陣列基板行驅動電路的檢測裝置及方法與流程
2023-10-17 03:51:59 2
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本發明涉及顯示面板的檢測技術領域,尤其涉及一種陣列基板行驅動電路的檢測裝置及方法。
背景技術:
近年來,LTPS(Low Temperature Poly-Silicon,低溫多晶矽)技術廣泛應用於較高端的手機及平板電腦產品。由於具有低功耗、高反應速率、高開口率等優點,LTPS技術已成為研發高PPI(pixels per inch,每英寸所擁有的像素數目)產品過程中不可缺少的重要技術之一。為了提高生產效率及生產良率,對LTPS產品的製程及半成品的監控和檢測是必不可少的。
目前,低溫多晶矽產品製程的攔檢機制主要包括電性檢測和光學檢測等等。電性檢測包括陣列基板檢測。陣列基板檢測的主要檢測項目包括:低溫多晶矽產品的陣列基板行驅動電路、柵極線和數據線等。
現有技術中的陣列基板行驅動電路的檢測裝置的缺陷在於:該檢測裝置只能反映陣列基板行驅動電路整體的異常,而不能進一步確定發生異常的行驅動單元,從而加大了對異常解析的難度。
技術實現要素:
為了解決上述技術問題,本發明提供了一種陣列基板行驅動電路的檢測裝置及方法。
根據本發明的一個方面,提供了一種陣列基板行驅動電路的檢測裝置,其包括:
輸入模塊,用於向所述行驅動電路的第一級行驅動單元輸入測試信號,所述行驅動電路包括多個級聯的行驅動單元;
獲取模塊,用於獲取各個行驅動單元的輸出信號;
檢測模塊,用於在判斷出所述行驅動電路工作異常時,根據所有行驅動單元的輸出信號,確定異常工作的行驅動單元。
在一個實施例中,所述檢測模塊包括多個轉換單元;
其中,每個轉換單元與一級行驅動單元相對應,用於將該級行驅動單元的輸出信號轉換成脈衝信號,並使所述脈衝信號與其它行驅動單元對應的脈衝信號互不交疊;
疊加單元,用於將所有轉換單元輸出的脈衝信號進行疊加,得到疊加信號;
確定單元,用於根據所述疊加信號,確定異常工作的行驅動單元。
在一個實施例中,所述轉換單元包括與非門電路,所述與非門電路用於將所述轉換單元對應的行驅動單元的時鐘信號和輸出信號進行與非運算,得到所述脈衝信號。
在一個實施例中,所述確定單元具體用於:確定所述疊加信號中的缺失波形,並將所述缺失波形對應的行驅動單元確定為所述異常工作的行驅動單元。
在一個實施例中,還包括顯示模塊,用於顯示所述疊加信號的波形。
在一個實施例中,所述檢測模塊還包括:
判斷單元,用於根據最後一級行驅動單元的輸出信號,確定所述行驅動電路的工作狀態。
根據本發明的另一方面,還提供了一種陣列基板行驅動電路的檢測方法,其包括:
向所述行驅動電路的第一級行驅動單元輸入測試信號,所述行驅動電路包括多個級聯的行驅動單元;
獲取各個行驅動單元的輸出信號;
在判斷出所述行驅動電路工作異常時,根據所有行驅動單元的輸出信號,確定異常工作的行驅動單元。
在一個實施例中,所述根據所有行驅動單元的輸出信號,確定異常工作的行驅動單元,包括:
分別對於每個行驅動單元,將所述行驅動單元的輸出信號轉換成脈衝信號,並使所述脈衝信號與其它行驅動單元對應的脈衝信號互不交疊;
將所有行驅動單元對應的脈衝信號進行疊加,得到疊加信號;
根據所述疊加信號,確定異常工作的行驅動單元。
在一個實施例中,分別對於每個行驅動單元,將所述行驅動單元的輸出信號轉換成脈衝信號,並使所述脈衝信號與其它行驅動單元對應的脈衝信號互不交疊,包括:
分別對於每個行驅動單元,將均與所述行驅動單元對應的時鐘信號和輸出信號進行與非運算,得到所述脈衝信號。
在一個實施例中,根據所述疊加信號,確定異常工作的行驅動單元,包括:
確定所述疊加信號中的缺失波形,並將所述缺失波形對應的行驅動單元確定為所述異常工作的行驅動單元。
在一個實施例中,上述檢測方法還包括顯示所述疊加信號的波形。
在一個實施例中,判斷所述行驅動電路工作異常,包括:
根據最後一級行驅動單元的輸出信號,確定所述行驅動電路的工作狀態。這裡,行驅動電路的工作狀態包括行驅動電路工作正常和行驅動電路工作異常兩個狀態。
與現有技術相比,本發明的一個或多個實施例可以具有如下優點:
應用本發明的陣列基板行驅動電路的檢測裝置,在行驅動電路工作異常時,根據獲取的每一個行驅動單元的輸出信號來確定異常工作的行驅動單元。相較於現有技術中只能根據獲取的最後一級行驅動單元的輸出信號來反映行驅動電路整體工作狀態的方案來說,本發明在得知行驅動電路整體異常時,能夠判斷出異常工作的行驅動單元的位置,有利於提高行驅動單元異常檢測與解析的效率。可見,本發明能夠得到更為具體的檢測結果,從而有利於後續對行驅動電路的修復,顯著縮短了行驅動電路缺陷的排查及修復時間。
本發明的其它特徵和優點將在隨後的說明書中闡述,並且,部分地從說明書中變得顯而易見,或者通過實施本發明而了解。本發明的目的和其他優點可通過在說明書、權利要求書以及附圖中所特別指出的結構來實現和獲得。
附圖說明
附圖用來提供對本發明的進一步理解,並且構成說明書的一部分,與本發明的實施例共同用於解釋本發明,並不構成對本發明的限制。在附圖中:
圖1是現有的陣列基板行驅動電路的檢測裝置的結構示意圖;
圖2是現有的陣列基板行驅動電路的輸出波形示意圖;
圖3是根據本發明第一實施例的陣列基板行驅動電路的檢測裝置的結構示意圖;
圖4是根據本發明第二實施例的檢測模塊的結構示意圖;
圖5是根據本發明第二實施例的正常行驅動電路對應的疊加信號的波形示意圖,以及由於第n級行驅動單元失效而導致的異常行驅動電路對應的疊加信號的波形示意圖;
圖6是根據本發明第三實施例的陣列基板行驅動電路的檢測方法的流程示意圖;
圖7是根據本發明第四實施例的異常工作的行驅動單元的確定方法的流程示意圖。
具體實施方式
以下將結合附圖及實施例來詳細說明本發明的實施方式,藉此對本發明如何應用技術手段來解決技術問題,並達成技術效果的實現過程能充分理解並據以實施。需要說明的是,只要不構成衝突,本發明中的各個實施例以及各實施例中的各個特徵可以相互結合,所形成的技術方案均在本發明的保護範圍之內。
圖1為現有的陣列基板行驅動電路的檢測裝置的結構示意圖。如圖1所示,現有的陣列基板行驅動電路的檢測裝置包括輸入模塊101、獲取模塊102和檢測模塊103。
具體地,輸入模塊101向陣列基板行驅動電路104的第一級行驅動單元輸入用於正常驅動該行驅動電路104的測試信號,以使陣列基板行驅動電路104能夠正常掃描。獲取模塊102獲取陣列基板行驅動電路104的最後一級行驅動單元的輸出信號。檢測模塊103通過檢測陣列基板行驅動電路104的最後一級行驅動單元的輸出信號的波形是否正常,來判斷整個陣列基板行驅動電路104的結構是否存在驅動不良。
在現有的陣列基板行驅動電路104中,每級行驅動單元驅動與之對應的一條柵極線,並且採用移位寄存器將本級行驅動單元的驅動信號傳遞至下一級行驅動單元。一般來講,將左側陣列基板行驅動電路104和右側陣列基板行驅動電路104分別設置在顯示區域的兩側。即,將包括奇數行的行驅動單元的行驅動電路104設置在顯示區域的左側,將包括偶數行的行驅動單元的行驅動電路104設置在顯示區域的右側。採用隔行掃描的驅動方式,使左側陣列基板行驅動電路104和右側陣列基板行驅動電路104交替輸出驅動信號。
下面以左側陣列基板行驅動電路104為例,來說明現有技術中行驅動電路104的檢測方法。
具體地,輸入模塊101與行驅動電路104的第一級行驅動單元的輸入端相連,用於向行驅動電路104的第一級行驅動單元輸入測試信號。這裡,行驅動電路104包括多個級聯的行驅動單元,即第一級行驅動單元、第三級行驅動單元、第五級行驅動單元、…、第n級行驅動單元、…、第2N-1級行驅動單元、第2N+1級行驅動單元。其中n表示行驅動單元的序號,n為區間[1,2N+1]內的奇數,2N+1表示該行驅動電路104具有的行驅動單元的總數。
圖2示出了現有的陣列基板行驅動電路104的輸出波形示意圖。在圖2中,U2D表示正向掃描信號,D2U表示反向掃描信號,CK1表示第一時鐘信號、CK3表示第三時鐘信號,STV表示幀開始信號,GOA_OUT(1)表示第一級行驅動單元的輸出信號,GATE(1)表示第一行柵極信號,GOA_OUT(3)表示第三級行驅動單元的輸出信號,GATE(3)表示第三行柵極信號,GOA_OUT(5)表示第五級行驅動單元的輸出信號,GATE(5)表示第五行柵極信號。在對左側陣列基板行驅動電路104進行檢測時,主要對該側陣列基板行驅動電路104的最後一級行驅動單元的輸出信號進行波形測量,以基於測量結果確定該側陣列基板行驅動電路104的工作狀態。若測量結果顯示沒有正常的周期方波波形(一般頻率為60Hz)輸出,則認為該側陣列基板行驅動電路104整體失效。
對右側陣列基板行驅動電路104進行檢測的方法與上述檢測方法雷同,在此不再贅述。
可見,現有技術提供的陣列基板行驅動電路104的檢測方案一般只能反映出陣列基板行驅動電路104整體的異常,而不能確定具體發生異常的行驅動單元,從而加大了對異常解析的難度。
為了解決上述技術問題,本發明實施例提供了一種陣列基板行驅動電路的檢測裝置及方法。
第一實施例
一般來說,左側陣列基板行驅動電路和右側陣列基板行驅動電路是分開檢測的。所用的檢測方法相同。因此,下面以檢測左側陣列基板行驅動電路為例進行說明。
圖3為根據本發明第一實施例的陣列基板行驅動電路(這裡,為左側陣列基板行驅動電路,簡稱行驅動電路)的檢測裝置的結構示意圖。如圖3所示,檢測裝置主要包括輸入模塊301、獲取模塊302和檢測模塊303。
具體地,輸入模塊301與行驅動電路304的第一級行驅動單元的輸入端相連,用於向行驅動電路304的第一級行驅動單元輸入測試信號。這裡,行驅動電路304包括多個級聯的行驅動單元,即第一級行驅動單元、第三級行驅動單元、第五級行驅動單元、…、第n級行驅動單元、…、第2N-1級行驅動單元、第2N+1級行驅動單元。其中n表示行驅動單元的序號,n為區間[1,2N+1]內的奇數,2N+1表示該行驅動電路304具有的行驅動單元的總數。
獲取模塊302與行驅動電路304的各級行驅動單元的輸出端相連,用於獲取各級行驅動單元的輸出信號。
檢測模塊303與獲取模塊302相連,用於在判斷出行驅動電路304工作異常時,根據所有級行驅動單元的輸出信號,確定異常工作的行驅動單元。
以下詳細說明本實施例的陣列基板行驅動電路304的檢測裝置的檢測原理。首先,輸入模塊301向行驅動單元304的第一級行驅動單元輸入用於正常驅動該行驅動電路304的測試信號,以使行驅動電路304能夠正常掃描。這裡,測試信號為幀開始信號。獲取模塊302獲取行驅動電路304中各個行驅動單元的輸出信號。檢測模塊303在判斷出行驅動電路304工作異常時,根據該行驅動電路304中所有級行驅動單元的輸出信號,確定該行驅動電路304中異常工作的行驅動單元。
在一個優選的實施例中,檢測模塊303還可以包括判斷單元10,其用於根據行驅動電路304中最後一級行驅動單元的輸出信號來確定該行驅動電路304的工作狀態。這裡,行驅動電路304的工作狀態指的是行驅動電路304整體的工作狀態,其主要反映行驅動電路304整體正常工作或異常工作。換句話說,行驅動電路304的工作狀態包括行驅動電路304工作正常和行驅動電路304工作異常兩個狀態。
檢測右側陣列基板行驅動電路304(圖中未顯出)與檢測左側陣列基板行驅動電路304的檢測裝置及檢測方法相同,這裡不再贅述。
應用本實施例的陣列基板行驅動電路304的檢測裝置,在行驅動電路304工作異常時,根據獲取的每一個行驅動單元的輸出信號來確定異常工作的行驅動單元。相較於現有技術中只能根據獲取的最後一級行驅動單元的輸出信號來反映行驅動電路304整體工作狀態的方案來說,本實施例在得知行驅動電路304整體異常時,能夠進一步判斷出異常工作的行驅動單元的位置,有利於提高行驅動單元異常檢測與解析的效率。可見,本實施例能夠得到更為具體的檢測結果,從而有利於後續對行驅動電路304的修復,顯著縮短了行驅動電路304缺陷的排查及修復時間。
綜上所述,本實施例的陣列基板行驅動電路304的檢測裝置,在顯示面板的檢測技術領域中具有實際的指導意義。
第二實施例
本實施例對實施例一中的檢測模塊303的結構做了進一步優化。
圖4為根據本發明第二實施例的檢測模塊303的結構示意圖。如圖4所示,本實施例的檢測模塊303可以包括疊加單元30、確定單元40和多個轉換單元20。其中,每個轉換單元20都與獲取模塊302相連。並且,每個轉換單元20與一級行驅動單元一一對應,用於將獲取模塊302獲取的該級行驅動單元的輸出信號轉換成脈衝信號,並使脈衝信號與其它行驅動單元對應的脈衝信號互不交疊。疊加單元30分別與各個轉換單元20相連,用於將所有轉換單元20輸出的脈衝信號進行疊加,得到疊加信號。確定單元40與疊加單元30相連,用於根據疊加單元30得到的疊加信號,確定異常工作的行驅動單元。
本實施例中的檢測裝置還可以包括顯示模塊(圖中未示出),用於顯示疊加信號的波形,便於工作人員查看。這裡,顯示模塊能夠直觀地向工作人員展現疊加信號的波形,以方便工作人員快速直觀地知曉出現異常的行驅動單元。
下面詳細說明本實施例的檢測模塊303篩查異常工作的行驅動單元的方法。
如圖4所示,每個轉換單元20通過獲取模塊302得到相應行驅動單元的輸出信號。具體地,在第一掃描周期內,第一級行驅動單元對應的轉換單元20,用於將第一級行驅動單元的輸出信號轉換成一個脈衝信號。在第三掃描周期內,第三級行驅動單元對應的轉換單元20,用於將第三級行驅動單元的輸出信號轉換成一個脈衝信號。假設一共有1920級行驅動單元,依此類推,第1919級行驅動單元對應的轉換單元20,用於將第1919級行驅動單元的輸出信號轉換成一個脈衝信號。因此,對於本實施例的行驅動電路304來說,一共得到960個脈衝信號。並且,重要地,這960個脈衝信號互不交疊。疊加單元30將這960個互不交疊的脈衝信號進行疊加,得到一個疊加信號。確定單元40根據得到的該疊加信號確定異常工作的行驅動單元。
在一個優選的實施例中,每個轉換單元20包括與非門電路。與非門電路用於將均與該轉換單元20相對應的行驅動單元的時鐘信號和輸出信號進行與非運算,得到脈衝信號。此處,時鐘信號和輸出信號均與某一個轉換單元20相對應。這樣,通過此處的與非運算,可保證各個轉換單元20輸出的脈衝信號彼此無交集,即可保證各個轉換單元20輸出的脈衝信號互不交疊。
本實施例採用與非門電路得到互不交疊的脈衝信號的原理是:由於本實施例行驅動電路304中的各級行驅動單元的時鐘信號互不交疊,因此各級行驅動單元的輸出信號通過與非門電路和對應的時鐘信號進行與非運算後得到的脈衝信號也互不交疊。
在一個優選的實施例中,確定單元40具體用於:確定疊加信號中的缺失波形,並將缺失波形對應的行驅動單元確定為異常工作的行驅動單元。下面參照圖5具體說明確定單元40的工作原理。
圖5示出了本發明第二實施例的正常行驅動電路304對應的疊加信號的波形示意圖,以及由於第n級行驅動單元失效而導致的異常行驅動電路304對應的疊加信號的波形示意圖。當第n級行驅動單元工作異常時,該第n級行驅動單元未能輸出相應的輸出信號。由於行驅動單元彼此之間都是級聯的,即上一級行驅動單元的輸出信號作為下一級行驅動單元的工作觸發信號,因此第n級之後的行驅動單元(第n+2級行驅動單元至第1919級行驅動單元)均無法輸出相應的輸出信號,從而會導致第n級行驅動單元至第1919級行驅動單元對應的波形的缺失。如圖5所示,第n級行驅動單元對應的波形缺失,第n+2級行驅動單元對應的波形缺失,之後第n+4級行驅動單元至第1919級行驅動單元對應的波形均缺失。由於脈衝信號互不交疊,因此能夠直觀地從疊加信號中確定缺失波形及其相對應的行驅動單元。這樣,確定單元40可以根據疊加信號中的缺失波形來確定工作異常的行驅動單元。參照圖5,由於在疊加信號中,與第n級行驅動單元至第1999級行驅動單元對應的波形都缺失,因此可以確定疊加信號是從第n級行驅動單元處開始缺失的,從而可以推導出異常工作的行驅動單元為第n級行驅動單元。
應用本實施例的檢測模塊303,巧妙地利用時鐘信號及與非門電路的特點,將各級行驅動單元的輸出信號轉換成互不交疊的脈衝信號,然後再根據由各個脈衝信號疊加而成的疊加信號中的缺失波形,來確定異常工作的行驅動單元。可見,本實施例檢測模塊303的結構簡單,為準確有效地確定異常工作的行驅動單元提供了直觀精確的數據支持。
第三實施例
基於同一發明構思,本發明實施例中還提供了一種陣列基板行驅動電路304的檢測方法。同樣地,本實施例仍以左側陣列基板行驅動電路304為例進行說明。
圖6為根據本發明第三實施例的陣列基板行驅動電路304的檢測方法的流程示意圖。如圖6所示,該檢測方法可以包括如下步驟S610、步驟S620和步驟S630。
在步驟S610中,向行驅動電路304的第一級行驅動單元輸入測試信號。這裡,行驅動電路304包括多個級聯的行驅動單元。
在步驟S620中,獲取各個行驅動單元的輸出信號。
在步驟S630中,在判斷出行驅動電路304工作異常時,根據所有行驅動單元的輸出信號,確定異常工作的行驅動單元。
在一個優選的實施例中,步驟S630還包括根據最後一級行驅動單元的輸出信號,確定行驅動電路304的工作狀態。
應用本發明實施例的陣列基板行驅動電路304的檢測方法,在行驅動電路304工作異常時,根據獲取的每一個行驅動單元的輸出信號來確定異常工作的行驅動單元。相較於現有技術中只能根據獲取的最後一級行驅動單元的輸出信號來反映行驅動電路304整體工作狀態的方案來說,本實施例在得知行驅動電路304整體異常時,能夠進一步判斷出異常工作的行驅動單元的位置,有利於提高行驅動單元異常檢測與解析的效率。可見,本實施例能夠得到更為具體的檢測結果,從而有利於後續對行驅動電路304的修復,顯著縮短了行驅動電路304缺陷的排查及修復時間。
第四實施例
本實施例對第三實施例中步驟S630做的進一步優化。
圖7為根據本發明第四實施例的異常工作的行驅動單元的確定方法的流程示意圖。該方法用於根據所有行驅動單元的輸出信號,確定異常工作的行驅動單元。如圖7所示,該方法可以包括如下步驟S710、步驟S720和步驟S730。
在步驟S710中,分別對於每個行驅動單元,將行驅動單元的輸出信號轉換成脈衝信號,並使脈衝信號與其它行驅動單元對應的脈衝信號互不交疊。
具體地,步驟S710包括:分別對於每個行驅動單元,將均與行驅動單元對應的時鐘信號和輸出信號進行與非運算,得到脈衝信號。
在步驟S720中,將所有行驅動單元對應的脈衝信號進行疊加,得到疊加信號。
在步驟S730中,根據疊加信號,確定異常工作的行驅動單元。
具體地,步驟S730包括:確定疊加信號中的缺失波形,並將缺失波形對應的行驅動單元確定為異常工作的行驅動單元。
在一個優選的實施例中,步驟S730還包括顯示疊加信號的波形,以便於工作人員查看。這裡,本實施例能夠直觀地向工作人員顯現疊加信號的波形,以方便工作人員快速直觀地知曉出現異常的行驅動單元。
應用本實施例的確定異常工作的行驅動單元的方法,巧妙地利用時鐘信號及與非門電路的特點,將各級行驅動單元的輸出信號轉換成互不交疊的脈衝信號,然後再根據由各個脈衝信號疊加而成的疊加信號中的缺失波形,來確定異常工作的行驅動單元。可見,本實施例的方法簡單,為準確有效地確定異常工作的行驅動單元提供了直觀精確的數據支持。
上述各步驟中的具體細化,可參見上面結合圖1至圖5對本發明檢測裝置的說明,在此不再詳細贅述。
本領域的技術人員應該明白,上述的本發明的各模塊或各步驟可以用通用的計算裝置來實現,它們可以集中在單個的計算裝置上,或者分布在多個計算裝置所組成的網絡上,可選地,它們可以用計算裝置可執行的程序代碼來實現,從而,可以將它們存儲在存儲裝置中由計算裝置來執行,或者將它們分別製作成各個集成電路模塊,或者將它們中的多個模塊或步驟製作成單個集成電路模塊來實現。這樣,本發明不限制於任何特定的硬體和軟體結合。
以上所述,僅為本發明的具體實施案例,本發明的保護範圍並不局限於此,任何熟悉本技術的技術人員在本發明所述的技術規範內,對本發明的修改或替換,都應在本發明的保護範圍之內。