一種掃描鏈控制電路及其實現方法
2023-09-22 17:11:10 2
專利名稱：一種掃描鏈控制電路及其實現方法
技術領域：
本發明涉及電子晶片製造領域，特別是涉及一種掃描鏈控制電路。本發明還涉及一種掃描鏈控制的實現方法。
背景技術：
隨著電子晶片製造業的發展，晶片測試成本逐漸在整個生產製造過程中所佔比例越來越大，量產測試方法已經廣泛應用到晶片中，例如掃描鏈測試方法。但基於安全考慮，部分安全類晶片還是使用最原始的測試方法，造成晶片測試成本無法降低。如圖I、圖2所示掃描鏈電路，所有寄存器受外部引腳CLK (時鐘輸入)，RST (復位控制)，TEST_M0DE (測試模式信號)，SCAN_EN(掃描使能信號)直接控制，用戶隨時可以讀出任意寄存器的數值，使得整個晶片內部信息沒有任何秘密可言，對於應用於某些領域的晶片來說，安全是第一要素，晶片內部信息安全能表現為晶片中的部分邏輯不可讀取，傳統掃描鏈電路及控制方法 無法實現對掃描鏈的控制，造成晶片內部信息存在安全隱患。
發明內容
本發明要解決的技術問題是提供一種掃描鏈控制電路，能控制掃描鏈斷開或開啟，保證晶片內部信息的安全。為此，本發明還提供了一種掃描鏈控制的實現方法。為解決上述技術問題，本發明的掃描鏈控制電路，包括一個掃描鏈，該掃描鏈分別連接有時鐘輸入、復位控制、測試模式控制信號和掃描使能信號，其中一門連接所述掃描鏈，所述門連接一配置寄存器。所述測試模式控制信號為「I」關閉，「O」打開時，所述門為或門。所述測試模式控制信號為「O」關閉，「 I 」打開時，所述門為與門。所述寄存器能設置為無法訪問。一種掃描鏈控制實現方法，包括以下步驟(I)分析掃描鏈狀態，確定掃描鏈需控制節點的位置和數量；(2)根據步驟(I)中控制節點的數量確定配置寄存器的個數位寬；(3)確定配置寄存器的訪問方式；(4)確定開啟掃描鏈配置寄存器的配置值；(5)根據步驟(4)中所述配置值在控制節點插入門，並使門與寄存器相應位信號連接；(6)進行仿真測試。實施步驟(5)時，配置寄存器控制信號為「I」關閉，「O」打開，插入門為或門。實施步驟(5)時，配置寄存器控制信號為「O」關閉，「I」打開，插入門為或門。在實施步驟(I)時，需要考慮以下兩點(A)控制節點越多，控制邏輯越複雜，被攻破的機率就越低，但相應的會增加面積和時序的開銷，所以需要根據實際需求進行控制節點設置，每個掃描鏈上至少有一個控制節點；(B)控制節點的位置能採取隨機選擇位置的方式，前提是不能影響晶片的其他性能，例如時序問題，即控制節點不能設計在關鍵路徑上；同樣不能影響晶片功能，例如不能放在利用率很高的寄存器上，避免爭搶本來就很緊張的布局布線資源。本發明的掃描鏈控制電路能在測試模式下，通過對配置寄存器進行配置，開啟掃描鏈功能，進行掃描測試；當產品測試完成，對配置寄存器進行配置，斷開掃描鏈，並取消或隱藏這些配置寄存器的訪問，使掃描鏈無法工作，能消除通過掃描鏈讀取晶片內部信息的安全隱患。本發明的掃描鏈控制電路及其實現方法能控制掃描鏈斷開或開啟，保證晶片內部信息的安全
下面結合附圖與具體實施方式
對本發明作進一步詳細的說明 圖I是一種傳統掃描鏈結構示意圖。圖2是圖I中ScanChainl的內部結構示意圖。圖3是本發明掃描鏈控制電路一實施例的結構示意圖。圖4是圖3中ScanChainl的內部結構示意圖。圖5是本發明掃描鏈控制實現方法的流程圖。附圖標記說明ScanChainl、ScanChain2、ScanChain3、ScanChainN 是掃描鏈編號CLK是時鐘輸入RST是復位控制TEST_M0DE是測試模式控制信號SCAN_EN是掃描使能信號I、2是控制節點
具體實施例方式如圖3、圖4所示，本發明的掃描鏈控制電路一實施例，包括三條掃描鏈，編號為=ScanChainl至ScanChain3，每條掃描鏈分別連接有時鐘輸入(CLK)、復位控制(RST)、測試模式控制信號(TEST_M0DE)和掃描使能信號(SCAN_EN)，其中，ScanChainl的PARTl和PART2之間的控制節點I具有一或門，PART2和PART 3之間的控制節點2具有一與門，一配置寄存器連接所述或門和與門，控制掃描鏈的斷開或開啟。其中，控制節點I在配置寄存器控制信號為「I」關閉，「O」打開；控制節點2在配置寄存器控制信號為「O」關閉，「I」打開。如圖5所示，本發明的掃描鏈控制實現方法，包括(I)分析掃描鏈狀態，確定掃描鏈需控制節點的位置和數量；(2)根據步驟⑴中控制節點的數量確定配置寄存器的個數位寬；(3)確定配置寄存器的訪問方式；(4)確定開啟掃描鏈配置寄存器的配置值；(5)根據步驟(4)中所述配置值在控制節點插入門，使門與寄存器相應位信號連接；其中，配置寄存器控制信號為「I」關閉，「O」打開，插入門為或門；配置寄存器控制信號為「O」關閉，「I」打開，插入門為或門。(6)進行仿真測試。
以上通過具體實施方式
和實施例對本發明進行了詳細的說明，但這些並非構成對本發明的限制。在不脫離本發明原理的情況下，本領域的技術人員還可做出許多變形和改進，這些也應視為本發明的保護範圍。
權利要求
1.一種掃描鏈控制電路，包括一掃描鏈，該掃描鏈連接有時鐘輸入、復位控制、測試模式控制信號和掃描使能信號，其特徵在於一門連接所述掃描鏈，所述門連接一配置寄存器。
2.如權利要求I所述的掃描鏈控制電路，其特徵在於所述測試模式控制信號為「I」關閉，「O」打開時，所述門為或門。
3.如權利要求I所述的掃描鏈控制電路，其特徵在於所述測試模式控制信號為「O」關閉，「I」打開時，所述門為與門。
4.如權利要求I所述的掃描鏈控制電路，其特徵在於所述配置寄存器能設置為無法訪問。
5.一種掃描鏈控制實現方法，其特徵在於，包括以下步驟 (1)分析掃描鏈狀態，確定掃描鏈需控制節點的位置和數量； (2)根據步驟(I)中控制節點的數量確定配置寄存器的個數位寬； (3)確定配置寄存器的訪問方式； (4)確定開啟掃描鏈配置寄存器的配置值； (5)根據步驟(4)中所述配置值在控制節點插入門，並使門與寄存器相應位信號連接； (6)進行仿真測試。
6.如權利要求5所述的方法，其特徵在於實施步驟(5)時，配置寄存器控制信號為「I」關閉，「O」打開，插入門為或門。
7.如權利要求5所述的方法，其特徵在於實施步驟(5)時，配置寄存器控制信號為「O」關閉，「I」打開，插入門為或門。
全文摘要
本發明公開了一種掃描鏈控制電路，包括一掃描鏈，該掃描鏈連接有時鐘輸入、復位控制、測試模式控制信號和掃描使能信號，其中一門連接所述掃描鏈，所述門連接一配置寄存器。本發明的掃描鏈控制電路，通過對配置寄存器進行配置，開啟掃描鏈功能，進行掃描測試；當產品測試完成，對配置寄存器進行配置，斷開掃描鏈，並取消或隱藏這些配置寄存器的訪問，使掃描鏈無法工作，能消除通過掃描鏈讀取晶片內部信息的安全隱患。本發明還公開了一種掃描鏈控制實現方法。本發明的掃描鏈控制電路及其實現方法能控制掃描鏈斷開或開啟，保證晶片內部信息的安全。
文檔編號G01R31/3185GK102967824SQ20111025588
公開日2013年3月13日 申請日期2011年8月31日 優先權日2011年8月31日
發明者王永流, 張伸 申請人:上海華虹集成電路有限責任公司