RFID標籤性能測試暗箱的製作方法

2023-10-24 18:06:48 1

本發明涉及攝像領域，特別涉及一種RFID標籤性能測試暗箱。

背景技術：

當前UHF RFID標籤測試暗箱都是3米法或10米法。3米法是指在3米測試距離擁有2米靜區，10米法是指10米測試距離擁有3米或更大靜區。這兩種大型的測試暗箱都只能固定在指定的場所，並且造價成本非常高昂。由於現有的UHF RFID標籤測試暗箱體積比較大，所以不能隨身攜帶，由於測試人員不能隨身攜帶，也就不能隨時查看標籤測試時的位置是否放置正確。

技術實現要素：

本發明要解決的技術問題在於，針對現有技術的上述缺陷，提供一種體積較小、成本較低、測試人員能隨身攜帶、能隨時查看標籤測試時的位置、能追蹤回查某個標籤當時的測試狀況的RFID標籤性能測試暗箱。

本發明解決其技術問題所採用的技術方案是：構造一種RFID標籤性能測試暗箱，包括箱體，所述箱體包括上箱體和下箱體，在所述上箱體和下箱體的結合部設有第一託盤，在所述第一託盤上設置有固定式條碼掃描器、攝像頭和上位機，在所述第一託盤的中心位置設有一個孔，所述下箱體中設有用於放置RFID標籤的第二託盤，所述RFID標籤上設有條碼，在所述下箱體的背面設有RFID讀寫器，所述固定式條碼掃描器、攝像頭和RFID讀寫器通過一個集線器與所述上位機連接，在所述下箱體內部的底端設有一個RFID讀寫天線，所述固定式條碼掃描器通過所述孔掃描所述條碼並將掃描信息通過所述集線器發送到所述上位機，所述攝像頭通過所述孔拍攝所述RFID標籤的擺放位置，並將拍攝的圖片通過所述集線器發送到所述上位機，所述RFID讀寫器通過所述RFID讀寫天線讀取所述RFID標籤的信息，並將讀取的標籤信息通過所述集線器發送到所述上位機，所述上位機收到所述掃描信息、拍攝的圖片和標籤信息後，進行分析後生成測試報告；所述箱體的高度小於或等於52cm，所述箱體的寬度小於或等於32cm，所述箱體的深度小於或等於28cm。

在本發明所述的RFID標籤性能測試暗箱中，所述下箱體的內壁上貼附有吸波材料。

在本發明所述的RFID標籤性能測試暗箱中，所述第二託盤為泡沫託盤。

在本發明所述的RFID標籤性能測試暗箱中，所述上位機為PC機或平板電腦。

在本發明所述的RFID標籤性能測試暗箱中，所述箱體的材質為金屬。

在本發明所述的RFID標籤性能測試暗箱中，所述金屬為鐵。

在本發明所述的RFID標籤性能測試暗箱中，所述上箱體的一側設有上箱門，所述下箱體的一側設有下箱門。

在本發明所述的RFID標籤性能測試暗箱中，所述RFID標籤為UHF頻段的RFID電子標籤。

實施本發明的RFID標籤性能測試暗箱，具有以下有益效果：由於設有上箱體和下箱體，在上箱體和下箱體的結合部設有第一託盤，在第一託盤上設置有固定式條碼掃描器、攝像頭和上位機，在第一託盤的中心位置設有一個孔，下箱體中設有用於放置RFID標籤的第二託盤，RFID標籤上設有條碼，在下箱體的背面設有RFID讀寫器，固定式條碼掃描器、攝像頭和RFID讀寫器通過一個集線器與上位機連接，在下箱體內部的底端設有一個RFID讀寫天線，固定式條碼掃描器通過孔掃描條碼並將掃描信息通過集線器發送到上位機，攝像頭通過孔拍攝RFID標籤的擺放位置，並將拍攝的圖片通過所述集線器發送到上位機，RFID讀寫器通過RFID讀寫天線讀取RFID標籤的信息，並將讀取的標籤信息通過集線器發送到上位機，上位機收到掃描信息、拍攝的圖片和標籤信息後，進行分析後生成測試報告；箱體的高度小於或等於52cm，箱體的寬度小於或等於32cm，箱體的深度小於或等於28cm，其體積較小，測試人員可以隨身攜帶，在做RFID標籤的性能測試時，通過攝像頭對RFID標籤的擺放位置進行拍照記錄，測試人員可以隨時查看RFID標籤測試時的位置是否放置正確，所以其體積較小、成本較低、測試人員能隨身攜帶、能隨時查看標籤測試時的位置、能追蹤回查某個標籤當時的測試狀況。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對於本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明RFID標籤性能測試暗箱一個實施例中的結構示意圖；

圖2為所述實施例中RFID標籤性能測試暗箱的結構分解示意圖；

圖3為所述實施例中固定式條碼掃描器、攝像頭、RFID讀寫器、集線器和上位機的連接框圖。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本發明保護的範圍。

在本發明RFID標籤性能測試暗箱實施例中，該RFID標籤性能測試暗箱的結構示意圖如圖1所示。圖2為本實施例中RFID標籤性能測試暗箱的結構分解示意圖。如圖1和圖2所示，該RFID標籤性能測試暗箱包括箱體，箱體分為上下兩層，箱體的高度小於或等於52cm，箱體的寬度小於或等於32cm，箱體的深度小於或等於28cm。其具備小型化的特點。

本實施例中，箱體包括上箱體1和下箱體2，在上箱體1和下箱體2的結合部設有第一託盤11，在第一託盤11上設置有固定式條碼掃描器12、攝像頭13和上位機14，在第一託盤11的中心位置設有一個孔(圖中未示出)，下箱體2中設有用於放置RFID標籤的第二託盤21，本實施例中，第二託盤21為泡沫託盤，用來放置RFID標籤，RFID標籤上設有條碼，在下箱體2的背面設有RFID 讀寫器22，本實施例中，RFID讀寫器22為RFID固定式讀寫器。固定式條碼掃描器12、攝像頭13和RFID讀寫器22通過一個集線器15與上位機14連接，固定式條碼掃描器12、攝像頭13、RFID讀寫器22、集線器15和上位機14的連接框圖如圖3所示。上位機14可以是PC機或平板電腦等。

本實施例中，在下箱體2內部的底端設有一個RFID讀寫天線23，固定式條碼掃描器12通過孔(透過孔)掃描RFID標籤上的條碼，並將掃描信息通過集線器15發送到上位機14，攝像頭13通過孔(透過孔)拍攝RFID標籤的擺放位置，並將拍攝的圖片通過集線器15發送到上位機14，攝像頭13的作用主要是看RFID標籤的位置是否擺放正確，RFID讀寫器22通過RFID讀寫天線23讀取RFID標籤的信息，並將讀取的標籤信息通過集線器15發送到上位機14，上位機14收到掃描信息、拍攝的圖片和標籤信息後，通過上位機14的軟體進行分析後生成測試報告。測試報告中包含不同材質下RFID標籤的最小功率、靈敏度、識別距離和可讀性(是否可以讀)等參數。

具體的，本實施例中，下箱體2為封閉式測試空間，下箱體2的一側設有下箱門24，在測試時，打開下箱體2的測試空間的下箱門24，把需要測試的RFID標籤放到下層測試空間中(具體是第二託盤21上)，值得一提的是，本實施例中，RFID標籤為UHF頻段的RFID電子標籤。上位機PC可以通過軟體觸發RFID讀寫器22測試RFID標籤的性能。測試完成後，上位機14會記錄RFID標籤的性能、邏輯分析並以圖片(照片)的形式保存測試時的RFID標籤擺放位置，並生成測試報告。

該RFID標籤性能測試暗箱是一款小型化、便於攜帶、操作簡便、低成本、高效、可持續使用的測試暗箱，對比起現有技術中功能單一的傳統大型暗箱，該小型化的RFID標籤性能測試暗箱大大降低企業對測試暗箱的投入成本，並配置拍照記錄功能，當產品出現問題後，通過圖片作為追蹤功能，可以讓企業馬上回查當時的測試狀況。

本實施例中，下箱體2的內壁上貼附有吸波材料a，用於避免幹擾，提高通信質量。箱體的材質為金屬，本實施例中，該金屬為鐵，也就是說該RFID標籤性能測試暗箱是由鐵盒做成的。本實施例中，上箱體1的一側設有上箱門16，通過打開上箱門16，可以將固定式條碼掃描器12、攝像頭13和上位機14放置到第一託盤11上。

總之，本發明的RFID標籤性能測試暗箱是一種可方便移動、小型化的UHF RFID標籤性能測試暗箱，除了能測試RFID標籤的性能外，還可以測試RFID標籤的編碼信息是否正確，還可以具有拍照功能，記錄RFID標籤測試時的位置擺放信息，打破傳統的大型暗室的局限性。該RFID標籤性能測試暗箱能測試UHF RFID標籤的性能，並進行性能分析，可以針對UHF頻段的RFID標籤的EPC(電子產品代碼)數據的進行邏輯分析，例如SGTIN96的編碼分析。配備了攝像頭13，可以實時拍攝RFID標籤的測試位置，並可以通過圖片追蹤回查某個標籤當時的測試狀況。

以上所述僅為本發明的較佳實施例而已，並不用以限制本發明，凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護範圍之內。