X射線檢查裝置的製作方法
2023-10-10 21:41:39 4
專利名稱：X射線檢查裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種x射線檢查裝置。
背景技術：
在x射線檢查裝置中，從x射線源向物品照射x射線，通過x
射線傳感器檢測出透過物品的透過X射線。然後比較在X射線傳感器 中檢測出的透過x射線的強度與預先設定的規定的閾值，根據該比較
結果判定物品的良或不良(例如，參照下記專利文獻l)。當物品內混
入異物時，在異物的混入位置，透過x射線的強度極低。因此，能夠 將透過x射線的強度小於閾值的物品作為不良品(異物混入品)而檢
專利文獻1:日本特開2002-98653號公報
如上所述，在X射線檢查裝置中，根據透過X射線的強度與閾值 的比較結果，判定物品的良或不良。因此為了進行適當的檢查，需要 適當地設定閾值的級別。當過低地設定閾值級別時，混入異物的物品 被判定為良品。另一方面，當過高地設定閾值級別時，將信號的幹擾 等作為異物檢測出，沒有混入異物的物品被判定為不良品，其結果， 不良率(不良品佔檢査物品總數的比例)會上升。
為了將檢査基準保持一定，物品的生產線一旦運轉，在生產線的 運轉中，就不能變更閾值的設定。因此在設定的基準值不適當的情況 下，例如過低地設定閾值的級別，不良率變得異常地高，在該情況下， 為了變更閾值的設定，需要暫時使生產線的運轉停止。由此降低了生 產線的運轉率。而且，如果只憑操作者的感覺和經驗變更閾值的設定， 變更後的閾值依然不適當的情況下，需要再次停止生產線的運轉，使 運轉率更加降低。
發明內容
本發明就是鑑於上述問題而完成的發明，其目的在於得到一種通過向操作者提供變更基準值(閾值)的設定時的指標，能夠有效地進
行基準值的設定的變更作業的x射線檢査裝置。
本發明的X射線檢査裝置，從X射線照射部向物品照射X射線，通過X射線檢測部檢測透過物品的X射線，根據在上述X射線檢測部
檢測出的x射線的強度與規定的基準值的比較結果，判定物品的良或
不良，該X射線檢査裝置具有存儲單元、設定單元、判定單元、計算
單元和顯示控制單元。存儲單元存儲關於x射線強度的多個檢測數據。多個檢測數據是通過對多個物品進行檢查、在上述x射線檢測部中取
得的。設定單元設定與在對上述多個物品進行檢査中使用的實際基準值不同的假想基準值，作為上述規定的基準值。根據上述假想基準值與上述存儲單元中存儲的各檢測數據的比較結果，判定在各物品內是否有異物混入。計算單元算出假想異物混入率，作為通過上述判定單元判定為有異物混入的物品的個數佔上述多個物品的總數的比例。顯示控制單元使上述假想異物混入率顯示在顯示部上。
其中，存儲單元存儲通過對多個物品進行檢査而在上述x射線檢
測部取得的關於x射線強度的多個檢測數據。設定單元設定與在對上
述多個物品進行檢查中所使用的實際基準值不同的假想基準值，作為規定的基準值。判定單元根據假想基準值與存儲單元中存儲的各檢測數據的比較結果，判定在各物品內是否有異物混入。計算單元算出假想異物混入率，作為通過判定單元判定為有異物混入的物品的個數佔多個物品的總數的比例。而且，顯示控制單元使假想異物混入率顯示在顯示部上。因此，在需要變更實際基準值的設定的情況下，操作者利用設定單元將假想基準值設定在目標值，由此與該假想基準值對應的假想異物混入率被顯示在顯示部上。其結果，操作者使用顯示部上顯示的假想異物混入率作為指標，能夠有效地進行實際基準值的設定的變更作業。此外，假想異物混入率不是根據模擬等的預測，而是通過基於對多個物品進行實際的檢查而取得的多個檢測數據算出的，因此能夠將正確的假想異物混入率提供給操作者。
5另外，上述多個物品優選是在實際運轉的生產線中通過上述x射線檢査裝置檢査的物品。使用通過實際運轉的生產線的x射線檢查裝
置而取得的檢測數據，能夠求出假想異物混入率，因此沒有必要為了求出假想異物混入率而停止生產線的實際運轉、進行測試運轉。其結果，能夠提高生產線的運轉率。
另外，優選在上述顯示部上一併顯示根據上述實際基準值算出的實際異物混入率、和上述假想異物混入率。因為在顯示部上一併顯示實際異物混入率和假想異物混入率，所以操作者能夠在顯示部上通過目視容易對現在的實際異物混入率和基準值變更後的假想異物混入率進行比較。其結果，能夠有效地進行基準值的設定的變更作業。
另外，優選地，使用多個檢測算法，每個檢測算法都可能檢測出異物，上述設定單元可以對每個檢測算法設定上述假想基準值，上述判定單元用每個檢測算法判定是否有異物混入，上述計算單元對於每個檢測算法都算出上述假想異物混入率，在上述顯示部上顯示每個檢測算法的上述假想異物混入率。通過設定單元，對於每個檢測算法，將假想基準值按期望設定，由此在顯示部上顯示每個檢測算法的假想異物混入率，因此，操作者使用在顯示部上顯示的各個檢測算法的假想異物混入率作為指標，能夠有效地進行每個檢測算法的實際基準值的設定的變更作業。
另外，優選地，根據每個檢測算法的是否有異物混入的判定結果，判定物品的良或不良，在上述顯示部上一併顯示每個檢測算法的上述假想異物混入率和物品的不良率。因為在顯示部上一併顯示每個檢測算法的假想異物混入率和物品的不良率，所以操作者能夠一邊通過目視確認顯示部上顯示的這些信息， 一邊尋找用於達到目標的不良率的每個檢測算法的假想基準值的組合。
另外，優選地，上述設定單元在上述顯示部上能夠設定上述假想基準值，在上述顯示部上顯示上述假想基準值的設定所允許的界限值。因為在顯示部上顯示假想基準值的設定所允許的界限值，所以能夠預
先避免因操作者設定了超出允許範圍的非現實的基準值而使x射線檢
査裝置的檢査精度極度降低的情況。
另外，優選地，在上述顯示部上顯示從上述x射線照射部照射的X射線的強度。因為在顯示部上顯示從X射線照射部照射的X射線的強度，所以在X射線照射部的X射線源發生故障和隨時間劣化等問題
時，操作者通過參考顯示部上顯示的關於x射線的強度的信息，能夠知道x射線源發生問題。其結果，能夠預先避免不知道x射線源發生
問題而徒勞地進行基準值的變更作業的情況。
圖i是表示本發明實施方式的x射線檢查裝置的構成例的正視圖。
圖2是表示X射線檢查裝置的其他構成例的正視圖。
圖3是表示計算機的構成的框圖。
圖4是表示閾值的設定例的圖。
圖5是表示閾值的其他設定例的圖。
圖6是顯示將存儲單元中存儲的多個檢測數據圖表化的圖。圖7是表示在閾值變更時的動作中顯示在顯示部上的圖像的例子的圖。
圖8是表示第一變形例的判定單元的構成的框圖。
圖9是表示在閾值變更時的動作中顯示在顯示部的圖像的例子的圖。
圖10是表示因隨時間劣化從X射線照射部照射的X射線的強度
降低狀況的圖。
圖11是表示與圖7對應、在閾值變更時的動作中顯示在顯示部上的圖像的例子的圖。
圖12是表示與圖9對應、在閾值變更時的動作中顯示在顯示部上的圖像的例子的圖。
附圖標記說明
1 X射線檢査裝置；4 X射線照射部；5 X射線檢測部；9顯示部；10 計算機；22存儲單元；23程序；24設定單元；25判定單元；26計算單元；27顯示控制單元；100物品。
具體實施例方式
以下，利用附圖對本發明的實施方式進行詳細地說明。其中，在不同的附圖中標有相同的附圖標記的要素表示相同或相應的要素。
圖1是表示根據本發明的實施方式的X射線檢查裝置1的構成例的正視圖。在屏蔽箱2上形成有用於從外部將作為檢査對象的食品等物品100搬入屏蔽箱2內的物品搬入口 3A和用於從屏蔽箱2將檢查後的物品100搬出到外部的物品搬出口3B。另外，在圖2中，為了清楚顯示屏蔽箱2的內部的結構，顯示了取下屏蔽箱2的前面板的狀態的裝置結構。
在屏蔽箱2的內部配置有X射線照射部4和X射線檢測部5。 X射線檢測部5具有線傳感器6。線傳感器6沿著垂直於紙平面的方向延伸放置。X射線照射部4向著線傳感器6照射扇形形狀的X射線。也就是說，X射線照射部4與線傳感器6之間的空間被規定為X射線照射路徑。
另外，在屏蔽箱2內配置有輸送設備7。輸送設備7具有巻裝在包括驅動輥的多個輥上的輸送帶8。輸送設備7將載置在輸送帶8的物品輸送面上的物品100，以使得該物品100通過X射線照射部4與線傳感器6之間的X射線照射路徑的方式進行輸送。在圖1所示的例子中，物品100由輸送設備7沿箭頭D1所示的方向輸送。也就是說，紙面的左側是物品輸送方向的上遊側，右側是下遊側。
另外，X射線檢査裝置1具有帶觸摸面板功能的顯示部9。由X射線檢査裝置1得到的物品100的檢査結果顯示在顯示部9上。另外，用於處理X射線檢測部5的檢測數據、並控制X射線檢査裝置1的動作的計算機10內置於X射線檢查裝置1中。
作為檢査對象物的物品100從X射線檢査裝置1的上遊側(圖1中的左側)向輸送帶8的上遊端(圖1中的左側)供給。載置在輸送帶8上的物品100在屏蔽箱2內從上遊向下遊輸送，都通過X射線照射路徑。從X射線照射部4照射而透過物品100的X射線被X射線檢測部5的線傳感器6檢測。在物品100內混入異物時，在該異物的混入位置，線傳感器6所檢測出的透過X射線的強度極低。因此，根據線傳感器6所檢測出的透過X射線的強度分布，能夠判定物品100內的異物的有無、大小、混入位置等。
圖2是表示X射線檢査裝置1的其他構成例的正視圖。與圖1所示的構成例不同，計算機10不是內置於X射線檢查裝置1，而是通過
信號電纜從外部連接於x射線檢查裝置。
圖3顯示圖1或圖2所示的計算機10的構成的框圖。計算機10 被構成為具有CPU20、 RAM等存儲器21、硬碟等存儲單元22。存儲 單元22可以是CPU20的內部存儲器。存儲器21內存儲有規定的程序 23。 CPU20從存儲器21讀出程序23並執行，由此CPU20作為設定單 元24、判定單元25、計算單元26和顯示控制單元27發揮作用。也就 是說，程序23是使計算機10作為存儲單元22、設定單元24、判定單 元25、計算單元26和顯示控制單元27發揮作用的程序。
本實施方式的X射線檢査裝置1的動作被大致分為使用現在設定 的閾值進行物品100的檢査的動作(以下稱為"通常時的動作")和變 更設定的閾值時的動作(以下稱為"閾值變更時的動作")。
在通常時的動作中，向CPU20輸入關於由X射線檢測部5取得的 透過X射線的強度的檢測數據Sl 。判定單元25將檢測數據Sl表示的 透過X射線的強度與現在設定的閾值(以下稱為"實際基準值")進行 比較，由此判定在物品100內是否有異物混入。顯示控制單元27生成 並輸出用於使檢査結果顯示在顯示部9上的圖像信號S2。
X射線檢査裝置1對從位於上遊的裝置連續或間歇地供給的多個 物品IOO，反覆執行同樣的檢査。存儲單元22存儲關於最近的規定期 間內已被檢查的多個物品100 (以下稱為"對象物品100")的、由X 射線檢測部5取得的多個檢測數據Sl。
在變更閾值時的動作中，通過使用者的操作，設定單元24設定期 望的假想基準值。在本說明書中，所謂假想基準值是指與關於對象物 IOO的實際檢査中所使用的實際基準值不同的閾值。也就是說，變更實 際基準值時的變更候補的閾值為假想基準值，將閾值向假想基準值的 變更動作確定之後，假想基準值就變成實際基準值。
判定單元25將由設定單元24設定的假想基準值與存儲在存儲單 元22內的各檢測數據Sl進行比較。然後，根據其比較結果，判定假 設不是實際基準值而設定了假想基準值的情況下的各對象物100內是 否有異物混入。
計算單元26根據對象物品100的總數和由判定單元25判定為混入異物的物品100的個數，算出異物混入率(以下，稱為"假想異物 混入率")。也就是說，計算單元26根據在假設設定了假想基準值的情 況下由判定單元25判定為混入異物的物品100的個數佔對象物品100 的總數的比例，來算出假想異物混入率。
顯示控制單元27生成並輸出用於使包括由計算單元26算出的假 想異物混入率的圖像顯示在顯示部9上的圖像信號S2。關於向顯示部 9顯示圖像的例子在後面詳細說明。
圖4是表示閾值的設定的例子的圖。圖中所示的曲線的橫軸為輸 送帶8的寬度方向的位置，縱軸為由X射線檢測部5檢測出的透過X 射線的強度。在透過X射線的強度分布K1中，對應於物品100的形 狀，透過X射線的強度降低。另外，在強度分布K1中，對應於異物 的混入位置，產生透過X射線的強度降低的方向的峰值P1。另外，在 強度分布K1中，產生對應於信號的幹擾的峰值P2。
在X射線檢測部5得到強度分布Kl中的X射線強度的最小值作 為檢測數據S1。圖4所示的例子中，得到峰值P1的尖端位置的強度值 作為關於該物品100的檢測數據Sl的值。
判定單元25，在檢測數據S1的值為閾值以上的情況下，判定為該 物品100中沒有混入異物，另一方面，在檢測數據Sl的值小於閾值的 情況下，判定為該物品100中混入異物。
因此，閾值設定為H1的情況下，假設不產生峰值P1，檢測數據 Sl的值(峰值P2的尖端位置的強度值)小於閾值H1。因此，在該情 況下，會將信號的幹擾作為異物被誤檢出來。
閾值設定為H3的情況下，檢測數據Sl的值(峰值P1的尖端位置 的強度值)為閾值H3以上。因此，在該情況下，發生異物的漏檢。
在閾值設定為H2的情況下，檢測數據Sl的值(峰值P1的尖端位 置的強度值)小於閾值H2。因此，能夠正確檢測出異物。另外，假設 沒有產生峰值P1的情況下，檢測數據Sl的值(峰值P2的尖端位置的 強度值)為閾值H2以上。因此，不會將信號的幹擾作為異物誤檢出來。 因此，在圖4所示的例子中，最適當的閾值為閾值H2。
但是，有些食品製造者有時也允許混入對消費者沒有害處的微量 異物(以下稱為"允許異物")。因此，在使得產生峰值P1的異物是允許異物的情況下，從降低不良率(不良物品佔檢査物品總數的比例)
的觀點考慮，優選將閾值設定為H3。
圖5是表示閾值的其他設定的例子的圖。不是圖4所示的一定值 的閾值H1 H3，如圖5所示，也可以設定具有與良品的強度分布K1 對應的強度分布的閾值H4。
圖6是顯示將存儲單元22中存儲的多個檢測數據Sl圖表化的圖。 例如，在將閾值設定為H2時，屬於透射X射線的強度比閾值H2高的 區域(左側的區域)的物品100全部為良品，屬於透射X射線的強度 比閾值H2低的區域(右側的區域)的物品100全部為不良品。
圖7是表示在閾值變更時的動作中顯示在顯示部9上的圖像的例 子的圖。在項目40中對象物品IOO的總數被顯示為檢查總數。也就是 說，顯示在最近的規定期間內進行檢查、並被存儲在存儲單元22內的 檢測數據Sl所示的物品100的總數。
項目41中顯示當前的設定閾值(實際基準值)、對應實際基準值 的NG數(不良數)和NG發生率(不良率)、變更後的閾值(假想基 準值)、對應於假想基準值的NG數(不良數)和NG發生率(不良率)。 為了使操作者容易進行比較，這些信息中的現在的值和變更後的值以 各信息分別上下並列的方式顯示。
項目42顯示圖6所示的曲線的示意圖形43。另外，圖形43中顯 示了表示實際基準值的線45和表示假想基準值的線46。圖形43的斜 下方顯示有指向左方向的方向指示圖形48和指向右方向的方向指示圖 形49。
如果操作者按下方向指示圖形48，那麼該信息被輸入到CPU20中， 設定單元24將假想基準值變更為更高的值。相反，如果操作者按下方 向指示圖形49，那麼該信息被輸入到CPU20中，設定單元24將假想 基準值變更為更低的值。判定單元25根據變更後的假想基準值，判定 在各對象物品IOO內是否有異物混入。另外，算出單元26根據對象物 品100的總數(檢査總數)、和由判定單元25判定為混入異物的物品 100的個數(NG數)，算出假想異物混入率(NG發生率)。另外，顯 示控制單元27將圖形43中的線46向左方向或右方向移動，並在項目 41中分別顯示變更後的閾值、與其對應的NG數和NG發生率。另外，在本實施方式的X射線檢查裝置1中，根據允許異物的程
度預先設定有假想基準值的設定範圍界限值(下限值)。表示該界限值
的線47被顯示在圖形43中。如果操作者繼續按下方向指示圖形49， 由此使得線46與線47重疊，那麼即使操作者再按下方向指示圖形49， 線46也不會再往右方向移動。由此，限制將假定基準值設定為小於界 限值的值。
操作者每次按下方向指示圖形48、 49時，與其相對應，圖形43 中，線46移動，同時在項目41中，更新變更後的閾值、NG數和NG 發生率的值。因此，操作者通過參考這些信息，可以尋找例如能夠達 到目標的不良率的假想基準值。當找到適當的假想基準值時，操作者 按下顯示部9上顯示的確定按鈕50。由此，其假想基準值之後被採用 作為實際基準值，執行新的檢查。
利用這樣的根據本實施方式的X射線檢査裝置1和程序23，存儲 單元22存儲通過對對象物品100的檢查、在X射線檢測部5中得到的 關於透過X射線的強度的多個檢測數據S1。另外，在閾值變更時的動 作中，設定單元24設定與在對對象物品IOO進行檢查中使用的實際基 準值不同的假想基準值，判定單元25根據假想基準值與存儲在存儲單 元22中的各檢測數據Sl的比較結果，判定在各物品100內是否有異 物混入，計算單元26算出假想異物混入率作為由判定單元25判定混 入異物的物品100的個數佔對象物品100的總數的比例。而且，顯示 控制單元27將假想異物混入率顯示在顯示部9上。
因此，在需要變更實際基準值的設定的情況下，由設定單元24將 假想基準值按期望進行設定，由此將與該假想基準值對應的假想異物 混入率顯示在顯示部9上。其結果，操作者使用顯示在顯示部9上的 假想異物混入率作為指標，能夠有效地進行實際基準值的設定的變更 操作。而且，假想異物混入率不是根據模擬等的預測，而是基於通過 對物品IOO進行實際的檢査而取得的多個檢測數據Sl算出的，因此能 夠將正確的假想異物混入率提供給操作者。
另外，根據本實施方式的X射線檢査裝置1，能夠使用由實際運 轉的生產線的X射線檢查裝置1取得的檢測數據Sl，求出假想異物混 入率。因此，為了求出假想異物混入率，不需要停止生產線的實際運
12轉而進行測試運轉。其結果，能夠提高生產線的運轉率，
另外，根據本實施方式的X射線檢査裝置1，在顯示部9上一併 顯示實際異物混入率(圖7的項目41中的現在的NG發生率)和假想 異物混入率。因此，操作者在顯示部9上能夠通過目視容易對現在的 實際異物混入率和基準值變更後的假想異物混入率進行比較。其結果， 能夠有效地進行基準值的設定的變更作業。
另外，根據本實施方式的X射線檢査裝置1，在顯示部9上顯示 假想基準值的設定所允許的界限值(圖7的項目42中的線47)。因此， 能夠預先避免因操作者設定了超出允許範圍的非現實的基準值，而使X 射線檢査裝置1的檢査精度極度降低的情況。
第一變形例的X射線檢查裝置1使用多個檢測算法，能夠對每個 檢測算法進行異物的檢測處理。
圖8是表示第一變形例的判定單元25的構成的框圖。判定單元25 被構成為具有濾波器50A 50C、比較部51A 51C和判定部52。例如， 濾波器50A和比較部51A利用容易檢測出2mm以下的異物的檢測算 法進行異物檢測。另外，濾波器50B和比較部51B利用容易檢測出2 4mm的異物的檢測算法進行異物檢測。另夕卜，濾波器50C和比較部51 C利用容易檢測出4mm以上的異物的檢測算法進行異物檢測。
與基於由X射線檢測部5檢測的透過X射線作成的X射線透過圖 像有關的圖像信號，作為檢測數據Sl被輸入到濾波器50A 50C中。 濾波器50A 50C對每個檢測算法使用不同的濾波器係數，對圖像信 號分別執行濾波處理，分別輸出與濾波處理後的圖像信號有關的檢測 數據S1A S1C。檢測數據S1A S1C分別被輸入到比較部51A 51C。
另外，在比較部51A 51C中分別輸入閾值HA HC。閾值HA HC可以對每個檢測算法分別設定。比較部51A 51C通過分別對以各 檢測數據S1A S1C表示的透過X射線的強度和各閾值HA HC進行 比較，對每個檢測算法分別判定在物品100內是否有異物混入。與由 各比較部51A 51C得到的判定結果有關的數據S3A S3C被輸入到 判定部52中。
另外，在判定部52中輸入與判定規則有關的數據R。判定規則的內容可以例如由食品的製造者按期望設定。判定部52根據數據R和從 比較部51A 51C輸入的數據S3A S3C，判定物品100的良或不良， 輸出與該判定結果有關的數據S4。
例如，在採用設定2mm以下的異物作為允許異物的判定規則的情 況下，在數據S3A中即使被認為有異物混入，如果在數據S3B、 S3C 中被認為沒有異物混入，則判定部52也將該物品100作為良品處理。 另外，在採用沒有設定允許異物的判定規則的情況下，如果在數據 S3A S3C的任一個中被認為有異物混入，則判定部52將該物品100 作為不良品處理。
圖9是表示在閾值變更時的動作中顯示在顯示部9上的圖像的例 子的圖。在項目41中包括對應各檢測算法的項目41A 41C。項目41 中所顯示的"級別l"對應於容易檢測出2mm以下的異物的檢測算法， "級別2"對應於容易檢測出2 4mm的異物的檢測算法，"級別3" 對應於容易檢測出4mm以上的異物的檢測算法。各項目41A 41C的 內容與圖7中所示的項目41相同。
在項目42中包括與各檢測算法對應的圖形43A 43C。各圖形 43A 43C的內容與圖7中所示的圖形43相同。另外顯示了與各圖形 43A 43C對應的確定按鈕50A 50C。
另外，在項目41和項目42之間顯示項目55、 56。項目55中上下 並列地顯示基於實際基準值而判定得到的現在的不良數和基於假想基 準值判定而得到的變更後的不良數。項目56中上下並列地顯示基於實 際基準值算出的現在的不良率和基於假想基準值算出的變更後的不良 率。
在第一變形例的X射線檢查裝置1中，設定單元24能夠對每個檢 測算法設定假想基準值，判定單元25對每個檢測算法判定是否有異物 混入，計算單元26對每個檢測算法算出假想異物混入率。另外，在顯 示部9上一併顯示每個檢測算法的假想異物混入率(NG發生率)和物 品100的不良率。
以下對具有代表性的級別1的閾值變更時的動作進行說明。關於 級別2和級別3也相同，因此省略說明。
如果操作者按下方向指示圖形48A，則該信息被輸入到CPU20中，設定單元24將關於級別1的假想基準值變更為更高的值。相反，如果 操作者按下方向指示圖形49A，則該信息被輸入至CPU20中，設定單 元24將級別1有關的假想基準值變更為更低的值。判定單元25根據 關於級別1的變更後的假想基準值，判定在各對象物品100內是否有 異物混入。另夕卜，計算單元26根據對象物品IOO的總數(檢查總數) 和關於級別1由判定單元25判定為混入異物的物品100的個數(NG 數)，算出關於級別1的假想異物混入率(NG發生率)。另外，顯示控 制單元27在將圖形43A中的線46A向左方向或右方向移動的同時， 在項目41A中分別顯示關於級別1的變更後的閾值、以及對應其的NG 數和NG發生率。
操作者每次按下方向指示圖形48A、 49A，與其對應，在圖形43A 中，使線46A移動，在項目41A中，關於級別1的變更後的閾值、NG 數和NG發生率的值被更新。另外，在項目55、 56中，變更後的不良 數和不良率被更新。因此，操作者通過參照這些信息，能夠尋找例如 能夠達到目標不良率的關於級別1的假想基準值。當發現關於級別1 的適當的假想基準值時，操作者按下確定按鈕50A。由此，該假想基 準值之後作為關於級別1的實際基準值被採用，執行新的檢查。
利用這樣的根據第一變形例的X射線檢查裝置1，通過設定單元 24對每個檢測算法將假想基準值按期望設定，將每個檢測算法的假想 異物混入率顯示在顯示部9上。其結果，操作者使用顯示部9上顯示 的每個檢測算法的假想異物混入率作為指標、能夠有效地進行各檢測 算法的實際基準值的設定的變更作業。
另外，根據第一變形例的X射線檢査裝置1，在顯示部9上一併 顯示每個檢測算法的假想異物混入率和物品的不良率。因此，操作者 能夠一邊目視確認顯示部9上顯示的這些信息， 一邊尋找用於達到目 標不良率的各個檢測算法的假想基準值的組合。
圖10是表示因隨時間劣化而從X射線照射部4照射的X射線的 強度降低的狀況的圖。用虛線表示的強度分布K1是基於從初期狀態的 X射線照射部4照射的X射線的強度分布，用實線表示的強度分布Kl 是基於從隨時間劣化的X射線照射部4照射的X射線的強度分布。如圖10所示，從隨時間劣化的X射線照射部4照射的X射線的強度降 低時，由X射線檢測部5檢測的透過X射線的強度也全部降低。其結 果，即使物品100中沒有混入異物的情況下，由於強度分布K1的一部 分小於閾值H2，因此作為異物被誤檢出來。
因此，在第二變形例中，檢測從X射線照射部4照射的X射線的 強度，將該信息顯示在顯示部9上，由此使得操作者能夠了解X射線 照射部4的X射線源中發生故障或隨時間劣化的情況。
從X射線照射部4照射的X射線的強度能夠例如通過檢測與物品 100沒有重疊的部分的線傳感器的電流值，然後將該電流值換算成X 射線的強度值而求出。如圖IO所示，從初期狀態的X射線照射部4照 射的X射線的強度作為強度值M1被檢測出，從隨時間劣化的X射線 照射部4照射的X射線的強度作為強度值M2被檢測出。
圖11是與圖7對應的、表示在閾值變更時的動作中顯示在顯示部 9上的圖像的例子的圖。另外，圖12是與圖9對應的、表示在閾值變 更時的動作中顯示在顯示部9上的圖像的例子的圖。在顯示部9中另 外顯示有項目60。在項目60中上下並列地顯示關於從X射線照射部4 照射的X射線的強度的初期值和現在的值。
這樣，根據第二變形例的X射線檢查裝置1，在顯示部9上顯示 從X射線照射部4照射的X射線的強度。因此，在X射線照射部4的 X射線源中發生故障或隨時間劣化等問題時，操作者通過參照在顯示 部9上所顯示的有關X射線的強度的信息，能夠了解在X射線源中發 生問題。其結果，能夠預先避免不知道X射線源發生問題而徒勞地進 行基準值的變更作業的情況。
權利要求
1.一種X射線檢查裝置，其從X射線照射部向物品照射X射線，通過X射線檢測部檢測出透過物品的X射線，根據在所述X射線檢測部檢測到的X射線的強度與規定的基準值的比較結果，判定物品的良或不良，該X射線檢查裝置的特徵在於，包括存儲單元，其存儲通過對多個物品進行檢查、在所述X射線檢測部取得的關於X射線強度的多個檢測數據；設定單元，其設定與在檢查所述多個物品中使用的實際基準值不同的假想基準值，作為所述規定的基準值；判定單元，其根據所述假想基準值與所述存儲單元中存儲的各檢測數據的比較結果，判定在各物品內是否有異物混入；計算單元，其算出假想異物混入率，作為通過所述判定單元判定為有異物混入的物品的個數佔所述多個物品的總數的比例；和顯示控制單元，其使所述假想異物混入率顯示在顯示部上。
2. 如權利要求1所述的X射線檢查裝置，其特徵在於所述多個物品是在實際運轉的生產線中由所述X射線檢查裝置檢查的物1=1叩o
3. 如權利要求1所述的X射線檢査裝置，其特徵在於在所述顯示部上一併顯示根據所述實際基準值算出的實際異物混入率和所述假想異物混入率。
4. 如權利要求1所述的X射線檢查裝置，其特徵在於使用多個檢測算法，對每個檢測算法都能夠檢測出異物，所述設定單元對每個檢測算法都能夠設定所述假想基準值，所述判定單元對每個檢測算法都判定是否有異物混入，所述計算單元對每個檢測算法都算出所述假想異物混入率，所述顯示部顯示每個檢測算法的所述假想異物混入率。
5. 如權利要求4所述的X射線檢查裝置，其特徵在於-根據每個檢測算法的是否有異物混入的判定結果，判定物品的良或不良， 在所述顯示部上一併顯示每個檢測算法的所述假想異物混入率和物品的不良率。
6. 如權利要求1所述的X射線檢査裝置，其特徵在於 所述設定單元在所述顯示部上能夠設定所述假想基準值， 在所述顯示部上顯示所述假想基準值的設定所允許的界限值。
7. 如權利要求1 6中任一項所述的X射線檢査裝置，其特徵在於-在所述顯示部上顯示從所述X射線照射部照射的X射線的強度。
全文摘要
本發明提供一種通過向操作者提供變更基準值(閾值)的設定時的指標、能夠有效地進行變更基準值設定操作的X射線檢查裝置。該X射線檢查裝置具有存儲單元，存儲通過對多個物品進行檢查、在X射線檢測部取得的關於X射線強度的多個檢測數據；設定單元，設定與在對多個物品進行檢查中使用的實際基準值不同的假想基準值，作為規定的基準值；判定單元，根據假想基準值與存儲單元中存儲的各檢測數據的比較結果，判定在各物品內是否有異物混入；計算單元，算出假想異物混入率，作為通過判定單元判定為有異物混入的物品的個數佔多個物品的總數的比例；和顯示控制單元，使假想異物混入率顯示在顯示部上。
文檔編號G01N23/04GK101661007SQ20091016859
公開日2010年3月3日 申請日期2009年8月25日 優先權日2008年8月28日
發明者株本隆司 申請人:株式會社石田