h」，以及主空閒區的最後一個扇區的號數是否為「0341FFh」。檢查LSN0的位置是否是根據登錄在PDL中的缺陷數來確定的，和每一存儲區的開始LSD(即第二存儲區(存儲區1)，至第35存儲區(存儲區34)的開始LSD)是否是基於登錄在PDL中的缺陷數量確定的。這裡，登錄在PDL中的缺陷是C-1盤上的能識別的物理缺陷。即使在C-1盤上存在其它未知缺陷，在對於測試盤的利用驗證初始化時，也不考慮它們。在C-1盤上含有能識別的缺陷的每個扇區必須作為缺陷扇區登錄在PDL中。換句話說，通過測試，能夠檢查PDL結構是否正確，並且還能夠檢查要測試的驅動器是否適當地檢測了缺陷。
檢查在DDS結構中剩餘的保留區(字節位置396到2047)都是「00h」。
另外，將一個盤中用於缺陷管理的空閒區分成主空閒區、次級空閒區和輔助空閒區。當一個盤被初始化以用於置換缺陷時被首先賦值的主空閒區，是主要用於平移置換的(slipping replacement)。剩餘空閒區可被用作線性置換的次級空閒區。用於在一個盤的使用過程中發生的缺陷的線性置換的次級空閒區，被定義為在初始化期間主空閒區被用於平移置換後剩餘的空閒區。或者，該次級空閒區可被個別賦值。輔助空閒區用於在一個盤的使用過程中發生的缺陷的線性置換。該輔助空閒區在盤初始化之後在使用過程中另外賦值。
當在初始化之後使用一個盤的過程中缺乏用於線性置換的空閒區時，用於線性置換的輔助空閒區以這樣的方式被賦值，即該輔助空閒區以從文件系統中的邏輯卷區的末端開始的反方向，以預定大小逐漸遞增。該輔助空閒區還在線性置換期間從邏輯卷區的末端開始的反向使用。
如圖4所示，用於檢驗DMA中的PDL結構的檢查項目包括PDL識別符、PDL中的項數、PDL項的完整性和未使用的存儲區。
檢查PDL識別符是否為「0001h」。在PDL中的項數指示能識別的物理缺陷和在製造期間在每張盤上以不同方式發生的缺陷數。為了檢驗PDL項的完整性，要檢查項類型和缺陷扇區的數。檢查PDL項類型是否為「10b」，「10b」指示在用戶驗證期間檢測的缺陷扇區的G1-列表。按上升順序寫入在PDL中的缺陷扇區號。在對應於能識別的物理缺陷數的PDL項全部寫入後，以及在製造期間在每個盤上不同發生的缺陷扇區上的所有信息都被寫入後，檢查剩餘的未使用存儲區是否為「FFh」。
如圖5所示，用於檢驗DMA中的SDL結構的檢查項目包括SDL識別符、SDL更新計數器、次級空閒區(SSA)的開始扇區號數、邏輯扇區的總數、DDS/PDL更新計數器、空閒區滿標誌、SDL中項數、SDL項的完整性、未使用區、保留區等等。
檢查SDL識別符是否是「0002h」。為了檢驗對應的SDL更新計數器，需要檢查指示該SDL更新計數器的值N是否是「0」，以及指示該SDL更新計數器的增量的值k是否是「1」。為了檢驗對應的DDS/PDL更新計數器，需要檢查指示該DDS/PDL更新計數器的值M是否是「0」，以及指示該DDS/PDL更新計數器的增量的值k是否是「1」。
在利用驗證初始化的情況下，根據在初始化時由用戶指定的次空閒區的大小，檢查SSA的起始扇區號和邏輯扇區總數是否具有適當的值。空閒區的滿標誌必須指示次空閒區不滿。SDL中的項目數必須設置成「00h」，它是通常指示什麼也沒有的值。此外，因為己知SDL的總已使用區，所以，如果檢查SDL中的項目數，則能夠確定SDL的未使用區的大小。因此，檢查C-1盤13的鏡像文件區的大小是否是等於SDL的未使用區的大小，而後者可以基於SDL中的項目數知道，並且還檢查未使用區是否設置成「FFh」。此外，檢查所有保留區的期望值是否是「00h」。但是當用於測試的C-1盤的狀態十分差時，可能生成SDL項。因此，最好使用狀態足夠好的C-1盤。
圖6表示了這樣的要測試的驅動器110，它具有用以發光的光源22、用以將來自光源的光聚焦在盤D上的聚焦元件24以及控制光源22的控制器26。上述驗證過程搜索以檢驗控制器26的適當操作。
如上所述，使用含有能識別的物理缺陷的測試盤，本發明容易適當地檢驗記錄和再現設備解釋和處理在利用驗證初始化後生成的DMA信息。
雖然表示和描述了本發明的少數幾個最優實施例，但本領域的普通技術人員應該清楚，可以對這個實施例在不脫離本發明的原理和構思、權利要求書所限定的範圍及其等效的前提下，進行多種改變。
權利要求
1．一種檢驗在記錄和再現設備中適當生成DMA信息的方法，其中該記錄和再現設備在含有DMA信息的光碟上記錄信息或由其再現信息，該方法包括步驟生成缺陷管理信息作為測試信息，它是在一測試盤上執行利用驗證的初始化之後生成的，而該測試盤是通過在空白盤上形成能識別的物理缺陷而獲得的；以及使用對於利用證的初始化的基準測試信息檢驗該測試信息，以提供測試結果。
2．如權利要求1所述的方法，其中測試信息是一DMA鏡像文件。
3．如權利要求1所述的方法，其中生成步驟包括直接從在利用驗證初始化過的測試盤上的DMA區中讀出測試信息。
4．如權利要求1所述的方法，還包括顯示測試結果。
5．如權利要求1所述的方法，其中檢驗步驟包括檢查構成測試信息的DMA結構、盤定義結構(DDS)、主缺陷列表(PDL)結構以及次缺陷列表(SDL)結構，並且檢查是否存在通過驗證所知道的物理缺陷的G1-列表的各PDL項。
6．如權利要求1所述的方法，其中檢驗步驟包括檢驗測試信息的DMA的結構；檢驗DMA中的盤定義結構(DDS)；檢驗DMA中的主缺陷列表(PDL)結構；以及檢驗DMA中的次缺陷列表(PDL)結構。
7．如權利要求6所述的方法，其中檢驗DMA結構步驟包括檢查錯誤狀態、DDS/PDL和SDL更新計數器和DMA的內容。
8．如權利要求7所述的方法，其中檢查錯誤狀態步驟包括檢查在四個DMA的任何一個中是否存在錯誤，其中的四個DMA是在測試盤上的四個位置寫入的DMA，其中的兩個位於該測試盤上引入區，而另外兩個位於該測試盤上的導出區；檢查DDS/PDL更新計數器的步驟包括檢查四個DDS和四個SDL中的DDS/PDL更新計數器的值是否是「0」，檢查代表執行利用驗證的初始化之前和之後DDS/PDL更新計數器中的差的DDS/PDL更新計數器的增量是否是「1」，以及檢查這八個DDS/PDL更新計數器的值是否相同；檢查SDL更新計數器的步驟包括檢查四個SDL中的SDL更新計數器的值是否是「0」，檢查代表執行利用驗證的初始化之前和之後、SDL更新計數器中的差的SDL更新計數器的增量是否是「1」，以及檢查這四個SDL更新計數器的值是否相同；和檢查DMA的內容的步驟包括檢查四個DMA的內容是否相同。
9．如權利要求6所述的方法，其中檢驗DDS的步驟包括檢查DDS識別符、盤驗證標誌、DDS/PDL更新計數器、組數、存儲區數、主空閒區位置和第一邏輯扇區號以及每個存儲區的起始邏輯扇區號的位置。
10．如權利要求9所述的方法，其中檢查DDS識別符的步驟包括檢查DDS識別符是否是預定值；檢查盤驗證標誌的步驟包括檢查在盤驗證標誌中，指示正在進行的位的值和指示盤製造商驗證的位的值是否均為「0b」，以及檢查指示用戶驗證的位的值是否是「1b」；檢查DDS/PDL更新計數器的步驟包括檢查DDS/PDL更新計數器的值是否是「0」，以及檢查代表執行利用驗證的初始化之前和之後、DDS/PDL更新計數器中的差的DDS/PDL更新計數器的增量是否是「1」；檢查組數的步驟包括檢查組數是否是預定數；檢查存儲區數的步驟包括檢查存儲區數是否是預定數；檢查主空閒區的位置的步驟包括檢查主空閒區的第一和最後扇區號是否分別是預定扇區號；檢查第一邏輯扇區號的步驟包括檢查第一邏輯扇區號的位置是否是基於登錄在PDL中的缺陷數進行確定的；檢查起始邏輯扇區號的步驟包括檢查每個存儲區的起始邏輯扇區號是否是基於登錄在PDL中的缺陷數進行確定的；
11．如權利要求6所述的方法，其中檢驗PDL結構的步驟包括檢查PDL識別符、PDL中的項數以及PDL項的完整性。
12．如權利要求11所述的方法，其中檢查PDL識別符的步驟包括檢查PDL識別符是否是預定值；檢查項數的步驟包括檢查PDL中的項數是否與登錄在PDL中的缺陷數相同；以及檢查PDL的完整性的步驟包括檢查PDL項的類型是否指示在用戶驗證期間所檢測缺陷扇區的G1-列表，並檢查對應的缺陷扇區號。
13．如權利要求6所述的方法，其中檢驗SDL結構的步驟包括檢查SDL識別符、SDL更新計數器、次空閒區的起始扇區號、邏輯扇區的總數、DDS/PDL更新計數器、空閒區滿標誌、SDL中的項數、SDL項的完整性、未使用的區以及保留區。
14．如權利要求13所述的方法，其中檢查SDL識別符的步驟包括檢查SDL識別符是否是預定值；檢查SDL更新計數器的步驟包括檢查SDL更新計數器的值是否是「0」，以及檢查代表執行利用驗證的初始化之前和之後、SDL更新計數器中的差的SDL更新計數器的增量是否是「1」；檢查DDS/PDL更新計數器的步驟包括檢查DDS/PDL更新計數器的值是否是「0」，以及檢查代表執行利用驗證的初始化之前和之後、DDS/PDL更新計數器中的差的DDS/PDL更新計數器的增量是否是「1」；檢查SSA的起始扇區和邏輯扇區的總數的步驟包括檢查SSA的起始扇區號和邏輯扇區的總數是否根據用戶指定的SSA的大小適當設置；檢查空閒區滿標誌、SDL中的項數、SDL項的完整性的步驟包括檢查空閒區滿標誌是否指示次空閒區不滿，檢查SDL中的項數是否設置成指示不存在任何項的「00h」，以及檢查是否不存在關於SDL項的信息；和檢查未使用區和保留區的步驟包括檢查SDL的未使用區的大小和未使用區是否是預定值，以及保留區是否是預定值。
15．如權利要求1所述的方法，其中記錄和再現設備是數字多用盤-隨機存取存儲器。
16．如權利要求2所述的方法，其中基準測試信息是基準DMA鏡像文件。
17．如權利要求16所述的方法，其中基準DMA鏡像文件包含無錯誤的理想數據。
18．如權利要求8所述的方法，其中檢查四個DMA的任何一個中是否存在錯誤的步驟包括檢查四個DMA中是否存在無法糾正的錯誤；和如果發現任何無法糾正的錯誤，則確定為不能檢驗。
19．如權利要求10所述的方法，其中在盤驗證標誌中指示正在進行的位是b7，指示用戶驗證的位是b1，指示製造商驗證的位是b0，和盤驗證標誌的b6至b2是保留位，其中檢查盤驗證標誌的步驟還包括檢查每個保留位的值是否是「0b」。
20．如權利要求12所述的方法，其中檢驗PDL結構的步驟還包括檢查PDL的未使用區是否是預定值。
21．如權利要求14所述的方法，其中檢驗SDL結構的步驟還包括檢查SDL的未使用區是否是預定值。
22．一種檢驗在記錄和再現設備中是否適當生成或更新DMA信息的方法，其中該記錄和再現設備在含有DMA信息的光碟上記錄信息或由其再現信息，該方法包括步驟從DMA信息中生成測試信息，其中DMA信息是在執行利用驗證的初始化之後生成的；以及使用基準測試信息執行用於檢驗該測試信息的測試。
23．如權利要求22所述的方法，其中測試信息是一DMA鏡像文件，和基準測試信息是一基準DMA鏡像文件。
24．如權利要求22所述的方法，其中執行測試步驟還包括檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構、主缺陷列表結構以及次缺陷列表結構。
25．如權利要求10所述的方法，其中檢驗DMA結構的步驟還包括檢查DDS中剩下的保留區是否都具有預定值。
26．一種用於測試記錄和再現設備的設備，其中的記錄和再現設備在含有DMA信息的可記錄和可再現的光碟上記錄信息或由其再現信息，以檢查是否適當生成DMA信息，該設備包括改進型驅動器單元，用於從測試盤所生成的DMA信息生成測試信息，它是該記錄和再現設備在該測試盤上執行利用驗證的初始化後獲得的；以及檢驗器，用於將該測試信息與利用驗證的初始化的預定測試信息比較，以檢驗測試結果。
27．如權利要求26所述的設備，其中測試信息是一DMA鏡像文件並且預定測試信息是一基準DMA鏡像文件。
28．如權利要求26所述的設備，其中改進型驅動器單元從測試盤上DMA區中讀取該測試信息，並將該測試信息提供給檢驗器。
29．如權利要求26所述的設備，其中該測試盤是在執行利用驗證的初始化之前在一空盤上形成能識別的物理缺陷的盤。
30．如權利要求26所述的設備，其中檢驗器通過檢查構成該測試信息的DMA結構、盤定義結構、主缺陷列表結構以及次缺陷列表結構，將該測試信息與該預定測試信息比較。
31．一種檢驗記錄和再現設備是否適當地讀取和處理缺陷管理區信息的方法，包括在包含預定的能識別的物理缺陷信息的測試盤上執行利用驗證的初始化，以生成測試信息；和將該測試信息與基準測試信息比較，以確定該記錄和再現設備的檢驗。
32．如權利要求31所述的方法，其中執行利用驗證的初始化步驟包括讓記錄和再現設備在該測試盤上執行利用驗證的初始化，以生成含有該DMA信息的盤。利用一基準驅動器從該盤僅讀出DMA信息，以便產生DMA鏡像文件作為測試信息；其中該基準測試信息是一基準DMA鏡像文件。
33．如權利要求31所述的方法，其中比較步驟包括檢查構成該測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構、DMA的主缺陷列表結構以及次缺陷列表結構。
34．一種檢驗記錄和再現設備是否適當地讀取和處理缺陷管理區信息的方法，包括使用該記錄和再現設備，在包含預定的能識別的物理缺陷信息的測試盤上執行利用驗證的初始化，以生成測試信息；從所生成的DMA信息中生成該測試信息；和將該測試信息與基準測試信息比較，以確定該記錄和再現設備的檢驗。
35．如權利要求34所述的方法，其中比較步驟包括檢查構成該測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構、DMA的主缺陷列表結構以及次缺陷列表結構。
36．一種由記錄和再現設備適當生成的DMA信息，利用下列過程、使用該記錄和再現設備，在測試盤上執行利用驗證的初始化，以生成DMA信息；從所生成的DMA信息中生成測試信息；和將該測試信息與基準測試信息比較，以確定該記錄和再現設備的檢驗。
37．如權利要求36所述的DMA信息，其中該DMA信息包括該DMA的結構、該DMA的盤定義結構、該DMA的主缺陷列表結構以及次缺陷列表結構，其中比較步驟包括檢查構成該測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構、DMA的主缺陷列表結構以及次缺陷列表結構。
38．一種記錄和再現設備，根據下列過程檢驗在測試盤上利用重新初始化執行驗證，以生成DMA信息；從所生成的DMA信息中生成測試信息；和將該測試信息與基準測試信息比較，以確定該記錄和再現設備的檢驗。
39．如權利要求38所述的記錄和再現設備，其中比較該測試的步驟包括檢查構成該測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構、DMA的主缺陷列表結構以及次缺陷列表結構。
40．一種記錄和再現設備，根據下列過程檢驗在包含預定缺陷信息的測試盤上執行利用驗證的初始化，以生成測試信息；將該測試信息與基準測試信息比較，以確定該記錄和再現設備的檢驗。
41．如權利要求40所述的記錄和再現設備，其中比較該測試的步驟包括檢查構成該測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構、DMA的主缺陷列表結構以及次缺陷列表結構。
42．一種用於測試記錄和再現設備的設備，其中的記錄和再現設備在含有缺陷管理區信息的可記錄和可再現光碟記錄信息，或從該光碟再現信息，以檢查DMA信息是否被適當地生成，該設備包括改進型驅動器，基於通過一個再現設備在測試盤上利用驗證執行初始化生成的測試盤的DMA信息生成測試信息；和檢驗器，將該測試信息與基準測試信息比較，以確定該記錄和再現設備的檢驗。
43．如權利要求42所述的設備，其中改進型驅動器從測試盤僅讀取DMA信息以生成作為測試信息的DMA鏡像文件。其中該測試信息是基準DMA鏡像文件。
44．如權利要求42所述的設備，其中檢驗器從外部信源接收該基準測試信息，以在該測試信息和該基準測試信息之間進行比較。
45．如權利要求42所述的設備，其中檢驗器通過檢查構成該測試信息的DMA的結構、DMA的盤定義結構、DMA的主缺陷列表結構以及次缺陷列表結構，將該測試信息與預定的測試信息比較。
46．一個製造順應性的記錄和再現設備的方法，包括製造一個更新和生成缺陷管理區信息的未驗證的記錄和再現設備；和檢驗未驗證的記錄和再現設備是順應一個標準，所述的檢驗步驟包括在測試盤上執行利用驗證的初始化以生成測試信息，和將該測試信息與基準測試信息比較，以確定該記錄和再現設備的檢驗，指示未驗證的記錄和再現設備順應該標準的檢驗。
47．如權利要求46所述的方法，其中比較步驟包括檢查構成該測試信息的DMA的結構、DMA的盤定義結構、DMA的主缺陷列表結構以及次缺陷列表結構。
48．一種用於在光碟上記錄信息或由其再現信息的盤記錄和再現設備，包括光源，用以發光；聚焦元件，用以將該光線聚焦到光碟上以便記錄信息或由其再現信息；和控制器，用以控制所述的光源，通過下列過程檢驗所述控制器以更新和生成缺陷管理區信息在盤上執行利用驗證的初始化以生成測試信息，和將該測試信息與基準測試信息比較，以確定該記錄和再現設備的檢驗。
49．如權利要求48所述的盤記錄和再現設備，其中控制器檢查構成該測試信息的DMA的結構、DMA的盤定義結構、DMA的主缺陷列表結構以及次缺陷列表結構。
50．一種用於在光碟上記錄信息或由其再現信息的盤記錄和再現設備光源，用以發光；聚焦元件，用以將該光線聚焦到用以記錄信息或由其再現信息的光碟上；和控制器，用以控制所述的光源，和在光碟上執行利用驗證的初始化後更新和生成缺陷管理區信息，以使得該缺陷管理區信息順應一個標準。
51．如權利要求50所述的盤記錄和再現設備，其中控制器檢查構成該測試信息的DMA的結構、DMA的盤定義結構、DMA的主缺陷列表結構以及次缺陷列表結構。
52．一種用於測試記錄和再現設備的設備，其中的記錄和再現設備記錄信息到含有缺陷管理區信息的可記錄和可再現光碟、或從這種光碟再現信息，以檢查DMA信息是否被適當地生成，該設備包括改進型驅動器單元，用以從記錄在該盤上的信息中生成測試信息，該測試信息是在該記錄和再現設備通過在空盤上形成能識別的物理缺陷所獲得的測試盤上執行利用驗證的初始化後獲得的；和檢驗器，用以通過使用關於利用驗證的初始化的基準測試信息檢驗該測試信息來檢驗測試結果。
53．如權利要求52所述的設備，其中測試信息是DMA鏡像文件。
54．如權利要求53所述的設備，其中所述改進型驅動器將直接來自DMA區的測試信息記錄在利用驗證初始化過的測試盤上。
55．如權利要求52所述的設備，其中檢驗器檢查構成該測試信息的DMA的結構、DMA的盤定義結構、DMA的主缺陷列表結構以及次缺陷列表結構，並檢查PDL是否存在通過驗證能識別的物理缺陷的G1列表的PDL項。
56．如權利要求55所述的設備，其中檢驗器通過檢查DMA的錯誤狀態、DDS/PDL和SDL更新計數器和DMA的內容來檢查DMA結構。
57．如權利要求56所述的設備，其中檢驗器檢查在四個DMA的任何一個中是否存在錯誤，其中的四個DMA是在測試盤上的四個位置寫入的DMA，其中的兩個位於該測試盤上引入區，而另外兩個位於該測試盤上的導出區，檢查四個DDS和四個SDL中的DDS/PDL更新計數器的值是否是「0」，檢查代表執行利用驗證的初始化之前和之後的DDS/PDL更新計數器中的差的DDS/PDL更新計數器的增量是否是「1」，檢查這八個DDS/PDL更新計數器的值是否相同，檢查四個SDL中的SDL更新計數器的值是否是「0」，檢查代表執行利用驗證的初始化之前和之後的SDL更新計數器中的差的SDL更新計數器的增量是否是「1」，檢查這四個SDL更新計數器的值是否相同，和檢查四個DMA的內容是否相同。
58．如權利要求55所述的設備，其中檢驗器通過包括DDS識別符、盤驗證標誌、DDS/PDL更新計數器、組數、存儲區數、主空閒區位置和第一邏輯扇區號以及每個存儲區的起始邏輯扇區號的位置，來檢查該DDS。
59．如權利要求58所述的設備，其中檢驗器檢查DDS識別符是否是預定值，檢查在盤驗證標誌中，指示正在進行的位的值和指示盤製造商驗證的位的值是否均為「0b」，以及檢查指示用戶驗證的位的值是否是「1b」，檢查DDS/PDL更新計數器的值是否是「0」，以及檢查代表執行利用驗證的初始化之前和之後、DDS/PDL更新計數器中的差的DDS/PDL更新計數器的增量是否是「1」，分別檢查組數和存儲區數是否是預定數，檢查主空閒區的第一和最後扇區號是否是預定扇區號，檢查第一邏輯扇區號是否基於登錄在PDL中的缺陷數確定，以及對於每個存儲區的起始邏輯扇區號是否是基於登錄在PDL中的缺陷數確定。
60．如權利要求55所述的設備，其中檢驗器通過檢查PDL識別符、PDL中的項數以及PDL項的完整性檢查PDL結構。
61．如權利要求60所述的設備，其中檢驗器檢查PDL識別符是否是預定值，檢查PDL中的項數是否與登錄在PDL中的缺陷數相同，以及檢查PDL項的類型是否指示在用戶驗證期間所檢測缺陷扇區的G1-列表，並檢查對應的缺陷扇區號。
62．如權利要求55所述的設備，其中檢驗器通過檢查SDL識別符、SDL更新計數器、次空閒區的起始扇區號、邏輯扇區的總數、DDS/PDL更新計數器、空閒區滿標誌、SDL中的項數、和SDL項的完整性來檢查SDL結構。
63．如權利要求62所述的設備，其中檢驗器檢查SDL識別符是否是預定值，檢查SDL更新計數器的值是否是「0」，以及檢查代表執行利用驗證初始化之前和之後的SDL更新計數器中的差的SDL更新計數器的增量是否是「1」，檢查DDS/PDL更新計數器的值是否是「0」，以及檢查代表執行利用驗證的初始化之前和之後的DDS/PDL更新計數器中的差的DDS/PDL更新計數器的增量是否是「1」，檢查SSA的起始扇區號和邏輯扇區的總數是否根據用戶指定的SSA的大小適當設置，檢查空閒區滿標誌是否指示次空閒區不滿，檢查SDL中的項數是否設置成指示不存在任何項的「00h」，和檢查關於SDL項的信息是否不存在。
全文摘要
一種檢驗在利用驗證初始化的光碟上的缺陷管理區信息的方法,和用於執行該檢驗的測試設備。該方法包括生成缺陷管理信息作為測試信息,其在對通過在空白盤上形成能識別的物理缺陷獲得的測試盤,執行利用驗證初始化之後,及為提供測試結果而使用關於利用驗證初始化的基準測試信息檢驗該測試信息生成。因此,使用含有能識別的物理缺陷的測試盤,可容易地檢驗一記錄和再現設備適當地解釋和處理利用驗證的初始化之後生成的DMA信息。
文檔編號G11B20/10GK1321981SQ01116268
公開日2001年11月14日 申請日期2001年4月9日 優先權日2000年4月8日
發明者高禎完, 鄭鉉權 申請人:三星電子株式會社