測試電路的製作方法
2023-10-17 05:08:09
專利名稱：測試電路的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種電路技術，尤其是一種測試電路。
背景技術：
對電子設備的I/O埠進行檢測時，通常僅通過亮燈指示檢測結果，沒有聲音報警裝置，操作者易疲勞出錯。而且，在檢測過程中，I/o埠的信號一般通過三極體等常用電子器件直接輸入到檢測電路的單片機，有可能由於輸入信號的電壓過高而損壞單片機。
發明內容
有鑑於此，有必要提供一種具有較佳檢測能力且不易損壞的測試電路。一種測試電路，其包括一光耦合器、一單片機、一開關三極體以及一驅動晶片。所述光耦合器包括兩個輸入端以及兩個輸出端，所述光耦合器的兩個輸入端與待測埠連接，光耦合器的其中一個輸出端與所述單片機的輸入端連接，光耦合器的另一個輸出端接地。單片機的輸出端與所述開關三極體的基極連接。所述開關三極體的發射極與一外接電源連接，所述開關三極體的集電極與驅動晶片的輸入端連接。所述驅動晶片的輸出端與一警示設備連接。當光耦合器向所述單片機輸入低電平信號時，所述單片機輸出低電平信號使得開關三極體導通而輸入所述外接電源的電壓，所述驅動晶片輸出驅動信號以驅動所述警示設備工作。本發明的測試電路通過使用光耦合器來輸出信號至所述單片機，避免當被測埠存在高電壓時，該高電壓被輸出至單片機而損壞所述單片機。另外，通過增加一個開關三極體來接入所述外接電源，能夠穩定地為所述驅動晶片提供工作電壓。而且，除該光耦合器可發出光信號以提示用戶外，該驅動晶片輸出的信號可驅動各種警示設備發出警示信號，能夠更加方便地幫助用戶獲知待測電路的工作性能。
圖I是本發明實施方式提供的測試電路的電路圖。主要元件符號說明測試電路100待測埠200光稱合器10發光二極體11光I禹合器的輸入端111、113光I禹合器的輸出端115、117感光三極體13
單片機20單片機的輸入端20a
單片機的輸出 端20b開關三極體30驅動心片40信號輸入端40a電源輸入端41驅動晶片的輸出端43外接電源50直流電源60警示設備70第一電阻Rl第二電阻R具體實施例方式以下將結合附圖，對本發明作進一步的詳細說明。如圖I所示，本發明實施方式提供一種測試電路100，其包括一光耦合器10、一單片機20、一開關三極體30、一驅動晶片40及一警不設備70。所述光稱合器10用於測試一待測電路的待測埠 200，並將測試信號傳送到單片機20，單片機20根據該測試信號的電平高低輸出一相應的電平信號。當單片機20輸出低電平信號時,開關三極體30導通,並使得驅動晶片40輸出一驅動信號，該驅動信號驅使該警示設備70示警。當單片機20輸出高電平信號時，開關三極體30截止，驅動晶片40處於高阻態，不輸出驅動信號，警示設備70不發出示警信號，使得用戶能夠根據警示設備70是否示警來測試待測電路的性能。本實施方式中，該待測電路為電腦主板，該測試電路100用於測試該待測電路的I/o接口是否正常工作。本實施方式中，所述光I禹合器10包括一發光二極體11以及一與發光二極體11正對設置的感光三極體13。所述發光二極體11根據輸入電壓發出光信號，所述感光三極體13用於感測所述發光二極體11發射的光信號。所述光稱合器10包括兩個輸入端111、113以及兩個輸出端115、117，所述兩個輸入端111、113分別與待測電路的待測埠 200連接，而其中一個輸出端115與所述單片機20的輸入端20a連接，另一個輸出端117接地。具體的，所述輸入端111為正輸入端，所述正輸入端111連接於所述發光二極體11的陽極，並通過一第一電阻Rl與所述待測埠 200的正極連接。所述輸入端113為負輸入端，所述負輸入端113連接於所述發光二極體11的陰極，並直接與所述待測埠 200的負極連接。所述感光三極體13的基極與所述發光二極體11正對設置，用於感測發光二極體11發射的光。所述感光三極體13的集電極通過所述輸出端115連接到所述單片機20的輸入端20a，所述感光三極體13的發射極通過所述輸出端117接地。所述單片機20內設置有多個邏輯電路(圖未示)，用於根據所述光耦合器10的信號輸出對應的高/低電平信號。本實施方式中，所述單片機20支持5V電壓輸入。所述開關三極體30的基極與所述單片機20的輸出端20b連接。本實施方式中，所述開關三極體30的基極通過一第二電阻R2與所述單片機20的輸出端20b連接，發射極與一外接電源50連接，集電極與驅動晶片40的信號輸入端40a連接。本實施方式中，所述外接電源50的輸入電壓為5V。優選的，所述開關三極體30為pnp型。所述驅動晶片40包括一電源輸入端41以及多個輸出端43，該電源輸入端41與一直流電源60連接，所述輸出端43與該警示設備70連接，並用於輸出驅動信號以驅動所述警示設備70工作。本實施方式中，所述直流電源60為12V，所述警示設備70為蜂鳴器。可以理解，所述警示設備70還可以為發光設備或者其他驅動電路。測試時，所述光耦合器10的正輸入端111、負輸入端113從待測電路採集到一電壓信號，例如0V，5V或12V的電壓信號。當電壓信號為5V或12V的高電平信號時，說明待測電路正常工作，發光二極體11發光，感光三極體13導通,使得光稱合器10的輸出端115輸出低電平信號至單片機20。當單片機20接收到低電平信號之後，單片機20的輸出端20b輸出低電平信號，開關三極體30導通，外接電源50輸入5V電壓信號至所述驅動晶片40，驅 動晶片40接收到穩定的5V電壓信號之後,輸出一低電平信號，以驅動所述警不設備70發出警示信號。當電壓信號為OV時，說明待測電路未能處於工作狀態，光耦合器10的輸出端115輸出高電平信號至單片機20，單片機20輸出高電平信號至所述開關三極體30，開關三極體30截止，使得外接電源50無法輸入5V電壓信號至所述驅動晶片40，驅動晶片40處於高阻態，無法驅動警示設備70工作。本發明的測試電路100通過使用光耦合器10來輸出信號至所述單片機20，避免當待測埠 200存在高電壓時，該高電壓被輸出至單片機20而損壞所述單片機20。另外，通過增加一個開關三極體30來接入所述外接電源50，能夠穩定地為所述驅動晶片40提供工作電壓。而且，除該光耦合器10可發出光信號以提示用戶外，該驅動晶片40輸出的信號可驅動各種警示設備70發出警示信號，能夠更加方便地幫助用戶獲知待測電路的工作性能。可以理解的是，對於本領域的普通技術人員來說，可以根據本發明的技術構思做出其它各種像應的改變與變形，而所有這些改變與變形都應屬於本發明權利要求的保護範圍。
權利要求
1.一種測試電路,其包括一光稱合器、一單片機、一開關三極體以及一驅動晶片，所述光耦合器包括兩個輸入端以及兩個輸出端，所述光耦合器的兩個輸入端與一待測埠連接，光耦合器的其中一個輸出端與所述單片機的輸入端連接，光耦合器的另一個輸出端接地，單片機的輸出端與所述開關三極體的基極連接，所述開關三極體的發射極與一外接電源連接，所述開關三極體的集電極與驅動晶片的輸入端連接，所述驅動晶片的輸出端與一警示設備連接；當光耦合器向所述單片機輸入低電平信號時，所述單片機輸出低電平信號使得開關三極體導通而輸入所述外接電源的電壓，所述驅動晶片輸出驅動信號以驅動所述警示設備工作。
2.如權利要求I所述的測試電路，其特徵在於所述光耦合器的兩個輸入端包括一正輸入端以及一負輸入端，所述正輸入端通過一第一電阻與所述待測埠連接，所述負輸入端直接連接所述待測埠。
3.如權利要求2所述的測試電路，其特徵在於所述光耦合器包括一發光二極體以及一與發光二極體正對設置的感光三極體，所述發光二極體根據輸入電壓發出光信號，所述感光三極體用於感測所述發光二極體發射的光信號，所述正輸入端連接於所述發光二極體 的陽極，所述負輸入端連接於所述發光二極體的陰極。
4.如權利要求3所述的測試電路，其特徵在於所述感光三極體的基極與所述發光二極體正對設置，用於感測發光二極體發射的光。
5.如權利要求3所述的測試電路，其特徵在於所述感光三極體的集電極通過所述光耦合器的其中一個輸出端與所述單片機連接，所述感光三極體的發射極通過所述光耦合器的另一個輸出端接地。
6.如權利要求I所述的測試電路，其特徵在於所述開關三極體為pnp型。
7.如權利要求I所述的測試電路，其特徵在於所述開關三極體的基極通過一第二電阻與所述單片機的輸出端連接。
8.如權利要求I所述的測試電路，其特徵在於所述驅動晶片包括一電源輸入端，該電源輸入端與一直流電源連接。
9.如權利要求I所述的測試電路，其特徵在於所述直流電源的輸入電壓為12V。
10.如權利要求I所述的測試電路，其特徵在於所述外接電源的輸入電壓為5V。
全文摘要
本發明提供一種測試電路，其包括一光耦合器、一單片機、一開關三極體以及一驅動晶片。所述光耦合器包括兩個輸入端以及兩個輸出端，所述光耦合器的兩個輸入端與待測埠連接，光耦合器的其中一個輸出端與所述單片機的輸入端連接，光耦合器的另一個輸出端接地。單片機的輸出端與所述開關三極體的基極連接。所述開關三極體的發射極與一外接電源連接，所述開關三極體的集電極與驅動晶片的輸入端連接。所述驅動晶片的輸出端與一警示設備連接。當光耦合器向所述單片機輸入低電平信號時，所述單片機輸出低電平信號使得開關三極體導通而輸入所述外接電源的電壓，所述驅動晶片輸出驅動信號以驅動所述警示設備工作。該測試電路具有較佳檢測能力且不易損壞。
文檔編號G01R31/28GK102645624SQ201110042560
公開日2012年8月22日 申請日期2011年2月22日 優先權日2011年2月22日
發明者崔振山, 王立平, 郭張賢 申請人:鴻富錦精密工業(深圳)有限公司, 鴻海精密工業股份有限公司