探針測試裝置的製作方法
2023-10-10 14:45:49 1
專利名稱：探針測試裝置的製作方法
技術領域：
本實用新型有關一種探針測試裝置，尤指其可控制探針進行上升偏轉及下降偵測，而可加大操作空間及防止探針及待測電路板受損。
早期的此類探針裝置均使用斜角探測，也即將待測電路板設置在一斜置平臺的表面，然後驅動探針位移以進行偵測，但此種傳統探針裝置對於不同位置難以進行精確探測。為此，有使用可旋轉的探針，使已定位的探針可垂直旋轉下降以觸接及探險測電路板。但其缺點則是，直接旋轉的探針與待測電路板間的空間非常狹小，使待測電路板不容易放入，此為其缺點之一；再者，由於在短行程進行旋轉，使探針容易因其弧度旋轉動作而碰觸電路板，探針及待遇測電路板因而受損的情況時常發生。
在較佳實施例中，上述測試平臺可進行傾斜角度及垂直高度位移的調整。本實用新型的新穎性及其它特點將配合以下附圖及較佳實施例的詳細說明而明了。
圖2為
圖1的後視立體圖。
圖3為圖1的橫向成排探針的斷面剖視圖。
圖4為顯示圖3探針受控上升。
圖5為顯示圖4探針受控偏轉。
圖6為顯示圖5探針受控下降探測。
圖7為圖1的傾斜及高度調整機構圖。
圖8為圖1的側視及局部剖視圖。
圖9為圖8的調整動作圖。標號說明10平臺20橫向成排探針21探針22探針座23共同軸 24導塊25、26承架27導軌30縱向成排探針40中間板
50底板60傾斜調整機構61短支件 62長支件63手輪64螺杆65支板66前端70高度調整機 71控制柄72螺杆73、74定位塊75推塊76、77滾動立板78、79滾輪761、771頂斜面上述測試平臺10的中間主要大部分區域可供放置待測電路板，並將橫向成排探針20及縱向成排探針30設在接近平臺10的上側緣及左側緣位置。上述縱橫排探針20、30均以同等方式組裝定位及以同等氣動裝置加以驅控，以下將以橫向成排探針20為例加以說明。
請同時參閱圖1、圖3，該橫向成排探針20包括多數間隔探針21，此等探針21均被定位於探針座22，每一探針座22被固接於一共同軸23。並使該共同軸23兩端接合連動於導塊24，此等導塊24被接合於兩側承架25、26的內側導軌27。上述構件能以此一裝置的氣動控制系統以多數進排氣接管201、202、203、204分別驅控其上升、偏轉及下降動作。
上述被以水平向常態定位於探針座22的探針21因而可如圖4所示先行受控上升，再如圖5所示受控垂直偏轉，使探針21朝下；然後即可如圖6所示般使其下降探測已置於平臺10表面的電路板(圖未示)。
而為方便操作人員操控此一裝置，在較佳實施例中，如圖2、7、8所示，本實用新型在平臺10與中間板40之間設有一傾斜調整機構60，其主要包括，使平臺10底面的前後端分別支設於一前短支件61以及一後長支件62，平臺10的底部前後端分別與該等到支件61、62活動樞接。一調整手輪63的螺杆64則被定位於一含內螺孔的支板65，並使其螺杆前端66接合連動上述長支件61。使整個操作平臺10可上述手輪63及其螺杆64的轉動而被調整成如圖9所示的傾斜角度。
在上述中間板40與底板50間所設的垂直高度調整機構70則包括一控制柄71供轉控一螺杆72，此螺杆72被定位於兩前後定位塊73、74，並使其螺牙桿身穿過一含有相對內螺孔的推塊75。兩活動立板76、77則設於推塊75的端而，此等活動立板76、77均分別預設頂斜面761、771。一組被定位壓靠於上述活動立板頂斜面761、771的滾輪78、79則被固接於中間板40。使上述控制柄71旋轉時，其螺杆72於推塊75相對內螺孔中的轉動而驅使推塊75向前，兩立板76、77同步位移，而能使滾輪78、79位於頂斜在761、771不同斜度位置，整個中間板40因而可被調整至不同高度位置，相對使其上方的平臺10可如圖9所示調至不同直高度位置。
上述的預設傾斜角度及垂直高度調整機構60、70因而可隨需要平臺10調整至不同的傾斜角度及高度，而可適用不同坐姿高度的操作人員以及不同的探測需求。
本實用新型因而能在測試平臺調整至所需位置後，其探針先上升以加大探針與待測電路板的操作空間，防止不慎碰撞受損情況發生，使用效益增加，具有產業上得用價值，依法提出專利申請。
權利要求1.一種探針測試裝置，其在一可供在表面放置待測電路板的測試平臺接近側端緣處分別設有成排縱向及橫向探針；該等成排探針分別設有多數間隔探針，此等探針均被定位於探針座，每一探針座被固接於一共同軸，並使共同軸兩端接合連動於導塊；該等導塊被接合於兩側預設承架的內側導軌；依上述成排探針因而能以預設氣動控制系統驅控使其先行上升以加大探針與待測電路板間的操作空間，並在探針受控偏轉後下降探測。
2.如權利要求1所述的探針測試裝置，其特徵在於該測試平臺底面進一步設有一中間板及一底板，而可供於平臺與中間板之間預設一傾斜調整機構，及在中間板與底板之間設有一高度調整機構。
3.如權利要求2所述探針測試裝置，其特徵在於其中，該傾斜調整機構包括使上述平臺底面的前後端分別支設於一前短支件及一後長支件；平臺底部前後端分別與該等到支件活動樞接；一調整手輪的預設螺杆則定位於一含內螺孔的支板，並使用該螺杆前端接合連動上述長支件。
4.如權利要求3所述的探針測試裝置，其特徵在於其中，該高度調整機構包括一用以轉螺杆的控制柄，上述螺杆定位於兩前後定位塊，並使其螺矛桿身穿過一含有相對內螺孔的推塊；兩活動立板設於推塊端面，並分別預設頂斜面，一組滾輪則被固接連動中間板並壓靠於上述活動立板的頂斜面。
專利摘要一種探針測試裝置,其在一可供在表面放置待測電路板的測試平臺接近側端緣處分別設有成排縱向及橫向探針;該等成排探針分別設有多數間隔探針,此等探針均被定位於探針座,且每一探針座固接於一共同軸,並使共同軸兩端接合連動於導塊,該等導塊被接合於兩側預設承架的內側導軌;依上述成排探針因而能以預設氣動控制系統驅控使其先行上升以加大探針與待測電路板間的操作空間,並在探針受控偏轉後下降探測。在較佳實施例中,平臺底面還可設置一中間板及一底板,供在平臺與中間板之間預設一傾斜高速機構,而在中間板及底板之間預設一高度調整機。
文檔編號G01R1/073GK2519281SQ0220049
公開日2002年10月30日 申請日期2002年1月9日 優先權日2002年1月9日
發明者呂金湶 申請人:中臺探針實業有限公司