液晶顯示的可編程門陣列測試板和可編程門陣列測試系統的製作方法
2023-10-08 23:27:54 1
專利名稱：液晶顯示的可編程門陣列測試板和可編程門陣列測試系統的製作方法
技術領域：
本發明涉及液晶顯示屏的測試裝置，尤其涉及的是一種液晶顯示的可編程門陣列測試板和使用可編程門陣列測試板的液晶顯示模組測試系統。
背景技術：
現有技術中，傳統的液晶顯示屏廠家對液晶顯示屏的顯示測試，一般都對應不同型號、不同種類的液晶顯示屏測試，由於其液晶顯示主板的輸入管腳分布、及其輸入功能管腳不盡相同，因此，對應每一型號、或每一種類的液晶顯示屏，均需要設置一對應的PCB測試板，通過對應PCB測試板進行測試，每更換測試不同的液晶顯示屏，均需要更換測試板，測試成本高，測試效率低。 因此，現有技術存在缺陷，需要改進。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是提供一種成本低、測試效率高、方便使用，兼容性強，測試安全可靠的液晶顯示的可編程門陣列測試板和使用可編程門陣列測試板的液晶顯示模組測試系統。本發明的技術方案如下一種液晶顯示的可編程門陣列測試板，包括PCB測試板和設置在所述PCB測試板上的液晶顯示主板安裝位；所述PCB測試板上還設置可編程門陣列匹配晶片和ARM內核晶片，所述可編程門陣列匹配晶片各輸入管腳分別與所述ARM內核晶片連接，所述可編程門陣列匹配晶片各輸出管腳通過電路與所述液晶顯示主板安裝位連接；並且，所述可編程門陣列匹配晶片與所述液晶顯示主板安裝位之間還設置短路隔離電路。應用於上述技術方案，所述的可編程門陣列測試板中，所述ARM系統設置存儲模塊、以及分別與所述存儲模塊連接的更新模塊和USB接口。應用於各個上述技術方案，所述的可編程門陣列測試板中，所述ARM系統還設置與所述存儲模塊連接的WIFI接收模塊。應用於各個上述技術方案，所述的可編程門陣列測試板中，所述液晶顯示主板安裝位設置若干管腳連接位，各管腳連接位分別與液晶顯示主板的輸入管腳連接，所述可編程門陣列匹配晶片設置輸入輸出自動匹配模塊。應用於各個上述技術方案，所述的可編程門陣列測試板中，所述液晶顯示主板安裝位設置電源安裝部、第一功能安裝部和第二功能安裝部，所述第一功能安裝部和所述第二功能安裝部分別對應安裝不同的液晶顯示主板。應用於各個上述技術方案，所述的可編程門陣列測試板中，所述液晶顯示主板安裝位還設置至少兩卡緊部，用於分別卡緊固定液晶顯示主板的邊緣部。應用於各個上述技術方案，所述的可編程門陣列測試板中，所述短路隔離電路設置隔離開關，用於其電流超過預設值時，斷開所述可編程門陣列匹配晶片與所述液晶顯示主板安裝位之間的電連接。應用於上述技術方案，一種液晶顯示的可編程門陣列測試系統，包括以上任一所述的液晶顯示的可編程門陣列測試板和液晶顯示模組，所述液晶顯示模組包括相互固定設置的液晶顯示屏和液晶顯示主板，所述液晶顯示主板安裝固定在所述液晶顯示主板安裝位上。應用於各個上述技術方案，所述的可編程門陣列測試系統中，還包括一液晶顯示主板延長連接器；所述液晶顯示主板延長連接器包括第一連接頭、第二連接頭、以及連接所述第一連接頭和所述第二連接頭的延長連接線，所述第一連接頭與所述液晶顯示主板安裝位固定連接，所述第二連接頭與所述液晶顯示主板固定連接。採用上述方案，本發明通過所述液晶顯示主板安裝位可以安裝固定各液晶顯示主板，各液晶顯示主板與其對應的液晶顯示屏固定連接，通過所述ARM內核晶片將控制信號輸入至所述可編程門陣列匹配晶片，所述可編程門陣列匹配晶片根據所述液晶顯示主板的輸入，對所述控制信號的輸入和輸出進行匹配，使所述控制信號可以輸入至不同型號和種類的各液晶顯示屏中，並顯示所述控制信號對應的視頻，從而通過所述視頻來測試所述液晶顯示屏的顯示性能，判斷所述液晶顯示屏是否存在不能點亮、黑屏、花屏等，僅通過一 PCB測試板即可測試不同型號、不同種類的液晶顯示屏，測試成本低、測試效率高；並且，方便使用，兼容性強；並且，通過設置短路隔離電路，使所述液晶顯示主板和可編程門陣列匹配晶片均不容易燒壞，測試安全可靠。
圖I為本發明具體實施例中實施例I的一種示意圖。圖2為本發明具體實施例中實施例2的一種示意圖。
具體實施例方式以下結合附圖和具體實施例，對本發明進行詳細說明。實施例I
本實施例提供了一種液晶顯示的可編程門陣列測試板，所述液晶顯示可編程門陣列測試板用於各種液晶顯示屏顯示性能的測試，如，用於測試手機液晶顯示屏是否點亮，顯示是否完整，以及顯示是否存在黑點、是否花屏等，在測試不同液晶顯示屏、以及不同種類、類別的液晶顯示屏時，僅需要一所述可編程門陣列測試板即可，兼容性強，測試安全可靠。如圖I所示，所述可編程門陣列測試板包括PCB測試板102，所述PCB測試板102上設置有液晶顯示主板安裝位101;所述液晶顯示主板安裝位101用於安裝液晶顯示主板，其中，可以通過焊接、卡接等方式將液晶顯示主板安裝在所述液晶顯示主板安裝位101上；一般地，每一液晶顯示主板均與液晶顯示屏固定設置，通過其對應的液晶顯示主板，可以點亮所述液晶顯示屏，從而測試所述液晶顯示屏的顯示性能。並且，所述PCB測試板102上還分別設置有可編程門陣列匹配晶片103和ARM (Advanced RISC Machines微處理器)系統104，例如，所述ARM系統104設置存儲模塊、更新模塊和USB接口 105 ;所述更新模塊和所述USB接口 105分別與所述存儲模塊連接，通過所述USB接口 105可以通過輸入各種顯示視頻文件、控制執行指令等，並存儲在所述存儲模塊中，所述更新模塊根據設置，在符合預設條件時，對所述存儲模塊存儲的文件進行更新，實現所述ARM系統最新的顯不內各和控制功能。又如,所述ARM系統還設置與所述存儲模塊連接的WIFI (wireless fidelity)接收模塊,通過WIFI接收模塊，可以直接通過WIFI區域網發送各種顯示內容文件、以及各種顯示控制指令文件到所述ARM系統的所述存儲模塊中，使用根據方便，如可以通過各種手機的WIFI發送功能來發送所述顯示內容文件、以及各種顯示控制指令文件。並且，所述ARM系統設置一 ARM內核晶片，所述可編程門陣列匹配晶片103的各輸入管腳分別與所述ARM內核晶片連接，所述ARM內核晶片根據所述顯示內容文件、以及各種顯示控制指令文生成控制信號，並將控制信號輸入至所述可編程門陣列匹配晶片103中，並且，所述可編程門陣列匹配晶片103的各輸出管腳通過電路與所述液晶顯示主板安裝位101連接，即通過所述液晶顯示主板安裝位101與液晶顯示主板電連接和信號連接，在連通所述可編程門陣列匹配晶片103與所述液晶顯示主板後，所述可編程門陣列匹配晶片對所述控制信號的輸入和輸出進行匹配，使ARM內核晶片的輸出在與所述液晶顯示主板輸入不 匹配時，通過所述可編程門陣列匹配晶片103自動匹配，從而在連接不同的液晶顯示主板時，可以自動匹配，確保所述ARM內核晶片將所述控制信號輸入至各液晶顯示主板中，通過所述液晶顯示主板對應的液晶顯示屏進行顯示，從而在測試不同的液晶顯示屏，可以採用同一所述可編程門陣列測試板，確保測試的可行性和可靠性。並且，所述可編程門陣列匹配晶片103與所述液晶顯示主板安裝位101之間還設置短路隔離電路106，所述短路隔離電路在對液晶顯示屏進行顯示測試時，在將液晶顯示主板安裝固定在所述液晶顯示主板安裝位後，當連接的電流大於某一預設值時，所述短路隔離電路106則自動斷開所述液晶顯示主板安裝位與所述可編程門陣列匹配晶片之間的連接，從而對所述可編程門陣列匹配晶片進行保護，確保其不會因為電流過大，或者發生短路而燒壞，所述可編程門陣列測試板使用壽命長。例如，所述短路隔離電路可以設置隔離開關，當其電流超過所述短路隔離電路所能承受的最大值時，所述隔離開關斷開，從而斷開所述可編程門陣列匹配晶片與所述液晶顯示主板安裝位之間的電連接，確保所述可編程門陣列匹配晶片、以及所述可編程門陣列測試板不被燒壞。又如，所述液晶顯示主板安裝位設置若干管腳連接位，各管腳連接位分別與液晶顯示主板的輸入管腳對應連接，通過各管腳連接位與所屬液晶顯示主板的輸入管腳連接，通過所述可編程門陣列匹配晶片設置的輸入輸出自動匹配模塊進行自動匹配後，將所述控制信號輸入至所述液晶顯示主板中，再通過與所述液晶顯示主板固定連接的液晶顯示屏進行顯示，從而通過顯示來測試所述液晶顯示屏的顯示效果，判斷是否存在不能點亮、黑屏、花屏等缺陷。或者，又一個例子是，所述液晶顯示主板安裝位設置電源安裝部、第一功能安裝部和第二功能安裝部，所述電源安裝部設置有電源正極管腳和電源負極管腳，通過所述電源安裝部連通所述液晶顯示主板與所述可編程門陣列測試板之間的電連接；並且，所述第一功能安裝部和所述第二功能安裝部也分別設置各種功能管腳，所述第一功能安裝部和所述第二功能安裝部可以分別對應安裝不同的液晶顯示主板，從而使所述液晶顯示安裝位可以對應安裝各種不同型號的液晶顯示主板，從而在測試不同型號的液晶顯示屏時，無需更換所述可編程門陣列測試板，使用成本低。又或者，再一個例子是，所述液晶顯示主板安裝位還設置兩個或兩個以上的卡緊部，各卡緊部固定設置在所述PCB測試板上，在連接所述液晶顯示主板時，還通過各卡緊部分別卡緊固定液晶顯示主板的邊緣部，從而使所述液晶顯示顯示主板與所述PCB測試板之間的連接更加穩固，使其安裝固定在所述液晶顯示主板安裝位後，與所述可編程門陣列匹配晶片之間的 電連接、一起其他功能連接更加穩固，測試可靠性強。實施例2
如圖2所示，本實施例提供了一種液晶顯示的可編程門陣列測試系統，通過所述可編程門陣列控制系統，可以測試各種液晶顯示屏的顯示性能，如，用於測試手機液晶顯示屏是否點亮，顯示是否完整，以及是否存在黑點、花屏等；在測試不同的液晶顯示屏時，僅需要更換測試的液晶屏型號即可完成測試，測試兼容性強，安全可靠。其中，所述液晶顯示的可編程門陣列測試系統包括實施例I中任一所述的液晶顯示的可編程門陣列測試板和液晶顯示模組，所述可編程門陣列測試板包括PCB測試板102和設置在所述PCB測試上的可編程門陣列匹配晶片103、ARM系統104、以及所述液晶顯示主板安裝位101，所述ARM系統104上設置有USB接口 105 ;所述可編程門陣列測試板如實施例I所述，此處不再累述。並且,所述液晶顯示模塊包括相互固定設置的液晶顯示屏201和液晶顯示主板202，一般地，每一液晶顯示屏201與其對應的液晶顯示主板202相對應固定，並且，通過所述液晶顯示主板202安裝固定在所述液晶顯示主板安裝位101上。或者，在上述例子的基礎上，所述的液晶顯示可編程門陣列測試系統還包括一液晶顯示主板延長連接器；通過所述液晶顯示主板延長線，可以使所述液晶顯示主板與液晶顯示主板安裝呈一預設距離安裝固定連接，其中，所述液晶顯示主板延長連接器包括第一連接頭、第二連接頭、以及連接所述第一連接頭和所述第二連接頭的延長連接線，所述第一連接頭與所述液晶顯示主板安裝位固定電連接和功能傳輸信號連接，所述第二連接頭與所述液晶顯示主板固定電連接和功能傳輸信號連接；通過所述延長連接器，可以在一定距離實現所述液晶顯示主板與所述液晶顯示主板安裝位之間的電連接和功能傳輸信號連接，方便測試的進行。應當理解的是，對本領域普通技術人員來說，可以根據上述說明加以改進或變換，而所有這些改進和變換都應屬於本發明所附權利要求的保護範圍。
權利要求
1.一種液晶顯示的可編程門陣列測試板，包括PCB測試板和設置在所述PCB測試板上的液晶顯示主板安裝位，其特徵在於； 所述PCB測試板上還設置可編程門陣列匹配晶片和ARM系統，所述ARM系統設置一 ARM內核晶片，所述可編程門陣列匹配晶片各輸入管腳分別與所述ARM內核晶片連接，所述可編程門陣列匹配晶片各輸出管腳通過電路與所述液晶顯示主板安裝位連接； 並且，所述可編程門陣列匹配晶片與所述液晶顯示主板安裝位之間還設置短路隔離電路。
2.根據權利要求I所述的可編程門陣列測試板，其特徵在於，所述ARM系統還設置存儲模塊、以及分別與所述存儲模塊連接的更新模塊和USB接口。
3.根據權利要求2所述的可編程門陣列測試板，其特徵在於，所述ARM系統還設置與所述存儲模塊連接的WIFI接收模塊。
4.根據權利要求I所述的可編程門陣列測試板，其特徵在於，所述液晶顯示主板安裝位設置若干管腳連接位，各管腳連接位分別與液晶顯示主板的輸入管腳連接，所述可編程門陣列匹配晶片設置輸入輸出自動匹配模塊。
5.根據權利要求4所述的可編程門陣列測試板，其特徵在於，所述液晶顯示主板安裝位設置電源安裝部、第一功能安裝部和第二功能安裝部，所述第一功能安裝部和所述第二功能安裝部分別對應安裝不同的液晶顯示主板。
6.根據權利要求5所述的可編程門陣列測試板，其特徵在於，所述液晶顯示主板安裝位還設置至少兩卡緊部，用於分別卡緊固定液晶顯示主板的邊緣部。
7.根據權利要求I所述的可編程門陣列測試板，其特徵在於，所述短路隔離電路設置隔離開關，用於其電流超過預設值時，斷開所述可編程門陣列匹配晶片與所述液晶顯示主板安裝位之間的電連接。
8.一種液晶顯示的可編程門陣列測試系統，其特徵在於，包括以上權利要求1-6任一所述的液晶顯示的可編程門陣列測試板和液晶顯示模組，所述液晶顯示模組包括相互固定設置的液晶顯示屏和液晶顯示主板，所述液晶顯示主板安裝固定在所述液晶顯示主板安裝位上。
9.根據權利要求8所述的可編程門陣列測試系統，其特徵在於，還包括一液晶顯示主板延長連接器；所述液晶顯示主板延長連接器包括第一連接頭、第二連接頭、以及連接所述第一連接頭和所述第二連接頭的延長連接線，所述第一連接頭與所述液晶顯示主板安裝位固定連接，所述第二連接頭與所述液晶顯示主板固定連接。
全文摘要
本發明公開了一種液晶顯示的可編程門陣列測試板和可編程門陣列測試系統，可編程門陣列測試板是基於ARM內核，搭配可編程門陣列的液晶顯示測試系統，包括PCB測試板和設置在所述PCB測試板上的液晶顯示主板安裝位；所述PCB測試板上還搭配可編程門陣列匹配晶片和ARM內核晶片，所述可編程門陣列匹配晶片各輸入管腳分別與所述ARM內核晶片連接，所述可編程門陣列匹配晶片各輸出管腳通過電路與所述液晶顯示主板安裝位連接；並且，所述可編程門陣列匹配晶片與所述液晶顯示主板安裝位之間還設置短路隔離電路，可編程門陣列測試系統包括編程門陣列測試板和液晶顯示模組。本發明成本低、測試效率高、方便使用，兼容性強，測試安全可靠。
文檔編號G09G3/00GK102654964SQ201210139680
公開日2012年9月5日 申請日期2012年5月8日 優先權日2012年5月8日
發明者萬鋒, 駱志鋒 申請人:深圳市同興達科技有限公司