診斷裝置和相關方法

2023-05-03 08:21:26

專利名稱：診斷裝置和相關方法
技術領域：
這裡所述的裝置、系統和方法通常涉及檢驗在試樣中一個或多個分析物的存在。 更具體地說，這裡所述的裝置、系統和方法在基片上的同一位置使用至少兩種不同分析物捕獲劑的組合(其中至少一種可以是控制分析物捕獲劑)，從而檢驗在流體試樣中一個或多個分析物的存在。
背景技術：
在流體試樣、尤其是身體流體試樣中對細胞和分析物進行定量分析通常為醫生和患者提供關鍵的診斷和治療信息。測量分析物的一個方法涉及利用抗原抗體反應的高度專一性的化驗。更具體地說，可基於化驗中抗原和抗體之間的粘合或反之，來在試樣中檢測抗原或抗體(在一些情況下，可作定量測量)。例如，在固態免疫測定中，可將目標分析物粘合劑(取決於目標分析物，是抗原或抗體)施加至基片。此後，可將流體試樣施加至基底，目標分析物粘合劑可粘合至可能存在於流體試樣中的任何目標分析物中的一些或全部。當目標分析物是抗原時，目標分析物粘合劑例如可以是對應的抗體，而當目標分析物是抗體時， 目標分析物粘合劑例如可以是對應的抗原。可評估目標分析物和目標分析物粘合劑之間的粘合程度，以對存在於流體試樣中的目標分析物的量提供定量值。儘管這些化驗可用來評估人類受試者，它們也可在各種其它應用中尋找用途，諸如獸醫、食品檢驗、或農業應用。一些化驗涉及使用檢驗條，其中流體試樣施加至該檢驗條的一個位置，然後行進越過檢驗條的一部分(例如經由毛細作用)以與檢驗條上的一種或多種試劑發生反應。例如，檢驗條可包括第一帶、第二分離檢測帶和第三分離檢測帶，第一帶包括控制分析物和目標分析物粘合劑，第二分離檢測帶包括粘合至目標分析物的目標分析物捕獲齊U，第三分離檢測帶包括粘合至控制分析物的控制分析物捕獲劑。在使用過程中，流體試樣可施加至檢驗條，可行進越過檢驗條的至少一部分(例如經由毛細作用)。當流體試樣接觸第一帶時，流體試樣中的目標分析物可粘合至目標分析物粘合劑以形成目標分析物複合物。當流體試樣接觸第二帶時，目標分析物可粘合至目標分析物捕獲劑，從而目標分析物複合物在第二帶中不動。類似地，當流體試樣接觸第三帶時，控制分析物可粘合至控制分析物捕獲劑，從而控制分析物在第三帶中不動。然後，檢測並評估已被捕獲的目標分析物複合物和控制分析物，從而確定目標分析物的濃度。在一些變型中，目標分析物粘合劑可配合至第一可檢測標記，控制分析物可配合至第二可檢測標記。在目標分析物已粘合至目標分析物捕獲劑且控制分析物已粘合至控制分析物捕獲劑，而且兩種分析物由此在其對應檢測帶中不動之後，可檢測這些標記。該檢測可用來為流體試樣中的目標分析物濃度(通過控制而標準化)提供定量值。儘管這些方法和檢驗條可檢測流體試樣中的分析物，但在一些情況下，這些分析物的測得濃度可能不是高度精確的。例如，檢測帶可形成有呈現相對於彼此的可變性的塗層(例如，由於在檢驗條上不同時間和/或不同位置進行塗敷)。這種可變性則可再影響流體試樣中目標分析物濃度的最終測量。考慮到例如在血液試樣中精確檢驗一些分析物的不斷發展的需求，理想的是，提供用於實現這種高精度檢驗的附加化驗和相關裝置及方法。已經開發了各種診斷化驗和相關裝置以用於現場即時(POC)檢驗。這種診斷化驗和相關裝置通常用於患者看護場合(例如患者床邊)附近，或用於除了基準實驗室之外的非集中位置。現場即時診斷化驗用於以方便的方式為患者提供快速結果，和/或當實驗室檢驗(例如在集中設施處)不可行、不合適或不理想時提供近似檢驗。通常，POC裝置可以是便攜的或可運輸的。在一些情況下，它們甚至可被手持。考慮到POC診斷化驗和相關裝置的方便性，以及它們結果的及時性，理想的是，提供附加的POC化驗和診斷裝置。還理想的是，提供呈現高靈敏度、準確性、精度和測量可靠性的POC系統。而且，理想的是，提供構造成可與本地和/或遠程系統連接的POC系統。

發明內容
這裡描述的是用於評估諸如血液試樣的流體試樣中一種或多種分析物的存在的裝置、系統和方法。通常，該裝置、系統和方法可採用至少兩種分析物捕獲劑(例如，目標分析物捕獲劑和控制分析物捕獲劑)來檢驗試樣(例如流體試樣)中至少一種分析物的存在，該至少兩種分析物捕獲劑是組合的(例如混合的)和/或施加至諸如檢驗條的檢驗介質的同一位置。在一些變型中，這裡所述的裝置、系統和方法可用在POC檢驗中。裝置和系統可以是便攜的，甚至是手持的，在一些情況下可以是電池驅動的。在一些變型中，這裡所述的裝置、系統和/或方法可以是CLIA所放棄的(其中，「CLIA」是指美國臨床實驗室改進修正案)。這裡所述的系統例如可以能夠呈現高靈敏度和高專門性以及闊動態範圍。作為一實例，這裡所述系統的一些變型可以能夠達到至少3pg/mL的分析靈敏度，且變化係數 (CV)小於5%。這裡所述系統的一些變型可以能夠檢測 51ogs)。獲得結果的時間(從添加試樣開始)可以在五至十分鐘或更少時間之內。在一些變型中，這裡所述裝置和/或系統可構造成連接至網際網路或內聯網(諸如 HIS-醫院信息系統，或LIS-實驗室信息系統)，連接至處於不同位置的資料庫，和/或連接至遠程位置。如這裡所使用的那樣，這裡所述裝置和/或系統所連接至的遠程位置是與檢驗期間受檢者(例如患者)和裝置和/或系統所在的位置不同的位置(受檢者的位置和裝置和/或系統的位置通常是彼此相同的或緊鄰的)。作為一實例，遠程位置可以是指與受檢者、裝置或系統所在的房間不同的房間，和/或無法看到受檢者、裝置或系統的位置。在一些變型中，這裡所述裝置和/或系統可構造成連接至另一計算機、伺服器、網際網路和/或內聯網(例如經由藍牙 、乙太網、諸如無線區域網的區域網、任何無線協議、或其它連接裝置)。而且，這裡所述裝置、系統和/或方法的一些變型可採用遠程監測、建議和/或控制 (例如經由電話、網際網路等)。這裡所述裝置、系統和方法在多個不同應用中可以是有用的。例如，它們可用來化驗人類疾病，諸如傳染病(例如B型肝炎)，或任何其它涉及可識別表位的人類疾病(例如癌症、免疫疾病、心血管狀況、激素檢驗和病理學)。這裡所述裝置、系統和方法的一些變型可用來檢驗濫用藥物。化驗還可用在獸醫、食品檢驗、農業或精細化學應用等。在一些變型中，這裡所述裝置、系統和/或方法可用在化學氣體檢驗或核酸檢驗中，例如氧氣含量檢測和核酸檢測。在一些變型中，構造成接納試樣以用於檢測試樣中的分析物的檢驗條或其它檢驗介質可包括基片和基片的一部分上的塗層，所述塗層包括第一分析物捕獲劑和第二分析物捕獲劑的組合，所述第一分析物捕獲劑構造成粘合至第一分析物，所述第二分析物捕獲劑構造成粘合至與第一分析物不同的第二分析物(例如控制分析物)。與這裡所述裝置、系統和方法一起使用的分析物捕獲劑可選自下組抗體、工程蛋白質、肽、半抗原、包含具有分析物粘合部位的抗原非均勻混合物的溶解產物、配體、受體。在一些變型中，塗層可包括第一分析物捕獲劑和第二分析物捕獲劑的混合物。在一些變型中，第一分析物捕獲劑和第二分析物捕獲劑可標有可檢測的標記，諸如螢光團。例如，第一分析物捕獲劑可標有第一螢光團，和/或第二分析物捕獲劑可標有第二螢光團(例如，其與第一螢光團不同)。基片可包括硝化纖維素。塗層可形成基片上的第一帶。檢驗條還可包括第二帶，所述第二帶構造成將試樣添加至其上。一個或多個帶可至少部分地交疊。 第一帶可與第二帶隔開至少約2mm和/或至多約5mm。在這裡所述的檢驗條或其它檢驗介質中，捕獲劑和/或粘合劑可被直接和/或間接標記(例如標有螢光團)。在一些情況下，可使用直接標記的抗體。在一些情況下，抗生蛋白鏈菌素可用來標記捕獲劑和/或粘合劑(例如用螢光團)。直接標記的試劑和/或間接標記的試劑可用在這裡所述的檢驗條或其它檢驗介質中。在一些情況下，可使用直接標記的抗體。在一些情況下，可使用抗生蛋白鏈菌素。
在一些變型中，一種用於檢測試樣中的至少一種分析物的方法可包括將所述試樣施加至檢驗條(或其它檢驗介質)的包括塗層的一部分，所述塗層包括第一分析物捕獲劑和第二分析物捕獲劑，所述第一分析物捕獲劑構造成粘合至第一分析物，所述第二分析物捕獲劑構造成粘合至與所述第一分析物不同的第二分析物(例如控制分析物)；以及將光施加至所述檢驗條，其中，將光施加至所述檢驗條提供所述第一分析物是否存在於所述試樣中的指示。在一些變型中，試樣可直接施加至檢驗條的包括塗層的部分，該塗層包括第一分析物捕獲劑和第二分析物捕獲劑。在其它變型中，試樣可間接施加至檢驗條的該部分 (例如，通過施加至與檢驗條的該部分接觸的試樣墊)。該方法還可包括測量所述第一分析物在所述試樣中的濃度。將光施加至檢驗條可包括將來自第一光源和第二光源的光施加至檢驗條。所述第一光源和第二光源中的至少一個光源可包括雷射器。例如，所述第一光源可包括第一雷射器，所述第二光源可包括與所述第一雷射器不同的第二雷射器。檢驗條還可包括分析物粘合劑和控制分析物(例如處於與第一和第二分析物捕獲劑不同的帶中)。分析物粘合劑可標有第一螢光團，該第一螢光團一旦暴露於來自第一光源的光就發出螢光。替代地或附加地，控制分析物可標有第二螢光團，該第二螢光團一旦暴露於來自第二光源的光就發出螢光。測量所述第一分析物在所述試樣中的濃度可包括將所述第一螢光團的螢光強度與所述第二螢光團的螢光強度作比較。在所述第二分析物包括控制分析物的變型中，測量所述第一分析物在所述試樣中的濃度可包括使用處理器、存儲器資源和軟體，相對於粘合至所述第二分析物的所述第二分析物捕獲劑的量，評估粘合至所述第一分析物的所述第一分析物捕獲劑的量。在所述試樣施加至所述檢驗條的所述部分之後二十分鐘以下(例如十分鐘以下)的時間內，所述處理器、存儲器資源和軟體分析所述檢驗條。試樣可包括諸如血液的流體試樣。在一些變型中，該方法還可包括在將所述試樣施加至所述檢驗條的所述部分之前，使所述試樣通過過濾器。在一些變型中，可通過將一種或多種溶質溶解在溶劑中形成溶液，來製備用於檢驗的液體試樣。在一些變型中，一種製造檢驗條或其它檢驗介質的方法，所述檢驗條或其它檢驗介質構造成接納試樣以用於檢測所述試樣中的分析物，所述方法可包括將第一分析物捕獲劑與第二分析物捕獲劑組合以形成塗層材料，其中，所述第一分析物捕獲劑構造成粘合至第一分析物，所述第二分析物捕獲劑構造成粘合至與所述第一分析物不同的第二分析物 (例如控制分析物)。在一些變型中，該方法還可包括將所述塗層材料施加至基片的一部分以在所述基片上形成塗層。在一些變型中，一種用於檢測試樣中的分析物的現場即時系統可包括設備，該設備包括第一雷射器和與所述第一雷射器不同的第二雷射器。該系統還可包括檢驗條(或其它合適的檢驗介質)。在一些變型中，該系統可包括罩殼，該罩殼包括容座，檢驗條可構造成匹配在容座內。在一些這樣的變型中，所述第一雷射器可構造成當所述檢驗條定位在所述容座中時將第一雷射束施加至所述檢驗條，所述第二雷射器可構造成當所述檢驗條定位在所述容座中時將第二雷射束施加至所述檢驗條(例如施加至檢驗條上的與第一雷射束所施加的同一位置)。該設備還可包括至少一個鏡子，所述鏡子構造成將所述第一雷射束和第二雷射束中的至少一個雷射束直接施加至所述檢驗條。在一些變型中，該設備還可包括物鏡，所述物鏡構造成接受從所述檢驗條發射的光。在一些變型中，該設備還可包括第一檢測器，所述第一檢測器構造成檢測從所述檢驗條發射並通過所述物鏡接受的光。所述檢驗條可包括基片和所述基片的一部分上的塗層，所述塗層包括第一分析物捕獲劑和第二分析物捕獲劑，所述第一分析物捕獲劑構造成粘合至第一分析物，所述第二分析物捕獲劑構造成粘合至與所述第一分析物不同的第二分析物。檢驗條還可包括分析物粘合劑和控制分析物。在一些變型中，所述分析物粘合劑和所述控制分析物標有可檢測的標記。例如，所述分析物粘合劑可標有第一螢光團，所述控制分析物可標有第二螢光團。所述第一雷射器可以在所述第一螢光團的激發光譜內的波長發射光，和/或所述第二雷射器可以在所述第二螢光團的激發光譜內的波長發射光。該設備還可包括物鏡，所述物鏡構造成接受從所述容座的位置發射的光，且該設備可包括第一檢測器，所述第一檢測器構造成檢測從所述容座的位置發射並通過所述物鏡接受的光。所述第一檢測器可構造成檢測來自所述第一螢光團的螢光。該設備還可包括第二檢測器，所述第二檢測器構造成檢測來自所述第二螢光團的螢光。在一些變型中，該設備還可包括濾光器(例如分色濾光器)，所述濾光器構造成將來自所述第一螢光團的螢光與來自所述第二螢光團的螢光分離。該設備還可包括光電二極體。第一和/或第二雷射器可以約300nm至約SOOnm的波長發射光。在一些變型中， 所述第一雷射器可以與所述第二雷射器不同的波長發射光。所述第一雷射器包括在光譜的紅光區域中發射的雷射器。所述第二雷射器包括紅外雷射器。所述第一雷射器和第二雷射器中的至少一個雷射器可以是光纖聯接的雷射器。該設備例如可構造成以< 3pg/mL的分析靈敏度測量所述第一分析物的濃度。在一些變型中，該設備可構造成以至少3pg/mL的分析靈敏度測量所述第一分析物的濃度，且變化係數小於5%。該系統可構造成檢測試樣中的多種分析物。例如，該系統可構造成所述檢驗條上的十種至二十種分析物。在一些變型中，一種用於檢測試樣中的至少一種分析物的方法可包括將所述試樣施加至檢驗條(或其它檢驗介質)；將來自現場即時診斷系統的第一雷射器的第一光束施加至所述檢驗條；以及將來自所述現場即時診斷系統的第二雷射器的第二光束施加至所述檢驗條(例如檢驗條上的與第一光束所施加的同一位置)，其中，將所述第一光束和第二光束施加至所述檢驗條提供所述至少一種分析物是否存在於所述試樣中的指示。所述第一光束和第二光束可同時施加至所述檢驗條。在一些變型中，一種方法可包括將從受檢者獲得的試樣添加至現場即時診斷系統，所述現場即時診斷系統構造成從所述試樣獲得與其中存在或缺失一種或多種分析物有關的數據，並將所述數據實時地發送至遠程位置，在所述遠程位置，可評估所述數據和/或將所述數據結合入所述受檢者的醫療記錄。在一些變型中，一種方法可包括將從受檢者獲得的試樣添加至現場即時診斷系統，其中，所述現場即時診斷系統構造成由處於遠程位置的操作者來操作。所述遠程位置可以離開所述現場即時診斷系統至少約20英尺(例如至少約50英寸、至少約100英尺、至少約500英尺、至少約1英裡、至少約5英裡、至少約10英裡、至少約25英裡、至少約50英裡等)。所述現場即時診斷系統可構造成將從所述試樣獲得的數據實時地發送至所述遠程位置。在一些變型中，所述受檢者可將所述試樣添加至所述現場即時診斷系統，和/或所述試樣可以非臨床方式添加至所述現場即時診斷系統。在一些變型中，所述現場即時診斷系統可構造成由未經醫療訓練的操作者來操作。在一些變型中，所述現場即時診斷系統可構造成將所述數據用電話、經由網際網路和/或經由內聯網發送至所述遠程位置。在一些變型中，所述現場即時診斷系統可構造成用電話操作，經由網際網路操作， 和/或經由內聯網操作。所述現場即時診斷系統可包括檢驗條，將所述試樣添加至所述現場即時診斷系統可包括將所述試樣添加至所述檢驗條。在一些變型中，所述檢驗條可包括基片和所述基片的一部分上的塗層，所述塗層包括第一分析物捕獲劑和第二分析物捕獲劑的組合，所述第一分析物捕獲劑構造成粘合至第一分析物，所述第二分析物捕獲劑構造成粘合至與所述第一分析物不同的第二分析物。在一些變型中，所述數據可包括所述第一分析物和第二分析物中的至少一種分析物的濃度。所述現場即時診斷系統可包括設備和檢驗條，所述設備包括第一雷射器、第二雷射器和包括容座的罩殼，所述檢驗條構造成匹配在所述容座內。在一些變型中，將所述試樣添加至所述現場即時診斷系統可包括當所述檢驗條定位在所述容座中時，將所述試樣施加至所述檢驗條。在一些變型中，該方法還可包括將來自所述第一雷射器的第一光束施加至所述檢驗條，以及將來自第二雷射器的第二光束施加至所述檢驗條。在一些情況下，第一光束和第二光束可施加至檢驗條上的同一位置。操作者例如可以是醫療專業人員(例如醫生、護士等)。在一些變型中，所述現場即時診斷系統可構造成自動地再充填或再裝填。


圖IA是現場即時診斷系統的一個變型的剖切立體圖。圖IB是現場即時診斷系統的另一變型的剖切立體圖，圖IC是圖IB的系統的剖切前視圖。圖ID是帶有罩殼的圖IA的系統立體圖。圖2A是用於現場即時診斷系統的盒子的一變型的立體圖。圖2B是用於現場即時診斷系統的盒子的另一變型的立體圖。圖3A-3C示出了檢驗條的各種變型，以及使用檢驗條來檢測流體試樣中一種或多種分析物的存在的方法。圖3D示出了檢驗條的一變型的剖視圖。圖4A是用於形成檢驗條上的接觸帶(也稱作配合墊)的方法的一變型的流程圖。圖4B是用於形成檢驗條上的試樣接觸帶的方法的一變型的流程圖。圖4C是用於製造檢驗條保持盒的方法的一變型的流程圖。圖4D是用於組裝盒子套件的方法的一變型的流程圖。圖5A是用於現場即時診斷系統的光學模塊的一個變型的立體圖。圖5B是現場即時診斷系統的光學模塊的另一變型的剖切立體圖(包括盒子作為參照系的圖)，圖5C是去除了光學模塊罩殼的、圖5B的光學模塊的各部件的立體圖。
圖6是現場即時診斷系統的光學模塊的另一變型的示意圖(包括試樣保持件作為參照系)。圖7A是現場即時診斷系統的光學模塊的激發模塊的一變型的立體圖，圖7B是圖 7A的激發模塊的側視圖。圖7C是現場即時診斷系統的光學模塊的激發模塊的另一變型的示意圖(包括盒子和物鏡或檢測模塊作為參照系)。圖7D-7H是現場即時診斷系統的光學模塊的激發模塊的示意圖(包括盒子和物鏡作為參照系)。圖7I-7L示出了激發模塊的各部件的變型。圖7M示出了激發模塊和用於使用激發模塊來檢驗檢驗條上一種或多種分析物的存在的相關方法的變型；圖7N是光纖聯接的雷射器的一變型的立體圖；以及圖70是圖7N 的光纖聯接的雷射器的側視圖。圖7P是現場即時診斷系統的光學模塊的激發模塊的示意圖(包括盒子和物鏡作為參照系)。圖8A是現場即時診斷系統的檢測模塊的一變型的立體圖，圖8B是圖8A的檢測模塊的側視圖。圖9A是檢測模塊的物鏡單元的一變型的立體圖；圖9B是圖9A的物鏡單元的分解圖；以及圖9C-9E是圖9A和9B的物鏡單元的部件的立體圖。圖10是現場即時診斷系統的檢測模塊的物鏡單元的一變型的示意剖視圖(包括試樣保持件作為參照系)。圖IlA是用於現場即時診斷系統的檢測模塊的具有兩個檢測單元的組件的立體圖；圖IlB是圖IlA的檢測單元中的一個檢測單元的分解圖；以及圖IlC是圖IlB的檢測單元的剖視圖。圖12是現場即時診斷系統的檢測模塊的一變型的示意剖視圖(包括試樣保持件作為參照系)。圖13示出了現場即時診斷系統的檢測模塊的另一變型。圖14A是現場即時診斷系統的機動試樣保持託盤的一變型的俯視立體圖；圖14B 是圖14A的託盤的俯視圖；圖14C是圖14A的託盤的另一俯視立體圖；圖14D和14E是加熱棒和電路板的立體圖和剖視圖；圖14F和14G是圖14A的託盤的仰視立體圖；圖14H是圖 14A的託盤的仰視圖；以及圖141是圖14F所示託盤、從線141-141所取的側視圖。圖15A和15B是現場即時診斷系統的試樣保持件的一變型的立體圖，圖15C是圖 15A和15B的試樣保持件的側視圖。圖16A-16C是現場即時診斷系統的變型的示意圖。圖16D是現場即時診斷系統的激發模塊的一變型的示意圖。圖16E是現場即時診斷系統的激發模塊的另一變型的示意圖。圖17A是與現場即時診斷系統一起使用的、包括硬碟驅動器的嵌入式計算系統的一個變型的局部剖切的立體圖。圖17B是示出與現場即時診斷系統一起使用的、計算機軟體架構的一變型的框圖。
圖17C是示出與現場即時診斷系統一起使用的、計算機的一變型的框圖。圖18是來自實例Ia所述化驗的標準曲線。圖19是示出實例2所述cTnl化驗的分析靈敏度的圖。圖20示出了來自實例4所述多元化驗的實驗結果。圖21是實例5所述檢驗條構造的圖。圖22是實例5所述化驗的實驗結果的圖。圖23是實例6所述化驗的實驗結果的另一圖。圖24A是圖IA的現場即時診斷系統的激發模塊的一個變型的局部剖切立體圖，圖 24B是圖24A的激發模塊的局部剖切側視圖。圖25A是圖IA的現場即時診斷系統的檢測模塊的一變型的示意圖。圖25B是圖25A的檢測模塊的物鏡單元的局部剖切圖。圖25C和25D是圖25B的物鏡單元的分色濾色器的一變型的俯視立體圖和仰視立體圖。圖25E是通過圖25A的檢測模塊的光路的一變型的示意圖。圖25F是圖25A的檢測模塊的檢測單元的一變型的局部剖視圖(具有分色濾色器和物鏡作為參照系)。圖26A和26B示出了沒有罩殼和光學模塊的、圖IA的現場即時診斷系統的局部剖切圖。圖26C示出了圖IA的現場即時診斷系統的託盤罩殼和可動託盤組件的一個變型。圖27A是圖^C的可動託盤組件的局部剖切圖。圖27B-27D是圖^C的可動託盤組件的一個託盤運動機構的立體剖切圖。圖27E-27I是託盤一變型的各個水平和橫向構造的俯視圖。圖28A和28B是與圖27B-27D的託盤運動機構一起使用的、一個位置檢測機構的局部剖切圖。圖是安裝在圖26C的可動託盤組件的託盤板上的試樣臺架的立體圖和局部剖切剖視圖，其中，圖29B和29C示出了與圖^A的試樣臺架和託盤板一起使用的、流體傳感器和加熱元件的一個變型。圖30是實例7所述化驗的實驗結果的圖。圖31是實例8所述化驗的實驗結果的另一圖。圖32是實例9所述化驗的實驗結果的另一圖。圖33是實例10所述化驗的實驗結果的另一圖。圖34是實例11所述化驗的實驗結果的圖。圖35是實例12所述化驗的實驗結果的另一圖。
具體實施例方式這裡所述的是用於化驗流體試樣以檢測流體試樣中的一種或多種分析物的裝置、 系統和相關方法。在一些變型中，還可測得流體試樣中分析物的濃度。通常，這裡所述的方法和裝置可涉及具有塗敷部分的檢驗條，該塗敷部分包括至少兩種不同的分析物捕獲劑。 對於給定的檢驗條來說，分析物捕獲劑因此位於檢驗條的同一位置上。在一些情況下，分析物捕獲劑中的至少一種可以是控制分析物捕獲劑。在這些情況下，其它分析物捕獲劑中的至少一種可用於檢測目標分析物的存在，可測得目標分析物的濃度並使用該控制標準化該濃度。不想通過理論進行限制，應能相信的是，在檢驗條上的同一位置定位目標分析物捕獲劑和控制分析物捕獲劑可以導致測量中較小可能性的誤差和/或變化，並可以導致較好的可重複性和結果可靠度。此外，在一些情況下，可同時(例如在同一試管中)混合目標分析物捕獲劑和控制分析物捕獲劑，還可同時將目標分析物捕獲劑和控制分析物捕獲劑塗敷在基片上。這還可導致誤差和變化的減少，而其它方法可能會發生這些誤差和變化。在一些變型中，這裡所述的檢驗條和其它部件和/或方法可用在POC診斷系統中。 在合適時，它們還可與其它類型的系統一起使用，諸如其它類型的體外診斷系統(IVD)。此夕卜，這裡所述的POC診斷系統和相關方法的特徵可在合適時應用至其它類型的系統。而且， 在一些變型中，具有這裡所述一個或多個特徵的系統和方法可不使用檢驗條。在一些情況下，這裡所述的系統可以製造成本相對較低，因此可大量製造。而且，一些諸如POC系統的系統變型可用來在相對較短的時間內(例如從獲取試樣的時刻開始等於或少於60分鐘，等於或少於30分鐘、等於或少於20分鐘、或等於或少於10分鐘，如5至10分鐘)為試樣(例如流體試樣)提供定量分析。系統總覽現在參見附圖，圖IA示出了 POC診斷系統(120)的一變型的局部剖切立體圖。系統(120)可用來對由試樣盒子(141)保持的檢驗條上的流體試樣進行化驗，從而檢測或測量流體試樣中一種或多種分析物的濃度。如圖IA所示，系統(120)包括光學模塊(130)，該光學模塊則包括激發模塊(134) 和檢測模塊(136)。系統(120)還包括臺架或可動託盤(138)，其可用來相對於光學模塊 (130)定位試樣盒子(141)。在一些情況下，試樣盒子(141)可由第一試樣臺架(139)來保持，該第一試樣臺架可安裝在可動託盤(138)上。例如根據待分析的試樣盒子數量和可動託盤(13 的容量，任何數量的試樣臺架可包括在系統(120)中。在使用過程中，如同下文將要更詳細描述的那樣，來自激發模塊(134)的雷射束可照射位於試樣盒子(141)中的檢驗條的一部分。然後可通過檢測模塊(136)檢測得到的光(例如螢光)，這可為操作者提供指示在檢驗條上的試樣中存在一種或多種分析物。在一些情況下，可進一步分析結果以確定試樣中至少一種分析物的濃度。在一些變型中，系統 (120)可包括嵌入式計算裝置(142)，該計算裝置可對由檢測模塊(136)檢測的光進行一項或多項分析，以為操作者提供定性和/或定量分析數據。圖IB和IC分別示出了 POC診斷系統(100)的另一變型的剖切立體圖和前視圖。 如圖所示，系統(100)包括光學模塊(101)，該光學模塊包括容納激發模塊(104)和檢測模塊(106)的罩殼(102。)系統(100)還包括臺架或機動託盤(108)，該臺架或機動託盤包括試樣保持件(109)。託盤(108)構造成在罩殼(10 下方移動。試樣保持件(109)保持盒子(111)，該盒子容納檢驗條(未示出)，試樣已施加在該檢驗條上以便檢驗。在使用過程中，來自激發模塊(104)的雷射束(110)通過罩殼(102)中的孔(112)，並照射位於孔(112) 下方的檢驗條的一部分。然後，得到的光被檢測模塊(106)檢測並被分析，從而為操作者提供定性和/或定量指示在檢驗條上的試樣中存在一種或多種分析物。應注意的是，圖IB和 IC中省略了一些結構部件。例如，激發模塊(104)還包括有助於將一些其它部件聯接至罩殼(102)的部件，但在圖IB和IC中未示出。諸如上述變型的診斷系統可包括罩殼，該罩殼對裝入其中的光學模塊和/或試樣盒子進行封閉。罩殼可為試樣盒子提供受控的保溫環境，同時還保護試樣盒子不受汙染、溫度意外波動等。在一些變型中，基於光的化驗系統可包括罩殼，該罩殼構造成調節試樣盒子附近的光亮度。例如，罩殼可以是不透光的，這可有助於提高由檢測模塊檢測的光的信噪比，罩殼還可以保護操作者不受可從激發模塊發出的任何光(例如雷射)照射。圖ID示出了可用於封閉診斷系統的罩殼的一實例。如圖所示，罩殼(122)包括孔 (IM)，該孔可尺寸設計成和成形成容納穿過其中的試樣盒子和/或試樣託盤。此外，罩殼 (122)包括在開向空氣的部分中的一個或多個狹縫(1 )。可選的是，罩殼(122)還可包括作為接口(127) —部分的孔或狹縫，該接口位於診斷系統的內部部件和一個或多個外部部件(例如顯示器、網絡裝置、鍵盤、滑鼠等)之間。此外，診斷系統或蓋子的一些變型可包括一個或多個手柄、凹槽、帶子、和/或其它特徵件，它們可用來將診斷系統從一個位置運輸至另一位置。這裡所述的系統可以操作起來相對容易。在一些情況下，系統可由非技術人員來操作。應理解的是，這裡所述的系統、裝置和方法的特徵、特性和部件可在合適時應用至這裡所述的其它系統、裝置和方法。現在將更詳細地描述系統(100)和(120)的各個部件。現在參見圖2A，盒子(111)包括盒子罩殼000)，該盒子罩殼上具有多個孔，包括第一埠 002)、檢驗條觀察孔004)、以及可選的第二埠 006)。盒子罩殼(200)還可包括各種操作特徵件，諸如凹槽(210、(212)和014)，這可允許牢固地握持盒子。檢驗條可通過任何合適的構造封閉在盒子罩殼O00)中，諸如卡鉤、吊鉤、以及其它類型的封閉機構。 在一些變型中，在使用過程中，盒子罩殼(200)可通過釋放封閉機構來打開，檢驗條(未示出)可定位在其中。在一些變型中，檢驗條可在製造過程中永久密封在盒子(111)中。盒子(111)還包括凸部008)，該凸部可以具有任何合適的尺寸或形狀，從而將盒子固定入盒子託盤中(這將在下文詳細顯示和描述)，使得盒子可精確地和符合地接觸合適的託盤結構。檢驗條可定位在盒子(111)內，使得檢驗條定位在第一埠 002)、檢驗條觀察孔 (204)和第二埠(206)下方。此外，檢驗條可具有芯吸部分，該芯吸部分可設置在盒子罩殼O00)中的可選孔(206)之處或附近。在一些變型中，芯吸部分可沿盒子的寬度設置，垂直於由孔(202), (204)和(206)限定的軸線。如圖2A所示，盒子罩殼(200)具有長度(LC)、寬度(WC)和厚度(TC)。在一些變型中，長度(Lc)可以是約60毫米(mm)至約80mm，寬度(Wc)可以是約15mm至約30mm，和 /或厚度(Tc)可以是約Imm至約6mm。儘管盒子罩殼(200)具有如圖所示的特定構造，但盒子罩殼的其它變型也可具有不同構造。作為一實例，儘管盒子罩殼(200)構造成保持一個檢驗條，盒子罩殼的一些變型可構造成保持多個檢驗條，諸如兩個、三個、四個或五個檢驗條。在一些變型中，試樣保持件和/或盒子可以是帶有條形碼的(例如用來存儲化驗特定信息)。條形碼例如可置於盒子罩殼上。盒子罩殼可包括任何合適的材料或材料種類，諸如聚合物或不同聚合物的組合。圖2B示出了盒子Q30)的另一變型。盒子(230)包括盒子罩殼032)，該盒子罩殼上具有多個孔，包括埠(234)和檢驗條觀察孔036)。此外，盒子罩殼(23 包括凸部 (238)和凹口 /凹槽040)。如前所述，凸部(238)例如可用來確保當盒子定位在盒子託盤 (下文將詳細描述)中時盒子(230)的正確對準，凹槽(MO)例如可為操作者提供在盒子上的較好抓持。埠(234)可用於樣品施加，而孔(236)可允許樣品觀察。儘管已經示出了具有特定埠和孔的盒子，但盒子可包括任何數量、形狀和/或尺寸的孔，這些孔可以合適方式布置以容納試樣以便檢驗和測量。返回參見盒子030)，埠(234)尺寸設計成和成形成容納穿過其中的流體試樣。例如，埠(234)可具有約5mm 至約15mm(例如7. 4mm或IOmm)的長度(Lspt)。埠 Q34)的尺寸可選定為容納特定的流體試樣體積。在一些變型中，埠(234)尺寸設計成容納體積為約20微升(yL)至約 120yL(例如，55yL至60yL，或IOOyL)的流體試樣。盒子(230)還可包括至少一個識別特徵件035)，諸如條形碼或射頻識別裝置 (RFID)。識別特徵件(235)可存儲在使用過程中被診斷系統掃描和/或解碼的信息。例如， 條形碼或RFID可包含諸如化驗類型、批號、失效日期、患者信息、指示說明等的信息。在一些變型中，在條形碼或RFID標籤中編碼的數據可包括呈化驗表和批號形式的化驗數據。化驗表例如可包括計算裝置如何對於特定化驗分析數據的指示說明，以及諸如標定曲線、標準曲線、檢驗條上預期帶數量、保溫時間、化驗時間、分析物類型、截止常數、曲線擬合參數和模型等的信息。批號例如可表示檢驗條上捕獲分析物帶的位置，以及預期帶的數量。檢驗條圖3A-3C示出了例如可用在盒子(111)中的檢驗條(300)的一變型，以及用於使用該檢驗條檢驗試樣中的一種或多種分析物的相關方法。如圖3A所示，檢驗條(300)具有長度(Lt)、寬度(Wt)和厚度(Tt)。在一些變型中， 長度(Lt)可以是約20mm至約70mm，例如25mm。在一些變型中，長度(Lt)可以是約IOmm至約60_，例如16_。替代地或附加地，寬度(Wt)可以是約2_至約3_，例如3_或3. 4mm, 和/或厚度(Lt)可以小於約2mm(例如小於約1mm)。儘管沒有示出，在一些變型中，檢驗條的厚度可在檢驗條的不同區域變化。作為一實例，檢驗條的一個區域可具有約Imm至約2mm 的厚度，而檢驗條的另一區域具有小於約Imm的厚度。儘管檢驗條(300)顯示成具有大體矩形且對稱的形狀，但檢驗條的其它變型也可具有不同形狀。例如，作為有角形狀的替代，檢驗條可以是更加倒圓的，和/或可以具有不對稱的形狀。例如，檢驗條的形狀可取決於與檢驗條一起使用的盒子的形狀。而且，在一些變型中，可不使用檢驗條。相反，也採用具有不同構造的檢驗介質或基片(例如，呈諸如圓點的圓形、卵形或任何其它合適形狀)。對於一些化驗來說，帶有一些尺寸或形狀的檢驗條 (例如帶有相對較小尺寸的檢驗條)可允許相對較快的測量。應理解的是，這裡所述檢驗條以及相關方法的特徵可在合適時應用至其它基片或檢驗介質。再次參見圖3A，檢驗條(300)包括基片(30 、接觸帶(或配合墊)(306)、試樣檢測帶(308)、芯吸部分(或吸收墊)(310)。芯吸部分(310)有助於將流體拉過檢驗條(300)， 並與基片(30 流體地接觸。儘管沒有示出，但在一些變型中，可以有與接觸帶(306)分離的試樣施加帶。儘管接觸部分、試樣檢測部分和芯吸部分在這裡顯示成矩形的條帶，但在一些變型中，它們還可具有替代的幾何形狀，諸如圓點、卵形、橢圓形、六邊形等。在使用過程中，流體試樣可施加至試樣施加帶，且可隨後被抽吸朝向接觸帶。儘管該變型中的流體試樣的流動可以是大體線性和連續的，但在一些變型中，檢驗條上流體試樣的流動可以不是線性的和/或可以不是連續的。例如，在一些變型中，流動可以是90°或甚至180° (雙向橫流)。也可發生其它類型的流動。在一些變型中，接觸帶(306)和試樣檢測帶(308)可隔開約3mm至約5mm的距離， 和/或試樣檢測帶(308)和芯吸部分(310)可隔開約Imm至約IOmm的距離。檢驗條的特定帶和/或部分之間的距離例如可基於試樣必須行進以被檢測的距離來選定，和/或基於試樣、控制、分析物粘合劑、和/或檢驗條基片的性質來選定。可能理想的是，當檢驗條構造成檢測多種分析物時，各帶隔開短距離。檢驗條上的每個帶可具有相同的總體尺寸(長度、寬度、厚度和表面積)，或者至少一些帶可具有不同的尺寸。在一些變型中，帶可具有約0. 7mm 至約2mm的寬度。檢驗條的一些變型還可包括襯條。包括襯條(309)的檢驗條(311)的橫截面示於圖3D中。襯條例如可在檢驗條的長度上延伸，或可僅僅用在檢驗條的一部分上。襯條通常可由任何穩定的、非多孔的材料或材料種類製成，這些材料足夠堅固以支承聯接至其上的材料。因為許多化驗採用水作為擴散介質，所以襯條較佳地是基本不透水的。在一個變型中，襯條可以由聚合物薄膜製成，諸如聚氯乙烯(PVC)薄膜。檢驗條的一些變型可包括保護蓋，作為包括襯條的替代或附加。保護蓋例如可由一種或多種不透水材料形成，並在一些變型中可以是半透明的或透明的(例如取決於所採用的檢測方法)。用在保護蓋中的示例性材料可選地包括透射材料，諸如聚醯胺、聚酯、聚乙烯、聚丙烯、玻璃或類似材料。在一個變型中，保護蓋可選地可包括透明的聚酯。檢驗條(311)還可包括與接觸帶(306)流體地連通的試樣墊(或試樣施加帶) (307)，使得施加至試樣墊(307)的流體試樣導向接觸帶(306)。如圖3D所示，試樣墊(307) 可定位成其至少部分地與接觸帶(306)交疊。還可使用其它合適布置。試樣墊(307)具有例如可以是約6mm至約20mm的寬度(Lsp)，接觸帶(306)具有例如可以是約4mm至約15mm(例如，5mm、7mm、8mm或IOmm)的寬度(Lcb)。此外，試樣墊(307)和接觸帶(306)之間的交疊界面具有例如可以是約3mm至約8mm的寬度(Lif)。在其它變型中，試樣墊可交疊接觸帶的整個寬度，使得接觸帶設置在試樣墊和襯條之間。或者，試樣墊和接觸帶可都與襯條接觸，並布置成試樣墊的邊緣與接觸帶的邊緣流體接觸(例如，端對端)。基片(30 可包括任何合適的材料或材料種類。一般來說，基片(30 可包括一種或多種相對結實的材料，流體試樣可易於行進穿過該材料。典型地，基片(302)可由任何具有足夠孔隙率的材料或材料種類製成，從而允許流體通過各種機制中任一機制(諸如毛細作用)沿基片表面流動並流入基片內部。例如，基片可具有足夠的孔隙率，從而允許諸如分析物粘合劑和/或分析物的顆粒運動。還可能理想的是，基片可被待檢驗試樣中的流體潤溼。例如，親水基片可用於含水流體，而疏水基片可用於有機溶劑。可通過諸如美國專利 4，340，482或4，618，533中所述的工藝來改變隔膜的疏水性，從而使隔膜親水，這些專利描述了將疏水表面轉變成親水表面。可適用於基片(30 的材料的非限制性實例包括纖維素、硝化纖維素、醋酸纖維素、玻璃纖維、微纖維、尼龍、聚合離子交換隔膜、丙烯酸系共聚物 /尼龍、聚醚碸。在一些變型中，檢驗條可通過將基片或多個不同基片的不同部分或部段結合在一起來形成。在一些變型中，檢驗條可呈連續一體條的形式。在其它變型中，多個條可彼此交疊和/或連接至彼此，使得施加在一個條上的流體可流動至另一條。在一些變型中，基片可包括諸如交聯聚合物(例如，聚丙烯醯胺)或瓊脂糖的凝膠。交聯聚合物基片可合成有所需的凝膠孔尺寸，這例如可取決於控制分析物和/或目標分析物的尺寸。在一些變型中，微通道可形成在基片中(例如用來促使和引導流體以特定方向和/或速度行進)。接觸帶(306)包括目標分析物粘合劑和控制分析物。控制分析物可以是不粘合試樣中可能存在的任何物質(或不被粘合)的任何組合物。在一些變型中，控制分析物可包括與BSA(牛血清白蛋白)配合的二硝基酚。目標分析物粘合劑包括識別和粘合分析物的成分(或組分)。然而，在一些變型中，分析物粘合劑可以非選擇性地粘合任何分析物。示例性的目標分析物粘合劑包括但不局限於抗體，抗原，肽，半抗原，工程蛋白質，其它蛋白質結合試劑、諸如核酸(例如RNA、DNA、PNA和其它改性核酸)，它們的類似物，以及其它生化分子。抗體可包括抗體粘合區、互補決定區(CDR)、單鏈抗體、嵌合抗體、或人化抗體。抗體可以是單克隆抗體或多克隆抗體。接觸帶(306)典型地具有上表面和下表面，在一個變型中，接觸帶的下表面可與基片(30 流體地接觸(例如毛細接觸)。接觸帶(306)的一些變型可包括目標分析物粘合劑和控制分析物，各標有不同的可檢測標記。附連至目標分析物粘合劑和/或控制分析物的可檢測標記可包括多種材料中的任意材料，只要可檢測該標記即可。目標分析物粘合劑和控制分析物的量/濃度可相對於彼此變化，或用於不同的目標分析物粘合劑。在一些變型中，目標分析物粘合劑和控制分析物可不直接施加至檢驗條，而可在試樣施加至檢驗條之前或之後添加至試樣。在一些情況下，目標分析物粘合劑和/或控制分析物中的至少一個可與螢光團配合，一旦從光源施加光就允許通過螢光進行檢測。通常，在這些情況下，不同目標分析物粘合劑和/或控制分析物中的每一個將與不同螢光團配合。例如，檢驗條可包括一帶，該帶包括與第一螢光團配合的目標分析物粘合劑和與第二螢光團配合的控制分析物，第二螢光團與第一螢光團不同。螢光團可被選定為以不同波長發出螢光(一旦從諸如雷射器的光源施加光)，從而可使用螢光來檢測和辨別目標分析物粘合劑和控制分析物。這裡可能是合適的螢光團的實例包括HiLyte Fluor 647螢光團(安肽公司(AnaSpec))和DyLight_800螢光團(賽默科技公司(ThermoScientific))，或任何其它合適的市售或專有螢光團，諸如花青染料族(傑克遜免疫研究公司(Jackson ImmunoResearch))或AlexaFluor染料族(英傑分子探針公司anvitrogen-Molecular Probes))中的任何染料。在一些變型中，目標分析物或控制分析物可被螢光團直接粘合。儘管螢光團已被描述成檢測劑，但檢驗條的一些變型可使用其它類型的檢測劑和方法。例如，可採用基於吸收、反射、發光(例如化學發光)或電氣應用的附加檢測方法。在一些變型中，可通過在檢驗條或其它檢驗基片或介質的一個或多個區域中的顏色變化(或在一些情況下缺乏顏色變化)來指示檢測。在一些變型中，可通過PH變化來指示檢測，其中檢測隨PH顏色指示劑而變化。在一些變型中，特定化學成分的存在或缺失可用於檢測。 在一些變型中，功能化的碳納米管可用作拉曼標記，表面增強拉曼光譜(SERS)可用於檢測。例如在 Srivastava, S.禾口 J. LaBaer,"Nanotubes Light Up Protein Arrays, "Nature Biotechnology)(自然生物技術)，洸卷，11期(2008年11月)1244-1M6、以及Chen等人， "Protein Microarrays with Carbon Nanotubes as Multicolor Raman Labels,，，NatureBiotechnology (自然生物技術)，沈卷，11期(2008年11月)1觀5_1292中提供了採用碳納米管的檢測方法的附加描述。可檢測標記的附加實例包括但不局限於顆粒、發光標記 (例如化學發光標記)、量熱標記、化學標記、酶、放射性標記、射頻標記、金屬膠體。常用檢測方法的另外實例包括但不局限於光學方法(例如測量光散射、使用照度計、光電二極體或光電倍增管)、放射性(用蓋格計數器等測得)、電導率或節電(常數)、釋放電活化劑的電化學檢測(例如，銦、鉍、鎵或碲離子，如Hayes等人(Analytical Chem.(分析化學)66: 1860-1865 (1994))所述，或氰亞鐵酸鹽，如 Roberts 和 Durst (Analytical Chem.(分析化學)67 :482-491(1995))所建議，其中通過在檢測區域添加清潔劑液滴來釋放包封在脂質體內的氰亞鐵酸鹽，隨後對釋放的氰亞鐵酸鹽進行電化學檢測)。還可在合適時使用其它方法。而且，可使用單個檢測方法，或者可一起使用多個(例如兩個、三個)不同的檢測方法。在一些變型中，諸如接觸帶(306)的接觸帶可包括兩種以上不同的目標分析物粘合劑，諸如三種、四種、五種或十種不同的目標分析物粘合劑，從而相同的檢驗條可用來評估多種不同的疾病或指標。類似地，一些系統可採用多種不同的檢驗條，每個單獨的檢驗條檢驗不同的疾病或指標。系統的一些變型例如可檢驗10至20種分析物。在一些變型中，檢驗條可包括緩衝區，可選地包括緩衝墊，緩衝劑添加至該緩衝墊。緩衝墊可具有上表面和下表面，其中，緩衝墊的下表面可與檢驗條基片毛細接觸。緩衝區可位於檢驗條的接觸帶或配合墊之處或附近。當緩衝劑添加至檢驗條時，緩衝劑可溶解接觸帶中的目標分析物粘合劑和控制分析物，並可沿檢驗條流動，直到緩衝劑例如到達試樣檢測帶和/或芯吸部分為止。試樣檢測帶(308)可包括至少一種分析物捕獲劑。捕獲劑是在檢驗條上不同的、 特定類型的分析物粘合劑，且可包括識別並選擇性地粘合至目標分析物的成分(或組分)。 當捕獲劑粘合至分析物時，分析物被「捕獲」在檢驗條上。在一些變型中，分析物可在粘合至捕獲劑之前粘合至另一分析物粘合劑。在其它變型中，捕獲劑可不選擇性地用於目標分析物，並可非專門地粘合分析物。檢驗條上分析物捕獲劑和控制分析物捕獲劑的量/濃度可相對於彼此變化。而且，具有不同粘合性質的不同分析物捕獲劑的量/濃度可變化。在一些變型中，試樣檢測帶(308)可包括目標分析物捕獲劑和控制分析物捕獲齊 。目標分析物捕獲劑可構造成粘合至目標分析物粘合劑或目標分析物。類似地，控制分析物捕獲劑可構造成粘合至控制分析物。在檢驗條包括目標分析物粘合劑或在試樣添加至檢驗條之前目標分析物粘合劑與試樣預先混合的一些變型中，可以有粘合目標分析物(其被可檢測地標記)的至少兩種粘合劑和在試樣檢測帶中不動的一種或多種捕獲劑。應注意的是，粘合目標分析物的至少一種粘合劑應僅僅粘合至目標分析物，而不粘合至試樣中其它組分的任意組分(即，粘合劑將選擇性地或專門地粘合至目標分析物)。在一個變型中， 在試樣檢測帶中不動的一種或多種捕獲劑可以對於目標分析物來說是專門的/選擇性的， 標有可檢測標記的目標分析物粘合劑可以能夠非選擇性地粘合至目標分析物。在另一變型中，在試樣檢測帶中不動的一種或多種捕獲劑可以非選擇性地粘合至目標分析物，標有可檢測標記的目標分析物粘合劑對於目標分析物來說可以是專門的/選擇性的。在另一變型中，捕獲劑和可檢測標記的目標分析物粘合劑對於目標分析物來說可以是專門的/選擇性的。這裡可適當使用的目標分析物捕獲劑的非限制性實例包括抗體、工程蛋白質、肽、半抗原、包含具有分析物粘合部位的非均勻混合物的溶解產物、配體、核苷酸、核酸、適體、受體。控制分析物捕獲劑通常被選定成專門粘合至除了專門粘合至目標分析物的分子之外的分子。控制分析物捕獲劑可以是不粘合至試樣中可能存在的任何物質的組合勿。用作控制分析物捕獲劑的物質包括上述用作目標分析物捕獲劑的那些物質。在一些變型中， 控制分析物捕獲劑可以是天然產生的或工程的蛋白質。控制分析物及其對應控制分析物捕獲劑還可以是受體-配體對。此外，控制分析物或其對應控制分析物捕獲劑可以是配合至非專門地用於所關心的分析物(目標分析物)的蛋白質的抗原、另一有機分子、或半抗原。 例如在美國專利5，096，837中描述了控制分析物和/或控制分析物捕獲劑的其它合適變型的說明，包括IgG、其它免疫球蛋白類、牛血清白蛋白(BSA)、其它清蛋白、酪蛋白、球蛋白。 在一些變型中，控制分析物捕獲劑可包括兔抗二硝基酚(抗DNP)抗體，其粘合至配合於BSA 的二硝基酚。控制分析物捕獲劑的附加有益特徵包括但不局限於體積穩定性、對於目標分析物的非專門性、檢驗實施的可重複性和可預測性、分子尺寸、粘合至控制分析物的親合力。在一些變型中，諸如目標分析物捕獲劑或控制分析物捕獲劑之類的捕獲劑可以是以高親合力專門粘合其目標的任何大分子，還包括例如可用來附連檢測探針或檢測劑的子基團。在一些變型中，試樣檢測帶可包括不同的捕獲劑，各個捕獲劑標有不同的可檢測標記。只在捕獲預期分析物之後才可激活標記(即，它們變成可檢測的)。例如，目標分析物捕獲劑可標有一種螢光標記，而控制分析物捕獲劑可標有不同的螢光標記，其中在分析物粘合之時才激發每個標記的螢光。螢光標記和其它可使用的可檢測標記的實例包括這裡所述的標記。當然，儘管這裡描述了包括目標分析物捕獲劑和控制分析物捕獲劑的檢驗條，但檢驗條的一些變型可包括一個以上(例如三個、四個、五個、或十個)目標分析物捕獲劑和/ 或控制分析物捕獲劑。此外，檢驗條的一些變型可不包括在與目標分析物捕獲劑同一位置的控制分析物捕獲劑。芯吸部分(310)可由可吸收試樣流體和/或緩衝劑的吸收物質形成。芯吸部分 (310)的吸收能力可足夠高，從而允許芯吸部分吸收已輸送至檢驗條的流體。適用於芯吸部分的物質的實例包括纖維素和玻璃纖維。在檢驗條(300)的使用過程中，流體試樣可沿箭頭(Al)方向(例如經由盒子 (111)的第一埠 O02))施加至接觸帶(306)。試樣可以是可能包含所關心的分析物的任何合適流體試樣(例如，諸如體液的生物試樣)。例如，流體試樣可以是血液、血漿、血清、 唾液、粘液、尿液、宮頸粘液、精液、陰道分泌液、淚液、或羊膜流體試樣。在一些變型中，流體試樣可以是全血試樣。在一些變型中，流體試樣可以不是生物試樣，但可以是例如在其中有被檢測雜質或汙染物的流體。試樣可以(但不必須)在沉積於檢驗條之前被處理。作為一實例，在一些變型中，一種或多种放大劑和/或防腐劑可在添加至檢驗條之前添加至流體試樣。作為另一實例，在試樣太粘而在檢驗條上不均勻流動的一些情況下，試樣可用降低流體粘度的一種或多種試劑進行預處理，該試劑包括但不局限於一種或多種粘液溶解劑或粘蛋白酶。此外，在一些情況下，流體試樣可在施加至檢驗條之前通過一個或多個過濾器。例如，當流體試樣是血液試樣時，流體試樣可通過一個或多個過濾器，該過濾器保持血液細胞但允許流體自身通過。當流體試樣已添加至檢驗條時，它溶解接觸帶(306)上的目標分析物粘合劑和控制分析物。參見圖:3B，在流體試樣已施加至檢驗條之後，目標分析物粘合劑和控制分析物可被增溶/溶解，存在於試樣中的目標分析物可粘合至目標分析物粘合劑。目標分析物粘合劑(其可粘合至試樣中存在的任何目標分析物)和控制分析物可沿箭頭m方向沿基片 (302)行進(例如由於毛細作用，芯吸部分(310)的作用，或任何方向場，諸如施加的磁場或電場和/或重力場)。目標分析物可以是適用天然存在或可製備專門粘合劑的任何組合物。術語「分析物」可以指游離/非複雜分析物和可被一種或多種可以有或沒有可檢測標記的分析物粘合劑粘合的分析物。分析物類別的實例包括但不局限於蛋白質，諸如激素和其它分泌蛋白質，酶，細胞表面蛋白質；糖蛋白；肽；小分子；多糖；抗體(包括單克隆或多克隆抗體)；核酸；藥物；毒素；病毒或病毒顆粒；細胞壁部分；其它具有表位的組合物。典型地，分析物可以是以高專門性專門粘合至捕獲劑的任何分子(例如，大的或小的)，能夠粘合至檢測探針或檢測劑，或專門粘合至包含檢測探針或檢測劑的分子。可使用這裡所述的裝置、系統和方法來檢測和/或測量任何數量的不同類型分析物。這裡可評估的示例性分析物包括丙氨酸轉氨酶、清蛋白(血漿)、清蛋白(尿液)、 阿米卡星、阿米替林、澱粉酶、天門冬氨酸氨基轉移酶、膽紅素、腦利鈉肽(BNP)、降鈣素 (hCT)、癌症化療劑、氨甲醯氮草、心肌肌鈣蛋白(cTnl)，膽固醇(HDL)、膽固醇(LDL)、膽固醇(總)、絨膜促性腺激素(hCG)、氫化可的松、C反應蛋白(CRP)、肌酸、肌酸激酶(活性)、 肌酸激酶同功酶MB (CKMB)、肌酸酐(血液)、肌酸酐(尿液)、地高辛、雌二醇、雌三醇(游離和總)、雌激素(Sha1-胎蛋白(AFP)、促卵泡激素(hFSH)、慶大黴素、高血糖素、葡萄糖、結合珠蛋白、糖化血紅蛋白(HbAlc)、血紅蛋白、高半胱氨酸、卡那黴素、乳酸脫氫酶任 (LDH ；乳酸一丙酮酸)、鋰、促黃體激素(hLH)、肌紅蛋白、去甲替林、百草枯、甲狀旁腺激素 (hPTH)、苯巴比妥、苯妥英(二苯乙內醯脲)、磷酸酶(酸性)、磷酸酶(鹼性)(ALK-P)、鉀、 孕酮、前列腺特異抗原(PSA)、蛋白質(總)、凝乳酶、鈉、生長激素(hGH)、睪丸激素、茶鹼、甲狀腺微粒抗體、促甲狀腺激素(hTSH)、甲狀腺素(T4)、轉鐵蛋白、甘油三酯、三碘甲狀腺氨酸(T3)、尿素氮、尿酸、丙戊酸、萬古黴素、維生素和營養素、殺鼠靈(下丙酮香豆素鈉)。這些僅僅是示例性的分析物，也可使用這裡所述的系統來檢測和評估其它分析物。例如，可使用這裡所述的診斷系統來評估可能存在於流體中的、可形成抗體(或專門粘合至蛋白質或分析物適體、核酸或核苷酸)的任何分析物.在一些變型中，這裡所述的裝置、系統和方法可用來檢測與以下有關的生理標記癌症、膽固醇含量、過敏症、腎病、免疫系統、內分泌系統、血紅素含量、心臟病、血液氣體、尿液分析、各種傳染病。當流體試樣通過接觸帶(306)時，目標分析物將粘合至目標分析物粘合劑以形成目標分析物複合物。如前所述，目標分析物複合物和控制分析物可標有可檢測標記，諸如螢光標記。現在參見圖3C，目標分析物複合物和控制分析物將沿箭頭m方向沿基片(302) 行進，並將最終接觸試樣檢測帶(308)，在該試樣檢測帶處，目標分析物捕獲劑將粘合目標分析物複合物和/或目標分析物。此外，控制分析物捕獲劑可粘合控制分析物。在一些變型中，目標分析物複合物被目標分析物捕獲劑的粘合和控制分析物被控制分析物捕獲劑的粘合可激發可檢測標記。一旦目標分析物複合物和控制分析物到達試樣檢測帶(308)，就可採取合適的工作以對曾存在於流體試樣中且現粘合至目標分析物捕獲劑的目標分析物進行檢測。這裡， 將在施加雷射或其它光源以檢測配合螢光團的螢光的情況下描述該檢測。然而，如上所述， 還可在合適時使用其它檢測方法。在具有合適的波長時，雷射或其它光源對螢光團的施加可激發螢光團並指示它們發出螢光。這裡，可基於相對螢光強度來評估所存在的目標分析物和控制分析物的量。同一帶中目標分析物與控制分析物的螢光強度之比可以指示試樣中的目標分析物濃度，或可以用來降低測得強度的變化性。如下文進一步詳細所述，通過在檢驗條上同一位置(即，試樣檢測帶(308))定位控制分析物捕獲劑和目標分析物捕獲劑，可降低(在一些情況下可顯著降低)測量變化性 (例如源自隔膜差異、塗敷條件差異、粘度差異、試樣添加差異等)。如前所述，控制分析物可設置在接觸帶(306)處，控制分析物捕獲劑可設置在試樣檢測帶(308)處。控制分析物捕獲劑可粘合控制分析物(控制分析物可在行進通過檢驗條基片(30 的流體試樣中溶解)。這種控制粘合對(即，控制分析物及其對應控制分析物捕獲劑)可用作內部控制。內部控制機制(下文將更詳細描述)可有助於補償條與條之間的變化性，以確保精確和準確的分析物讀取。如上所述，控制分析物捕獲劑和目標分析物捕獲劑可位於檢驗條上同一帶中。控制分析物捕獲劑和目標分析物捕獲劑的共同定位可確保兩種捕獲劑在製造之後都暴露於相同的物理、環境和化學條件下。而且，為了確保控制分析物捕獲劑和目標分析物捕獲劑在製造過程中經受相同的條件，這些捕獲劑可在同一批量中合成和輸運，並同時施加至檢驗條。控制分析物和目標分析物捕獲劑的這種處理和布置可用來相對於控制分析物粘合標準化目標分析物粘合，從而去除可能影響分析物粘合的任何製造和環境變化性。控制分析物和目標分析物捕獲劑相對於檢驗條的等同處理和施加由此可允許精確和準確的讀取(即， 為了更精確的測量，提供對於任何系統變化性的更有效標準化)。類似的，目標分析物粘合劑和控制分析物可在相同的條件下製造、輸運和施加至接觸帶，並可產生相同精確和準確的結果。製造變化性的實例包括檢驗條上不同位置之間的溫度差異、試劑分配量差異、在兩個不同時刻將試劑施加至檢驗條時發生的差異、在不同環境(例如，試劑粘度、不同施加方法、不同洗滌步驟)下將試劑施加至檢驗條時發生的試劑密度差異環境變化性的實例包括溼度和溫度差異、檢驗條輸運模式、對於目標分析物和控制分析物的暴露模式以及類似因素。製造檢驗條、盒子和盒子套件的方法圖4A是表示用於製造接觸帶(306)的方法000)的一變型的流程圖，在該情況下，接觸帶(306)包括目標分析物粘合劑和控制分析物。如圖所示，方法(400)包括製造或獲得控制分析物(40 ，將控制分析物配合至螢光標記(或螢光團)(404)，製造或獲得目標分析物粘合劑G06)，將目標分析物粘合劑配合至螢光標記(或螢光團M408)，形成包括已配合控制分析物和已配合目標分析物粘合劑的混合物的塗敷材料G10)，以及將塗敷材料施加至基片的一部分以在基片的該部分上形成塗層(412)。在檢測系統的其它變型中，試樣檢測帶(308)上的捕獲劑可標有螢光標記，只有在捕獲劑粘合其預期分析物時才激發(即，可檢測)該螢光標記。圖4B是表示用於製造具有試樣檢測帶的檢驗條的方法G20)的一變型的流程圖，該試樣檢測帶包括共同定位的目標分析物捕獲劑和控制分析物捕獲劑。如圖所示，方法(420)包括製造或獲得控制分析物捕獲劑022)，將控制分析物捕獲劑配合至螢光標記(或螢光團M4M)，製造或獲得目標分析物捕獲劑026)，將目標分析物捕獲劑配合至螢光標記(或螢光團) ),形成包括已配合控制分析物捕獲劑和已配合目標分析物捕獲劑的混合物的塗敷材料G30)，以及將塗敷材料施加至基片G32)的一部分以在基片的該部分上形成塗層032)。儘管已經描述了製造檢驗條的方法的一些變型，但在合適時也可使用其它變型。類似地，也使用任何合適的、 製造檢驗條保持盒的方法。例如，圖4C是表示用於製造檢驗條保持盒的方法040)的一變型的流程圖。如圖所示，方法(440)包括將前導件和後拖件添加至卷042)，以及使用捲軸對捲軸塗敷系統來對卷進行帶塗G44)。添加至卷的前導件和後拖件通常是塑料分接頭， 該分接頭可在塗敷之前添加至卷的第一邊緣和最後邊緣以節省實際卷材料，諸如纖維素和玻璃纖維。設計成用於試樣墊和接觸帶(或配合墊)的卷的一部分可以是轉換的046)，設計成用於硝化纖維素的卷的一部分可以在乾燥器中以60°保溫048)，設計成用於接觸帶 (或配合墊)的卷的一部分可經受真空乾燥或凍幹G50)。在一些變型中，全部塗敷的卷可放置在真空中並被乾燥或凍幹。在這些工藝之後，卷可被層壓052)。可製造或獲取印刷墊 GM)，可將印刷墊與卷的各部分組裝在一起以形成盒子(456)。在一些變型中，可將多個盒子一起自動組裝成套件。在其它變型中，可手動組裝套件。例如，圖4D是表示用於組裝檢驗條盒子並將其包裝成套件的方法(460)的一變型的流程圖。如圖所示，方法(460)包括製造或獲取已貼標籤的袋子(46 ，以及將盒子(已製造和/或獲取)密封入已貼標籤的袋子064)。此外，方法(460)包括對已製造和/或獲取的瓶子進行充填(466)和貼標籤068)。然後可袋子與已貼標籤的瓶子一起放入紙箱070)， 並例如儲存在倉庫中(472)。光學模塊如上所述，諸如系統(100)或系統(120)的檢測系統可用來檢測和評估諸如檢驗條(300)或檢驗條(311)的檢驗條中的分析物。現在將更詳細地描述諸如檢測系統(100) 和(120)的檢測系統的各部件。如上所述，POC診斷系統的一些變型使用基於光的檢測機構來評估流體試樣中一種或多種分析物的存在。例如，目標和/或控制分析物可標有一種或多種螢光標記，其中， 這些標記可由光(例如在其激發光譜內的光)來激發，並在其發射光譜內發出螢光。診斷系統可具有光學模塊，該光學模塊包括激發模塊，該激發模塊發出螢光激發光譜內的雷射束以激發螢光標記。光學模塊還可包括檢測模塊，該檢測模塊構造成檢測螢光標記發射光譜內的螢光。可以對螢光發射強度進行定性和/或定量分析，以確定目標分析物的存在和 /或濃度。圖5A示出了光學模塊(500)的一實例。如圖所示，光學模塊(500)包括激發模塊 (502)和檢測模塊(504)。激發模塊(50 可布置成將雷射束(506)導向保持於檢驗條盒子(未示出)內的檢驗條。例如，雷射束(506)可導向位於檢測模塊(504)的檢測範圍內的檢驗條上的一位置。雷射束(506)可以是單波長光，或者可以具有處於檢驗條螢光團激發光譜內的各種波長。根據螢光團的發射光譜，檢測模塊(504)可具有一個或多個光學元件，諸如濾光器、分色鏡等，從而捕獲已發射的光。
光學模塊可包括一個或多個光傳感器板。例如，激發模塊(50 可包括光傳感器板(508)，該光傳感器板可用來監測雷射束(506)的功率。這可允許對於雷射束更精確的控制(例如通過對每個雷射束脈衝進行標準化)。替代地或附加地，檢測模塊(504)可包括光傳感器板(510)，該光傳感器板可用來檢測從螢光標記發出的光強度。光學模塊根據需要可具有任何數量的光傳感器板，用於檢測光學模塊內和/或來自檢驗條的光(即，激發或發射的光)的強度。例如，光學模塊可具有三個、四個、五個、十個等數量的光傳感器板。圖5B和5C以放大的細節示出了系統(100)(圖1B)的光學模塊(101)。圖5B示出了包括罩殼(102)的光學模塊(101)和用於參照的盒子(111)，而圖5C示出了光學模塊 (101)的內部部件並因此去除了罩殼(102)。如圖5B和5C所示，光學模塊(101)包括檢測模塊(106)和激發模塊(104)。在使用過程中，激發模塊(104)將雷射束導向至盒子(111) 中的試樣，檢測模塊(106)檢測得到的螢光。下文將更詳細地討論這兩個模塊的各個部件。儘管圖5B和5C示出了其中檢測模塊(106)和激發模塊(104)是分離實體的光學模塊的一個構造，但也可使用光學模塊的其它合適變型。例如，光學模塊的其它變型可包括一體而非模塊化的檢測模塊和激發模塊。而且，儘管已經描述了包括一個檢測模塊和一個激發模塊的光學模塊，但在一些變型中，光學模塊可包括多個檢測模塊或部件和/或多個激發模塊或部件。作為一實例，光學模塊可包括多對激發模塊和檢測模塊或部件，每對構造成用於具有不同激發光譜和發射光譜的一種或多種特定類型的螢光團。光學模塊(101)的一些變型可提供通向光學模塊的一個或多個內部部件的通路。 例如，這些通路可允許調節一些部件參數，諸如各個部件之間的距離、透鏡和/或聚光器的孔尺寸、反射鏡和其它濾光器的角度。例如可通過罩殼(102)中的孔和/或經由與致動各個內部部件的一個或多個外部控制器的電氣和/或機械接口，來提供用來調節這些參數的通路。此外，光學模塊的其它變型可採用激發模塊的不同構造，諸如下文所述。圖6示出了光學模塊(600)的另一變型，其中包括盒子(603)作為參照系。如圖6 所示，光學模塊(600)包括罩殼(601)，該罩殼包含檢測模塊(60 和激發模塊(604)。儘管罩殼(601)顯示成具有特定構造，但也可採用其它合適的罩殼構造。例如，罩殼可具有相對較小的額外空間，從而罩殼完全匹配至其內部部件。罩殼(601)以及這裡所述的其它罩殼中的任意罩殼可以任何合適材料或材料種類製成，例如包括聚合物、金屬、金屬合金(例如鋁合金、不鏽鋼等)。檢測模塊(60 包括兩個檢測單元(只示出其中一個，檢測單元(606))和一物鏡單元(608)。激發模塊(604)包括罩殼(610)，該罩殼用來幫助包含和/或定位激發模塊的各個部件，且定位在光學模塊(600)的罩殼(601)的空間(611)內。如圖6所示，激發模塊(604)的各部件包括兩個雷射器(612)和(614)、兩個可調節鏡(616)和(618)、固定鏡(620)、分色鏡(622)、光電二極體(6M)、柱面透鏡(626) 0可調節鏡(616)和(618)分別安裝至可調節鏡支架(628)和(630)，分色鏡(62 安裝至可調節支架(632)。柱面透鏡 (626)定位在鏡(620)上方，使得光束可聚焦在窄直線上並被鏡(620)和(618)反射，從而激發盒子(603)中所含的試樣。現在將更詳細討論示例性的檢測模塊和激發模塊。激發模塊激發模塊的任何合適構造可用在這裡所述的裝置中。一個示例性激發模塊是光學模塊(130)的激發模塊(134)(圖1A)。圖24A和MB以放大細節示出了激發模塊(134)。如圖所示，激發模塊(134)包括第一雷射器040 和第二雷射器(M04)，第一雷射器構造成發射具有第一光譜分布的第一雷射束，第二雷射器構造成發射具有第二光譜分布的第二雷射束。激發模塊(134)還包括一個或多個光學部件，這些光學部件布置成將第一雷射束和第二雷射束組合和聚焦成指向單個位置(例如，在與檢測模塊的物鏡光學軸線相交的位置)的單個雷射束。雷射器和光學部件可以可調節地或固定地附連至基板0401)。儘管激發模塊(134)包括兩個雷射器，但根據檢測理想數量的目標和/或控制分析物所需的獨特光波長數量，激發模塊的其它變型可包括一個、三個、四個、六個等數量的雷射器。第一雷射器Q402)可包括發射紅外範圍內(例如780納米(nm))雷射的雷射二極體，和/或第二雷射器O404)可包括發射紅光範圍內(例如635nm)雷射的雷射二極體。 可以電子地或計算機地控制每個雷射器發射的功率和/或脈衝寬度。第一雷射器O402)可發射輸出功率為約5毫瓦(mW)至約35mW(例如30mW)的光，和/或第二雷射器Q404)可發射輸出功率為約3mW至約25mW(例如20mW)的光。第一雷射器和第二雷射器發射的光還可進行頻率調製。下文將進一步描述各種雷射器脈衝修改。第一雷射器040 和第二雷射器O404)可由附連至基板Q401)的雷射器支架
(2403)來保持，並布置成使得它們發射的雷射束是準直的(即，基本平行的)。然而，在其它激發模塊中，雷射器可布置成使得它們的雷射束不平行而成一角度(例如，垂直的)。雷射器040 和Q404)可具有對準環，可調節該對準環來使雷射器040 的光束與雷射器
(2404)的光束準直。一旦第一雷射器和第二雷射器的光束如同所希望的那樣準直和/或對準，就可使用粘合劑固定該對準環，諸如Loctite 271螺紋鎖定紅色粘合劑。可通過調節嵌入雷射器的雷射器透鏡來實現兩個雷射束的準直，雷射器透鏡可以是典型雷射二極體模塊的一體部分。雷射二極體可以發射圓形、橢圓形、矩形等的雷射束。可通過對雷射二極體進行物理旋轉和/或通過使用雷射束剖面儀控制光束位置來調節雷射束的取向。可根據需要使用製造夾具來精確地定位雷射二極體。例如，發射橢圓形光束的雷射二極體可定位成使得橢圓形光束的長軸如下取向由柱面透鏡聚焦的光束產生可平行於盒子中試樣帶的直線。在一些變型中，雷射器的位置可相對於彼此和/或其它光學部件固定，而在其它變型中，雷射器的位置是可調節的。例如，第一雷射器040 和第二雷射器O404)可以由雷射器支架 (2403)可滑動地和/或可轉動地保持，或者它們可以由雷射器支架040；3)固定地保持。在一些變型中，雷射器可以相對於支架可動，而其它雷射器相對於支架是固定的。可通過一個或多個調節螺釘040 來固定第二雷射器O404)在雷射器支架040；3)內的位置和取向， 而可通過一個或多個安裝螺釘O407)來固定第一雷射器040 的位置和取向。還可使用其它固定機構。雷射束或這裡所述系統的其它光源可在使用過程中遵循任何合適的路徑。在一些變型中，雷射束的光路可由一個或多個光學部件來導向。例如，各光學部件可布置成將第一雷射束和第二雷射束組合和聚焦成單個光束，該單個光束指向與系統檢測模塊的物鏡光軸相交的一位置。例如，如圖24A和24B所示，激發模塊(134)包括鏡子(M06)、分色反射鏡Q408)和柱面透鏡(MlO)，該鏡子Q406)構造成反射來自第一雷射器040 的光束， 該分色反射鏡O408)構造成反射來自第二雷射器O404)的光束並透射來自第一雷射器 (2402)的光束，該柱面透鏡O410)構造成將來自第一雷射器和第二雷射器的光束聚焦至單個位置。如圖所示，鏡子O406)在雷射器040 之前固定在鏡子支架O409)上，使得鏡子Q406)的反射表面以一角度(A3)將雷射束導向分色反射鏡O408)(圖MB)。角度 (A3)例如可以是約10°至約90° (例如45° )。可使用一個或多個調節螺釘0414)和/ 或任何其它合適附連機構來將鏡子支架O409)可調節地附連至基板0401)。可使用調節螺釘0414)來調節鏡子支架和基板之間的距離和鏡子的傾斜角度。在一些變型中，激發模塊(134)可包括設置在鏡子支架O409)和基板Q401)之間的一個或多個彈簧O430)。彈簧可將鏡子支架O409)和基板Q401)拉向彼此，或將鏡子支架和基板推開。例如可使用一種或多種粘合劑將鏡子0406)附連至鏡子支架(M09)，諸如可用紫外線固化的光學粘合劑(例如，SK-9或其等同物)。分色反射鏡Q408)可被選定為透射來自第一雷射器040 的雷射束，並反射來自第二雷射器O404)的雷射束。如圖所示，分色反射鏡O408)可附連至反射鏡支架0411) 上，該反射鏡支架可以可調節地附連至基板0401)。分色反射鏡Q408)的反射表面可以定位在第二雷射器O404)之前，使得來自第二雷射器的雷射束以一角度(A4)導向柱面透鏡 (2410)(圖MB)。角度(A4)例如可以是約10°至約90° (例如45° )。來自第一雷射器 (2402)的雷射束可筆直透過分色反射鏡(M08)，並與來自第二雷射器(2404)的雷射束朝向柱面透鏡O410)組合在一起。在一些變型中，分色反射鏡可以反射來自第一雷射器的雷射束的一部分，並透射來自第二雷射器的雷射束的一部分。例如，來自第一雷射器O402) 和第二雷射器O404)的雷射束可導向光傳感器板0418)。光傳感器板0418)可監測雷射的功率級，並為醫師或計算機控制系統提供指示以根據需要調節第一雷射器和第二雷射器的輸出功率和/或脈衝寬度。光傳感器板0418) 可包括光電二極體(對20)、構造成將光聚集到光電二極體上的傳感器透鏡(M22)、連接器接口 0424)。儘管光傳感器板0418)包括光電二極體，但光傳感器板的其它變型也可使用不同的光檢測裝置。可根據光檢測裝置可捕獲的光的光譜特徵和強度來選定光檢測裝置。 例如，光電二極體可以適用於一定亮度級的光檢測，而照度計或光電倍增管可適用於其它光亮級的光檢測。可根據激發模塊雷射束的光譜質量來調節光電二極體O420)的放大係數和靈敏度(例如增益)。在圖24A和24B所示的構造中，來自第一雷射器^40 和第二雷射器Q404)的雷射束被導向通過傳感器透鏡042 並聚焦在光傳感器板0418)的光電二極體O420) 上。在一些變型中，可調節光傳感器板0418)的位置以與雷射束的位置對準，而在其它變型中，可固定光傳感器板的位置。例如，包括相對於雷射束寬度較大的光電二極體的光傳感器板可無需附加的位置調節。光電二極體O420)可檢測來自第一雷射器040 和第二雷射器O404)的雷射束的功率級，並且通過經由連接器接口 0424)的反饋電路來電子地調節經過第一雷射器和第二雷射器的雷射二極體的電流。在一些變型中，由發光二極體 (2420)檢測的功率級可進行數字轉換(例如，使用M位模數轉換器，其可將來自光電二極體的電壓輸出轉換成數位訊號)，並可被計算機控制系統使用來標準化由雷射器施加的雷射脈衝寬度。雷射器功率輸出的電子和/或計算機控制可有助於防止螢光標記的過度曝光或曝光不足。如上所述，雷射束可進行頻率或幅值調製。例如，可用第一載波頻率調製來自第一雷射器的第一雷射束，並可用第二載波頻率調製來自第二雷射器的第二雷射束，第二載波頻率與第一載波頻率不同。可將第一雷射束和第二雷射束同時導向至光傳感器板的光電二極體。光傳感器板可具有電路邏輯，該電路邏輯能夠對來自光電二極體的頻率或幅值已調製的信號進行解調，從而對於兩個雷射器中的每個雷射器提取雷射器功率數據。在其它變型中，光傳感器板可將已調製的信號傳送至第二板(例如主機板)或計算裝置(例如嵌入的PC)，以用於解調。在光傳感器板、主機板、嵌入PC等上實施各種解調技術。例如，光傳感器板可使用快速傅裡時變換(FFT)或同步解調方法來解調信號。可根據雷射器信號的頻率或幅值調製來在光傳感器板上實施任何已知的解調方法，從而改進信噪比和串擾拒絕。如下所述，對激發螢光標記的雷射束進行頻率調製並對來自螢光標記的發射波長進行解調可允許大大降低發射數據之間的串擾。可將來自第一雷射器040 和第二雷射器O404)的雷射束進行組合併傳送至柱面透鏡(Mio)，該柱面透鏡可安裝在透鏡基座中並由調節螺釘固定。柱面透鏡 (2410)可具有抗反射塗層。透鏡基座0413)可以可調節地附連至激發模塊(134)的罩殼。 可調節透鏡O410)繞其光軸(即，通過透鏡中心的假想線)轉動，和/或沿其光軸平移。在使用過程中，可調節鏡子、分色反射鏡和/或柱面透鏡的位置和/或角度，使得來自第一雷射器和第二雷射器的雷射束聚焦在同一平面上(例如，該平面可以是試樣條的表面)。可調節雷射器、鏡子、分色反射鏡和柱面透鏡以在試樣條的表面上獲取一定的雷射束。例如，雷射束寬度可在l/e~2的功率級下小於或等於0. 1mm，來自第一雷射器和第二雷射器的光束位置差可以小於0. 1mm。在一些變型中，柱面透鏡的幾何和光學特徵可根據檢驗條的幾何形狀而變化。例如，如圖24A和24B所示的柱面透鏡可以適用於將雷射束聚焦到條狀或矩形的檢驗條帶上。或者，不同的透鏡可適用於將雷射束聚焦到圓形、圓化的檢驗條圓點上。例如，可使用焦距為約50mm至IOOmm的雙凸透鏡或平凸透鏡來將雷射束焦距到圓形檢驗條圓點上。可根據激發模塊的機械設計來選定其它焦距。隨著雷射束已被準直，透鏡和目標之間的距離可近似等於透鏡的焦距。可能有利的是，在光傳播方向中提供透鏡位置的可調節性。這可有助於補償透鏡的可能缺陷及其焦距的變化性。可使用物鏡來替代單個平凸或雙凸透鏡，從而對於儀器中所用的兩種波長提供較好的聚焦並補償焦距差異。如圖24A和24B所示，激發模塊(134)的一些變型還可包括位於柱面透鏡Q410) 之下的孔板0416)。孔板0416)可有助於降低由包含檢驗條的盒子本體所造成的光散射。儘管孔板0416)被顯示成單獨部件，但在一些變型中，孔板可與激發模塊的罩殼形成一體。孔板0416)包括孔0417)(圖24A)，該孔尺寸設計成允許透過柱面透鏡的雷射束通過，但阻止任何發散或散射的光。例如，通過柱面透鏡的雷射束的寬度可以是約50 μ m至約 150 μ m (例如100 μ m)。因此，孔(2417)的直徑可以是約70 μ m至約200 μ m (例如150 μ m)。 在一些變型中，可在孔0417)上設置濾光器以調節落在檢驗條上的光的光譜特徵。可用在孔板0416)和/或如上所述沿雷射束路徑任意位置的濾光器的實例包括中性濾光器、帶通濾光器、長波通過濾光器、分色反射鏡等。替代地或附加地，無色玻璃板可設置在孔0417) 上以減少進入激發模塊(134)的任何灰塵或碎屑。激發模塊的其它變型也可用在POC診斷系統中，以對流體試樣中的一種或多種目標分析物進行定性和/或定量分析。例如，圖7A和7B以放大細節示出了圖IB所示的激發模塊(104)。激發模塊(104)包括透鏡(700)和(702)(這可發射具有不同波長和強度的雷射束)、分色反射鏡(704)、光電二極體(706)和柱面透鏡(708)。這些部件例如可使用螺釘和支架組件相對於彼此固定在位。在該變型中，雷射器(700)由雷射器支架(701)來定位，分色反射鏡(704)由鏡子支架(70 來定位，柱面透鏡(708)由透鏡罩殼(709)來定位。支架(701)和(705)以及罩殼(709)可以是可調節的，從而可改變雷射器(700)、分色反射鏡(704)和柱面透鏡(708)之間的相對定位。例如，可調節支架和罩殼，從而當雷射器 (700)和(70 發射的雷射束被彼此平行地導向至柱面透鏡(708)時，雷射束是彼此平行的，這可允許雷射束聚焦在檢驗條的表面上的同一位置。或者，支架和/或罩殼可以處在固定位置，或者可使用固定和可動支架和/或罩殼的組合。可以手動地(例如使用可從外部觸及的螺釘)和/或機電地(例如根據來自計算機的指令)調節支架和罩殼的位置。儘管激發模塊(104)包括兩個雷射器(700)和(702)，但激發模塊的其它變型可包括一個或兩個以上的雷射器。雷射器(700)和(70 可以是任何類型的雷射器，諸如二極體、固態、氣態、化學或金屬蒸汽雷射器。在一些變型中，由於二極體雷射器的緊湊尺寸和操作簡易性可使用二極體雷射器(例如，可電子地和/或計算機地控制二極體雷射器的輸出功率和/或功率調製)。可選定雷射器(700)和(702)的工作波長以匹配所用螢光團的激發光譜。例如，可選擇雷射器(700)和(702)的中心頻率以匹配HiLyte Fluor 647螢光團和DyLite-800螢光團的激髮帶。較佳的是，雷射波長應與被螢光團最大吸收的波長匹配。例如，雷射器(700)可發射635nm的波長，雷射器(702)可發射750至800nm的波長。 或者，雷射器(700)和(70 可用對所關心的螢光團提供足夠激發的其它光源來替代。替代的激發光源可包括發光二極體(LED)、閃光管、或可提供足夠光強度以引起來自目標螢光團的發射的任何單色燈。這些光源的使用可需要對激發模塊的光學器件的修改，諸如包含附加部件(鏡子、濾光器、反射鏡、聚光器等)。儘管激發模塊(104)採用分色反射鏡(704)，但激發模塊的其它變型可適應其它光學部件以實現基本上相同的作用。系統可包括將雷射束導向至光電二極體(諸如光電二極體(706))以及導向至柱面透鏡(諸如柱面透鏡(708))的附加鏡子。激發模塊的其它變型可採用其它類型的透鏡，諸如球柱面透鏡。這種透鏡將雷射束聚焦成寬度為約0. 1-0. 2mm 的窄直線，該寬度由透鏡的柱面和球面部件的組合光功率以及由原始雷射束的性質來限定。該雷射線的長度由透鏡的球面部件的光功率來限定。可通過合適的透鏡選擇來作出調節，從而實現雷射束在基片表面上的所需構造，而不會降低雷射器功率。類似的結果可通過使用還允許雷射束成形的孔來實現，但是該手段可能與雷射損失相關聯。或者，假如雷射點的所需形狀是圓形(例如，假如捕獲劑作為圓點而非條帶塗敷到檢驗條上)，則可使用球面透鏡(平凸、雙凸)。假如需要非常尖銳的雷射線(在窄檢驗條帶的情況下)，則可使用高質量的物鏡或非球面透鏡。假如雷射器的波長顯著不同，則可能有利的是使用消色差光學器件，這降低了對於聚焦的波長依賴。在一些變型中，原始雷射束可提供足夠的螢光激發而無需使用任何透鏡。在使用激發模塊的過程中，諸如激發模塊(104)或(134)，可將各種雷射脈衝序列施加至一個或多個檢驗條以激發所關心的螢光團。各個雷射脈衝可在強度(例如功率)和脈衝寬度上變化，而脈衝序列可在周期和佔空比上變化。對於非周期的雷射脈衝來說，脈衝之間的間隔還可變化。例如，可調節脈衝序列的參數以從螢光團引出最強螢光信號並降低光致退色。由兩個雷射器提供的雷射脈衝(其中每個雷射器施加不同波長的雷射束)可以在時間上交替，從而雷射的兩種波長無法都照射檢驗條上單個點。每個雷射器還可施加帶有不同特徵(例如，不同的周期、佔空比等)的雷射脈衝序列，這可簡化發射檢測並允許串擾糾正。在一些變型中，可以同時地或其間帶有短間隔地實施兩個雷射器的激發。例如，脈衝寬度可以是約10微秒至約1毫秒。在一些變型中，可對雷射脈衝進行頻率或幅值調製以降低發射不同光波長的雷射器之間的串擾。雷射脈衝的調製還可有助於抑制來自任何漫射光的噪聲。例如，可用3kHz 的載波信號對發射第一波長光的第一雷射器進行頻率調製，可用6kHz的載波信號對發射第二波長光的第二雷射器進行頻率調製。不從理論上限制，應相信的是，用載波頻率N對第一雷射束進行頻率調製和用載波頻率2N對第二雷射束進行頻率調製可在使用同步解調方法時提供理論上完美的串擾抑制。可通過電路或通過計算裝置控制雷射脈衝的頻率或幅值調製。計算裝置(例如光傳感器板和/或嵌入PC上的電路)可如前所述對標籤或標記的發射數據進行解調(例如使用FFT或同步解調方法)。當雷射束在檢驗條上同一位置激發兩個不同螢光標記時，可能希望使用兩種不同載波信號來對來自兩個不同雷射器的雷射束進行頻率調製，這是因為對不同螢光標記的發射波長進行解調允許獨立地分析和評估它們。如前所述，光傳感器板可具有解調電路以去除載波頻率，從而提取源自不同螢光標記中的每個螢光標記的信號。當然，也可使用激發模塊的其它變型，諸如具有不同布置的類似部件的激發模塊。 例如，圖7C示出了激發模塊(730)，該激發模塊具有與如前所述激發模塊不同的構造並包括附加的部件。圖7C還示出了物鏡(732)和盒子(734)作為參照系。如圖7C所示，激發模塊(730)包括罩殼(736)、兩個雷射器(738)和(740)、分色反射鏡(742)、光電二極體 (744)、柱面透鏡(746)、鏡子(748a)和(748b)。例如，各部件的該布置可提供與圖7A和7B 所示變型不同的光路。對於給定光學模塊所用的布置類型例如可取決於表示光學模塊罩殼尺寸的空間約束。在一些變型中，罩殼(736)可允許對於內部激發模塊部件的改進可觸及性(例如用來調節)。例如，可從外部觸及對準螺釘(741)，並可調節對準螺釘(741)以調節雷射束(799)的方向。圖7D和7E示出了具有不同構造的激發模塊(753)的另一變型(再次帶有物鏡 (732)和盒子(734)以作為參照系)。激發模塊(753)包括彼此相鄰的雷射器(752)和 (754)、以及定向成垂直於雷射束路徑並靠近雷射器(754)的光電二極體(76 (圖7D)。雷射束可通過鏡子(76 被導向經過光電二極體透鏡(761)和分色濾光器(766)而到達光電二極體(76 (圖7D)。分色濾光器(766)還將雷射束導向至柱面透鏡(746)，該柱面透鏡然後將雷射束導向一系列鏡子(759)和(75 、盒子(734)(圖7D)。在一些變型中，這些光學部件可被保持和定位在罩殼中，諸如圖7E所示的罩殼(751)。在其它變型中，各部件可不被封閉在罩殼中，而例如可使用夾具和梁組件來被固定和定位。還可使用功能類似部件的替代布置。例如，圖7F示出了激發模塊(757)的布置，其中光電二極體(76 定位成靠近雷射器(752)。儘管激發模塊(757)的各部件與激發模塊 (753)的各部件不同地布置，但兩個激發模塊可在雷射束輸送方面實現基本相同的作用。還可使用其它構造，例如具有任何合適數量的鏡子和/或具有較短或較長的光路。圖7G示出了激發模塊(750)的另一變型，其中物鏡(732)和盒子(734)作為參照系。該布置採用與其它變型不同的較少光學部件(例如，較少的鏡子、濾光器和光電二極體)，因此可佔據較小空間。激發模塊(750)包括透鏡(75 和(7M)(這可發射具有不同波長和強度的雷射束)、鏡子(756a)和(756b)、柱面透鏡(758)。鏡子(756a)和(756b)可以是可調節的以允許調節雷射束，從而雷射束在落到柱面透鏡(758)的表面上之前彼此平行地傳播。這允許將兩個雷射束聚焦在檢驗條上同一位置。圖7H示出了激發模塊(760)的一附加變型，其包括在激發模塊(750)中不存在的部件。附加部件包括玻璃板(77 和(776)、光電二極體(763)、光電二極體透鏡(761)。玻璃板(77 和(776)可以是薄玻璃板，其反射小部分(例如約8%)入射光而允許大部分入射光通過。反射的光可被導向通過光電二極體透鏡(761)，朝向光電二極體(763)。可以固定地或可調節地定位光電二極體透鏡(761)。當激發模塊(760)包括比激發模塊(750)多的部件時，附加的光電二極體可提供雷射功率感測，這可允許通過標準化每個雷射脈衝而更精確地控制雷射器(75 和(754)。在一些變型中，激發模塊可包括帶有抗反射塗層的玻璃板，從而調節導向光電二極體的雷射功率量(例如，使得導向雷射二極體的雷射功率量不過高)。圖7P示出了激發模塊(769)的一附加變型，其中檢測模塊(106)和盒子(734)作為參照系。激發模塊(769)包括雷射器(700)和(70 、光電二極體(706)和(707)、介質鏡 (711)、分色濾光器(703)、柱面透鏡(708)。雷射器(700)和(70 可布置成使其雷射束彼此正交。光電二極體(706)和(707)各可檢測分別來自雷射器(70 和(700)的雷射束， 這可與單個光電二極體檢測來自兩個雷射器的雷射束的其它變型作比較。這可允許對於每個雷射器(700)和(702)的定製單獨控制。介質鏡(711)可用來選擇性地反射和/或透射來自雷射器(700)的雷射束。高波長特定性的介質鏡可希望用來降低非特定的光透射；然而，還可使用其它反射性和/或透射性光學部件，諸如玻璃板或濾光器。如前所述，替代的光學部件可用在激發模塊(769)中，並可以任何方式布置以在輸送至盒子(734)的雷射束方面實現類似的光學作用。圖71中示出了激發路徑的一附加變型。圖71所示的路徑可以例如在光施加至相對較小的盒子時是特別有利的。圖71示出了雷射二極體模塊(770)與一體直線生成光學器件(在圖7J和7K中更詳細示出)的使用，從而同時激發兩個不同的盒子(771)和(772)。 雷射二極體模塊(770)例如可在化驗試樣時呈現改進的效率，這是因為它可用來同時化驗多個試樣。圖7L示出了與另一雷射二極體模塊(780)協同使用的雷射二極體模塊(770)， 從而同時激發兩個不同的盒子(771)和(77 。在一些變型中，雷射二極體模塊(770)可包括紅光雷射器。替代地或附加地，雷射二極體模塊(780)可包括紅外雷射器。在一些變型中，圖71和7L所示的激發路徑可以是相對較短的，這可允許降低激發模塊的總體尺寸。在一些變型中，可包括一個或多個其它光學部件以用於附加光束成形。而且，可包括附加的屏蔽以限制或防止盒子(771)和(77 之間的串擾(例如，意外激發和/或模糊發射讀取)。還可使用激發模塊的其它變型。例如，在一些變型中，激發模塊可包括一個或多個光纖聯接的雷射器。作為一實例，圖7M示出了激發模塊(785)，該激發模塊包括雷射器保持件(786)、設置在雷射器保持件(786)中的雷射器(787)和(788)(它們可施加具有不同波長和強度的雷射束)、分別連接至雷射器(787)和(788)的光纖(789)和(790)。光纖 (789)和(790)(每個光纖可以是單個光纖或光纖束)將光從雷射器(787)和(788)傳送至設置於盒子(792)內的檢驗條(791)上。在一些變型中，激發模塊(78 還可包括聚焦模塊(794)和(795)，它們可對在光束通過光纖(789)和(790)傳輸過程中可能發生的任何雷射散射進行補償和糾正。諸如雷射器(787)和(788)之類的光纖聯接的雷射器的使用可允許激發模塊相對較小。光纖聯接的雷射器(787)和(788)可發射具有不同波長和強度的雷射，例如，波長為 635nm且強度為約0. 5mff至約20mW(例如8mW)的光，和/或波長為785nm且強度為約0. 5mff 至約30mW(例如20mW)的光，或任何其它範圍波長和功率強度的光。例如，一個雷射器可以約5mW的強度進行發射(例如用於檢測控制分析物)，而第二雷射器可以約40mW的強度進行發射(例如用於檢測檢驗分析物)。在一些變型中，例如，具有相對較低能耗的電池驅動診斷系統可通過使用以不超過5mW的強度進行發射的雷射器來實現。在激發模塊包括光纖聯接的雷射器的一些情況下(例如，圖7N和70所示的雷射器(796))，激發模塊可不必包括其它光學部件，諸如鏡子、濾光器、反射鏡、光電二極體、或透鏡。結果，可減小激發模塊(和光學模塊)佔據的空間。此外，可簡化激發模塊的控制。如圖70所示，雷射器(796)具有第一尺寸(Dl)、第二尺寸(D2)、第三尺寸(D3)、第四尺寸(D4)，例如，第一尺寸可以是約33. 61mm，第二尺寸可以是約21.沈讓，第三尺寸可以是約11. 61mm，第四尺寸可以是約8mm。這些尺寸可根據雷射器模型和製造商而變化。儘管這裡沒有更詳細地討論，但圖7M還示出了檢測模塊(未示出其餘部分)的物鏡單元(793)。檢測樽塊在POC診斷系統中可使用各種類型的檢測模塊，用於對流體試樣進行定性和/或定量化驗，從而檢測流體試樣中的一種或多種分析物。檢測模塊的檢測機構可根據粘合目標分析物的標籤或標記的類型而變化。例如，帶有磁性傳感器的檢測模塊可用來檢測標有磁基標記的目標分析物。如上所述，目標分析物可標有螢光標記，檢測模塊可具有一個或多個可用來捕獲發射波長的光基傳感器。檢測模塊的一些變型可包括一個或多個檢測單元， 每個檢測單元構造成檢測一種螢光標記的螢光發射，該螢光標記典型地發射IOnm至50nm 寬的光譜帶。然而，檢測單元的其它變型可構造成檢測較窄或較寬光譜範圍內的螢光發射， 或者可檢測一個或多個光譜帶的發射。而且，在一些變型中，檢測模塊可包括兩個以上的檢測單元(例如在使用兩個以上不同螢光團來檢測試樣中的分析物的情況下)。檢測單元的一些變型可構造成檢測發射出的螢光信號的多個波長。在這些變型中，單個檢測單元可用來檢測來自多個不同螢光團的螢光。任何數量的檢測單元可根據需要包括在光學模塊中以檢測所關心的螢光信號。在一些變型中，檢測單元可相對於彼此正交地定位；然而，在其它變型中，檢測單元可相對於彼此不同地定位(例如，基本平行或成非正交角度)。檢測模塊中的各檢測單元的定位例如可取決於託盤和試樣盒子相對於檢測模塊的對準和定位，和/ 或激發模塊相對於檢測模塊的對準和定位。檢測模塊還可包括一個或多個光學元件，這些光學元件可有助於將光聚焦和導向至合適的檢測單元。在一些變型中，光學元件可將多光譜的光導向至不同的檢測單元。例如，檢測模塊可包括物鏡，該物鏡例如可收集來自檢驗試樣的螢光發射並聚焦該螢光發射， 使得檢測單元可檢測得到的信號。檢測模塊還可包括一個或多個分色濾光器或反射鏡，從而將不同螢光發射的路徑導向至不同的檢測單元。合適的分色濾光器包括如下的分色濾光器該分色濾光器能夠反射由檢驗試樣中的第一螢光團(例如，配合至分析物粘合劑的第一螢光團)發射的光，並透射由試樣中的第二螢光團(例如，配合至控制分析物的第二螢光團)發射的具有不同波長的光。物鏡單元的其它變型可以替代地或附加地包括其它光學部件，這些光學部件可實現基本上相同的光學作用，諸如鏡子、任何類型的合適濾光器(例如，中性濾光器、陷波濾光器、幹涉濾光器等)、和/或分色反射鏡。下面描述了可用在診斷檢測系統中的檢測模塊的實例。檢測模塊的一個實例是圖 IA的檢測模塊(136)，圖25A-25F以放大細節示出了該檢測模塊。如圖所示，檢測模塊(136) 包括物鏡單元(2530)、第一檢測單元(2500)和第二檢測單元(2510)，第一檢測單元附連至物鏡單元的第一表面，第二檢測單元附連至物鏡單元的垂直於第一表面的第二表面。檢測模塊(136)還可包括不透明蓋子(2531)，該不透明蓋子附連在物鏡單元Q530)的一側上， 可減少光散射和幹涉(光散射和幹涉會引起光信噪比增大)。此外，不透明蓋子0531)可有助於防止眼睛暴露於有害的螢光發射。第一檢測單元O500)和第二檢測單元Q510)各可分別包括光傳感器板050 和051 。在一些變型中，第一檢測單元O500)可構造成分析具有第一發射光譜的光，第二測單元O510)可構造成分析具有第二發射光譜的光。圖25B示出了物鏡單元Q530)的立體圖，去除了不透明蓋子0531)。如圖所示， 物鏡單元O530)包括罩殼(2539)、分色濾光器(2534)、設置成將光收集至分色濾光器的物鏡053 。罩殼0539)包括在頂面中的第一孔0536)、以及在垂直於頂面的側面中的第二孔0538)。此外，罩殼0539)包括尺寸和形狀設計成用於物鏡0532)的孔(未示出)。 物鏡053 可以可調節地或固定地附連至罩殼0539)。例如，物鏡可通過螺旋配合、卡合、 使用SK-9的粘合等來附連。物鏡可被調節和定位成使得來自螢光標記的發射光可被導向至分色濾光器0534)。物鏡053 還可具有防止光散射的抗反射塗層，並且可以是適合於對來自螢光標記的發射波長進行聚焦的任何透鏡類型(例如，消色差物鏡或非球面透鏡)。 還可根據所需的圖像質量來使用單透鏡。可能有利的是，使用具有抗反射塗層的透鏡來增大靈敏度並減小潛在的本底水平。可根據所關心的螢光標記的發射光譜來選定分色濾光器0534)。分色濾光器 (2534)可將具有第一發射光譜的光透射通過第一孔(2536)，並將具有第二發射光譜的光反射通過第二孔0538)。如同下文將要描述的那樣，可用第一檢測單元O500)捕獲和分析透射通過第一孔0536)的光，並可用第二檢測單元(2510)捕獲和分析反射通過第二孔 (2538)的光。例如，分色濾光器0534)可透射波長為約674nm的光，而反射波長為約794nm 的光。在一些變型中，可使用市售的幹涉分色濾光器，而在其它變型中，可使用用戶定製的濾光器(例如美國佛蒙特州的歐米茄光學公司(Omega Optical))。分色濾光器Q534)可被保持在濾光器保持件053；3)中(圖25B)，使得從物鏡053 透射的一部分光被導向通過第一孔(2536)，一部分光被導向通過第二孔0538)。參照圖25C和25D，分色濾光器Q534) 可通過粘合(例如使用可用紫外線固化的粘合劑，SK-9等)附連至濾光器保持件0533)， 使得分色濾光器0534)的反射表面053 面朝下。濾光器保持件053；3)可使用一個或多個螺釘0537)可調節地或固定地附連至物鏡單元O530)的罩殼0539)(圖25C)。在一些變型中，濾光器保持件053；3)可被附連或調節，使得分色濾光器0534)相對於物鏡0532) 的光軸成一角度。例如，分色濾光器0534)可被附連，使得它與光軸形成一角度，該角度可以是約20°至約80°。應注意的是，儘管這裡描述了分色濾光器，但也可使用可實施類似光學功能的任何光學部件，諸如陷波濾光器、帶通幹涉濾光器、或其任何組合、或任何光學上類似的構造。圖25E示出了沒有物鏡單元罩殼0539)的檢測模塊(136)。如圖所示，第一檢測單元O500)和第二檢測單元Q510)各可具有孔，該孔的尺寸和形狀設計成與物鏡單元 (2530)的第一孔0536)和第二孔0538)對準。例如，第二檢測單元Q510)可附連和對準至物鏡單元(2530)，使得其第二檢測孔0514)與第二孔0538)對準。在該構造中，發射光 0 (例如來自檢驗條上的螢光標記)可通過物鏡053 被收集和聚焦，並被導向至分色濾光器0534)。分色濾光器0534)可將具有第一發射光譜的光0M4)透射至第一檢測單元(2500)，並將具有第二發射光譜的光QM6)反射至第二檢測單元。具有第一發射光譜的光OM4)可與具有第二發射光譜OM6)的光分離地被第一光傳感器板050 收集和分析，具有第二發射光譜0討6)的光可被第二光傳感器板O510)收集和分析。例如，來自檢驗條的發射光0 可具有約650nm至約SOOnm的光譜。分色濾光器Q534)可將發射波長為約625nm至約675nm的光透射至第一檢測單元Q500)，並將發射波長為約750nm至約SOOnm的光透射至第二檢測單元O510)。檢測單元可包括一個或多個光學部件，這些光學部件可將具有目標發射光譜的光導向至光傳感器板的感光裝置(例如，如前所述的光電二極體)。可選擇地，檢測單元可包括一個或多個光學部件，這些光學部件將具有目標發射光譜之外的發射光譜的光過濾掉以提高信噪比。現在參見圖25F，第一檢測單元Q500)包括罩殼(2501)，該罩殼保持傳感器透鏡0506)、以及調節入射光的光譜特徵的第一濾光器Q507)和第二濾光器0508)。如前所述，罩殼O501)可包括第一檢測孔(2504)，該第一檢測孔構造成與物鏡單元Q530)的第一孔0536)對準。第二檢測單元O510)包括罩殼(2511)，該罩殼保持傳感器透鏡Q516) 和第一濾光器0517)。可選擇地，第二檢測單元可包括第二濾光器0518)。儘管這裡所述的檢測單元構造成容納一個或兩個濾光器，但在其它變型中，檢測單元可構造成容納兩個以上濾光器。濾光器可通過粘合、摩擦配合、扭轉配合等固定在檢測單元中。可調節和/或定位濾光器、傳感器透鏡和光傳感器板的光電二極體，使得導向至光電二極體的光被合適地聚焦以便精確的和準確的檢測。例如，上述元件之間的距離和傾斜角度可由醫師調節，或可在製造過程中調節和固定。濾光器Q507)、(2508)、(2517)和Q518)可以是任何合適的光學部件，例如，幹涉帶通濾光器、陷波濾光器、玻璃濾光器等，取決於所關心的螢光標記發射光譜。例如，在檢測模塊(136)的一些變型中，可選定分色濾光器0534)以將紅光譜的光透射至第一檢測單元 (2500)，並將紅外光譜的光反射至第二檢測單元0510)。導向至第一檢測單元Q500)的紅光譜光可以透過紅帶通濾光器O507)和紅玻璃濾光器(2508)，並被傳感器透鏡Q506)聚焦到第一光傳感器板050 的光電二極體050；3)上。導向至第二檢測單元O510)的紅外光譜光可以透過紅外帶通濾光器(2517)，並被傳感器透鏡0516)聚焦到第二光傳感器板 (2512)的光電二極體0513)上。可選擇地，假如需要的話，可通過第二濾光器0518)(例如玻璃濾光器)附加地過濾紅外光譜的光。如前所述，由光電二極體檢測的功率級可被數字地轉換(例如，使用M位模數轉換器，其可將來自光電二極體的電壓輸出轉換成數位訊號)和/或解調，並傳送至主機板或計算裝置以進行進一步處理和分析。圖IB所示的POC診斷系統(100)包括檢測模塊(106)的另一變型，圖8A和8B以放大細節示出了該另一變型。如圖所示，檢測模塊(106)包括兩個檢測單元(800)和(802)、 以及物鏡單元(804)。檢測單元(800)和(802)以及物鏡單元(804)可以呈彼此聯接的各單獨部件的形式。如圖所示，檢測單元相對於彼此正交地定位。此外，儘管檢測單元和物鏡單元中的每一個位於附連(例如螺釘連接、螺栓連接、焊接等)至其它罩殼的分離罩殼中，但在一些變型中，檢測模塊的各個單元中的至少一些(例如所有)單元可放置在單個罩殼中。單個罩殼例如可具有與各單獨罩殼在彼此聯接時的總體形狀類似的形狀。圖9A-9E以放大細節示出了物鏡單元(804)及其各個部件。如圖9A和9B所示，物鏡單元(804)包括具有可拆卸面(902)的罩殼(900)、物鏡(904)和分色濾光器(906)。罩殼(900)包括孔(908)、(910)、(912)和(913)，如圖9B-9D所示。孔(910)成形和定位成容納分色濾光器(906)。孔(908)和(91 成形和定位成使得從分色濾光器(906)(當固定在孔(910)時)反射或透射的光可通過兩個未受阻礙的孔。檢測單元(800)和(80 可定位成分別檢測通過孔(908)和(912)的光。最後，孔(913)(圖9E)構造成固定物鏡(904)， 並將物鏡(904)定位成可將螢光發射導向至分色濾光器(906)。可拆卸面(902)例如可減少光散射和幹涉(這會引起光的信噪比增大)。此外，可拆卸面(902)可有助於防止眼睛暴露於有害的螢光發射。可拆卸面(902)可由任何光學屏蔽材料製成，其可以是半透明的或不透明的。可拆卸面(902)可以由與罩殼(900)其餘部分相同的材料或材料種類製成，或可以由不同材料或材料種類製成。圖10示出了當物鏡單元(804)定位在盒子(920)上方時物鏡單元的剖視圖。如圖所示，物鏡單元(804)還可包括擋板(914)、調節螺釘(91 和可調節支架(916)。擋板 (914)可有助於減少收集散射和漫射光，並可包括光散射減少特徵，諸如內螺紋面。在一些變型中，擋板(914)可以與罩殼(900) —體聯接。可調節支架(916)可允許調節光學部件的相對位置，諸如物鏡(904)和盒子(920)之間的距離。調節螺釘(91 在完成對準之後固定物鏡(904)的位置，從而防止由于振動或擾動(例如裝運期間)造成的可能不對準。調節螺釘還可設置在物鏡單元的其它位置以調節和對準單元中的其它部件。如前所述，物鏡(904)定位成收集來自盒子(920)中試樣的螢光發射，並將收集的螢光發射以聚焦的方式導向至檢測單元。物鏡(904)可以是實現充分聚焦的任何合適類型的透鏡，諸如消色差物鏡。典型地，物鏡(904)可具有足夠的質量以產生良好準直的光束， 這可允許較好地利用幹涉帶通和分色濾光器的過濾能力。在一些變型中，可根據所需的性能級別使用較不複雜的非球面透鏡。可通過將物鏡單元(904)直接定位在盒子(920)上方並相對於盒子(920)移動光學模塊(101)來掃描和分析盒子(920)的內容物。這例如可通過移動光學模塊、移動盒子或移動兩者來實現。在一些變型中，盒子(920)可聯接至機動託盤(922)，該機動託盤的運動可由計算機控制。下文將更詳細地討論機動託盤(92 的功能和控制。圖1IA-IIC以放大細節示出了檢測模塊(106)的檢測單元(800)和(802)。首先，圖IlA是示出檢測單元(800)和(802)相對於彼此在檢測模塊(106)中定位的示意圖。儘管檢測單元(800)和(80 如圖所示定位，但應理解的是，檢測模塊的其它變型可包括相對於彼此不同定位的檢測單元，或可包括包含自單個罩殼內的多個檢測單元。檢測單元的定位可通過空間約束、與物鏡單元的接口、檢測模塊中檢測單元的數量、和 /或若干其它不同因素中任何因素來確定。檢測單元(800)在圖IlB中以分解圖示出，並在圖IlC中以剖視圖示出。檢測單元(80 可與檢測單元(800)基本相同或十分相似，或者兩個檢測單元可彼此不同。在一些變型中，檢測單元(800)和(80 各可包括為不同螢光團的不同發射光譜定製的不同濾光器。這例如可允許使用檢測單元檢測具有不同發射光譜的兩個螢光團的螢光。當然，可添加附加的檢測單元(例如用來檢測附加螢光團的螢光)。如圖IlB和IlC所示，檢測單元(800)包括罩殼(1150)、光電二極體(1170)和蓋子支架(1152)、保持環(IlM)、透鏡(1156)、透鏡保持件(1158)、幹涉濾光器(1160)、另一保持環(1162)、玻璃濾光器(1164)、附加保持環(1166)。檢測單元(800)還包括調節螺釘 (1168)和光電二極體(1170)。保持環(1166)、(1162)和(1154)構造成固定檢測單元(800) 的各光學部件，並保持各光學部件之間的精確間隙。儘管保持環(1166)、(116 和(1154) 是圓形的，但在其它光學系統中，保持環可在形狀和尺寸上變化。此外，當使用多個保持環時，保持環都可具有相同的尺寸和/或形狀，或者至少一些保持環可具有不同的尺寸和/或形狀。仍可不呈環形式的其它部件來提供保持功能。這些部件可具有任何合適形狀。例如， 有助於將透鏡(1156)保持在位的透鏡保持件(1158)具有大體管狀的形狀。儘管這裡未示出，但透鏡保持件的一些變型可具有螺紋外表面(例如用來允許安裝入檢測單元的罩殼和 /或調節被保持的透鏡的位置)。例如可根據檢驗條中螢光團的發射光譜來選定玻璃濾光器(1164)和幹涉濾光器 (1160)。玻璃濾光器和幹涉濾光器可具有螢光調諧的光譜質量。玻璃濾光器(1164)可降低由檢測器捕獲的散射雷射的強度，並可以是具有合適透射特徵的任何類型光學濾光器。在一些變型中，玻璃濾光器(1164)可以是紅玻璃濾光器，諸如RG665、RG695、RG830或其它類似濾光器。或者，由摻雜有染料的塑性或聚合材料製成的濾光器還可具有所需的透射特徵， 並可被包括在檢測單元中。幹涉濾光器(1160)可用來對傳送至透鏡(1156)的光的光譜進行進一步調諧和窄化，對於所關心的透射或反射波長很少或沒有吸收。在一些變型中，可以替代地或附加地使用其它光學部件，諸如分色濾光器、玻璃濾光器(如前所述)等。此外，檢測單元的一些變型可具有僅僅一個光譜部件或兩個以上光譜部件。部件的數量和類型例如可由所關心的螢光團的發射光譜來決定。在玻璃濾光器(1164)和幹涉濾光器(1160)已經過濾了來自螢光團的發射光譜之後，已被過濾的發射光譜然後由透鏡(1156)聚焦到光電二極體(1170)上，該光電二極體固定在蓋子支架(115 上。例如可根據已被過濾的螢光發射的光譜內容來使用調節螺釘 (1168)調節透鏡(1156)的位置和對準。還可基於焦距(即從透鏡(1156)到螢光發射源的距離)對於發射光譜的峰值波長的任何相關性來調節透鏡(1156)的位置和對準。光電二極體(1170)可以是任何類型的、能夠精確地和準確地檢測入射光的光譜特徵的光電二極體。儘管已經描述和示出了光電二極體，但應理解的是，也可替代地或附加地使用其它光檢測裝置或基片，包括不但局限於任何光電二極體陣列、電荷耦合元件(CCD)，諸如CCD圖像傳感器、CMOS圖像傳感器、光電導管、光電倍增管等。光電二極體 (1170)可經由與控制系統的電氣接口傳送關於被檢測光的信息。罩殼(1150)和蓋子支架(115 通常為檢測單元(800)的各光學部件提供不透光的環境，並可由具有足夠厚度以防止光子從中通過的任何不透明材料製成。不透光的環境減小了光噪並可提高光學信號的信噪比。罩殼(1150)可以具有任何合適形狀，蓋子支架 (1152)可以尺寸和形狀設計成緊密聯接和固定至罩殼(1150)。此外，如圖IlB所示，蓋子支架(115 可保持和定位光電二極體(1170)。
儘管這裡未示出，但檢測單元的一些變型可包括提供充分光屏蔽的透鏡保持件 (例如透鏡保持件(1158))而無需罩殼(例如罩殼(1150))。此外，檢測單元可包括構造成緊密聯接至透鏡保持件並與保持件(例如保持件(1154))相鄰的蓋子支架(例如蓋子支架 (1152))。缺少罩殼可允許檢測單元相對較小，這則可減小光學模塊的總體尺寸。圖12提供了檢測模塊(106)的剖視圖，包括透鏡單元(804)以及檢測單元(800) 和(802)。如圖所示且如上所述，檢測單元(800)和(80 是類似的，但可具有不同的光譜部件。例如，如圖12所示，檢測單元(80 具有玻璃濾光器(1164')和幹涉濾光器 (1160')，玻璃濾光器(1164')和幹涉濾光器(1160')可具有與檢測單元(800)的玻璃濾光器(1164)和幹涉濾光器(1160)不同的光譜過濾特徵。物鏡單元(804)的孔(908)和(91 可構造成允許螢光發射從盒子中的試樣不受阻礙地通到檢測單元(800)和(802)。可對於第一螢光團的發射光譜的峰值波長調諧通過分色濾光器(906)透射的螢光信號的波長，同時可對於第二螢光團的發射光譜的峰值波長調諧通過分色濾光器(906)反射的螢光信號的波長。儘管已經描述了一些檢測模塊，但也可使用其它合適的檢測模塊構造。例如，在一些變型中，檢測模塊可包括基本彼此平行的檢測單元，或可包括較大或較小數量的檢測單元(取決於待檢測光譜的範圍和數量)。POC診斷系統(100)(圖1B)構造成一次分析一個試樣盒子(111)，依次分析多個盒子。然而，診斷系統的其它變型可同時並行分析兩個盒子。例如，圖13示出了檢測模塊 (1300)的一變型，該檢測模塊例如可用來同時收集來自兩個不同盒子的光。如圖所示，來自兩個盒子(1301)和(130 的螢光發射可首先通過第一透鏡(130 聚焦，然後通過第二透鏡(1304)透射，該第二透鏡將來自每個盒子的螢光信號導向至分離的傳感器。例如，來自盒子(130 中試樣的螢光發射可被光電二極體(1306)檢測，來自盒子(1301)中試樣的螢光發射可被光電二極體(1308)檢測。儘管這裡未示出，但檢測模塊(1300)的一些變型可包括一個或多個玻璃濾光器、 鏡子、分色反射鏡和/或消色差反射鏡或折射鏡、幹涉濾光器、和/或其它可提供對一種以上螢光團的發射光譜的檢測和分析的光學部件。例如，為了檢測和分析第二螢光團的發射， 分色濾光器可定位在透鏡(130 和(1304)之間，並可用來將一個波長透射至光電二極體 (1306)和(1308)，並將另一波長反射至正交於光電二極體(1306)和(1308)定位的附加二極體。在一些變型中，第一透鏡(130 可以是1」物鏡，但也可使用任何尺寸的任何合適透鏡類型。組合了不同光學部件的不同檢測模塊構造可用來減小檢測模塊佔據的空間，降低模塊的成本，或提高系統的掃描效率。在一些情況下，一些光學部件的包含或排除和/或布置可趨向於降低螢光信號檢測的變化性並提高其精度。支持系統POC診斷系統可包括為上述各種光學模塊提供結構、電氣和計算支持的特徵。例如，光學模塊可安裝和/或固定至POC診斷系統的罩殼或基座，使得其具有通向檢驗條的光學通路。POC診斷系統還可包括計算裝置、電氣接口等，以對由光學模塊收集的螢光標記發射波長數據進行發送、接收和存儲。圖26A-26C示出了可與上述光學模塊中的任何光學模塊一起使用的POC診斷系統Q601)構造的一個變型。
POC診斷系統Q601)可包括一個或多個電氣部件或接口以為光學模塊提供電力和數據存儲能力。如圖所示，POC診斷系統Q601)包括主機板(沈00)，該主機板可用作光學模塊光傳感器板與嵌入式計算裝置(14 之間的中繼站。例如，由光傳感器板的光電二極體收集的發射和/或圖像數據可經由光傳感器板連接器發送至主機板(沈00)，主機板可經由USB連接將數據發送至嵌入式計算裝置(例如PC104)。在一些變型中，主機板O600) 可在發送至嵌入式計算裝置(14 之前對已頻率調製的發射數據進行解調。POC診斷系統的一些變型還可包括條形碼讀取器或傳感器0612)。條形碼讀取器可定位成其具有通向已裝入的檢驗條的條形碼的通路。條形碼讀取器可以能夠分辨小於 0.01英寸的線寬，並可以能夠掃描條形碼的整個長度，該整個長度可以是約四讓。在其它變型中，POC診斷系統可具有位於光學模塊附近或直接下方的背散射裝置，該背散射裝置可構造成當傳感器在條形碼上方掃描時感測一個(或兩個)雷射器的背散射。POC診斷系統的一些變型可包括一個或多個可讀取標有RFID的檢驗條的裝置。一些POC診斷系統可包括條形碼和背散射讀取器和裝置。POC診斷系統Q601)還可包括電氣接口板O602)。電氣接口板Q602)可包括電源連接器O620)和多種數據連接器，如圖26B所示。例如，電氣接口板060 可包括顯示器連接器0614)、一個或多個(例如兩個、三個、四個、六個等)USB連接器0616)、以及乙太網連接器0618)。可選擇地，電氣接口板060 還可具有VGA連接器，甚至可包括用於無線數據傳輸的裝置。電源連接器O620)可構造成從牆壁插座或其它合適電源提取電力， 並可提取100V-240V、50-60Hz的AC輸入。附加地或替代地，在斷電的情況下還可包括電池連接器。USB連接器0616)和乙太網連接器0618)可提供通向網際網路、附加計算裝置、和 /或其它POC診斷裝置的連接性。滑鼠和/或鍵盤裝置可經由USB埠 0616)附連至POC 診斷系統(2601)。顯示器連接器0614)可允許將數據分析和圖像呈現至監視器或顯示器。 在一些變型中，顯示器可以是觸控式的。如前所述，POC診斷系統還可包括嵌入式計算裝置，諸如圖26A和26B所示的計算裝置。嵌入式計算裝置(14 可以是可結合入POC診斷裝置的任何計算處理單元。嵌入式計算裝置(14 還可包括硬碟驅動器或其它類型的存儲器，它們用來存儲發射數據以及分析表格和算法。參見圖^A，冷卻元件Q604)還可設置在POC診斷系統上以幫助防止系統過熱。 如圖所示，冷卻元件O604)可以是風扇，該風扇構造成去除由光學模塊和電氣部件產生的熱量。在一些變型中，冷卻元件O604)的運行可以使用溫度傳感器進行計算機控制。這可幫助保持系統內的受控溫度，並幫助避免裝置過熱，和/或有助於檢驗條的保溫。儘管這裡示出了單個冷卻元件(沈04)，但應理解的是，POC診斷系統的其它變型可具有在系統不同位置的兩個或更多個冷卻元件，這可有助於保持系統內均勻的溫度。光學模塊、電氣部件和冷卻部件可安裝在託盤罩殼060 頂上。可動託盤(138) 可以至少部分地被封閉在託盤罩殼O605)中。如圖26A和26C所示，託盤罩殼Q605)可包括頂部鑄件(沈06)、側部鑄件Q608)和底部鑄件Q610)。頂部、側部和底部鑄件可以是聯接在一起的單獨部件，或者可以例如通過包覆模製或注射模製一體形成。參見圖26C，託盤罩殼O605)可包括若干個孔、凸部、凹槽、凹處、凹口等，它們可用來相對於彼此保持上述系統部件的位置。例如，頂部鑄件O606)可包括凹處0634)、孔0636)和一個或多個孔，該凹處0634)可尺寸和形狀設計成容納光學模塊的基座，該孔0636)提供光學模塊和檢驗條之間的光學通路，該一個或多個孔可設有螺紋以容納用於附連各種部件(例如光學模塊、冷卻元件、電子接口板等)的螺釘。側部鑄件O608)還可包括第一凹處O630)和第二凹處0632)，第一凹處可尺寸和形狀設計成容納嵌入式PC，第二凹處可構造成容納主機板。託盤罩殼(2605)可具有長度(Li)、寬度(Wl)和高度(HI)。長度(Li)可以是約220mm， 寬度(Wl)可以是約220mm，高度(Hl)可以是約50mm。在其它變型中，託盤罩殼的尺寸可變化。例如，長度(Li)可以是約200mm至約400mm，寬度(Wl)可以是約200mm至約600mm，和 /或高度(Hl)可以是約IOOmm至約200mm。可動託盤POC診斷檢測系統可包括可動託盤，該可動託盤構造成接納一個或多個檢驗條以呈現給光學模塊進行檢驗。可動託盤可由計算裝置或醫師來控制以調節檢驗條移動的方向和速度。可動託盤可構造成定位託盤以用於檢驗條裝入、檢驗條保溫和檢驗條掃描。圖27A 示出了可動託盤(138)的一個實例(來自於圖IA的系統(120))。如圖所示，可動託盤(138) 包括水平軌道(2700)、第一橫向軌道(2710)、第二橫向軌道(2720)、第一試樣臺架(139)、 第二試樣臺架(140)和託盤基座(2734)，該第二橫向軌道平行於第一橫向軌道，該第一試樣臺架安裝在第一託盤板O730)上並可動地聯接至第一橫向軌道(2710)，該第二試樣臺架安裝在第二託盤板073；3)上並可動地聯接至第二橫向軌道(2720)，該託盤基座聯接至水平軌道(2700)，其中，第一和第二託盤板以及第一和第二橫向軌道安裝在託盤基座上。水平軌道和兩個橫向軌道的長度限定試樣臺架(139)和(140)的運動邊界。例如，安裝在第一託盤板O730)上的第一試樣臺架(139)可沿第一橫向軌道O710)移動，安裝在第二託盤板073；3)上的第二試樣臺架(140)可沿第二橫向軌道O710)獨立於第一試樣臺架和託盤板而移動。第一和第二試樣臺架和託盤板可根據託盤基座0734)沿水平軌道Q700)的移動而沿水平方向一起移動。在這裡所示的構造中，第一和第二試樣臺架和託盤板共同地沿水平方向移動，但在其它變型中，第一和第二試樣臺架和託盤板獨立地沿水平方向移動。 下面描述了移動機構，試樣臺架和託盤板藉助該移動機構在可動託盤(138)上水平地和橫向地移動。圖27B和27C示出了移動機構的一變型的放大圖。水平軌道Q700)具有螺紋表面，並可聯接至水平電動機(2702)，從而當電動機轉動時，水平軌道也轉動。墊圈Q704)可經由孔073 固定地附連至託盤基座0734)。在一些變型中，墊圈O704)可以是推力墊圈。墊圈Q704)可以插入通過孔073 並用任何合適方法(粘合、釺焊、熔焊等)固定， 使得墊圈O704)不轉動。墊圈Q704)的內表面可以設有螺紋，該螺紋與水平軌道的螺紋表面互補。當水平電動機070 轉動水平軌道O700)時，軌道與墊圈O704)的內螺紋表面的轉動致使墊圈O704)沿水平軌道Q700)的螺紋行進。墊圈O704)可將力施加在託盤基座0734)上，從而促使託盤基座0734)沿水平軌道Q700)行進。為了幫助確保移動的直線路徑，在一些變型中，託盤基座0734)的後部0731)可固定地安裝在後部線性塊體O707)上(類似地，託盤基座0734)的前部可固定地安裝在前部線性塊體上)，該後部線性塊體可以可滑動地聯接至水平線性引導件0706)。線性塊體可具有狹槽，該狹槽尺寸和形狀設計成保持線性引導件。在一些變型中，線性塊體可在狹槽的每一側上具有一組循環滾珠軸承。滾珠軸承可以跨坐在線性引導件的每一側上的小狹槽中。致動水平電動機(2702)沿第一方向轉動可致使託盤基座0734)沿第一水平方向水平地行進，致動該電動機沿第二方向轉動可致使託盤基座沿第二水平方向水平地行進。安裝在託盤基座0734) 上的第一和第二試樣臺架和託盤板根據託盤基座的移動而水平地移動。第一和第二試樣臺架和託盤板的橫向移動(例如沿第一橫向軌道O710)和第二橫向軌道O720))可使用類似的機構來致動。圖27D示出了第一和第二試樣臺架和託盤板可水平地和橫向地移動的一種方式。這裡所述的構造允許第一試樣臺架和託盤板的橫向移動獨立於第二試樣臺架和託盤板的橫向移動，然而在其它變型中，第一和第二試樣臺架和託盤板可構造成一起移動。如圖27D所示，第一橫向電動機和第一橫向軌道 (未示出)可沿託盤基座0734)的第一長邊安裝，第二橫向電動機072；3)和第二橫向軌道 (2720)可沿託盤基座0734)的相對長邊安裝。第一和第二橫向軌道可類似於水平軌道設有螺紋。第一橫向線性引導件0714)可平行於託盤基座0734)的第一長邊安裝在第一橫向軌道的緊鄰內側並平行於第一橫向軌道，類似地，第二橫向線性引導件0724)可平行於相對長邊安裝在第二橫向軌道O720)的緊鄰內側並平行於第二橫向軌道。第一和第二託盤板可以使用螺紋墊圈可動地聯接至第一和第二橫向軌道，並使用如上所述的線性塊體安裝在第一和第二橫向線性引導件上。在使用過程中，通過致動第一橫向電動機的轉動，第一託盤板O730)可沿第一線性引導件0714)橫向地移動。類似地，通過致動第二橫向電動機072；3)的轉動， 第二託盤板可沿第二線性引導件0724)橫向地移動。託盤基座0734)的水平移動使第一和第二線性引導件水平地移動，又使第一和第二託盤板水平地移動。儘管這裡描述和示出了一個移動機構，但也可實施其它機構和構造以提供託盤板的水平移動和橫向移動，從而對檢驗條進行保溫和定位以便掃描和分析。圖27E-27I示出了託盤板O730)和073；3)在使用過程中可呈現的各種構造。在這裡所示的可動託盤(138)的變型中，託盤板O730)和073；3)共同地沿水平方向移動； 然而，在其它變型中，託盤板O730)和0733)可構造成獨立於彼此沿水平方向移動。在圖27E中，託盤板O730)和0733)位於最右水平位置，而在圖27F中，它們位於最左水平位置。在使用過程中，例如在流體試樣的保溫過程中，由安裝在託盤板O730)和0733)上的試樣臺架(139)和(140)保持的檢驗條可以位於最左水平位置。一旦所需的保溫時間過去，託盤板O730)和073；3)就可被致動以移動至最右水平位置，以便檢測螢光發射(即， 檢驗條掃描)。託盤板O730)和073；3)可被致動至沿水平軌道O700)的任何位置，該位置可適合於使檢驗條被光學模塊掃描。在合適時，託盤板Q730)和073；3)可由計算機控制、預先編程、或由用戶控制。可經由控制接口 074 發出指令以致動水平電動機和垂直電動機。控制接口 074 可構造成容納基本平坦的電氣連接器，這可減少託盤板和託盤基座的移動對連接器的幹擾。合適時可有一個或多個控制接口(例如，1、2、3、5等)以用於為各個電動機提供電子控制。在檢驗條掃描過程中，託盤板O730)和073；3)的移動和位置可與光學模塊的激發模塊的致動協配(例如，用來通過位於託盤板O730)和073；3)上檢驗條的步進或漸增移動而沿掃描線讀取螢光標記發射數據)。可通過保持對電動機已轉動的圈數進行計數或通過使用位置傳感器(這將在下文描述)，來確定託盤基座(2734)沿水平軌道Q700)的位置。託盤板Q730)和073；3)各聯接至分開的橫向軌道。更具體地說，第一託盤板(2730)的移動聯接至第一橫向電動機的致動和第一橫向軌道O710)的轉動，而第二託盤板的移動聯接至第二橫向電動機072；3)的致動和第二橫向軌道O720)的轉動。圖27G-27I示出了第一託盤板O730)的示例性橫向構造，而將第二託盤板0733) 保持在相同位置。圖27G示出了處於凸出構造0735)的第一託盤板(2730)，其可適用於裝入和取出檢驗條盒子。圖27H示出了處於中間構造0736)的第一託盤板(2730)，其可適用於沿水平方向平移託盤板以使託盤板在保溫構造和檢驗條掃描構造之間轉換。圖271 示出了處於縮入構造0737)的第一託盤板(2730)，其可適用於用光學模塊掃描第一託盤板O730)上的檢驗條。第二託盤板073；3)還可獨立於第一託盤板O730)的移動而橫向地移動。在其它變型中，第一託盤板O730)和第二託盤板073；3)可構造成它們沿橫向的移動是共同的。可根據需要實施各個託盤板的各種自由度以用於檢驗條的裝入、保溫和掃描。在一些變型中，託盤板和託盤基座的運動速率可以是可編程的、計算機控制的或用戶控制的。例如，託盤板和託盤基座可以約20mm/s至約40mm/s的速率水平地或橫向地移動。在一些變型中，託盤板或託盤基座可以使得在小於1秒內掃描檢驗條的速率移動。儘管可動託盤(138)顯示成具有兩個託盤板O730)和073；3)，但可動託盤的其它變型可具有任何數量的託盤板以保持任何數量的檢驗盒子。例如，可動託盤可具有1個、3 個、4個、5個、8個、10個等數量的託盤板。水平和/或橫向軌道的數量可部分地由可動託盤中託盤板的數量來確定。可動託盤的其它變型可將託盤板定位在例如轉盤、轉輪、或其它環形或非平面的結構中。這可有助於增大由可動託盤保持的託盤板的數量。POC診斷系統的可動託盤可使用各種機構來監測託盤基座或託盤板的位置。例如， 光學編碼器可用來檢測託盤基座或託盤板的位置。圖28A和28B示出了可用來監測第一託盤板和第二託盤板的橫向移動的磁性機構的一個實例。如前所述，第一託盤板和第二託盤板可動地聯接至第一線性引導件0714)和第二線性引導件(27M)，並根據第一橫向電動機和第二橫向電動機的轉動而在第一線性引導件0714)和第二線性引導件0724)上滑動。在一些變型中，第一磁性運動編碼器080 和第二磁性運動編碼器O804)可安裝在託盤基座0734)的一端上，如圖28A所示。第一磁性運動編碼器和第二磁性運動編碼器可呈感測多極磁性條或環的運動的集成電路的形式；例如，它們可以是高解析度磁性線性編碼器，諸如AS5311。在一些變型中，集成電路可採用集成的霍爾元件、模擬元件、數位訊號處理元件。例如，磁性運動編碼器可將串行位流輸出提供至嵌入式計算裝置(例如經由諸如控制接口 074 的控制接口)，從而根據預先編程或用戶確定的序列控制託盤板的運動。多極磁性條可嵌入第一託盤板和第二託盤板，使得可根據嵌入磁性條的運動跟蹤託盤板的運動。圖28B示出了可嵌入第一託盤板的第一多極磁性條Q806)和可嵌入第二託盤板的第二多極磁性條0808)。多極磁性條可具有任何合適的極性布置。這裡可使用的磁性條的一個實例是多極磁性條MS10-10，磁極長度為1. Omm且有10個磁極。儘管這裡已經描述了磁性運動傳感器，但也可使用其它運動和/或位置傳感機構，諸如加速計、聲學方法、光學方法等。在一些變型中，可動託盤可具有限位傳感器，限位傳感器可有助於提高位置精度。試樣臺架根據待檢驗的流體試樣和目標分析物，包含流體試樣的檢驗盒子可需要不同的保溫條件，諸如不同的時間量、溫度等。診斷系統的一些變型可包括調節保溫環境的溫度和/或溼度的元件。在這裡所述診斷系統的變型中，試樣臺架和/或託盤板可包括溫度和流體傳感器、加熱元件和保持元件，它們可有助於提高診斷檢驗的速度和精度。圖29A-29C示出了構造成保持檢驗盒子O901)的試樣臺架Q900)的一個實例。圖29A示出了安裝在託盤板O902)上的試樣臺架Q900)。託盤板Q902)可以類似於前述的託盤板。如圖29A所示，試樣臺架O900)包括帶有近端凸緣O906)和遠端凸緣O908)的臺架罩殼(四03)，近端凸緣和遠端凸緣之間的距離可以適合於容納檢驗盒子0901)。臺架罩殼O903)可具有任何數量、尺寸和形狀的凹槽、凸部、凹處、槽口、凸緣等，從而在保溫和掃描過程中牢固地保持檢驗盒子(四01)，並允許醫師在檢驗分析結束時脫開檢驗盒子0901)。圖^B示出了沒有檢驗盒子Q901)的試樣臺架Q900)。如圖所示，臺架罩殼 (2903)包括盒子凹處(四10)，該盒子凹處尺寸和形狀設計成可釋放地保持盒子。近端凸緣 (2906)和遠端凸緣O908)可以是可偏轉的，使得檢驗盒子可卡合入盒子凹處0910)。可選擇地，彈簧O907)(圖^C)可設置在盒子凹處Q910)的遠端，並可在放入盒子凹處內的盒子上施加壓力。儘管這裡示出了一個變型，但任何合適的保持結構可用來可釋放地配合檢驗盒子以便檢驗。臺架罩殼還可包括一個或多個弧形凹口(四12)，這些弧形凹口允許符合人機工程學地配合和脫開檢驗盒子。盒子凹處O910)的幾何形狀可使得配合在試樣臺架中的檢驗盒子的底部與盒子凹處O910)的底面基本接觸。在這裡所述的試樣臺架的變型中，試樣臺架O900)還包括流體傳感器O920)和加熱元件0930)。下面將詳細描述這些部件中的每個部件。流體傳感器Q920)構造成檢測流體試樣的添加，然後可發信號給可動託盤以自動向內抽拉託盤，並開始保溫計時。這可有助於確保各試樣之間精確的保溫定時。如圖^B 所示，流體傳感器O920)包括發送元件(四22)、接收元件( )、以及設置在發送元件和接收元件之間的屏蔽件( ),發送元件、接收元件和屏蔽件嵌入PCB板Q909)中(圖四0。圖29C是試樣臺架Q900)的局部剖切側視圖，其中去除了臺架罩殼O903)的一部分。發送元件092 可以是構造成發送諸如音調的調製無線電波或任何調製電磁信號的任何裝置。例如，發送元件092 可以是振蕩器。發送元件092 和接收元件0924) 可構造成測量跨越發送元件和接收元件之間距離的材料的介電性質中的變化。例如，幹試樣墊的介電性質在流體試樣施加到其上時發生變化，該變化可由發送元件和接收元件檢測。流體傳感器O920)可通過產生可發送至嵌入式計算裝置的信號來對於檢驗盒子中存在或缺失流體試樣發信號，該計算裝置可產生視頻、聲頻、或其它指示或警報。如圖所示，試樣臺架Q900)還包括加熱元件(四30)，該加熱元件可用來調節檢驗盒子的緊鄰附近的溫度。這可有助於分析物粘合劑、分析物捕獲劑和任何螢光標記與目標檢驗分析物反應和/或粘合。它還可增大檢驗條帶與檢驗條墊之間的流體試樣的橫流流量。還可根據需要包括冷卻元件。此外，試樣臺架O900)可包括加熱元件附近的溫度傳感器。加熱元件O930)例如可通過由PCB板Q909)上電路產生的電阻熱量來加熱。這裡還可包括其它加熱特徵和加速分析物粘合的其它方法。而且，在一些變型中，試樣臺架可包括冷卻棒或用來降低溫度(即，用作冷卻器)的其它冷卻元件。這例如可加速分析物粘合和/ 或防止流體從檢驗條(或其它檢驗介質)蒸發。例如，在熱環境中，冷卻元件可降低溫度。 一般來說，加熱元件或冷卻元件可包括的任何特徵以將檢驗條上溫度調節至適於有效分析物粘合和/或防止流體從檢驗條或其它檢驗介質蒸發的溫度範圍。還應注意的是，試樣臺架的一些變型可不包括任何加熱元件、冷卻元件和/或溫度傳感器。如圖29A和29B所示，試樣臺架Q900)還可包括雷射標定玻璃Q904)，該雷射標定玻璃可用來標定從激發模塊發射的雷射束的輸出功率和/或強度。雷射標定玻璃O904) 例如可以是拋光釹鐠玻璃或含稀土元素離子的玻璃，其可適用於對構造成發射和檢測光譜中的紅光區域和紅外區域的光的激發檢測模塊進行標定。雷射標定玻璃O904)可位於臺架罩殼090；3)的表面上，該臺架罩殼可移動以符合激發模塊的雷射束路徑，並符合檢測模塊物鏡的光軸。雷射標定玻璃O904)的尺寸可在合適時變化，並且例如可以是約2mm寬， 約3mm長，和/或約Imm厚。由激發和檢測模塊中的光傳感器板收集的強度和/或輸出功率數據可用來電子地調節通過雷射器的電流，還可用作對於計算系統的反饋信號以調節激發模塊的雷射功率。在一些變型中，強度和/或輸出功率數據還可用來動態地調節光電二極體的增益，或檢測模塊的光傳感器板上的M位模數轉換器。儘管這裡的標定元件可由釹鐠玻璃製成，但應理解的是，在雷射束光譜內具有精確可靠光學性質的任何材料都可用來標定雷射功率輸出。圖14A-14I示出了可與這裡所述的一個或多個系統一起使用的可動或機動託盤裝置(1400)的另一變型。更具體地說，圖14A和14C是託盤驅動器(1400)的立體俯視圖， 圖14D和14E是託盤驅動器的試樣保持件中的加熱棒的立體圖和剖視圖，圖14F和14G是託盤驅動器(1400)的立體仰視圖，圖14B是託盤驅動器(1400)的俯視圖，圖14H是託盤驅動器(1400)的仰視圖，圖141是託盤驅動器(1400)的側視圖。託盤驅動器可被致動以對一個或多個盒子和檢驗條進行定位和對準以用於光學檢測和分析。例如，託盤驅動器可定位試樣保持件(109)，使得盒子(111)與孔(11 對準，如圖IB所示。再次參見圖14A-14I，託盤驅動器(1400)包括託盤底座(1410)、底座軌道(1402)、 託盤軌道(1404)和(140 、可滑動支架(1406)和(1408)、底座電動機(141 、包括託盤電動機(1414)的至少一個託盤(1407)。還示出了盒子(1404)和試樣保持件(140 。盒子(1401)可以任何合適方式固定在試樣保持件(140 中，包括經由卡合或摩擦配合，和/或使用粘合劑、磁體、靜電力或壓力。如圖所示，試樣保持件(140 聯接至託盤(1407)。試樣保持件(140 例如可以是在成形之後聯接至託盤(1407)的分離部件。在其它變型中，試樣保持件(140 可以與託盤
(1407)一體形成。如圖14A所示，託盤(1407)通過若干個螺釘(1409)聯接至可滑動支架(1406)和
(1408)。託盤(1407)可通過託盤電動機(1414)經由託盤軌道1404)致動，如圖14F所示。這可允許託盤(1407)沿由託盤軌道(1404)限定的軸線移動。電動機(1414)可以手動或機電致動的。沿由軌道(1404)和(1405)限定的軸線的移動可有利於對包含在盒子中的試樣進行掃描(例如通過如圖IB所示的光學模塊(101))。 如圖14A所示，託盤驅動器(1400)包括安裝在可滑動支架(1408)和(1406)上的兩個託盤 (1407)和(1499)。託盤(1499)例如可如以上對於託盤(1407)所述的那樣運行。應理解的是，機動託盤驅動器的其它變型可包括安裝在可滑動支架上的任何合適數量的託盤，諸如三個、四個、五個、或十個等數量的託盤。可滑動支架(1408)經由底座軌道(140 聯接至底座電動機(141 。這可允許可滑動支架(1406)和(1408)、承載託盤(1407)和(1499)沿由底座軌道(1402)限定的軸線移動。底座電動機(141 可以手動或機電致動的。因此，託盤驅動器(1400)具有兩個自由度一個自由度沿著底座軌道(140 限定的軸線，另一自由度沿著託盤軌道(1404)和 (1405)限定的軸線。託盤組件的其它變型可根據軌道和電動機的數量具有較多或較少的自由度。例如，託盤的一些變型可不具有託盤軌道和電動機，使得託盤的運動局限於由底座軌道限定的軸線。在其它變型中，託盤可具有託盤電動機，但沒有底座軌道或電動機，使得託盤的運動局限於由託盤軌道限定的軸線。底座軌道(140 和可滑動支架(1406)和(1408) 聯接至底座(1410)的邊緣，如圖14A-14I所示。如圖14B所示，底座(1410)具有圖14B中所示的尺寸(D5)和(D8)。在一些變型中，尺寸(D5)可以是約150mm。替代地或附加地，尺寸(D8)可以是約150mm。尺寸(D9)等於託盤驅動器(1400)的整個寬度，在一些變型中可以是約170mm。尺寸(D7)標示可滑動支架(1408)的寬度，在一些變型中可以是約70mm。最後，尺寸(D6)等於託盤(1407)的寬度， 可以是約50mm。託盤驅動器(1400)的各部件可以具有任何尺寸以允許它們與底座(1410) 集成並由底座(1410)支承。在機動託盤驅動器的一些變型中，試樣保持件(140 可包括嵌入電路板(1418) 的加熱棒(1416)，如圖14D和14E所示。加熱棒和電路板可布置成當盒子(1401)放入試樣保持件(1403)時，加熱棒(1416)基本接觸盒子。加熱棒例如可通過電路板(1418)上的電路產生的電阻熱量來加熱，並可用來加速分析物粘合。這裡還可包括如前所述的其它加熱和/或冷卻特徵(例如冷卻棒)。底座(1410)例如可包括一種或多種相對剛性的材料，該材料可承受光學系統 (101)或任何適於以其一起使用的其它光學系統的重量。在一些變型中，底座(1410)可螺栓連接至穩定表面(例如用來減少可能干擾系統的振動)。圖141示出了託盤驅動器 (1400)的側視圖。如圖所示，底座(1410)具有深度(DlO)，該深度例如可以是約32mm。在圖141中，尺寸(DU)標示託盤驅動器(1400)的總深度，託盤(1407)、試樣保持件(1403) 和盒子(1401)的深度和。在一些變型中，尺寸(D13)可以是約70mm。尺寸(Dll)標示底座(1410)至託盤(1499)的總深度，尺寸(D12)標示底座(1410)至試樣保持件(1403)底部的總深度。尺寸(M)-(DU)限定由機動託盤驅動器的該變型佔據的空間，以及各個部件相對於彼此的定位，這可有助於總體POC診斷系統的便攜性。在診斷系統的一些變型中，光學模塊可安裝在機動託盤驅動器頂上，類似於圖 1A-1C所示。尺寸(D10)-(D13)可為光學模塊與機動託盤驅動器之間可能設置的最小間隙提供引導，使得光學模塊不阻礙託盤的運動。光學模塊罩殼(例如罩殼(102))可包括可用來將光學模塊聯接至機動託盤驅動器而不阻礙託盤運動的一個或多個特徵。這些特徵可包括但不局限於孔、凹槽、狹槽、槽口、凹處和通道。在一些變型中，光學模塊與機動託盤驅動器之間可以有電氣接口，從而可使它們的運行同步。圖15A-15C示出了一示例性的試樣保持件託盤組件(1520)，該組件可用來保持和定位包含諸如這裡所述檢驗條的檢驗條的盒子。如圖所示，試樣保持件託盤組件(1520)包括試樣保持件(1500)和託盤(1502)。試樣保持件(1500)則包括凹處(1504)、凹槽(1505) 和盒子保持件(1508)。凹處(1504)和凹槽(150 可根據要被試樣保持件接納的諸如盒子 (111)(圖2A)的盒子的尺寸和幾何形狀來設計尺寸和形狀。凹槽(1505)例如可提高盒子安裝和/或移除的便利性。可使用各種不同方法來將盒子固定在凹處(1504)內。例如，盒子可通過摩擦配合、粘合、和/或使用卡合或類似於保持件(1508)的保持件來固定。在一些變型中，盒子可與試樣保持件(1500) —體形成。試樣保持件(1500)可以具有任何合適的尺寸，並可包括構造成保持一個以上盒子的多個凹槽和/或其它特徵。如圖15A-15C所示，試樣保持件(1500)聯接至託盤(150 。試樣保持件(1500) 可永久聯接至(例如熔接至)託盤(1502)，或者它可臨時聯接至託盤(150 。在其它變型中，試樣保持件和託盤可彼此形成一體。在一些變型中，試樣保持件和託盤之間的非永久聯接可允許託盤的再使用，而試樣保持件可在使用之後丟棄。或者，託盤和試樣保持件都可在使用之後丟棄。託盤可以尺寸和形狀設計成保持各種試樣保持件(例如各種試樣保持件 (1500))，試樣保持件可構造成保持各種盒子。託盤(150 還可構造成保持多個試樣保持件(1500)。如圖15A和15B所示，託盤(1502)可包括附連特徵(1506)。附連特徵(1506)是構造成供螺釘穿過的孔；然而，諸如槽口、夾子、凸部等的其它特徵也可用來將託盤(1502) 與其它部件附連。例如，試樣保持件託盤組件(1520)可附連至機動梁，該機動梁將試樣定位在試樣保持件(1500)中以用於檢測和分析。診斷系統的一些變型可具有一個試樣保持件託盤組件，而其它變型可具有多個試樣保持件託盤組件。此外，儘管系統(100)顯示成具有對來自檢驗條的結果進行掃描和讀取的一個光學模塊(101)，但診斷系統的其它變型可具有多個光學模塊或檢驗條讀取器。在一些變型中，主模塊可驅動一個或幾個從模塊。主模塊可包括光學模塊、帶有多個盒子的機動託盤驅動器、嵌入式PC、電氣接口(例如與從模塊)、用戶接口(例如觸控螢幕、顯示器、和 /或諸如滑鼠或鍵盤的輸入裝置)。從模塊可包括光學模塊、帶有多個盒子的機動託盤驅動器、電氣接口(例如與主模塊和/或其它從模塊)。單個主模塊可菊花鏈式連結至多個從模塊，並可控制所有託盤驅動器和光學模塊的致動，這可使診斷系統能同時分析多個盒子。還可使用其它系統構造，這將在下文詳細描述。例如，從模塊可用來在主模塊掃描之前保溫檢驗條。主模塊可在保溫期間對保持在從模塊中的檢驗條的持續時間、溫度、光亮度、其它條件進行控制。在保溫期間結束時，主模塊的嵌入式計算裝置可發信號以將檢驗條從從模塊彈出並裝入主模塊以便掃描。這可有助於增大診斷系統的吞吐量。替代地或附加地，檢驗條可在諸如組織培養罩、清潔室等的其它環境中被保溫，隨後被手動裝入主模塊以用於掃描和讀取。在從模塊包括光學模塊的情況下，它還可在保溫期間之後接收來自主模塊的掃描指令。來自從模塊的掃描數據可經受初步處理，然後可發送至主模塊以便存儲和進一步分析。從模塊可包括一些用來檢測狀態和/或出錯條件的電路，在一些變型中，可包括揚聲器和/或觸覺接口以對檢驗條的狀態和 /或光學模塊的狀態提供反饋。在一些變型中，主模塊可具有網際網路或網絡連接性(例如乙太網連接性)，用戶可在遠程位置對主模塊和從模塊進行控制和編程。主模塊還可具有用戶顯示器，諸如解析度為約800x 480像素、對角線長度為約7 英寸的IXD屏，或解析度為約IOMx 600像素、對角線長度為約9英寸的IXD屏。顯示器或顯示屏可以是防流體的。在一些變型中，用戶顯示器可以是觸控螢幕，或者鍵盤和/或滑鼠可用來與模塊相互作用。例如，圖16A示出了診斷系統(1650)的一個變型，該診斷系統包括保持檢驗條 (未示)的多個盒子(160 和多個讀取器(1601)。在該變型中，在讀取器可讀取由檢驗條所指示的結果的情況下，每個讀取器構造成讀取一個盒子，且每個讀取器還可檢測溼度並讀取標示檢驗條類型的條形碼。此外，在一些變型中，讀取器(1601)可以實施盒子保溫。如圖16A所示，讀取器(1601)經由電氣接口(160 以菊花鏈形式連接至彼此，最後的讀取器連接至控制計算機(1600)。該多個讀取器(1601)的菊花鏈構造(每個讀取器構造成掃描一個盒子(1602)的檢驗結果)例如可允許簡單的可量測性和高的流量。圖16B示出了診斷系統(1660)的另一變型。如圖所示，診斷系統(1660)包括單個讀取器(1601)和具有多個盒子(160 的保溫器(1604)，其中，保溫器(1604)、讀取器 (1601)和計算機(1600)以菊花鏈構造連接。可依次分析裝入保溫器(1604)的多個盒子 (1605)，計算機(1600)可維護確定每個盒子掃描時間的資料庫。該變型可提供相對有效的讀取器(1601)利用，並可允許保溫器可量測性。圖16C示出了診斷系統(1670)的另一構造。如圖所示，多個盒子、保溫器和讀取器可組合成一個模塊(1606)。保溫器可用來加速分析物和分析物粘合劑的粘合，和/或保持所關心的分析物和組合物的活性。與計算機(1600)的接口(1607)可包括允許高流量地處理盒子的多個讀取器通道。在託盤具有特定構造的一些變型中，系統的一個或多個其它部件可重置或改變以適應該構造。作為一實例，圖16D示出了激發模塊(1610)，該激發模塊構造成將激發光束施加至兩個分離的盒子(1612)和(1614)。雷射束(1616)是來自雷射器(1617)和(1618) 的光束的組合，但被分成最終指向分離的盒子(1612)和(1614)的兩條光束。每個盒子具有其自身的檢測模塊(162 和(16M)，兩個檢測模塊可彼此相同或彼此不相同。激發模塊(1610)具有可允許相對較高流量地對盒子進行檢驗和分析的構造。激發模塊(1610)的光學器件可布置成適合於匹配盒子(1612)和(1614)的構造以有效施加激發光束的任何構造。在一些情況下，光纖聯接的雷射器可用來充分地觸及託盤和定位在託盤上的盒子。例如，圖16E示出了雷射器(1630)，該雷射器施加聚焦到光纖集線器(1634)的激發光束。光纖集線器(1634)則通過光纖(1631)、(163 和(163 分配雷射束。儘管示出了三根光纖，但其它變型可包括不同數量的光纖(例如用來匹配檢驗盒子的數量)。在一些變型中，雷射器(1630)可以是光纖聯接的雷射二極體，該雷射二極體可減少激發模塊中的部件數量。光纖光學器件的使用可適應較多種類的盒子和託盤構造，並可降低機動託盤組件的複雜性(例如可需要盒子和/或激發模塊的較少運動)。如圖16A-16C所示，診斷系統的一些變型可連接至外部計算機(1600)。然而，在一些變型中，診斷系統可包括嵌入式處理器計算機(PC)。嵌入式處理器可被一體地容納在系統的罩殼(例如圖IA所示的罩殼(102))，或者可被容納在系統的任何罩殼外部的分離罩殼內。或者，嵌入式PC可放置在物鏡單元或檢測單元中。嵌入式PC可以是用戶定製設計的和/或私有的，或者它可以是市售的，例如諸如PC/104的標準PC形式或尺寸合適於系統罩殼的任何Windows兼容PC。為了減少診斷系統所佔據的空間，嵌入式PC可以相對較小 (例如，約3. 6乘3. 8英寸。)可基於運行診斷系統可能需要的軟體架構的指令來選定嵌入式PC。下面將更詳細地描述軟體系統的一變型。嵌入式計算裝置圖17A示出了嵌入式計算裝置(1730)的一實例，該嵌入式計算裝置可用來控制和標定診斷系統。如圖所示，嵌入式計算裝置(1730)包括主板(1732)、硬碟驅動器(1734)和安裝託架(1736)，該硬碟驅動器電連接至主板，該安裝託架可用來將嵌入式計算裝置固定至診斷檢測系統的罩殼。在一些變型中，硬碟驅動器(1734)可具有至少約30G的存儲量。 可適用於診斷系統的主板(1732)的實例包括具有PC/104尺寸或較小尺寸的任何系統。嵌入式計算裝置(1730)還包括連接器(1738)，該連接器構造成與診斷系統的電氣接口板連接。連接器(1738)可包含足夠的帶寬以接收和發送掃描和傳感器數據、裝置指令、以及網際網路或網絡連接性。連接器(1738)還可連接至為嵌入式計算裝置(1730)提供電力的電源。 儘管圖17A示出了一個示例性的嵌入式計算裝置(1730)，但應理解的是，也可在合適時使用其它嵌入式計算裝置。外部計算機在一些變型中，診斷系統可將數據發送至外部計算機並從外部計算機接收數據， 該外部計算機諸如圖17C所示的計算系統。圖17C示出了一示例性計算系統(1740)，該計算系統可用來實施用於這裡所述系統各個方面的處理功能(例如，作為用戶/客戶裝置、月艮務器裝置、介質捕獲伺服器、介質數據存儲、活動數據邏輯/資料庫、廣告伺服器、它們的組合等)。本領域技術人員還會意識到如何使用其它計算系統或架構來實施本發明。計算系統(1740)例如可呈諸如臺式計算機、行動電話、個人娛樂裝置、DVR等的用戶裝置，主機，月艮務器，或任何其它類型的專用或通用計算裝置，只要其可理想地或合適地用於給定的應用或環境。計算系統(1740)可包括一個或多個處理器，諸如處理器(1744)。處理器(1744) 可使用通用或專用處理引擎來實施，諸如微處理器、微控制器或其它控制邏輯。在該實例中，處理器(1744)連接至總線(1745)或其它通信介質。計算系統(1740)還可包括主存儲器(174 ，較佳地是隨機存取存儲器(RAM)或其它動態存儲器，用於存儲由處理器(1744)執行的信息和指令。主存儲器(1748)還可用來存儲在處理器(1744)執行指令期間的臨時變量或其它中間信息。計算系統(1740)同樣可包括只讀存儲器(「ROM」)或聯接至總線(1745)的其它靜態存儲裝置，用於存儲靜態信息和處理器(1744)的指令。計算系統(1740)還可包括信息存儲機構(1750)，該信息存儲機構例如可包括介質驅動器(175 和可移除的存儲接口(1746)。介質驅動器(175 可包括支持固定或可移除存儲介質的驅動器或其它機構，諸如硬碟驅動器、軟盤驅動器、磁帶驅動器、光碟驅動器、 CD或DVD驅動器(R或RW)、或其它可移除的或固定的介質驅動器。存儲介質(1758)例如可包括硬碟、軟盤、磁帶、光碟、⑶或DVD、或由介質驅動器(175 讀取和寫入的其它固定的或可移除的介質。如這些實例所示出的，存儲介質(1758)可包括具有存儲在其中的特定計算機軟體或數據的計算機可讀取的存儲介質。在其它變型中，信息存儲機構(1750)可包括其它類似的工具，用於允許將電腦程式或其它指令或數據裝入計算系統(1740)。這些工具例如可包括可移除的存儲單元 (1742)和接口(1746)，諸如程序盒子和盒子接口、可移除存儲器(例如，閃速存儲器或其它可移除的存儲模塊)和存儲器插槽、允許軟體和數據從可移除存儲單元(174 轉移至計算系統(1740)的其它可移除存儲單元(1742)和接口(1746)。計算系統(1740)還可包括通信接口(1754)。通信接口(1754)可用來允許軟體和數據在計算系統(1740)和外部裝置之間轉移。通信接口(1754)的實例包括數據機、網絡接口(諸如乙太網或其它NIC卡)、通信埠(諸如USB埠)、PCMCIA插槽和卡等。 經由通信接口(1754)轉移的軟體和數據呈信號的形式，信號可以是電子、電磁、光學、或能由通信接口(1754)接收的其它信號。這些信號經由通道(1756)提供至通信接口(1754)。 該通道(1756)可承載信號，並可使用無線介質、線纜、光纖或其它通信介質來實施。通道的一些實例包括電話線、行動電話連接、RF連接、網絡接口、區域網或廣域網、其它通信通道。軟體架構圖17B示出了可用來管理和控制診斷系統的自動化和運行的軟體系統(1700)的一實例。軟體系統(1700)附加地實施數據處理任務並維護編程接口，使得可針對特定應用定製診斷系統的功能。如圖17B所示，軟體系統(1700)包括控制器模塊(1701)、本地用戶接口(UI)模塊(170 和遠程用戶接口模塊(170 。模塊(170 和(170 可實施在硬體 (例如處理器)中，該硬體與實施控制器(1701)的硬體分離，且模塊(1702)和(1703)都可由接口(1704)連接。然而，在一些變型中，模塊(1701)和(170 可實施在同一硬體組件中。軟體系統(1700)可以是基於對象的插件架構，具有一個或多個動態連結庫 (DLL)，每個DLL可包含任何數量的對象實現及其關聯的對象工廠。一旦通過將所有對象工廠裝入任何存在的DLL而啟動系統，對象工廠就可被裝入對象註冊表。可將啟動配置腳本提供至根據需要一起裝入系統的線對象。可被包括在軟體系統中的對象實例包括=Java描述語言(javascript)引擎(例如基於謀智蜘蛛猴(Mozilla SpiderMonkey)/NSI3R)，通有屬性系統，通有日誌，IPV4插口支持、安全IPV4插口支持，網頁客戶端，網頁伺服器，用於網頁伺服器的AJAX支持，Relia2接口，通有帶定位程序，Relia2圖像分析器，通有碼39條形碼解碼器，Relia2-專用碼39解碼器，資料庫引擎，Relia2資料庫表格，Relia2USB裝置接口， HTML翻譯引擎，通有報告生成器，通有UI引擎等。軟體系統(1700)還可實施成客戶端一月艮務器對，其中，單個伺服器與單個客戶端一起在儀器上運行。然而，在其它變型中，附加的外部客戶端還可連接至軟體系統。還可實施應用程式接口(API)，這可允許通過Java描述語言(Javascript)進行遠程控制。軟體系統(1700)DLL可實施成一個或多個DLL的添加可無需對於軟體系統和/或對於其它已有DLL的任何附加碼修改。軟體系統(1700)可以能夠根據預先編程或用戶創造的例程來向診斷系統中的裝置發出指令。例如，軟體系統(1700)可以被預先編程以實施標定例程，裝置和系統診斷器和調試器，以及用來詢問診斷系統中所有傳感器的例程。用戶還可使用各種腳本和程式語言來設計適用於所需目的的定製例程。例如，在一些變型中，軟體系統(1700)可完全索引患者檢驗結果、已安裝的DLL、連接的客戶端和/或伺服器、化驗表格、條形碼數據等，從而可實施檢索功能。來自主裝置和/或從裝置中激發模塊、檢測模塊和其它模塊的數據測量可由軟體系統(1700)來處理，並存儲在硬碟驅動器中。軟體系統(1700)可如下所述處理和分析數據，並可向醫師生成檢驗結果的報告。該報告可以包括諸如以下信息患者身份、日期、檢驗條失效日期、批號、檢驗開始和/或結束時間、保溫時間、保溫溫度、所實施的分析、相關標定和標準曲線、顯示螢光棒位置的掃描條圖像、相對強度、來自患者和/或醫師的注釋、結果解譯(例如正的、負的、不確定的)等。接口(1704)可以是任何標準的電氣接口，諸如串行埠接口或乙太網，或者可以是無線接口，諸如藍牙@或射頻傳送電路技術。本地UI模塊(170 包括用戶接口，並可以可選擇地包括除了英語之外的語言能力，如圖17B所示。用戶接口可以是圖形或命令行驅動的。遠程UI模塊(170 包括用戶接口，並可以可選擇地包括除了英語之外的語言能力。 語言能力所需的信息可被存儲在專用於用戶接口模塊(1702)和(1703)任一個的資料庫中。控制器模塊(1701)包括控制芯部(1705)，該控制芯部管理輔助功能塊的運行以確保沒有指令危險或無效狀態。示例性的輔助功能塊可包括編程模塊(1707)、裝置模塊 (1709)、曲線擬合模塊(1711)、解碼模塊(1713)、資料庫模塊(1715)、輸出模塊(1717)、網頁伺服器模塊(1719)、化驗控制模塊(1721)。還可包括其它輔助功能塊(例如為診斷系統構造所需的)。編程模塊(1707)管理用戶生成腳本的實施。可配置的程式語言可包括C/C++、 Java描述語言(JavaScript)、MATLAB 等。根據程式語言，編程模塊(1707)還可包括編譯器。來自用戶生成腳本的指令可由控制芯部(1705)來實施，並可控制任何輔助功能塊之間的相互作用。在一些變型中，控制芯部(1705)可阻止用戶生成腳本被一些功能塊存取，以防止數據破壞和系統故障。裝置模塊(1709)可與診斷系統的所有單獨裝置接口，從而確保每個裝置被適當地安裝、標定和初始化以便使用。裝置模塊(1709)可維護故障裝置或裝置配置的標識資料庫。缺陷裝置或出錯裝置配置可被輸送至控制芯部(1705)，該控制芯部可警告使用輸出模塊(1717)的用戶。曲線擬合模塊(1711)和化驗控制模塊(1721)可共同工作以對從檢驗試樣收集的數據進行分析。曲線擬合模塊(1711)可實施任何數量的數值模型以產生最佳擬合曲線。曲線擬合模塊(1711)例如可實施非線性回歸、LM算法、其它對於收集數據的光滑函數。曲線擬合模塊可以是定製程序，或可以是市售統計軟體包的一部分。在一些變型中，曲線擬合模塊(1711)還可實施統計分析，以確定實驗是否具有足夠的能力和精度來報告具有最小可信度的結果。統計分析可包括變量分析、學生t-檢驗、和/或可信區間計算、以及適用於實驗的其它參數或非參數方法。解碼模塊(171 可維護有效裝置條形碼的資料庫，該資料庫被由裝置模塊 (1709)來引用。還可存儲過期或召回部件的無效條形碼。解碼模塊(171 可以通過網頁伺服器模塊(1719)從網頁伺服器動態地更新以用於最新的條形碼信息。例如，條形碼可對包含專用於特定化驗的化驗表格信息的存儲裝置的網際網路或網絡地址進行編碼。資料庫模塊(171 通常可被控制器使用來維護系統變量和數據，並可使用市售資料庫模塊來實施，或可用私有編碼來實施。輸出模塊(1717)接口於任何輸出指示器，諸如顯示器、顯示屏、聲頻或視頻指示器，從而將系統狀態傳送給用戶。在一些變型中，輸出模塊(1717)還可管理印表機埠，這允許列印檢驗報告和/或系統報告。輸出模塊(1717)還可將任何系統資料庫的內容呈現給用戶。化驗控制模塊(1721)可控制診斷系統的所有機械部件的致動，例如，光學部件的定位，盒子和託盤以及任何其它系統致動器的定位。化驗控制模塊(1721)還可控制激發模塊中雷射器的輸出，並可激發來自編程模塊(1707)的雷射脈衝序列。
數據預處理模塊(172 可與檢測器(例如光電二極體)接口從而以快速的總線速率收集數據，將數據存儲在數據結構(諸如FIFO或LIFO緩衝器、多維數組、或其它獨立可尋址存儲器)中，並壓縮數據以便快速存儲且經由化驗控制模塊(1721)將數據發送至控制芯部(170 。數據預處理可通過去除頻率假象和/或對數據縮減取樣(但不低於奈奎斯特頻率)來減小發送至控制芯部的數據的尺寸，並可增大控制芯部(1705)和曲線擬合模塊 (1711)的處理效率。軟體系統(1700)的諸如數據預處理模塊的一個或多個模塊可從光傳感器板獲取測得信號，必要時對信號進行解調，並以一維數組將數據存儲在硬碟驅動器中。在一些變型中，存儲在數組中的數據是圖像數據或圖譜，該圖像數據或圖譜表示特定光譜在檢驗條上不同位置的強度。數組中的數據可被處理以產生估計的背景。然後可從圖譜中減去估計的背景以確定所關心的帶及其在檢驗條上的位置。在檢驗條條形碼或RFID標籤中被編碼的數據可包含關於用於特定化驗的預期帶數量的信息。數據預處理模塊可使用最小平方的最佳匹配方法來比較預期帶數量與圖譜中檢測到的帶數量之間的差值。這可有助於降低分析誤差，分析誤差可能源自錯誤的或有幹擾的測量。可以若干方式來定性和/或定量分析由光傳感器板收集的數據。一種分析可包括計算目標分析物螢光強度與控制分析物螢光強度之比以獲得相對強度(RI)值。RI值可作為結果直接報告。另一分析可通過曲線擬合模塊來實施，並可包括使用由編碼在檢驗條條形碼或RFID中的化驗表格所提供的曲線擬合參數來將RI值饋送入4參數或5參數的邏輯函數。所得的曲線提供諸如目標分析物濃度(例如，目標分析物/體積，合適的單位諸如 ng/mL)的信息。還可將RI值與由編碼在條形碼中的化驗表格提供的截止常數作比較。可將小於或大於截止常數的RI值作為「負的」、「正的」或「不確定的」報告給醫師。還可根據分級表格(其可存儲於化驗表格中)對RI值進行分級，隱含的下限是零，而沒有上限。通過確定輸入的值位於哪個部分之間，包括隱含的零和無窮大值，來報告檢驗的結果。分級分析的輸出可包括與每個極限值關聯的任何化驗特定字符串。例如，分級表格可作為數組對來存儲(極限，字符串)，最終值是(_，字符串)。小於最大極限的所有值都被賦予與RI值所小於的最高分級相對應的字符串。假如RI值高於最大極限，則應用最終字符串。一種可應用至構造成使用多個帶來檢測多個抗原的檢驗條的分析方法包括如上所述計算RI值和4-或5-參數的邏輯曲線，將這些結果組合成可用作對於分級分析的輸入的單個結果。例如，源自兩個抗原的兩個帶可具有不同的化學「增益」。一個帶在低劑量處有效，但在中劑量處飽和；另一個帶在低劑量處無效(即，信噪比太低)，但在靈敏帶飽和的較高劑量處有效。可用各種方式組合這兩個帶的結果，以獲得單個高動態範圍的結果，該結果超出了任何單個抗原帶的化學動態範圍。每次化驗可用數據簡化方法編碼在條形碼或 RFID中解碼以用於其分析，可匯總各個分析的結果以增大化驗的動態範圍。不同的分析可以是模塊化的，從而可在計算裝置中實施新的分析方法而無需修改已有的分析方法。對於這裡所述的診斷系統還可包括和實施其它軟體架構。儘管可實施私有的軟體，但也可使用市售的作業系統和程序。這裡所述系統的一些變型可構造成連接至網際網路或內聯網，或可具有用於行動電話連接的特徵(藍牙 )。作為一實例，系統可構造成連接至用於健康IT管理的網絡。例如可使用網際網路或內聯網連接性來將原始有效數據發送至任何所需位置，以便進一步分析和/或集成入較大數據集(例如用於疾病管理和控制)。在一些變型中，來自POC系統的原始數據/測量(例如，表示目標分析物檢測的數據/測量)可在本地被分析(例如通過POC 系統自身)，和/或發送至遠程位置以用於解譯和分析。可使用本地和/或遠程數據分析的結果以用於診斷和治療決定。本地POC系統與遠程分析系統之間的接口協議可包括確保數據安全和分析工具商業秘密保護的特徵。在一些變型中，系統可連接至個人健康管理系統 (例如iMetrikus )，該個人健康管理系統可兼容來自任何電子家庭檢測和/或POC裝置的實時數據捕獲。個人健康管理系統可將數據捕獲存儲為安全、交互和可共享的記錄，以用於個人、健康專家、付款人和其它保健公司。在一些變型中，系統可以能夠被遠程監測(例如通過電話、通過網際網路)，和/或可以連接至可使用系統並解譯結果來提供幫助的呼叫中心，或可以遠距離地被遠程控制。結果，系統可無需基本現場服務。連接性可改進這裡所述系統的數據管理能力。連接性例如可以基於公司、全國、或甚至全球。在一些變型中，可通過網際網路或USB驅動來接收軟體和/或化驗更新。而且，例如可通過網際網路或USB驅動來對結果進行存儲、觀看、列印和/或下載。例如，這裡所述系統的一些變型可用作遠程健康管理(RHM)和/或遠程患者管理 (RPM)系統的一部分，其中，醫師可以能夠在遠程位置控制POC診斷系統的使用，監測檢驗結果，並提供醫療診斷和建議。在一些變型中，可使用電信技術來支持遠距離臨床健康管理和評估。例如，在RPM系統中，患者可自己使用診斷裝置來化驗生理流體試樣，可將檢驗結果在本地報告給患者並在遠程報告給醫師。患者例如可化驗用於葡萄糖水平的血液試樣， 化驗用於激素水平的唾液試樣，化驗用於細菌和/或藥物副產物的尿液試樣等。在一些實例中，諸如患者的藥劑師、朋友、親戚或任何其它非醫療專業人員之類的非醫療人員可使用診斷裝置來化驗患者的生理流體試樣。患者、非醫療人員等可在合適時在有或沒有醫師指導的情況下使用系統。檢驗可相對易於使用(例如只需手指穿刺)。在一些情況下，檢驗可在試樣添加之後自動運行。根據診斷檢驗的結果，醫生可通過網絡向患者發送提醒以進行後續的診斷檢驗。存儲在嵌入式計算裝置的硬碟驅動器中的檢驗結果可形成為在需要時能由患者和醫師獲得，並可以是患者的電子健康記錄的一部分。具有POC診斷裝置的RHM和/ 或RPM系統可有助於醫師確定患者是否符合推薦的治療和監測過程。在一些變型中，檢驗可在需要時自動補充。如上所述的具有RHM和/或RPM連接性的POC診斷裝置既可位於私人地點，又可位於公共地點。私人地點的實例包括患者住宅、醫院病房、浴室、重病監護室、汽車、診室、運動更衣室等。公共地點的實例包括機場登機口和/或安檢點、購物中心、藥房、遊樂園、零售店、餐館、高速公路休息區、影劇院、體育館、體育場、賓館等。其它地點包括急診室、外科手
術室等。儘管以上已經描述了檢驗條，但檢驗條的一種或多種特徵可應用於其它類型的系統。例如，這裡所述的一種或多種原理以及這裡所述的裝置、系統和方法的特性或特徵可應用至微流體應用。作為一實例，微流體裝置可採用共同定位目標分析物捕獲劑和控制分析物捕獲劑(和/或一種或多種附加的分析物捕獲劑)的腔室。作為另一實例，可沿微流體基裝置的通道在一些位置檢測流體試樣中的目標分析物。微流體方法和裝置例如在以下有描 : :Martinez等人，「Three—Dimensional Microfluidic Devices Fabricated in Layered Paper and Tape，」 PNAS，105 卷，50 期(2008 年 12 月 16 日)19606-19611 ；P. K. Sorger,"Microfluidics Closes in on Point-of-Care Assays, "Nature Biotechnology (自然生物技術)，26 卷，12 期(2008 年 12 月)1345-1378 ；以及 B. Grant,"The 3CentMicrof luidics Chip，」 The kientist(科學家)(2008年12月8日)，在此以參見的方式引入所有上述文獻的全文。一些裝置和系統通常可採用兩個雷射器來測量同一試樣中的兩種不同速率，由此測量同一試樣中的兩種不同分析物，而不管分析物是否位於檢驗條上。例如，這些裝置、系統和方法可在需要雙測量(例如，兩種互補酶的活性)的一些情況下是有效的。儘管以上已經描述了一些檢測技術，但診斷系統可構造成使用各種不同檢測技術中的任何檢測技術來檢測和分析試樣。例如，診斷系統可使用流過技術檢測和分析試樣，其中，多層檢驗條包括包含分析物捕獲結構的反應膜板。流體試樣可施加至多層檢驗條，並可傳播至反應膜板，在該反應膜板處捕獲所關心的分析物。下一步驟可將標有螢光團的分析物檢測劑施加至檢驗條，該分析物檢測劑可呈現目標分析物的存在和量。可與診斷系統一起使用的另一檢測技術是固相技術，其中，檢驗條(例如量杆)可包括一種或多種包含分析物捕獲結構的井。流體試樣可施加至井，其中，捕獲了所關心的分析物。在保溫期間之後， 可跟隨一緩衝劑洗滌步驟以減少非專門粘合。此後，可將標有螢光團的分析物檢測劑施加至井。在保溫期間之後，可跟隨一洗滌步驟，井中測得的螢光團可呈現目標分析物的存在和量。在流過或固相技術中，分析物檢測劑的螢光團可被檢測模塊收集和測量。在兩種技術中，可採用控制分析物檢測劑，使得可相對於控制分析物檢測標準化檢驗分析物檢測(例如，用來去除可能影響檢驗分析物檢測精度的製造和環境變化性)。^M下面的實例將是示例性而不是限制性的。實例Ia-檢驗條和化驗的準備檢驗條如下構造。用以下塗敷微孔HF 90硝化纖維素(從而與試樣施加區域隔開)控制-1 混合有cTnl的0. 5mg/ml兔抗DNP，檢驗帶-1 各為1. 2mg/mL的單克隆抗cTnI19C7和16A11或各為 0. 6mg/mL 的單克隆抗 cTnl 19C7、TPC_6、TPC_102 和 TPC-302。(在塗敷之前，在 PBS、 5%海藻糖、5%甲醇中溶解抗體以用於塗敷。)使用IVEK平底帶塗器以1 μ L/cm的速度塗敷硝化纖維素。在塗敷之後，HF 90硝化纖維素在37°C下保溫整夜，然後在45°C下熱處理四天。使用標有HiLyte Fluor 647螢光團的抗生蛋白鏈菌素與標有生物素的單克隆抗 cTnl抗體混合，來製備單克隆抗cTnl抗體的螢光配合物，如下所述。NHS-PE012-生物素用於抗cTnl生物素化，如下所述。首先，通過將二甲亞碸 (DMS0，西格瑪公司(Sigma))和EZ-LINK NHS-PE012-生物素(皮爾斯生物技術公司(Pierce Biotechnology))組合來製備25mM生物素儲備溶液。抗cTnl抗體(山羊抗cTnl抗體(太平洋生物公司(BioPacific), Cat#129C, 130C))或鼠單克隆抗cTnl抗體克隆560、625、 596 (海泰斯特公司(HyTest))被Ix PBS (ph 7. 4)稀釋至2. 15mg/mL的最終濃度和2. 5mL 的體積。計算(使用20倍摩爾生物素用於抗體溶液)生物素儲備溶液的微升數。然後，添加2. 5μ L生物素儲備溶液，將所得物在室溫(25°C )下保溫並轉動約30分鐘。使用旋柱 (VIVASPIN 20，30K，賽多利斯公司(Sartorius))五次以10000轉/分的速度持續12分鐘，從而用超濾法來去除多餘的自由生物素。用4-5mL Ix PBS (pH7. 4)再懸浮該抗體，使用皮爾斯(Pierce)EZ生物素定量套件(Pierce，Cat#PI28005)來計算生物素化的抗cTnl抗體的濃度和摩爾比。用HiLyte Fluor 647螢光團配合抗生蛋白鏈菌素，如下所述。首先，通過將抗生蛋白鏈菌素(AnaSpec，Cat :60659)、Ix PBS 緩衝液(pH 7. 4)、10mg/mLHiLyte Fluor 647 螢光團(AnaSpec，Cat :89314)和DMSO(Sigma)組合來製備10mg/mL抗生蛋白鏈菌素儲備溶液。抗生蛋白鏈菌素用Ix PBS稀釋至ang/mL的最終濃度和1.5mL的體積。然後，計算 HiLyte Fluor 647螢光團溶液的微升數(使用15倍摩爾HiLyte Fluor 647螢光團用於抗生蛋白鏈菌素溶液)。接著，添加105μ L的HiLyte Fluor 647螢光團，將所得物在室溫下保溫並轉動2小時。然後，使用旋柱(Sartorius，VIVASPIN 20，30K)以4000轉/分的速度持續25分鐘，每次15mL，從而用超濾法來去除多餘的自由HiLyte Fluor 647螢光團，直到底部溶液的0D654nm小於0.08以用於HiLyte Fluor 647螢光團為止。用3mL Ix PBS(pH 7.4)再懸浮該配合物，計算該配合物的濃度和摩爾比。用HiLyte Fluor 647螢光團配合DNP-BSA，如下所述。通過將DNP_BSA(自製)、 HiLyte Fluor 647 螢光團(Cat :89314, AnaSpec)和 DMSO 組合來製備 10mg/mL HiLyte Fluor 647螢光團儲備溶液。DNP-BSA用Ix PBS稀釋至ang/mL的最終濃度和500 μ L的體積。然後，計算HiLyte Fluor 647螢光團溶液的微升數(使用50倍摩爾HiLyte Fluor 647螢光團用於DNP-BSA溶液)。然後，添加115 μ L的HiLyte Fluor 647螢光團，將所得物在室溫下保溫並轉動30分鐘。使用旋柱(NanoS印10K, 0MEGA，頗爾公司(PALL))以 10000轉/分的速度每次持續12分鐘，從而用超濾法來去除多餘的自由HiLyteFluor 647 螢光團，直到底部溶液的0D654nm小於0.08為止。用600 μ L Ix PBS (pH 7.4)再懸浮該配合物，計算該配合物的濃度。通過使用在DyLite抗體標記套件(Pierce，Cat#PI53062)中提供的協議，製備用 DyLite-800螢光團標記的抗生蛋白鏈菌素和BSA-DNP的螢光配合物。通過將0. %ig/mL (最終濃度)的生物素標記的抗cIW 129C和130C與0. 3mg/ mL(最終濃度)的HiLyte Fluor 647螢光團標記的抗生蛋白鏈菌素配合物混合，製備包含微孔玻璃纖維的配合墊(接觸帶)。該混合物在室溫(25°C )下保溫約2-6小時，並稀釋至具有50% cTnl自由血清的合適濃度。然後，將DyLiter-800-BSA-DNP添加至其以達到 0. lmg/mL。使用Biodot Quanti_3000XYZ分配平臺以2. 5 μ L/cm的速度帶塗四條線。將所得的配合墊在真空下乾燥整夜。通過將Ahlstrom 141 墊材料浸塗在 0. 6055 % Tris、0. 12 % EDTA. Na2、1 % BSA、 4% Tween 20和0. HBR-I中來對試樣墊(可選的分離試樣施加帶)進行預先結塊。材料在37°C下乾燥2小時，然後真空乾燥整夜。使用G&L轉筒式剪切機來將預先結塊埠 1 試樣墊切割成IOmm寬的條。使用Kinematics基片層壓機將各包括70mm χ 300mm的乙烯襯條、塗敷的25mm χ 300mm的硝化纖維素片、13mm χ 300mm的配合墊和14mm χ 300mm的試樣墊的檢驗卡層壓在一起，並切割成3. 4mm χ 70mm的條。將各條放置在Thayer等人在美國專利6，5 ，323所述的盒子中。在瑞萊(ReLIA)III儀器(美國加利福尼亞州伯林格姆的瑞萊診斷系統公司(ReLIA Diagnostic Systems))中實施使用上述條的化驗。將盒子放置在儀器的盒子託盤中，並輸入試樣特定信息。然後，將50 μ L未稀釋血清或血漿試樣或60 μ L未稀釋全血試樣添加至盒子的試樣埠。通過傳感器來檢測試樣的添加，並將盒子抽入儀器以倒計時20分鐘。在預定的化驗條件下(在33°C下持續20分鐘)實施化驗。在該時間結束時，儀器確定來自每次檢驗的反射強度(IR)，然後可使用與儀器接口的計算機來評估結果。通過將人cTnl的濃縮溶液稀釋入人cTnl自由血清，來製備cTnl的標準試樣。將在該實例中的結果標繪成RI的標準曲線(相對強度，定義成檢驗帶的螢光強度除以控制帶的螢光強度)。圖18中的結果示出了 RI對cTnl濃度的動態範圍在約0. 003和16ng/mL之間(r> 0.9977)。在2009年4月15日提交的美國臨時專利申請61/169，660和2010年4 月15日提交的美國專利申請12/760，320中進一步討論了動態範圍，在此以參見的方式引入上述兩個專利申請的全文。實例Ib-另一檢驗條變型的準備儘管以上描述了檢驗條的一些變型，但可通過對於與試樣施加區分離的單個帶塗敷微孔HF 90硝化纖維素來形成檢驗條的一些變型。用於單個帶的塗層可包括0.5mg/mL 的兔抗DNP，以及各為1. 2mg/mL的單克隆抗cTNI 19C7和16A11，或各為0. 6mg/mL的單克隆抗cTnl 19C7、TPC-6、TPC-102和TPC-302。該塗層可在沉積之後在硝化纖維素上不動。實例2-cTnI化騎加標cTnl的抗體和控制物質分別通過粘合生物素和抗生蛋白鏈菌素而標有不同的螢光團(HiLyte Fluor 647螢光團和DyLite-800螢光團)。使用瑞萊III儀器(美國加利福尼亞州伯林格姆的瑞萊診斷系統公司)來測量螢光強度。使用NIST cTnl參考材料來確定cTnl的靈敏度。對每個標準cTnl進行六次檢驗， 並基於cTnl與內部控制信號的相對強度(RI)，通過使用自行研發的軟體來計算。cTnl化驗的分析靈敏度是0. 003ng/ml (其中，分析靈敏度=0ng/mL+3SD的平均值)。該化驗提供0. 01至16ng/mL的線性響應，> 31ogs(r > 0. 9977)，如圖19並如以下表1所示。表 權利要求
1.一種檢驗條，所述檢驗條構造成接納試樣以用於檢測所述試樣中的分析物，所述檢驗條包括基片；以及所述基片的一部分上的塗層，所述塗層包括第一分析物捕獲劑和第二分析物捕獲劑的組合，所述第一分析物捕獲劑構造成粘合至第一分析物，所述第二分析物捕獲劑構造成粘合至與所述第一分析物不同的第二分析物。
2.如權利要求1所述的檢驗條，其特徵在於，所述塗層包括所述第一分析物捕獲劑和第二分析物捕獲劑的混合物。
3.如權利要求1所述的檢驗條，其特徵在於，所述第二分析物是控制分析物。
4.如權利要求1所述的檢驗條，其特徵在於，還包括各標有可檢測標記的分析物粘合劑和控制分析物。
5.如權利要求4所述的檢驗條，其特徵在於，所述分析物粘合劑標有第一螢光團。
6.如權利要求5所述的檢驗條，其特徵在於，所述控制分析物標有與所述第一螢光團不同的第二螢光團。
7.如權利要求1所述的檢驗條，其特徵在於，所述基片包括硝化纖維素。
8.如權利要求1所述的檢驗條，其特徵在於，所述塗層形成所述基片上的第一帶。
9.如權利要求8所述的檢驗條，其特徵在於，還包括第二帶，所述第二帶構造成將所述試樣添加至其上。
10.如權利要求9所述的檢驗條，其特徵在於，所述第一帶與所述第二帶隔開約3mm至約 5mm ο
11.如權利要求1所述的檢驗條，其特徵在於，所述第一分析物捕獲劑選自下組抗體、 工程蛋白質、肽、半抗原、包含具有分析物粘合部位的抗原非均勻混合物的溶解產物、配體、 受體。
12.如權利要求11所述的檢驗條，其特徵在於，所述第二分析物捕獲劑選自下組抗體、工程蛋白質、肽、半抗原、包含具有分析物粘合部位的抗原非均勻混合物的溶解產物、配體、受體。
13.一種用於檢測試樣中的至少一種分析物的方法，包括將所述試樣施加至檢驗條的包括塗層的一部分，所述塗層包括第一分析物捕獲劑和第二分析物捕獲劑，所述第一分析物捕獲劑構造成粘合至第一分析物，所述第二分析物捕獲劑構造成粘合至與所述第一分析物不同的第二分析物；以及將光施加至所述檢驗條，其中，將光施加至所述檢驗條提供所述第一分析物是否存在於所述試樣中的指示。
14.如權利要求13所述的方法，其特徵在於，所述第二分析物是控制分析物。
15.如權利要求13所述的方法，其特徵在於，還包括測量所述第一分析物在所述試樣中的濃度。
16.如權利要求15所述的方法，其特徵在於，將光施加至所述檢驗條包括將來自第一光源和第二光源的光施加至所述檢驗條。
17.如權利要求16所述的方法，其特徵在於，所述第一光源和第二光源中的至少一個光源包括雷射器。
18.如權利要求17所述的方法，其特徵在於，所述第一光源包括第一雷射器，所述第二光源包括與所述第一雷射器不同的第二雷射器。
19.如權利要求16所述的方法，其特徵在於，所述檢驗條還包括標有第一螢光團的分析物粘合劑，所述第一螢光團一旦暴露於來自所述第一光源的光就發出螢光。
20.如權利要求19所述的方法，其特徵在於，所述檢驗條還包括標有第二螢光團的控制分析物，所述第二螢光團一旦暴露於來自所述第二光源的光就發出螢光。
21.如權利要求20所述的方法，其特徵在於，測量所述第一分析物在所述試樣中的濃度包括將所述第一螢光團的螢光強度與所述第二螢光團的螢光強度作比較。
22.如權利要求15所述的方法，其特徵在於，所述第二分析物是控制分析物，並且測量所述第一分析物在所述試樣中的濃度包括使用處理器、存儲器資源和軟體，相對於粘合至所述第二分析物的所述第二分析物捕獲劑的量，評估粘合至所述第一分析物的所述第一分析物捕獲劑的量。
23.如權利要求22所述的方法，其特徵在於，在所述試樣施加至所述檢驗條的所述部分之後至少約一秒，所述處理器、存儲器資源和軟體分析所述檢驗條。
24.如權利要求13所述的方法，其特徵在於，所述試樣包括血液，所述方法還包括在將所述試樣施加至所述檢驗條的所述部分之前，使所述試樣通過過濾器。
25.如權利要求13所述的方法，其特徵在於，所述第一分析物捕獲劑選自下組抗體、 工程蛋白質、肽、半抗原、包含具有分析物粘合部位的抗原非均勻混合物的溶解產物、配體、 受體。
26.如權利要求25所述的方法，其特徵在於，所述第二分析物捕獲劑選自下組抗體、 工程蛋白質、肽、半抗原、包含具有分析物粘合部位的抗原非均勻混合物的溶解產物、配體、 受體。
27.一種製造檢驗條的方法，所述檢驗條構造成接納試樣以用於檢測所述試樣中的分析物，所述方法包括將第一分析物捕獲劑與第二分析物捕獲劑組合以形成塗層材料，其中，所述第一分析物捕獲劑構造成粘合至第一分析物，所述第二分析物捕獲劑構造成粘合至與所述第一分析物不同的第二分析物；以及將所述塗層材料施加至基片的一部分以在所述基片上形成塗層。
28.如權利要求27所述的方法，其特徵在於，所述第二分析物是控制分析物。
29.一種用於檢測試樣中的分析物的現場即時系統，所述現場即時系統包括設備，所述設備包括第一雷射器、與所述第一雷射器不同的第二雷射器、以及包括容座的罩殼；以及檢驗條，所述檢驗條構造成匹配在所述容座內，其中，所述第一雷射器構造成當所述檢驗條定位在所述容座中時將第一雷射束施加至所述檢驗條上的一位置，所述第二雷射器構造成當所述檢驗條定位在所述容座中時將第二雷射束施加至所述檢驗條上的同一位置。
30.如權利要求四所述的系統，其特徵在於，所述設備還包括至少一個鏡子，所述鏡子構造成將所述第一雷射束和第二雷射束中的至少一個雷射束直接施加至所述檢驗條。
31.如權利要求四所述的系統，其特徵在於，所述設備還包括物鏡，所述物鏡構造成接受從所述檢驗條發射的光。
32.如權利要求31所述的系統，其特徵在於，所述設備還包括第一檢測器，所述第一檢測器構造成檢測從所述檢驗條發射並通過所述物鏡接受的光。
33.如權利要求四所述的系統，其特徵在於，所述檢驗條包括基片和所述基片的一部分上的塗層，所述塗層包括第一分析物捕獲劑和第二分析物捕獲劑，所述第一分析物捕獲劑構造成粘合至第一分析物，所述第二分析物捕獲劑構造成粘合至與所述第一分析物不同的第二分析物。
34.如權利要求33所述的系統，其特徵在於，所述檢驗條還包括分析物粘合劑和控制分析物，所述分析物粘合劑和所述控制分析物標有可檢測的標記。
35.如權利要求34所述的系統，其特徵在於，所述分析物粘合劑標有第一螢光團，所述控制分析物標有第二螢光團。
36.如權利要求35所述的系統，其特徵在於，所述第一雷射器以在所述第一螢光團的激發光譜內的波長發射光。
37.如權利要求36所述的系統，其特徵在於，所述第二雷射器以在所述第二螢光團的激發光譜內的波長發射光。
38.如權利要求35所述的系統，其特徵在於，所述設備還包括物鏡，所述物鏡構造成接受從所述容座的所述位置發射的光。
39.如權利要求38所述的系統，其特徵在於，所述設備還包括第一檢測器，所述第一檢測器構造成檢測從所述容座的所述位置發射並通過所述物鏡接受的光。
40.如權利要求39所述的系統，其特徵在於，所述第一檢測器構造成檢測來自所述第一螢光團的螢光。
41.如權利要求40所述的系統，其特徵在於，所述設備還包括第二檢測器，所述第二檢測器構造成檢測來自所述第二螢光團的螢光。
42.如權利要求41所述的系統，其特徵在於，所述設備還包括濾光器，所述濾光器構造成將來自所述第一螢光團的螢光與來自所述第二螢光團的螢光分離。
43.如權利要求42所述的系統，其特徵在於，所述濾光器包括分色濾光器。
44.如權利要求四所述的系統，其特徵在於，所述第一雷射器以約300nm至約SOOnm的波長發射光。
45.如權利要求44所述的系統，其特徵在於，所述第二雷射器以約300nm至約SOOnm的波長發射光。
46.如權利要求45所述的系統，其特徵在於，所述第一雷射器以與所述第二雷射器不同的波長發射光。
47.如權利要求四所述的系統，其特徵在於，所述第一雷射器包括在光譜的紅光區域中發射的雷射器。
48.如權利要求47所述的系統，其特徵在於，所述第二雷射器包括紅外雷射器。
49.如權利要求四所述的系統，其特徵在於，所述第二雷射器包括紅外雷射器。
50.如權利要求四所述的系統，其特徵在於，所述第一雷射器和第二雷射器中的至少一個雷射器是光纖聯接的雷射器。
51.如權利要求四所述的系統，其特徵在於，所述設備還包括光電二極體。
52.如權利要求四所述的系統，其特徵在於，所述設備構造成以約3pg/mL的分析靈敏度測量所述第一分析物的濃度。
53.如權利要求四所述的系統，其特徵在於，所述設備構造成以至少3pg/mL的分析靈敏度測量所述第一分析物的濃度，且變化係數小於5%。
54.如權利要求四所述的系統，其特徵在於，所述系統構造成檢測試樣中的多種分析物。
55.如權利要求M所述的系統，其特徵在於，所述系統構造成檢測所述檢驗條上的十種至二十種分析物。
56.一種用於檢測試樣中的至少一種分析物的方法，包括 將所述試樣施加至檢驗條；將來自現場即時診斷系統的第一雷射器的第一光束施加至所述檢驗條上的一位置；以及將來自所述現場即時診斷系統的第二雷射器的第二光束施加至所述檢驗條上的同一位置，其中，將所述第一光束和第二光束施加至所述檢驗條上的所述位置提供所述至少一種分析物是否存在於所述試樣中的指示。
57.如權利要求56所述的方法，其特徵在於，所述第一光束和第二光束同時施加至所述檢驗條。
58.一種方法，包括將從受檢者獲得的試樣添加至現場即時診斷系統，所述現場即時診斷系統構造成從所述試樣獲得與其中存在或缺失一種或多種分析物有關的數據，並將所述數據實時地發送至遠程位置，在所述遠程位置，可評估所述數據和/或將所述數據結合入所述受檢者的醫療記錄。
59.如權利要求58所述的方法，其特徵在於，所述遠程位置離開所述現場即時診斷系統至少約20英尺。
60.如權利要求58所述的方法，其特徵在於，所述受檢者將所述試樣添加至所述現場即時診斷系統。
61.如權利要求60所述的方法，其特徵在於，所述試樣以非臨床方式添加至所述現場即時診斷系統。
62.如權利要求58所述的方法，其特徵在於，所述現場即時診斷系統構造成由未經醫療訓練的操作者來操作。
63.如權利要求58所述的方法，其特徵在於，所述現場即時診斷系統構造成將所述數據用電話發送至所述遠程位置。
64.如權利要求58所述的方法，其特徵在於，所述現場即時診斷系統構造成將所述數據經由網際網路發送至所述遠程位置。
65.如權利要求58所述的方法，其特徵在於，所述現場即時診斷系統構造成將所述數據經由內聯網發送至所述遠程位置。
66.如權利要求58所述的方法，其特徵在於，所述現場即時診斷系統包括檢驗條，將所述試樣添加至所述現場即時診斷系統包括將所述試樣添加至所述檢驗條。
67.如權利要求66所述的方法，其特徵在於，所述檢驗條包括基片和所述基片的一部分上的塗層，所述塗層包括第一分析物捕獲劑和第二分析物捕獲劑的組合，所述第一分析物捕獲劑構造成粘合至第一分析物，所述第二分析物捕獲劑構造成粘合至與所述第一分析物不同的第二分析物。
68.如權利要求67所述的方法，其特徵在於，所述數據包括所述第一分析物和第二分析物中的至少一種分析物的濃度。
69.如權利要求58所述的方法，其特徵在於，所述現場即時診斷系統包括設備和檢驗條，所述設備包括第一雷射器、第二雷射器和包括容座的罩殼，所述檢驗條構造成匹配在所述容座內。
70.如權利要求69所述的方法，其特徵在於，將所述試樣添加至所述現場即時診斷系統包括當所述檢驗條定位在所述容座中時，將所述試樣施加至所述檢驗條。
71.如權利要求70所述的方法，其特徵在於，還包括將來自所述第一雷射器的第一光束施加至所述檢驗條，以及將來自第二雷射器的第二光束施加至所述檢驗條。
72.一種方法，包括將從受檢者獲得的試樣添加至現場即時診斷系統，其中，所述現場即時診斷系統構造成由處於遠程位置的操作者來操作。
73.如權利要求72所述的方法，其特徵在於，所述遠程位置離開所述現場即時診斷系統至少約20英尺。
74.如權利要求72所述的方法，其特徵在於，所述現場即時診斷系統構造成將從所述試樣獲得的數據實時地發送至所述遠程位置。
75.如權利要求72所述的方法，其特徵在於，所述受檢者將所述試樣添加至所述現場即時診斷系統。
76.如權利要求75所述的方法，其特徵在於，所述試樣以非臨床方式添加至所述現場即時診斷系統。
77.如權利要求72所述的方法，其特徵在於，所述現場即時診斷系統構造成用電話操作。
78.如權利要求72所述的方法，其特徵在於，所述現場即時診斷系統構造成經由網際網路操作。
79.如權利要求72所述的方法，其特徵在於，所述現場即時診斷系統構造成經由內聯網操作。
80.如權利要求72所述的方法，其特徵在於，所述操作者是醫療專業人員。
81.如權利要求72所述的方法，其特徵在於，所述現場即時診斷系統構造成自動地再充填或再裝填。
82.如權利要求72所述的方法，其特徵在於，所述現場即時診斷系統包括檢驗條，將所述試樣添加至所述現場即時診斷系統包括將所述試樣添加至所述檢驗條。
83.如權利要求82所述的方法，其特徵在於，所述檢驗條包括基片和所述基片的一部分上的塗層，所述塗層包括第一分析物捕獲劑和第二分析物捕獲劑的組合，所述第一分析物捕獲劑構造成粘合至第一分析物，所述第二分析物捕獲劑構造成粘合至與所述第一分析物不同的第二分析物。
84.如權利要求83所述的方法，其特徵在於，所述數據包括所述第一分析物和第二分析物中的至少一種分析物的濃度。
85.如權利要求72所述的方法，其特徵在於，所述現場即時診斷系統包括設備和檢驗條，所述設備包括第一雷射器、第二雷射器和包括容座的罩殼，所述檢驗條構造成匹配在所述容座內。
86.如權利要求85所述的方法，其特徵在於，將所述試樣添加至所述現場即時診斷系統包括當所述檢驗條定位在所述容座中時，將所述試樣施加至所述檢驗條。
87.如權利要求86所述的方法，其特徵在於，還包括將來自所述第一雷射器的第一光束施加至所述檢驗條，以及將來自第二雷射器的第二光束施加至所述檢驗條。
全文摘要
描述了用於檢測試樣中一種或多種分析物的存在的裝置、系統和方法。在一些變型中，檢驗條可用來檢測和/或分析試樣中的一種或多種分析物。在一些變型中，構造成接納試樣以用於檢測試樣中的分析物的檢驗條可包括基片和基片的一部分上的塗層，所述塗層包括第一分析物捕獲劑和第二分析物捕獲劑的組合，所述第一分析物捕獲劑構造成粘合至第一分析物，所述第二分析物捕獲劑構造成粘合至與第一分析物不同的第二分析物。
文檔編號C12Q1/00GK102482702SQ201080026503
公開日2012年5月30日 申請日期2010年4月14日 優先權日2009年4月15日
發明者A·伊茲麥羅夫, B·D·沃納, G·H·謝拉, H·劉, J·Z·張, W·J·若特, Z·葉 申請人:瑞萊診斷體系股份有限公司