孔徑檢驗工裝的製作方法
2023-10-04 13:28:24
孔徑檢驗工裝的製作方法
【專利摘要】本實用新型提供了一種孔徑檢驗工裝，該工裝包括：待測樣件安放支架；檢驗棒安裝體，設置在待測樣件安放支架的上方；多個規格可選擇的孔徑檢驗棒，具有通段和止段，通段的外徑小於相應規格的待測孔的內徑，止段的外徑大於待測孔的內徑，孔徑檢驗棒按照通段在下、止段在上的方向安裝在檢驗棒安裝體的下方。本實用新型提供的孔徑檢驗工裝，將多個不同規格的孔徑檢驗棒設置在檢驗棒安裝體上，可以對同一個待測樣件（邊板）上的多個孔徑進行檢驗，如果孔徑檢驗棒的通段能夠通過待測孔，而止段不能通過待測孔，則待測孔的孔徑合格，否則不合格，利用該孔徑檢驗工裝能夠大大提高邊板的孔徑檢驗效率，並且操作方便，結構簡單，易於製造。
【專利說明】孔徑檢驗工裝
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及空調器零件檢驗【技術領域】，特別地，涉及一種孔徑檢驗工裝。
【背景技術】
[0002]邊板是空調器核心部件(蒸發器、冷凝器)上的重要零件，邊板上孔徑的大小，會影響與之配合的銅管脹管後的質量。如果邊板孔徑尺寸偏大，則脹管後銅管會有鬆動，如果邊板尺寸偏小，則脹管後會導致銅管割裂。因此邊板孔徑的大小為邊板重點控制尺寸。而且，邊板的結構是直徑不同的孔間隔排列(通常為兩種不同直徑的孔)，而邊板的孔距、列距
是一定的。
[0003]目前，對邊板的孔徑控制是使用標準通止規檢驗，在檢驗時要對每個邊板孔分別進行通端、止端的檢驗(即:對第一種孔徑的邊板孔先進行下公差的通端檢驗，再進行上公差的止端檢驗，然後再對第二種孔徑的邊板孔先進行下公差的通端檢驗，再進行上公差的止端檢驗)。因此要對每一個邊板上的孔檢驗兩次，而且檢驗過程需要多次更換標準通止規，影響檢驗效率。
實用新型內容
[0004]本實用新型目的在於提供一種孔徑檢驗工裝，以解決現有技術中，對邊板孔的孔徑測量步驟繁瑣的技術問題。
[0005]為實現上述目的，本實用新型提供了一種孔徑檢驗工裝，包括:待測樣件安放支架；檢驗棒安裝體，設置在待測樣件安放支架的上方；多個規格可選擇的孔徑檢驗棒，具有通段和止段，通段的外徑小於相應規格的待測孔的內徑，止段的外徑大於待測孔的內徑，孔徑檢驗棒按照通段在下、止段在上的方向安裝在檢驗棒安裝體的下方。
[0006]進一步地，孔徑檢驗棒的通段所在的一端呈錐形。
[0007]進一步地，檢驗棒安裝體包括:第一安裝板，具有沿上下方向延伸的導向孔，導向孔內設置有推頂孔徑檢驗棒的推頂彈性件，推頂彈性件的上端與第一安裝板相連，推頂彈性件的下端與孔徑檢驗棒的頂端相連。
[0008]進一步地，檢驗棒安裝體還包括:第二安裝板，設置在第一安裝板的下面，並具有多個與導向孔同軸的T形孔，孔徑檢驗棒的止段所在的一端形成有與T形孔的內徑大的孔段相配合的環臺。
[0009]進一步地，環臺的外徑以及孔徑檢驗棒的位於T形孔內的部分的外徑與T形孔的內壁之間形成有便於孔徑檢驗棒的下端擺動的活動空間。
[0010]進一步地，本實用新型提供的孔徑檢驗工裝，還包括升降機構，設置在待測樣件安放支架的一側，升降機構包括:升降導向柱，沿與孔徑檢驗棒的軸向平行的方向延伸；升降定位塊，沿升降導向柱的延伸方向高度可調地固定在升降導向柱的一側，檢驗棒安裝體與升降定位塊相連。
[0011]進一步地，升降導向柱的一側設置有讓位槽，讓位槽內設置有升降調節螺杆，升降調節螺杆的延伸方向與升降導向柱的延伸方向相同；升降定位塊的與升降導向柱相對的側面上設置有與升降調節螺杆相配合併沿升降調節螺杆可移動的螺母。
[0012]進一步地，讓位槽的槽口端面上還設置有與升降調節螺杆的延伸方向平行的導軌，升降定位塊上形成有與導軌相配合的滑槽。
[0013]進一步地，升降機構還包括:升降操作手柄，設置在升降導向柱的頂端，升降操作手柄與升降調節螺杆的上端相連。
[0014]進一步地，待測樣件安放支架包括:待測樣件支撐板，具有檢驗棒讓位孔；支腿，支撐在待測樣件支撐板的下方；墊塊，設置在支腿的下端。
[0015]進一步地，本實用新型提供的孔徑檢驗工裝，還包括檢驗基座，檢驗基座包括:底板，待測樣件安放支架和升降機構均設置在底板上；底板支腳，支撐在底板的下方。
[0016]本實用新型具有以下有益效果:
[0017]本實用新型提供了一種孔徑檢驗工裝，該工裝包括:待測樣件安放支架；檢驗棒安裝體，設置在待測樣件安放支架的上方；多個規格可選擇的孔徑檢驗棒，具有通段和止段，通段的外徑小於相應規格的待測孔的內徑，止段的外徑大於待測孔的內徑，孔徑檢驗棒按照通段在下、止段在上的方向安裝在檢驗棒安裝體的下方。本實用新型提供的孔徑檢驗工裝，將多個不同規格的孔徑檢驗棒設置在檢驗棒安裝體上，可以對同一個待測樣件(邊板)上的多個孔徑進行檢驗，如果孔徑檢驗棒的通段能夠通過待測孔，而止段不能通過待測孔，則待測孔的孔徑合格，否則不合格，利用該孔徑檢驗工裝能夠大大提高邊板的孔徑檢驗效率，並且操作方便，結構簡單，易於製造。
[0018]除了上面所描述的目的、特徵和優點之外，本實用新型還有其它的目的、特徵和優點。下面將參照圖，對本實用新型作進一步詳細的說明。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0019]構成本申請的一部分的附圖用來提供對本實用新型的進一步理解，本實用新型的示意性實施例及其說明用於解釋本實用新型，並不構成對本實用新型的不當限定。在附圖中:
[0020]圖1是本實用新型優選實施例的孔徑檢驗工裝的立體結構示意圖；以及
[0021]圖2是本實用新型優選實施例的孔徑檢驗棒與檢驗棒安裝體之間的安裝結構示意圖。
【具體實施方式】
[0022]以下結合附圖對本實用新型的實施例進行詳細說明，但是本實用新型可以由權利要求限定和覆蓋的多種不同方式實施。
[0023]如圖1所示，本實用新型提供了一種孔徑檢驗工裝，包括:待測樣件安放支架10 ；檢驗棒安裝體30，設置在待測樣件安放支架10的上方；多個規格可選擇的孔徑檢驗棒50，具有通段51和止段53，通段51的外徑小於相應規格的待測孔的內徑，止段53的外徑大於待測孔的內徑，孔徑檢驗棒50按照通段51在下、止段53在上的方向安裝在檢驗棒安裝體30的下方。本實用新型提供的孔徑檢驗工裝，按照邊板的孔距、列距的設計標準，設計通止規的檢驗棒安裝體30,將不同孔徑規格的孔徑檢驗棒50間隔排布安裝在檢驗棒安裝體30的下方，並且將孔徑檢驗棒50的通段51朝下設置、止段53朝上設置，檢驗時，如果孔徑檢驗棒50的通段51通過待測樣件的孔，而止段53沒有通過待測樣件的孔，則說明待測樣件的孔徑合格，否則，不合格。利用本實用新型提供的孔徑檢驗工裝，可以一次完成對邊板孔的檢驗，大大提聞了檢驗效率。
[0024]為了使孔徑檢驗棒50能夠更加順利地進入到待測孔徑內，孔徑檢驗棒50的通段51所在的一端呈錐形。具體地，通段51所在的一端，即孔徑檢驗棒50的下端可以設計成圓錐形，且圓錐的頂端朝下設置，這樣，與圓形柱形的端部相比，圓錐形的下端更容易進入到待測孔內，提高工作效率。
[0025]為了實現孔徑檢驗棒50的安裝，檢驗棒安裝體30包括第一安裝板31，該第一安裝板31具有沿上下方向延伸的導向孔，並且，導向孔內設置有推頂孔徑檢驗棒50的推頂彈性件40，推頂彈性件40的上端與第一安裝板31相連，推頂彈性件40的下端與孔徑檢驗棒50的頂端相連。推頂彈性件40可以為彈簧或彈片等彈性件，利用該推頂彈性件40，可以向孔徑檢驗棒50提供向下的推力，推動孔徑檢驗棒50進入到待測孔徑內，並且，利用導向孔的導向，可以控制孔徑檢驗棒50沿垂直方向的位移，從而實現各個孔徑檢驗棒50在垂直方向上互不影響。
[0026]為了保證孔徑檢驗棒50的整齊排列，檢驗棒安裝體30還包括第二安裝板33，設置在第一安裝板31的下面，並具有多個與導向孔同軸的T形孔，孔徑檢驗棒50的止段53所在的一端形成有與T形孔的內徑大的孔段相配合的環臺55。利用T形孔和環臺55可以防止孔徑檢驗棒50向下墜落而在空中擺動。
[0027]為了使孔徑檢驗棒50的下端能夠有一定的擺動空間，以在孔徑檢驗棒50的下端與待測孔沒有完全對準時能夠具有一定的調節空間，環臺55的外徑以及孔徑檢驗棒50的位於T形孔內的部分的外徑與T形孔的內壁之間形成有便於孔徑檢驗棒50的下端擺動的活動空間。由於一次對多個孔檢驗，所有孔徑檢驗棒50可能不會全部插入待測孔內，所以T形孔的內壁與孔徑檢驗棒50之間預留活動空間，即T形孔的內徑大於孔徑檢驗棒50上端(包括環臺55)的外徑，從而使兩者之間形成配合間隙，檢驗時孔徑檢驗棒50的上端可在孔內沿圓周方向擺動，從而保證所有孔徑檢驗棒50均可以套入邊板孔內進行檢驗。孔徑檢驗棒50的下端為圓錐形，在下推頂力的作用下，孔徑檢驗棒50可以自動調節徑向位移，保證與待測孔的軸線重合。
[0028]為了提高檢驗過程的操作的便利性，本實用新型提供的孔徑檢驗工裝還包括設置在待測樣件安放支架10的一側的升降機構70，該升降機構70包括升降導向柱71和升降定位塊73，升降導向柱71沿與孔徑檢驗棒50的軸向平行的方向延伸，升降定位塊73沿升降導向柱71的延伸方向高度可調地固定在升降導向柱71的一側,檢驗棒安裝體30與升降定位塊73之間通過支撐臂74相連。利用升降機構70，可以調整檢驗棒安裝體30的高度，進而可以調整孔徑檢驗棒50的高度，可以對多個孔徑檢驗棒50的高度同時進行調節，以使孔徑檢驗棒50能夠伸入待測孔內並從待測孔內抽出。
[0029]上述升降機構70可以採用多種滑軌機構實現升降定位塊73沿升降導向柱71進行移動，作為一種具體的實施方式，本實用新型提供的升降機構70中，升降導向柱71的一側設置讓位槽，讓位槽內設置有升降調節螺杆75，升降調節螺杆75的延伸方向與升降導向柱71的延伸方向相同；升降定位塊73的與升降導向柱71相對的側面上設置有與升降調節螺杆75相配合併沿升降調節螺杆75可移動的螺母。讓位槽的槽口端面上還設置有與升降調節螺杆75的延伸方向平行的導軌77，升降定位塊73上形成有與導軌77相配合的滑槽。通過升降調節螺杆75調節孔徑檢驗棒50的垂直位移，從而實現與邊板的配合檢驗。
[0030]為了便於操作，升降機構70還包括升降操作手柄79，該升降操作手柄79設置在升降導向柱71的頂端，升降操作手柄79與升降調節螺杆75的上端相連。升降操作手柄79與升降調節螺杆75的連接方式可以有多種形式，兩者可以採用螺紋連接，也可以採用焊接等形式。
[0031]此外，上述待測樣件安放支架10包括:用於安放待測樣件80的待測樣件支撐板(被待測樣件80遮擋)，待測樣件支撐板上具有檢驗棒讓位孔，以保證孔徑檢驗棒50的通段51能夠順利穿過待測孔。待測樣件支撐板的下方還設置有支腿11，支腿11支撐在待測樣件支撐板的下方，以使待測樣件支撐板的下方形成孔徑檢驗棒50穿過的預留空間，支腿11的下端還設置有墊塊13，以起到穩定支腿11的作用。
[0032]為了提高本實用新型提供的孔徑檢驗工裝的整體性以及操作的可靠性，本實用新型提供的孔徑檢驗工裝還包括檢驗基座60，檢驗基座60包括底板61，待測樣件安放支架10和升降機構70均設置在底板61上，底板61的下方還設置有用於支撐底板61的底板支腳63。
[0033]利用本實用新型提供的孔徑檢驗工裝對邊板的孔徑進行檢驗的過程如下:
[0034]1、將待測樣件80放置於待測樣件支撐板上；
[0035]2、調整待測樣件支撐板的位置，使待測樣件80的孔對準對應規格的孔徑檢驗棒50 ；
[0036]3、旋轉升降操作手柄79，孔徑檢驗棒50向待測樣件80方向垂直移動，使孔徑檢驗棒50與待測孔的軸線重合；
[0037]4、如果通段51通過、止段53止住，說明待測樣件80合格；如果通段51止住，說明孔徑偏小；如果止段53通過，說明孔徑偏大，均為不合格。
[0038]利用本實用新型提供的孔徑檢驗工裝，能夠大大提聞檢驗效率，檢驗效率的提聞倍數與邊板上孔的數量有關，例如，如果一個邊板上有二十個具有第一孔徑的待測孔和二十個具有第二孔徑的待測孔，按照現有的技術方案檢驗時，則要檢驗八十次，而按此工裝檢驗，則一次就可以完成檢驗。
[0039]以上所述僅為本實用新型的優選實施例而已，並不用於限制本實用新型，對於本領域的技術人員來說，本實用新型可以有各種更改和變化。凡在本實用新型的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的保護範圍之內。
【權利要求】
1.一種孔徑檢驗工裝，其特徵在於，包括: 待測樣件安放支架(10); 檢驗棒安裝體(30)，設置在所述待測樣件安放支架(10)的上方； 多個規格可選擇的孔徑檢驗棒(50)，具有通段(51)和止段(53)，所述通段(51)的外徑小於相應規格的待測孔的內徑，所述止段(53)的外徑大於所述待測孔的內徑，所述孔徑檢驗棒(50)按照所述通段(51)在下、所述止段(53)在上的方向安裝在所述檢驗棒安裝體(30)的下方。
2.根據權利要求1所述的孔徑檢驗工裝，其特徵在於， 所述孔徑檢驗棒(50 )的所述通段(51)所在的一端呈錐形。
3.根據權利要求1所述的孔徑檢驗工裝，其特徵在於，所述檢驗棒安裝體(30)包括: 第一安裝板(31)，具有沿上下方向延伸的導向孔，所述導向孔內設置有推頂所述孔徑 檢驗棒(50)的推頂彈性件(40)，所述推頂彈性件(40)的上端與所述第一安裝板(31)相連，所述推頂彈性件(40)的下端與所述孔徑檢驗棒(50)的頂端相連。
4.根據權利要求3所述的孔徑檢驗工裝，其特徵在於，所述檢驗棒安裝體(30)還包括: 第二安裝板(33)，設置在所述第一安裝板(31)的下面，並具有多個與所述導向孔同軸的T形孔，所述孔徑檢驗棒(50)的所述止段(53)所在的一端形成有與所述T形孔的內徑大的孔段相配合的環臺(55)。
5.根據權利要求4所述的孔徑檢驗工裝，其特徵在於， 所述環臺(55)的外徑以及所述孔徑檢驗棒(50)的位於所述T形孔內的部分的外徑與所述T形孔的內壁之間形成有便於所述孔徑檢驗棒(50)的下端擺動的活動空間。
6.根據權利要求1至5中任一項所述的孔徑檢驗工裝，其特徵在於，還包括升降機構(70)，設置在所述待測樣件安放支架(10)的一側，所述升降機構(70)包括: 升降導向柱(71)，沿與所述孔徑檢驗棒(50)的軸向平行的方向延伸； 升降定位塊(73)，沿所述升降導向柱(71)的延伸方向高度可調地固定在所述升降導向柱(71)的一側,所述檢驗棒安裝體(30)與所述升降定位塊(73)相連。
7.根據權利要求6所述的孔徑檢驗工裝，其特徵在於， 所述升降導向柱(71)的一側設置有讓位槽，所述讓位槽內設置有升降調節螺杆(75)，所述升降調節螺杆(75)的延伸方向與所述升降導向柱(71)的延伸方向相同； 所述升降定位塊(73)的與所述升降導向柱(71)相對的側面上設置有與所述升降調節螺杆(75)相配合併沿所述升降調節螺杆(75)可移動的螺母。
8.根據權利要求7所述的孔徑檢驗工裝，其特徵在於， 所述讓位槽的槽口端面上還設置有與所述升降調節螺杆(75)的延伸方向平行的導軌(77)，所述升降定位塊(73)上形成有與所述導軌(77)相配合的滑槽。
9.根據權利要求7所述的孔徑檢驗工裝，其特徵在於，所述升降機構(70)還包括: 升降操作手柄(79)，設置在所述升降導向柱(71)的頂端，所述升降操作手柄(79)與所述升降調節螺杆(75)的上端相連。
10.根據權利要求1所述的孔徑檢驗工裝，其特徵在於，所述待測樣件安放支架(10)包括:待測樣件支撐板，具有檢驗棒讓位孔； 支腿(11)，支撐在所述待測樣件支撐板的下方； 墊塊(13)，設置在所述支腿(11)的下端。
11.根據權利要求6所述的孔徑檢驗工裝，其特徵在於，還包括檢驗基座(60)，所述檢驗基座(60)包括: 底板(61)，所述待測樣件安放支架(10)和所述升降機構(70)均設置在所述底板(61)上； 底板支腳(63)，支撐在所述底板(61)的下方。
【文檔編號】G01B5/12GK203501952SQ201320650735
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年10月21日 優先權日:2013年10月21日
【發明者】呂紅軍, 王國標, 肖正 申請人:珠海格力電器股份有限公司