用於將電子組件測試機校準到標準化值的補償工具的製作方法

2023-06-12 01:10:11 2

專利名稱：用於將電子組件測試機校準到標準化值的補償工具的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種用於將包括具有用於測試電子組件的多個觸點的至少一個測試 模塊的電子測試機(例如，多層陶瓷電容器(MLCC))校準到標準化值的設備和方法。
背景技術：
普遍已知提供可手動置於測試板的特定測試凹穴中且在單一觸點臺處經電測試 的具有已知值的多層陶瓷電容器(MLCC)。接著電容器循環通過其它測試臺，離開測試板， 恢復，且被置於下一測試臺的位置。重複此過程直到已針對每一測試臺記錄電容器的值為 止。此當前用於標準補償的過程在零件跨越多個觸點移動，離開測試板，恢復，且重複所述 過程時引起對MLCC的終止端的某些機械磨損。由於機械損壞的緣故，與在第一臺中經測試 時MLCC所具有的電特性相比，在最終臺中經測試時MLCC可具有不同的電特性。

發明內容
將需要提供一種經由組件測試器上的多個測試臺測試單一組件(例如，多層陶瓷 電容器(MLCC))而不會對電容器的終止端引起不當損壞且無錯過電容器的風險的方法。將 需要此程序以將機器參數校準到隨後可用作標準化值的特定值。如本文所描述，電子測試機包括多個測試模塊。每一測試模塊位於從相關聯中心 軸線延伸的有角度間隔的徑向線上且具有用於測試電子組件的多個觸點。一種用於將電子 測試機的多個測試模塊校準到標準化值的補償工具可包括具有旋轉軸線的主體，其可共 軸地與同多個測試模塊相關聯的中心軸線對準以用於繞旋轉軸線旋轉到不同角位置；以及 組件支撐部件，其可操作地與主體相關聯用於轉位移動，以選擇性地與同位於多個測試模 塊中的每一者處的每一測試位置相關聯的觸點對準。組件支撐部件可包括凹穴，其用於接 納具有終止端的電子組件，所述終止端向外延伸以允許位於多個測試模塊中的每一者處的 每一測試位置的電接觸和測試。本文還教示一種用於通過補償工具將電子測試機中的多個測試模塊校準到標準 化值的過程或方法。每一測試模塊位於從相關聯中心軸線延伸的有角度間隔的徑向線上且 具有用於測試電子組件的多個觸點。所述過程可包括嚙合具有旋轉軸線的主體，所述主體 可共軸地與同多個測試模塊相關聯的中心軸線對準以用於繞旋轉軸線旋轉到不同角位置。 所述過程還可包括使組件支撐部件相對於主體轉位，以選擇性地與同位於多個測試模塊中 的每一者處的每一測試位置相關聯的觸點對準。組件支撐部件可包括至少一個凹穴，其用 於接納具有終止端的電子組件，所述終止端向外延伸以允許位於多個測試模塊中的每一者 處的每一測試位置的電接觸和測試。當結合附圖閱讀以下描述時，所屬領域的技術人員將了解本發明的這些和其它應 用中的變化。


本文的描述參照附圖，附圖中貫穿於若干視圖，相同參考標號指代相同零件，且其 中圖1是具有旋轉軸線的主體和組件支撐部件的透視圖，所述主體共軸地與同多個 測試模塊相關聯的中心軸線對準以用於繞旋轉軸線旋轉到不同角位置，所述組件支撐部件 用於轉位移動以選擇性地與同位於電子測試機的多個測試模塊中的每一者處的每一測試 位置相關聯的不同觸點對準；圖2是圖1的主體和組件支撐部件的放大詳細透視圖；圖3是與圖1的主體可操作地相關聯的組件支撐部件的放大詳細透視圖；圖4A是圖1的主體和組件支撐部件在相對於電子測試機的測試模塊的測試位置 處的部分透視圖；圖4B是與圖1的主體相關聯且位於經徑向和弓狀地轉位的多個測試位置的一者 處的組件支撐部件的放大詳細透視圖；圖5是圖1和圖2的主體的放大詳細視圖，其說明用於嚙合組件支撐部件的對應脊 或擋止件以用於將組件支撐部件固持於多個經轉位測試位置的一者處的軌道轉位掣子；圖6A是沿圖3中的線6A-6A截取的組件支撐部件的橫截面圖；圖6B是沿圖3中的線6B-6B截取的組件支撐部件的橫截面圖；圖6C是沿圖3中的線6C-6C截取的組件支撐部件的橫截面圖；圖7是具有位於從中心軸線延伸的徑向線上的至少一個測試模塊和用於測試電 子組件的多個觸點的電子測試機的簡化透視圖；圖8是具有旋轉軸線的主體和可徑向移動的組件支撐部件的簡化分解透視圖，所 述主體共軸地與同多個測試模塊相關聯的中心軸線對準以用於繞旋轉軸線旋轉到不同角 位置，所述可徑向移動的組件支撐部件用於轉位移動以選擇性地與同位於電子測試機的多 個測試模塊中的每一者處的每一測試位置相關聯的不同觸點對準；圖9是圖8的主體和組件支撐部件的裝配詳細透視圖；圖IOA和IOB是由組件支撐部件載運的可能替代性凹穴的簡化透視圖；以及圖11是具有旋轉軸線的主體和可有角度旋轉的組件支撐部件的簡化透視圖，所 述主體共軸地與同多個測試模塊相關聯的中心軸線對準以用於繞旋轉軸線旋轉到不同角 位置，所述可有角度旋轉的組件支撐部件用於轉位移動以選擇性地與同位於電子測試機的 多個測試模塊中的每一者處的每一測試位置相關聯的不同觸點對準。
具體實施例方式簡要地參看圖6B、圖6C和圖7，電子測試機10具有測試模塊12的至少一個上部 觸點14和至少一個下部觸點15。每一測試模塊12可位於從相關聯中心軸線延伸的有角度 間隔的徑向線上，且具有用於測試電子組件的相對觸點對14、15。生產測試板或盤20可包 括多個凹穴54(由圖1中的實例部分展示)。每一凹穴54將電子組件32載運到待電插入 於測試模塊12的上部觸點14與下部觸點15之間的測試位置28，以便在電子組件32上執 行一個或一個以上測試。測試板20可繞其中心軸線旋轉，以將電子組件32轉移到測試位 置28以及從測試位置28轉移電子組件32，所述測試位置28與不同測試模塊12的對應上部觸點14和下部觸點15相關聯。現參看圖1到圖4B和圖7，用於將電子測試機10的多個測試模塊12校準到標準 化值的補償工具16包括具有旋轉軸線的主體22，所述主體22可共軸地與同多個測試模塊 12相關聯的中心軸線對準，以用於繞旋轉軸線旋轉到不同角位置。中心軸線可由測試板20 的中心軸18界定。藉助實例而非限制，如圖1到圖6C中所說明，主體22包括與其相關聯的 槽24。如圖8和圖9所示，主體22還可包括具有與其相關聯的槽24a的安裝(mounting) 部分22a。藉助實例而非限制，例如圖1到圖6C或圖8到圖9中所說明，組件支撐部件26、 26a為滑件(slide)，其可在與主體22相關聯的槽24、24a內嚙合，用於轉位移動以選擇性 地與同位於多個測試模塊12中的每一者處的每一測試位置28相關聯的不同觸點14對準。 組件支撐部件26、26a包括凹穴30，其用於接納具有終止端34的電子組件32，所述終止端 34向外延伸以允許在多個測試模塊12中的每一者處的電接觸和測試。單一電子組件32可有角度且徑向地與同多個測試模塊12中的每一者的每一測試 位置28相關聯的觸點14、15對準。針對位於多個測試模塊12中的每一者處的每一測試位 置28記錄單一電子組件32的值的讀數。基於針對單一電子組件32所讀取的已記錄值校 準每一測試位置28。如圖3、圖5、圖6A和圖6B所示，主體22和組件支撐部件26界定允許組件支撐部 件26相對於主體22轉位移動的相對互補界面38、36。藉助實例而非限制，如圖5中最佳所 見，多個軌道轉位掣子40沿主體22和組件支撐部件26的相對界面38、36之間的槽24的表 面定位。至少一個擋止件44(參見圖6C)與對應於電子組件32的每一徑向間隔的測試位 置28的至少一個掣子40交互。應了解，掣子40和擋止件44可位於槽24和組件支撐部件 26的相對表面的任一者上。在此實例中，多個掣子40位於槽24的相對側46、48的表面上 以與同組件支撐部件26相關聯的至少一個擋止件44嚙合。在圖8和圖9所示的實例中， 多個掣子40a位於面向槽24a的部件26a的相對表面處，且擋止件44a位於面向部件26a 的槽24a的相對表面處以便嚙合多個掣子40a。當然，可交換至少一個擋止件44a與多個掣 子4a的位置。在這些實例的每一者中，如圖6B所見，適型(conformable)材料50可定位 於用於接納電子組件32的凹穴30中。如上所述，如圖1到圖6C或圖8到圖9中所說明，組件支撐部件26、26a包括可 嚙合在與主體22相關聯的槽24、24a內用於測試位置28之間的徑向轉位移動的滑件。然 而，本發明並非限於此組合。如圖11所示，主體22可經可旋轉地安裝以用於繞由(如圖8 和圖9的實例中的)測試板20的中心軸18界定的軸線旋轉。在圖11中，相比之下，組件 支撐部件26b包括可繞孔24b旋轉的盤，所述孔24b界定與用於不同測試位置28之間旋轉 轉位移動的部件26b相關聯的旋轉軸線，其中孔24b (且因此旋轉軸線)從主體22的中心 軸線偏移。部件26、26a、26b和槽24、24a或孔24b可被界定為以任何合適的方式(例如， 通過機械扣件、化學粘合劑、材料結合，或其任何組合)裝配到主體22的單獨組件。藉助實 例而非限制，用於接納電子組件32的凹穴30可如圖1到圖4B、圖6A、圖6B、圖8、圖9或圖 11中所說明，或可如圖IOA或圖IOB中所說明。說明於圖IOA中的凹穴30a被分成具有用 於在電子組件32與凹穴30a之間提供壓配合(pressure fit)的槽31a的兩個部分。如圖 IOB中所說明，凹穴30b包括向內延伸用於在電子組件32與凹穴30b之間提供壓配合的指 狀物31b。如上文所提及，適型材料50(如圖6B中最佳所見)可定位於用於接納電子組件
632的凹穴30、30a、30b的任一者中。本文還教示一種用於通過補償工具16將電子測試機10中的多個測試模塊12校 準到標準化值的過程或方法。每一測試模塊12位於從與多個測試模塊12相關聯的中心 軸線延伸的有角度間隔的徑向線上，且具有用於測試電子組件的多個觸點14、15，如先前所 述。主體22共軸地與測試板20的中心軸18的中心軸線對準以用於繞旋轉軸線旋轉到不 同角位置。所述過程包括相對於主體22轉位組件支撐部件26以選擇性地與同位於多個測 試模塊12中的每一者處的每一測試位置28相關聯的觸點14、15對準。組件支撐部件26 包括至少一個凹穴30，其用於接納具有終止端34的電子組件32，所述終止端34向外延伸 以允許在多個測試模塊12中的每一者處的每一測試位置28處的電接觸和測試。所述過程可包括使單一電子組件32有角度且徑向地與同待測試的多個測試模塊 12中的每一者的每一測試位置28相關聯的觸點14、15對準。可針對位於多個測試模塊12 中的每一者處的每一測試位置28記錄針對單一電子組件32所讀取的值。接著可基於針對 單一電子組件32所讀取的已記錄值校準每一測試位置28。所述過程可包括通過位於組件支撐部件26與主體22之間的相對互補界面36、38 使組件支撐部件26相對於主體22轉位移動。至少一個擋止件44可與沿主體22位於主體 22和組件支撐部件26的相對界面38、36之間的多個軌道轉位掣子40中的一者交互。多個 掣子40中的每一者可對應於電子組件32的每一徑向間隔的測試位置28。藉助實例而非限 制，如圖1到圖6C中所說明，所述過程可包括將與組件支撐部件26相關聯的至少一個擋止 件44與位於形成於主體22中的槽24的相對側46、48的表面上的多個掣子40中的至少一 者嚙合。類似地，形成於主體22、22a的槽24a中的至少一個擋止件44a可與位於組件支撐 部件26a的面向表面上的多個掣子40a中的至少一者嚙合。或者，如圖11中所說明，所述 過程可包括將與組件支撐部件26b或與主體22相關聯的至少一個擋止件與位於主體22或 盤26b上的多個掣子中的至少一者嚙合。所述過程還可包括將適型材料50定位於用於接 納電子組件32的凹穴30中。可用玻璃纖維、環氧樹脂或類似組合物以兩個或兩個以上部分製成校準或補償工 具16。第一部分或主體22可配合於測試板20的中心軸18上，或可以任何合適的方式共軸 地與中心軸線對準。如圖8所示，例如，主體22本身可包含一個以上部分，例如栓接或焊接 於主體22上的單獨安裝部分22a。如圖1和圖4A中所說明，主體22可用鍵固定到驅動銷 52。在一個實例中，此第一部分22經由經轉位到(例如)八個位置的經機械加工的槽24、 24a而接受第二部分或組件支撐部件26、26a，從而允許第二部分26、26a移動以與特定測試 位置28的八個中的一個(或任何數目)對準。此第二部分26、26a可具有將接受特定尺寸 的電子組件32(例如，MLCC)且緊固地固持所述零件(其中終止端34指向外面以允許電接 觸和測試)的凹穴30、30a、30b或載板(圖6B、圖6C)。可使其它組件尺寸與具有適合用於 所述特定零件的厚度的工具材料相適應。此工具16在具有對零件最小量的機械損壞或磨損的情況下，允許經由多個測試 臺測試具有已知值的單一組件(例如MLCC)，且減小在所述程序期間錯過零件或損壞零件 的風險。此補償工具16不需要使組件經歷離開和恢復過程，藉此減少行進通過處理機構的 量，且減少機械損壞的機會。通過此工具16，將具有已知值的組件置於機器中，僅移動到合 適的測試臺，測試，移動回到開放區域，針對下一位置調整，移入適當位置，且重複測量。重複此過程直到已針對每一測試臺記錄組件的值為止。此工具16在對組件的物理條件具有最小影響的情況下，允許測試和重測試單一 組件。滑件機構26減少所需的組件的處理，且使在測試位置變化期間錯過被測試零件的風 險最小化。雖然已結合某些實施例描述本發明，但應了解，本發明並不限於所揭示的實施例， 而是相反地，本發明希望涵蓋所附權利要求書的範圍中所包括的各種修改和等效布置，所 述範圍應被賦予最廣泛的解釋以便涵蓋如法律所許可的所有此類修改和等效結構。
權利要求
一種電子測試機，其包括位於從中心軸線延伸的有角度間隔的徑向線上的多個測試模塊，每一測試模塊具有用於測試電子組件的多個觸點，所述電子測試機的特徵在於補償工具，其用於將所述電子測試機的所述多個測試模塊校準到標準化值，所述補償工具包含具有旋轉軸線的主體，其共軸地與所述中心軸線對準以用於繞所述旋轉軸線旋轉到不同的角位置；以及組件支撐部件，其包括貫穿的凹穴，所述組件支撐部件可操作地與所述主體相關聯以用於轉位移動，以選擇性地使所述凹穴與同由所述多個測試模塊界定的每一測試位置相關聯的不同相對觸點對準，所述組件支撐部件的所述凹穴經配置以接納具有端子的電子組件，所述端子向外延伸以允許在每一測試位置處的電接觸和測試。
2.根據權利要求1所述的電子測試機，其中單一電子組件可經由所述凹穴有角度且徑 向地與同待測試的所述多個測試模塊中的每一者的每一測試位置相關聯的觸點對準。
3.根據權利要求1所述的電子測試機，其中所述主體包含與所述中心軸線共軸地安裝 的環形板，所述主體界定徑向對準的槽；且其中所述組件支撐部件包含可在多個經轉位位 置中與所述主體的所述槽嚙合的滑件。
4.根據權利要求1所述的電子測試機，其中所述主體包含與所述中心軸線共軸地安裝 的環形板；且其中所述組件支撐部件包含可繞與所述中心軸線分離的旋轉軸線旋轉、且可 在多個經轉位位置中與所述主體嚙合的環形板。
5.根據權利要求1所述的電子測試機，其進一步包含所述主體和所述組件支撐部件界定允許所述組件支撐部件相對於所述主體轉位移動 的相對互補界面。
6.根據權利要求5所述的電子測試機，其進一步包含多個軌道轉位掣子，其位於所述主體和所述組件支撐部件的所述相對界面之間，至少 一個擋止件與對應於所述電子組件的每一徑向間隔的測試位置的至少一個軌道轉位掣子交互。
7.根據權利要求6所述的電子測試機，其進一步包含所述多個軌道轉位掣子位於槽的相對側上，以用於與同所述組件支撐部件相關聯的至 少一個擋止件嚙合。
8.根據權利要求1所述的電子測試機，其中所述主體包含與所述中心軸線共軸地安裝 於一端上的矩形板，所述主體界定徑向對準的槽；且其中所述組件支撐部件包含可在多個 經轉位位置中與所述主體的所述槽嚙合的滑件。
9.一種用於將電子測試機中的多個測試模塊校準到標準化值的方法，每一測試模塊位 於從中心軸線延伸的有角度間隔的徑向線上，且具有用於測試電子組件的多個觸點，所述 方法包含使具有旋轉軸線的主體共軸地與所述中心軸線對準，以用於繞所述旋轉軸線旋轉到不 同角位置；以及相對於所述主體轉位組件支撐部件，以選擇性地與同位於所述多個測試模塊中的每一 者處的每一測試位置相關聯的不同觸點對準，所述組件支撐部件包括至少一個凹穴，所述 凹穴用於接納具有端子的電子組件，所述端子向外延伸以允許每一測試位置處的電接觸和測試。
10.根據權利要求9所述的方法，其進一步包含使單一電子組件有角度且徑向地與同待測試的所述多個測試模塊中的每一者的每一 測試位置相關聯的觸點對準。
11.根據權利要求10所述的方法，其進一步包含針對位於待測試的所述多個測試模塊中的每一者處的每一測試位置，記錄所述單一電 子組件的值。
12.根據權利要求11所述的方法，其進一步包含基於針對所述單一電子組件所讀取的所述已記錄值，校準每一測試位置。
13.根據權利要求9所述的方法，其進一步包含通過位於所述組件支撐部件與所述主體之間的相對互補界面，使所述組件支撐部件相 對於所述主體轉位移動。
14.根據權利要求13所述的方法，其進一步包含使至少一個擋止件與位於所述主體和所述組件支撐部件的所述相對互補界面之間的 多個軌道轉位掣子中的一者交互，至少一個掣子對應於所述電子組件的每一徑向間隔的測 試位置。
全文摘要
本發明提供一種用於將位於電子測試機的多個測試模塊處的每一測試位置校準到標準化值的補償工具和過程。每一測試模塊位於從相關聯中心軸線延伸的有角度間隔的徑向線上，且具有用於測試電子組件的多個觸點。所述補償工具包括具有旋轉軸線的主體，其可共軸地與所述中心軸線對準以用於旋轉到不同角位置；以及組件支撐部件，其可操作地與所述主體相關聯以用於轉位移動，以選擇性地與同每一測試位置相關聯的不同觸點對準。所述組件支撐部件包括凹穴，其用於接納具有終止端的電子組件，所述終止端向外延伸以允許在每一測試位置處的電接觸和測試。
文檔編號G01R31/02GK101978279SQ200980109923
公開日2011年2月16日 申請日期2009年3月6日 優先權日2008年3月21日
發明者尼克·A·塔布斯, 斯科特·L·蔡爾德 申請人:電子科學工業有限公司