Soc晶片的調試方法和調試系統的製作方法
2023-05-30 13:29:41 3
專利名稱：Soc晶片的調試方法和調試系統的製作方法
技術領域：
本發明涉及SOC晶片的調試技術，具體而言，涉及SOC晶片的調試方法和調試系統。
背景技術：
S0C(SyStem-On-a-Chip，片上系統)視頻處理晶片是都整合了很多IP資源的集合體，包括CPU、VIDEO DECODER以及許多視頻處理模塊。在晶片整體架構搭建完畢之後，需要有一個統一的調試方法來對晶片內的所有模塊以及系統軟體進行調試。一般常見的調試接口有 USB (Universal Serial BUS，通用串行總線)、JTAG (Joint Test Action Group, 聯合測試行為組織)等，但是這些調試方式需要購買一套調試工具以及調試開發環境，這種套件往往比較昂貴。但是SOC晶片中一般都具有硬體的UART(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter,通用異步接收/發送裝置)接口，通過這種簡單的通信接口將調試指令傳送到晶片中，從而不需要專門的調試工具，甚至可以自行開發，降低調試成本。因此，需要一種新的SOC晶片的調試技術，可以由UART接口實現對SOC晶片的調試，極大地降低了調試過程的費用。
發明內容
為了解決上述技術問題至少之一，本發明提供了一種新的SOC晶片的調試技術， 可以由UART接口實現對SOC晶片的調試，極大地降低了調試過程的費用，同時，採用圖形用戶界面接收操作指令，從而生成調試命令，便於實現對SOC晶片的批處理，提升調試效率。有鑑於此，本發明提出了一種SOC晶片的調試方法，包括步驟102，將所述SOC晶片通過UART接口連接至電平轉換裝置，並將所述電平轉換裝置連接至控制主機；步驟104， 所述控制主機將通過圖形用戶界面接收到的調試操作指令生成調試命令；步驟106，所述電平轉換裝置對所述調試命令進行電平轉換，生成電平轉換調試命令；步驟108，所述SOC 晶片獲取並運行所述電平轉換調試命令。在該技術方案中，利用了 SOC晶片上的UART接口，相比於USB或是JTAG，UART接口更為通用。在使用USB或JTAG等調試接口時，則需要對應的專門的一套調試工具及調試開發環境，但具有USB或JTAG等調試接口的SOC晶片的數量只佔小部分，因而添置的調試工具及調試開發環境可以使用的範圍遠小於基於UART接口的調試套件，因而對於UART接口的利用，可以大大降低調試過程的費用。這裡的電平轉換裝置，比如TTL電平轉換晶片，主要是由於對UART接口和RS-232 接口的利用，從而在將調試命令從控制主機發送至SOC晶片上時，需要對信號的電平進行調整。其中，RS-232接口用於連接控制主機和電平轉換裝置，從而對應於UART接口，實現信號傳輸過程中的電平轉換，確保信號的成功傳輸。這裡的圖形用戶界面是被安裝在控制主機上的一套調試環境，通過圖形化的方式，在人機互動界面上顯示出調試界面，則用戶可以在該調試界面上對SOC晶片上需要進行調試的功能模塊或是寄存器進行選擇，以及對希望進行的調試方式進行選擇，然後由控制主機將圖形用戶界面接收到的調試指令，生成對應的調試命令，其中，對應於SOC晶片上的各個功能模塊，已經提前對其地址進行了定義，因而能夠同時將調試命令應用於用戶希望進行調試的模塊，並得到對應的調試結果，實現對SOC晶片上的功能模塊或是寄存器的批處理。根據本發明的又一方面，還提出了一種SOC晶片的調試系統，包括所述SOC晶片、電平轉換裝置和控制主機，其中，所述控制主機，連接至所述電平轉換裝置，包含圖形用戶界面，具體包括指令接收單元，通過所述圖形用戶界面接收所述用戶的所述調試操作指令；生成單元，根據所述指令接收單元接收到的所述調試操作指令，生成調試命令；發送單元，將所述調試命令發送至所述電平轉換裝置；所述電平轉換裝置，通過UART接口連接至所述SOC晶片，包括傳送單元，從所述控制主機獲取所述調試命令，或將生成的電平轉換調試命令發送至所述SOC晶片；電平轉換單元，對來自所述傳送單元的所述調試命令進行電平轉換，生成所述電平轉換調試命令；所述SOC晶片，包括命令接收單元，通過所述UART 接口接收來自所述電平轉換裝置的所述電平轉換調試命令；運行單元，運行所述電平轉換調試命令。在該技術方案中，利用了 SOC晶片上的UART接口，相比於USB或是JTAG，UART接口更為通用。在使用USB或JTAG等調試接口時，則需要對應的專門的一套調試工具及調試開發環境，但具有USB或JTAG等調試接口的SOC晶片的數量只佔小部分，因而添置的調試工具及調試開發環境可以使用的範圍遠小於基於UART接口的調試套件，因而對於UART接口的利用，可以大大降低調試過程的費用。這裡的電平轉換裝置，比如TTL電平轉換晶片，主要是由於對UART接口和RS-232 接口的利用，從而在將調試命令從控制主機發送至SOC晶片上時，需要對信號的電平進行調整。其中，RS-232接口用於連接控制主機和電平轉換裝置，從而對應於UART接口，實現信號傳輸過程中的電平轉換，確保信號的成功傳輸。這裡的圖形用戶界面是被安裝在控制主機上的一套調試環境，通過圖形化的方式，在人機互動界面上顯示出調試界面，則用戶可以在該調試界面上對SOC晶片上需要進行調試的功能模塊或是寄存器進行選擇，以及對希望進行的調試方式進行選擇，然後由控制主機將圖形用戶界面接收到的調試指令，生成對應的調試命令，其中，對應於SOC晶片上的各個功能模塊，已經提前對其地址進行了定義，因而能夠同時將調試命令應用於用戶希望進行調試的模塊，並得到對應的調試結果，實現對SOC晶片上的功能模塊或是寄存器的批處理。
圖1示出了根據本發明的實施例的SOC晶片的調試方法的流程圖；圖2示出了根據本發明的實施例的SOC晶片的調試系統的框圖；圖3A至3C示出了根據本發明的實施例的圖形用戶界面的示意圖；以及圖4示出了根據本發明的實施例的SOC晶片的調試系統的示意圖。
具體實施方式
為了能夠更清楚地理解本發明的上述目的、特徵和優點，下面結合附圖和具體實施方式
對本發明進行進一步的詳細描述。在下面的描述中闡述了很多具體細節以便於充分理解本發明，但是，本發明還可以採用其他不同於在此描述的其他方式來實施，因此，本發明並不限於下面公開的具體實施例的限制。圖1示出了根據本發明的實施例的SOC晶片的調試方法的流程圖。如圖1所示，根據本發明的實施例的SOC晶片的調試方法，包括步驟102，將SOC 晶片通過UART接口連接至電平轉換裝置，並將電平轉換裝置連接至控制主機；步驟104，控制主機將通過圖形用戶界面接收到的調試操作指令生成調試命令；步驟106，電平轉換裝置對調試命令進行電平轉換，生成電平轉換調試命令；步驟108，SOC晶片獲取並運行電平轉換調試命令。在該技術方案中，利用了 SOC晶片上的UART接口，相比於USB或是JTAG，UART接口更為通用。在使用USB或JTAG等調試接口時，則需要對應的專門的一套調試工具及調試開發環境，但具有USB或JTAG等調試接口的SOC晶片的數量只佔小部分，因而添置的調試工具及調試開發環境可以使用的範圍遠小於基於UART接口的調試套件，因而對於UART接口的利用，可以大大降低調試過程的費用。這裡的電平轉換裝置，比如TTL電平轉換晶片，主要是由於對UART接口和RS-232 接口的利用，從而在將調試命令從控制主機發送至SOC晶片上時，需要對信號的電平進行調整。其中，RS-232接口用於連接控制主機和電平轉換裝置，從而對應於UART接口，實現信號傳輸過程中的電平轉換，確保信號的成功傳輸。這裡的圖形用戶界面是被安裝在控制主機上的一套調試環境，通過圖形化的方式，在人機互動界面上顯示出調試界面，則用戶可以在該調試界面上對SOC晶片上需要進行調試的功能模塊或是寄存器進行選擇，以及對希望進行的調試方式進行選擇，然後由控制主機將圖形用戶界面接收到的調試指令，生成對應的調試命令，其中，對應於SOC晶片上的各個功能模塊，已經提前對其地址進行了定義，因而能夠同時將調試命令應用於用戶希望進行調試的模塊，並得到對應的調試結果，實現對SOC晶片上的功能模塊或是寄存器的批處理。在上述技術方案中，還包括控制主機通過圖形用戶界面接收選擇操作指令，並根據選擇操作指令確定調試對象，其中，調試對象包括SOC晶片中的至少一個寄存器、SOC晶片中的至少一個功能模塊和/或SOC晶片。在該技術方案中，通過圖形用戶界面，用戶可以對SOC晶片中希望進行調試的功能模塊或是寄存器或是SOC晶片本身進行選擇。一方面，由於可以自由進行選擇，而且在 SOC晶片或是控制主機運行狀況允許的情況下，也沒有對調試對象的數目或種類的限制，另一方面，根據用戶對於調試對象以及對應的調試方法的選擇結果，控制主機可以據此自動生成對應的調試命令，因而可以方便地實現對多個調試對象進行批處理。在上述技術方案中，還包括控制主機根據確定的調試對象的屬性，選擇對應的打包方式並對調試命令進行打包，生成調試數據包；以及SOC晶片獲取調試數據包，對調試數據包進行解析得到調試命令，並運行調試命令。在該技術方案中，可以將生成的調試命令按照UART接口協議對應的格式進行打包，生成數據包，並將該數據包發送至SOC晶片。該數據包的生成過程是由控制主機根據用戶的預設參數、採用對應於UART接口協議的格式自動進行打包生成的，簡化用戶的操作過程。由於預定義了 SOC晶片中的各個功能模塊的地址，因而可以將該地址信息體現在對應的打包方式中，從而確保調試命令準確地發送至對應的功能模塊，以及接收到對應模塊傳回的調試結果信息。在上述技術方案中，SOC晶片使用包括在SOC晶片中的基於UART接口協議的驅動軟體運行來自控制主機的調試命令。在該技術方案中，針對通過UART接口接收到的來自控制主機的調試命令，在SOC 晶片中進行運行，則可以得到調試信息，完成調試過程。但SOC晶片在運行調試命令時，需要對應的運行環境，這由基於UART接口協議的驅動軟體來提供。在上述技術方案中，還包括S0C晶片在運行調試命令時，對調試對象進行寫操作和/或讀操作；在對調試對象進行讀操作後，SOC晶片向控制主機反饋讀取數據，並接收來自控制主機的確認信息；以及在確認信息為失敗信息時，SOC晶片向控制主機重新發送讀取數據，直至確認信息為成功信息。在該技術方案中，調試命令中存在對SOC晶片進行數據或信息讀取的命令，這些數據或信息被讀取後，需要反饋至控制主機，便於用戶進行進一步分析，對本次調試過程及結果進行了解。這裡通過控制主機對來自SOC晶片的數據的確認機制，確保數據成功被反饋至控制主機，並在出錯時及時進行重新發送，簡化了用戶的操作步驟，提高了控制主機對於需要數據的獲取成功率。圖2示出了根據本發明的實施例的SOC晶片的調試系統的框圖。如圖2所示，根據本發明的實施例的SOC晶片的調試系統200，包括S0C晶片206、 電平轉換裝置204和控制主機202，其中，控制主機202，連接至電平轉換裝置204，包含圖形用戶界面，具體包括指令接收單元208，通過圖形用戶界面接收用戶的調試操作指令；生成單元210，根據指令接收單元208接收到的調試操作指令，生成調試命令；發送單元212， 將調試命令發送至電平轉換裝置204 ；電平轉換裝置204，通過UART接口連接至SOC晶片 206，包括傳送單元218，從控制主機202獲取調試命令，或將生成的電平轉換調試命令發送至SOC晶片206 ；電平轉換單元220，對來自所述傳送單元218的調試命令進行電平轉換， 生成電平轉換調試命令；SOC晶片206，包括命令接收單元222，通過UART接口接收來自電平轉換裝置204的電平轉換調試命令；運行單元224，運行電平轉換調試命令。在該技術方案中，利用了 SOC晶片206上的UART接口，相比於USB或是JTAG，UART 接口更為通用。在使用USB或JTAG等調試接口時，則需要對應的專門的一套調試工具及調試開發環境，但具有USB或JTAG等調試接口的SOC晶片的數量只佔小部分，因而添置的調試工具及調試開發環境可以使用的範圍遠小於基於UART接口的調試套件，因而對於UART 接口的利用，可以大大降低調試過程的費用。這裡的電平轉換裝置204，比如TTL電平轉換晶片，主要是由於對UART接口和 RS-232接口的利用，從而在將調試命令從控制主機202發送至SOC晶片206上時，需要對信號的電平進行調整。其中，RS-232接口用於連接控制主機202和電平轉換裝置204，從而對應於UART接口，實現信號傳輸過程中的電平轉換，確保信號的成功傳輸。這裡的圖形用戶界面是被安裝在控制主機202上的一套調試環境，通過圖形化的方式，在人機互動界面上顯示出調試界面，則用戶可以在該調試界面上對SOC晶片206上需要進行調試的功能模塊或是寄存器進行選擇，以及對希望進行的調試方式進行選擇，然後由控制主機將圖形用戶界面接收到的調試指令，生成對應的調試命令，其中，對應於SOC晶片206上的各個功能模塊，已經提前對其地址進行了定義，因而能夠同時將調試命令應用於用戶希望進行調試的模塊，並得到對應的調試結果，實現對SOC晶片206上的功能模塊或是寄存器的批處理。在上述技術方案中，指令接收單元208還用於通過圖形用戶界面接收用戶的選擇操作指令；以及控制主機202還包括對象確定單元214，根據指令接收單元208接收到的選擇操作指令，確定調試對象，其中，調試對象包括S0C晶片206中的至少一個寄存器、 SOC晶片206中的至少一個功能模塊和/或SOC晶片206。在該技術方案中，通過圖形用戶界面，用戶可以對SOC晶片206中希望進行調試的功能模塊或是寄存器或是SOC晶片206本身進行選擇。一方面，由於可以自由進行選擇，而且在SOC晶片206或是控制主機202運行狀況允許的情況下，也沒有對調試對象的數目或種類的限制，另一方面，根據用戶對於調試對象以及對應的調試方法的選擇結果，控制主機 202可以據此自動生成對應的調試命令，因而可以方便地實現對多個調試對象進行批處理。在上述技術方案中，控制主機202還包括調製單元216，根據確定的調試對象的屬性，選擇對應的打包方式並對調試命令進行打包，生成調試數據包；發送單元212還用於將調試數據包發送至電平轉換裝置204 ；傳送單元218還用於從控制主機202獲取調試數據包，或將電平轉換調試數據包發送至SOC晶片206 ；電平轉換單元220還用於對調試數據包進行電平轉換，生成電平轉換調試數據包；SOC晶片206還包括數據包接收單元 226，通過UART接口接收來自電平轉換裝置204的電平轉換調試數據包；解析單元228，對數據包接收單元2 接收到的電平轉換調試數據包進行解析，得到調試命令。在該技術方案中，可以將生成的調試命令按照UART接口協議對應的格式進行打包，生成數據包，並將該數據包發送至SOC晶片206。該數據包的生成過程是由控制主機202 根據用戶的預設參數、採用對應於UART接口協議的格式自動進行打包生成的，簡化用戶的操作過程。由於預定義了 SOC晶片206中的各個功能模塊的地址，因而可以將該地址信息體現在對應的打包方式中，從而確保調試命令準確地發送至對應的功能模塊，以及接收到對應模塊傳回的調試結果信息。在上述技術方案中，SOC晶片206中集成有基於UART接口協議的驅動軟體；以及運行單元2M使用基於UART接口協議的驅動軟體運行調試命令。在該技術方案中，針對通過UART接口接收到的來自控制主機202的調試命令，在 SOC晶片206中進行運行，則可以得到調試信息，完成調試過程。但SOC晶片206在運行調試命令時，需要對應的運行環境，這由基於UART接口協議的驅動軟體來提供。在上述技術方案中，在SOC晶片206中，運行單元2M還包括寫操作子單元2240， 在運行調試命令時，對調試對象進行寫操作；讀操作子單元2242，在運行調試命令時，對調試對象進行讀操作；SOC晶片206還包括反饋單元230，在讀操作子單元2242對調試對象進行讀操作後，向控制主機202發送讀取數據或接收來自控制主機202的確認信息；處理單元，在反饋單元230接收到的確認信息為失敗信息時，控制反饋單元230重新發送讀取數據，直至確認信息為成功信息。
在該技術方案中，調試命令中存在對SOC晶片206進行數據或信息讀取的命令， 這些數據或信息被讀取後，需要反饋至控制主機202，便於用戶進行進一步分析，對本次調試過程及結果進行了解。這裡通過控制主機202對來自SOC晶片206的數據的確認機制， 確保數據成功被反饋至控制主機202，並在出錯時及時進行重新發送，簡化了用戶的操作步驟，提高了控制主機202對於需要數據的獲取成功率。針對上述圖形用戶界面，下面結合圖3A至3C進行具體描述，其中，圖3A至3C示出了根據本發明的實施例的圖形用戶界面的示意圖。如圖3A所示，是根據本發明的技術方案下的一種圖形用戶界面300的顯示界面， 在該圖形用戶界面300上，用戶可以通過自己的直接對功能模塊、寄存器以及希望進行的調試方式進行直接選擇，發出調試指令，並由圖形用戶界面300據此直接自動生成對應的調試命令，對SOC晶片進行調試。具體而言，在圖形用戶界面300上包括功能模塊選擇區302、寄存器選擇區304、調試方式選擇區306、結果編輯區308和處理區310，其中，在功能模塊選擇區302中，顯示出了第一模塊、第二模塊等所有被集成在當前連接的SOC晶片中的功能模塊，則用戶可以通過點擊對應的模塊，在寄存器選擇區304中，查看並選擇其中的寄存器。同時，對於被用戶選中的功能模塊或是寄存器，可以通過在調試方式選擇區306 中，根據用戶的要求選擇對應的調試方式。然後，可以通過結果編輯區308，對於已經選擇好的功能模塊或寄存器以及對應的調試方式進行查看和編輯。最後，由處理區310中，通過「生成」按鍵，可以將用戶確認無誤的調試過程自動轉換並生成對應的調試命令或包含調試命令的數據包；通過「錄入」按鍵，可以將生成的調試命令或數據包，由UART接口輸入到SOC晶片中；通過「運行」按鍵，可以由SOC晶片運行接收到的調試命令或對數據包進行解析，並運行得到的調試命令，然後得到調試結果。對於具體的操作方式，如圖:3B所示，在圖形用戶界面300中，對於功能模塊選擇區 302而言，可以通過點擊每個功能模塊後面的選擇按鈕311而直接選中對應的功能模塊，比如點擊「第一模塊」後面的選擇按鈕311之後，便直接選中了「第一模塊」作為調試對象。也可以對每個功能模塊中的具體寄存器進行選擇，比如在點擊「第二模塊」之後， 在寄存器選擇區304中顯示出寄存器選擇界面312，其中顯示出「第二模塊」所包含的所有寄存器，而對於用戶需要進行調試的寄存器，用戶可以通過點擊在圖中顯示出的每個寄存器前方的選擇按鈕311進行選擇，比如圖:3B中選擇的「第二寄存器」和「第三寄存器」被選擇後，在其名稱的前方被標記上「 V」的標識，然後可以在調試方式選擇區306中，選擇出對應的希望進行的調試方式，比如選擇「第一方式」，則在結果編輯區308中，顯示出了相應的組合結果，比如圖3B中所示的選擇以「第一方式」進行調試的功能模塊或寄存器包括「第二模塊」中的「第二寄存器」和「第三寄存器」。在圖3C中，在功能模塊選擇區302中，可以直接選擇對應的模塊，而不必進行具體的寄存器的選擇，比如可以通過點擊如圖3B中所示的「第二模塊」或「第三模塊」後面的選擇按鈕311而直接進行選擇，並在調試方式選擇區306中進行對應的調試方式的選擇。然後，在結果編輯區308中，可以查看最後的選擇結果並進行編輯，具體的編輯方式，比如可以對採用某種調試方式的某個寄存器或功能模塊進行刪除，並重新從功能模塊選擇區302 等進行添加。
最後，通過點擊處理區310中的「生成」按鍵，進行生成對應於用戶的選擇指令的調試命令或包含該調試命令的數據包；通過點擊處理區310中的「錄入」按鍵，將生成的調試命令或包含該調試命令的數據包發送至通過UART接口連接至控制主機的SOC晶片；通過點擊處理區310中的「運行」按鍵，則SOC晶片運行得到的調試命令或通過解析數據包得到的調試命令，並將得到的調試結果反饋至控制主機，由用戶進行查看和分析。需要說明的是，上述由圖形用戶界面300 「生成」調試命令、「確定」選擇對象的過程，本領域的技術人員應該理解為由安裝有該圖形用戶界面300的控制主機，根據圖形用戶界面300接收到的用戶操作指令，生成對應的調試命令、確定選擇對象。圖4示出了根據本發明的實施例的SOC晶片的調試系統的示意圖。如圖4所示，根據本發明的實施例的SOC晶片的調試系統400，包括上位機402 (相當於上文所述的控制主機)、硬體調試工具406(相當於上文所述的電平轉換工具)和SOC 晶片408，其中，上位機402和硬體調試工具406之間通過RS-232接口進行連接，而硬體調試工具406和SOC晶片408之間通過UART接口進行連接，具體而言，由硬體調試工具406 通過UART接口連接至SOC晶片408中的處理器410。上位機402中包含有上位機軟體404(相當於上文所述的圖形用戶界面)，可以由用戶根據需要，在SOC晶片408中的多個功能模塊412中，選擇出希望進行調試的功能模塊 412甚至功能模塊412中的一個或多個寄存器，並選擇出對應於功能模塊412的調試方式， 則上位機軟體404根據用戶的選擇指令，自動生成對應的調試指令，並進行打包生成數據包，然後發送至SOC晶片408運行，實現對SOC晶片408調試過程的批處理。在利用UART接口時，為了支持對SOC晶片408內部一個或多個寄存器的讀寫、晶片測試及調試功能，需要定義傳輸數據的協議，包括讀寫操作以及應答，具體如表1所示。IbyteIbyteIbyteIbyteIbyteCommandPageAddrSubAddrDataLengthHighDataLengthLowData
表1數據包格式
其中
Command Ibyte
Command(7:4)Check Way(3:0)對於Command這高4個Bit 用來表示讀寫命令。(1)用0001表示讀寄存器；(2)用1000表示寫寄存器。對於Check Way這低4個Bit 用來表示校驗方式。(1)用0000表示無校驗；(2)用0001表示校驗和校驗。PageAddr Ibyte 可表示 256 頁；
SubAddr Ibyte 可表示 256 個寄存器；DataLength :2byte 高字節在前,其中 DataLengthHigh 為高字節，DataLengthLow 為低字節。
(1)若CheckWay為0則無校驗DataLength =實際數據的長度；(2)若CheckWay為1則表示校驗和校驗Datalength =實際數據長度+1 (Checksum 為 lbyte)。發送讀指令時，其後不需要添加Data部分；發送寫指令時，其後Data的字節數應與DataLength保持一致。響應信號(1)如果上位機軟體404接收到數據並驗證成功且動作完成則發送0x02 ；(2)如果上位機軟體404接收到但驗證未成功或動作完成出錯則發送0x04。而針對上述定義的協議，上位機軟體404對於包含有調試命令的數據包進行打包生成時，也需要參考如表1所示的參數，具體而言，當在上位機軟體中進行批處理操作時， 首先要選中要操作的某個模塊、某些模塊或者整個晶片，這樣就包含了選中目標的所有寄存器，然後再進行讀寫操作，在進行批處理時，上位機軟體404會根據選擇模塊的不同，按照表1定義的數據包格式打包數據，其中command定義操作類型，比如讀操作或者寫操作， 還有定義數據校驗類型。根據所要操作模塊的不同，I^geAddr的內容也不同，這是本方法預先對每個功能模塊定義好地址。當選擇批處理操作後，上位機軟體404會自動計算出所要發送數據包的長度，然後給數據包中的DataLengthHigh和DataLengthLow賦值，經過上述過程，完成對批處理操作的自動打包和發送。此外，SOC晶片408接收到這些指令數據後進行解析，正確識別後，處理器410執行相應的並行總線讀寫操作，讀操作時需要返回上位機402需要的數據，如果接收到出錯的應答則要重發。這樣就形成一套對SOC晶片408調試的流程。以上結合附圖詳細說明了本發明的技術方案，考慮到相關技術中，採用的USB或 JTAG接口不通用，會導致調試成本的提高，或者無法實現UART接口下調試的批處理，因此， 本發明通過提供了一種SOC晶片的調試方法和一種SOC晶片的調試系統，可以由UART接口實現對SOC晶片的調試，極大地降低了調試過程的費用，同時，採用圖形用戶界面接收操作指令，從而生成調試命令，便於實現對SOC晶片的批處理，提升調試效率。以上所述僅為本發明的優選實施例而已，並不用於限制本發明，對於本領域的技術人員來說，本發明可以有各種更改和變化。凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護範圍之內。
權利要求
1.一種SOC晶片的調試方法，其特徵在於，包括步驟102，將所述SOC晶片通過UART接口連接至電平轉換裝置，並將所述電平轉換裝置連接至控制主機；步驟104，所述控制主機將通過圖形用戶界面接收到的調試操作指令生成調試命令； 步驟106，所述電平轉換裝置對所述調試命令進行電平轉換，生成電平轉換調試命令； 步驟108，所述SOC晶片獲取並運行所述電平轉換調試命令。
2.根據權利要求1所述的SOC晶片的調試方法，其特徵在於，還包括所述控制主機通過所述圖形用戶界面接收選擇操作指令，並根據所述選擇操作指令確定調試對象，其中，所述調試對象包括所述SOC晶片中的至少一個寄存器、所述SOC晶片中的至少一個功能模塊和/或所述SOC晶片。
3.根據權利要求2所述的SOC晶片的調試方法，其特徵在於，還包括所述控制主機根據確定的調試對象的屬性，選擇對應的打包方式並對所述調試命令進行打包，生成調試數據包；以及所述SOC晶片獲取所述調試數據包，對所述調試數據包進行解析得到所述調試命令， 並運行所述調試命令。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的SOC晶片的調試方法，其特徵在於，所述SOC晶片使用包括在所述SOC晶片中的基於UART接口協議的驅動軟體運行來自所述控制主機的所述調試命令。
5.根據權利要求1至4中任一項所述的SOC晶片的調試方法，其特徵在於，還包括 所述SOC晶片在運行所述調試命令時，對所述調試對象進行寫操作和/或讀操作；在對所述調試對象進行所述讀操作後，所述SOC晶片向所述控制主機反饋讀取數據， 並接收來自所述控制主機的確認信息；以及在所述確認信息為失敗信息時，所述SOC晶片向所述控制主機重新發送所述讀取數據，直至所述確認信息為成功信息。
6.一種SOC晶片的調試系統，其特徵在於，包括 所述SOC晶片、電平轉換裝置和控制主機，其中，所述控制主機，連接至所述電平轉換裝置，包含圖形用戶界面，具體包括 指令接收單元，通過所述圖形用戶界面接收用戶的調試操作指令； 生成單元，根據所述指令接收單元接收到的所述調試操作指令，生成調試命令； 發送單元，將所述調試命令發送至所述電平轉換裝置； 所述電平轉換裝置，通過UART接口連接至所述SOC晶片，包括 傳送單元，從所述控制主機獲取所述調試命令，或將生成的電平轉換調試命令發送至所述SOC晶片；電平轉換單元，對來自所述傳送單元的所述調試命令進行電平轉換，生成所述電平轉換調試命令；所述SOC晶片，包括命令接收單元，通過所述UART接口接收來自所述電平轉換裝置的所述電平轉換調試命令；運行單元，運行所述電平轉換調試命令。
7.根據權利要求6所述的SOC晶片的調試系統，其特徵在於，所述指令接收單元還用於通過所述圖形用戶界面接收所述用戶的選擇操作指令；以及所述控制主機還包括對象確定單元，根據所述指令接收單元接收到的所述選擇操作指令，確定調試對象，其中，所述調試對象包括所述SOC晶片中的至少一個寄存器、所述SOC晶片中的至少一個功能模塊和/或所述SOC晶片。
8.根據權利要求7所述的SOC晶片的調試系統，其特徵在於，所述控制主機還包括 調製單元，根據確定的調試對象的屬性，選擇對應的打包方式並對所述調試命令進行打包，生成調試數據包；所述發送單元還用於將所述調試數據包發送至所述電平轉換裝置； 所述傳送單元還用於從所述控制主機獲取所述調試數據包，或將電平轉換調試數據包發送至所述SOC晶片；所述電平轉換單元還用於對所述調試數據包進行電平轉換，生成所述電平轉換調試數據包；所述SOC晶片還包括數據包接收單元，通過所述UART接口接收來自所述電平轉換裝置的所述電平轉換調試數據包；解析單元，對所述數據包接收單元接收到的所述電平轉換調試數據包進行解析，得到所述調試命令。
9.根據權利要求6至8中任一項所述的SOC晶片的調試系統，其特徵在於，所述SOC晶片中集成有基於UART接口協議的驅動軟體；以及所述運行單元使用所述基於UART接口協議的驅動軟體運行所述調試命令。
10.根據權利要求6至9中任一項所述的SOC晶片的調試系統，其特徵在於，在所述SOC 晶片中，所述運行單元還包括寫操作子單元，在運行所述調試命令時，對所述調試對象進行寫操作； 讀操作子單元，在運行所述調試命令時，對所述調試對象進行讀操作； 所述SOC晶片還包括反饋單元，在所述讀操作子單元對所述調試對象進行所述讀操作後，向所述控制主機發送讀取數據或接收來自所述控制主機的確認信息；處理單元，在所述反饋單元接收到的所述確認信息為失敗信息時，控制所述反饋單元重新發送所述讀取數據，直至所述確認信息為成功信息。
全文摘要
本發明提供了一種SOC晶片的調試方法，包括步驟102，將SOC晶片通過UART接口連接至電平轉換裝置，並將電平轉換裝置連接至控制主機；步驟104，控制主機將通過圖形用戶界面接收到的調試操作指令生成調試命令；步驟106，電平轉換裝置對調試命令進行電平轉換，生成電平轉換調試命令；步驟108，SOC晶片獲取並運行電平轉換調試命令。相應地，本發明還提供了一種SOC晶片的調試系統。通過本發明的技術方案，可以由UART接口實現對SOC晶片的調試，極大地降低了調試過程的費用，同時，採用圖形用戶界面接收操作指令，從而生成調試命令，便於實現對SOC晶片的批處理，提升調試效率。
文檔編號G06F11/26GK102495781SQ20111039042
公開日2012年6月13日 申請日期2011年11月30日 優先權日2011年11月30日
發明者徐衛 申請人:青島海信信芯科技有限公司