一種g.653光纖dwdm系統的傳輸性能測試方法

2023-12-03 12:17:06

專利名稱：：一種g.653光纖dwdm系統的傳輸性能測試方法
技術領域：
：本發明涉及光傳輸技術，特別是涉及一種G.653光纖DWDM(DenseWavelengthDivisionMultiplex,密集波分復用)系統的傳輸性能測試方法。
背景技術：
：光纖通信的傳輸光纖經歷了從多模到單模，從G.652->G.653->G.655的發展歷程。G.652光纖雖然損耗小，但在1550nm窗口色散大；G.653光纖雖然在1550nm窗口的色散小，但在DWDM系統中容易產生四波混頻(FourWaveMixing,FWM)效應，造成嚴重的傳輸損傷。目前，日本、拉美等國家鋪設了大量的G.653光纖，如何提高DWDM系統在G.653光纖上的傳輸性能成為一個迫切需要解決的難題。ITU-T(TelecommunicationStandardizationSectorofInternationalTelecommunicationUnion,國際電信聯盟電信標準化部門)建議G.653(12/2003)"Characteristicsofadispersion-shiftedsingle-modeopticalfibreandcable"Jl給出了G.653光纖指標要求及典型參數。G.653A和G.653B關於色散特性的規範非常寬鬆，見下表1:tableseeoriginaldocumentpage4G.653光纖的色散典型參數見下表2:tableseeoriginaldocumentpage4目前，G.653光纖DWDM系統的工作波長優化的研究取得了一些進展。但即使是優化的工作波長，單通道入纖光功率也只能小於某閾值，並且此閾值與跨段數相關。優化的工作波長在特定參數的G.653光纖上性能最好。實際鋪設的G.653光纖由不同製造廠商生產，G.653光纖的參數可能稍有差異，同一廠商生產的G.653光纖參數也存在離散性。特定參數G.653光纖優化下的工作波長在其他參數的G.653光纖工作下性能可能劣化較大。有時為了優化系統傳輸性能，一方面考慮避免FWM效應而降低單通道入纖光功率，另一方面提高單通道入纖光功率以確保光信噪比合格，在跨段損耗不等的系統中，常常設計成各跨段的單通道入纖光功率不同。由於DWDM系統中的SRS(StimulatedRamanScattering,受激拉曼散射)效應，可能發生短波長泵浦長波長的現象，從而導致通道功率相差較大，某些通道可能接近FWM閾值，這可能導致各通道傳輸性能相差較大。雖然G.653光纖的色散較小，但在較長距離傳輸時，傳輸的業務在10Gb/s速率及以上時，仍需考慮色散補償。實際工程上，完全色散補償並不是最優色散補償，而且各通道的殘餘色散可能不一致，因此需要衡—量各通道的傳輸性能。目前驗收DWDM系統設備的傳輸性能時，通常採用長時間誤碼測試的手段。但是針對G.653光纖DWDM系統而言，可能並不全面。系統可能工作於比較臨界的條件，裕量較小。系統有可能在24小時誤碼測試中順利通過，但在長期運行中，由於溫度、應力等外部環境因素變化造成的光纖線路損耗、色散變化，可能劣化系統傳輸性能，產生零星誤碼，甚至無法正常工作。
發明內容本發明所要解決的技術問題在於提供一種G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，用於克服現有技術中的對G.653光纖DWDM系統傳輸性能測試不夠全面的缺點。為了實現上述目的，本發明提供了一種G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，適用於G.653光纖DWDM系統，其特徵在於，包括步驟一，選擇待測試的典型通道；步驟二，通過測試得到所述典型通道的附加色散與通道代價之間的關係曲線；及步驟三，通過分析所述關係曲線得到所述系統的傳輸性能測試結果。所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其中，所述典型通道包括零色散波長附近的通道、邊緣通道、發送接收技術不同於其他通道的通道。所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其中，所述步驟二中，還包括一通過在所述系統中設置一附加可調色散補償器調節殘餘色散的步所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其中，所述步驟二中，得到所述典型通道的附加色散與通道代價之間的關係曲線的步驟具體為步驟21，設置所述典型通道的附加色散與通道代價的關係的測試配置；歩驟22，根據所述測試配置測試所述典型通道在不同附加色散時的通道代價，並根據所述附加色散、所述通道代價繪製附加色散與通道代價之間的關係曲線。所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其中，所述步驟三中，還包括對測試所得的數據進行擬合，求取最優附加色散量的步驟。所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其中，所述步驟三中，還包括根據所述系統的通道代價設計規範求取所述各典型通道的色散容忍範圍的步驟。所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其中，所述步驟三中，還包括根據所述所有典型通道的測試數據，判斷所述各典型通道的傳輸性能的步驟，若所述系統中入纖光功率不合適，則所述典型通道的色散容忍範圍變窄若所述系統的色散補償不合適，則當所述附加色散為零時，對應的通道代價偏大或該附加色散偏離最優附加色散量較遠。所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其中，所述步驟三中，當所述關係曲線較窄時，則表明所述系統的單通道入纖光功率不合適；當附加可調色散補償量為零時，若所述典型通道的通道代價較大，則表明所述系統的色散補償效果差。本發明的有益技術效果-本發明方法和裝置，與現有技術相比，由於採取了通過測試附加色散(ExcessDispersion)和通道代價(OpticalPathPenalty)的關係曲線的技術措施，達到了全面測試通道傳輸性能的效果，提高了G.653光纖DWDM系統的傳輸業務的可靠性。以下結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細描述，但不作為對本發明的限定。圖1為本發明方法的流程示意圖圖2為本發明的測試框圖；圖3為本發明通道的附加色散和通道代價的關係曲線圖。具體實施方式下面結合附圖，對技術方案的實施作進一步的詳細描述請參閱圖1所示，為本發明方法的流程示意圖，圖2為本發明的測試框圖，圖3為本發明通道的附加色散和通道代價的關係曲線圖。通過測量系統典型通道在不同附加色散下的通道代價，從而判斷通道的傳輸性能，尤其是FWM效應的影響。圖1所示方法流程具體包括以下步驟步驟IOI，選擇待測試的典型通道；只測試典型通道的原因在於減少測試時間，提高測試效率，當然也可以測試系統所有通道的傳輸性能。待測試的典型通道包括下面三種第一種，零附加色散波長附近的通道；雖然G.653光纖DWDM系統在選擇優化波長的時候會儘量避開零附加色散波長，但是各段G.653光纖的零附加色散波長的離散性，故需要測試零附加色散波長附近的通道，推薦正負附加色散各2個通道。第二種，發送接收技術不同於其他通道的通道；DWDM系統是透明傳輸，各通道的發送光模塊、接收光模塊的類型可能不相同，因此導致各通道的傳輸性能(附加色散特性、抗非線性特性)可能不相同，尤其是混合傳輸，在測試時應關注此類傳輸性能較差的通道。第三種，邊緣通道；傳輸帶寬內的邊緣通道是指最長波長通道和最短波長通道；雖然G.653光纖的附加色散相對較小，但仍需要考慮工作傳輸帶寬內的邊緣通道的傳輸性能，判斷這兩個通道的系統殘餘附加色散是否合適。此外這兩個通道由於需要克服SRS效應，常設計成通道功率差相差較大。步驟102，測試典型通道的附加色散與通道代價之間的關係，即在系統上加設可調色散補償器，測量典型通道的附加色散與通道代價之間的關係曲線(附加色散vs通道代價的曲線)；該步驟具體又包括步驟a，搭建通道的附加色散與通道代價的關係的測試配置；該測試配置參見圖2，其中，TDC、VOA、OPM、Splitter、BERT是測量需要的附加器件和儀表。TDC(TunableDispersionCompensators)是附加的可調色散補償模塊/可調色散補償器，VOA(VariableOpticalAttenuator)是可調衰減器，OPM(OpticalPowerMonitors)是光功率計，Splitter為50:50的分光器，BERT是誤碼測試儀。發送端的第一光波長轉換器OTUl、系統鏈路、TDC、VOA、Splitter、接收端的第-'光波長轉換器OTUl和BERT組成誤碼測試迴路OUT(OpticalTranslatorUnit)為波光轉換器。該測試配置中，還包括光合波器OMU(OpticalMultiplexerUnit)、光分波器ODU(OpticaldemultiplexerUnit)。該測試配置中，OAl...OAn是DWDM的光放大器。步驟b，通過TDC調節系統的附加色散，在某附加色散下，調節VOA測試通路1的誤碼率，通過OPM監測OTUl的輸入光功率，即通路1在特定誤碼率下的傳輸後靈敏度，從而計算出通路1的通道代價；步驟c，採用與步驟b相同的方法測量該通路1在其他附加色散下的通道代價；步驟d，連接其他典型通道的誤碼測試迴路，測量其附加色散和通道代價的關係；步驟e，根據典型通道的附加色散、通道代價繪製附加色散、通道代價之間的關係曲線。步驟103，分析測試結果。具體地，當通道代價曲線較窄時，表明系統的單通道入纖光功率不合適，原因是FWM效應；而在附加可調色散補償量為O時，如果通道的通道代價較大，表明系統的附加色散補償效果不好。作出TDC的附加色散和通道代價的關係圖，參見圖3。在曲線30的兩側，表明系統處於過補償和欠補償區域，通道代價會越大，同時系統的OSNR(OpticalSignal-to-NoiseRatio,光信噪比)代價也會越大，直至系統光路不通。對該通道的測量數據進行擬合，求出最優附加色散量OptimumCD:根據通道代價的系統設計規範求出色散容忍範圍CDRange。綜合分析所有典型通道的測量數據，判斷各通道的傳輸性能，如果系統中入纖光功率不合適，通道的色散容忍範闈會變窄。如果系統的色散補償不合適，則當TDC附加色散為零時，該點的通道代價會偏大，或者該點色散偏離最優附加色散量較遠。採用本發明方法和裝置克服了現有技術中的對G.653光纖DWDM系統傳輸性能測試不夠全面的缺點，通過採取分析附加色散和通道代價的關係曲線的技術措施，達到了全面測試通道傳輸性能的效果，提高了G.653光纖DWDM系統的傳輸業務的可靠性。當然，本發明還可有其他多種實施例，在不背離本發明精神及其實質的情況下，熟悉本領域的技術人員當可根據本發明作出各種相應的改變和變形，但這些相應的改變和變形都應屬於本發明所附的權利要求的保護範圍。權利要求1、一種G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，適用於G.653光纖DWDM系統，其特徵在於，包括步驟一，選擇待測試的典型通道；步驟二，通過測試得到所述典型通道的附加色散與通道代價之間的關係曲線；及步驟三，通過分析所述關係曲線得到所述系統的傳輸性能測試結果。2、根據權利要求1所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法,其特徵在於，所述典型通道包括零色散波長附近的通道、邊緣通道、發送接收技術不同於其他通道的通道。3、根據權利要求1或2所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特徵在於，所述步驟二中，還包括一通過在所述系統中設置一附加可調色散補償器調節殘餘色散的步驟。4、根據權利要求3所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特徵在於，所述步驟二中，得到所述典型通道的附加色散與通道代價之間的關係曲線的步驟具體為步驟21，設置所述典型通道的附加色散與通道代價的關係的測試配置；步驟22，根據所述測試配置測試所述典型通道在不同附加色散時的通道代價，並根據所述附加色散、所述通道代價繪製附加色散與通道代價之間的關係曲線。5、根據權利要求1、2或4所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特徵在於，所述步驟三中，還包括對測試所得的數據進行擬合，求取最優附加色散量的步驟。6、根據權利要求5所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特徵在於，所述步驟三中，還包括根據所述系統的通道代價設計規範求取所述各典型通道的色散容忍範圍的步驟。7、根據權利要求6所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特徵在於，所述步驟三中，還包括根據所述所有典型通道的測試數據，判斷所述各典型通道的傳輸性能的步驟，若所述系統中入纖光功率不合適，則所述典型通道的色散容忍範圍變窄；若所述系統的色散補償不合適，則當所述附加色散為零時，對應的通道代價偏大或該附加色散偏離最優附加色散量較遠。8、根據權利要求1、2或4所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特徵在於，所述步驟三中，當所述關係曲線較窄時，則表明所述系統的單通道入纖光功率不合適；當附加可調色散補償量為零時，若所述典型通道的通道代價較大，則表明所述系統的色散補償效果差。9、根據權利要求3所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特徵在於，所述步驟三中，還包括對測試所得的數據進行擬合，求取最優附加色散量的歩驟。10、根據權利要求9所述的G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，其特徵在f，所述步驟三中，還包括根據所述系統的通道代價設計規範求取所述各典型通道的色散容忍範圍的步驟。全文摘要本發明公開了一種G.653光纖DWDM系統的傳輸性能測試方法，適用於G.653光纖DWDM系統，其特徵在於，包括步驟一，選擇待測試的典型通道；步驟二，通過測試得到所述典型通道的附加色散與通道代價之間的關係曲線；及步驟三，通過分析所述關係曲線得到所述系統的傳輸性能測試結果。本發明方法和裝置，與現有技術相比，由於採取了通過測試附加色散和通道代價的關係曲線的技術措施，達到了全面測試通道傳輸性能的效果，提高了G.653光纖DWDM系統的傳輸業務的可靠性。文檔編號H04B10/08GK101162942SQ200610113758公開日2008年4月16日申請日期2006年10月13日優先權日2006年10月13日發明者張乃罡,張紅宇,李紅軍,沈百林申請人:中興通訊股份有限公司