檢測結構以及檢測方法
2023-10-05 16:56:19 4
專利名稱：檢測結構以及檢測方法
技術領域：
本發明有關於一種檢測結構以及檢測方法。
背景技術：
請參閱圖1，圖1為現有檢測結構10的示意圖，現有用以檢測圖像傳感 器20的檢測結構IO包括平行光源11、電路板12、針腳13以及缺口 14，圖 像傳感器20通過檢測板22以電連接的方式設置於晶片21上，電路板12與 針腳13電連接，並且電路板12上設有缺口 14以作為光束通道，平行光源 11與圖像傳感器20分別相對應地設於電路板12的上、下二側，當利用檢測 結構10檢測圖像傳感器20時，平行光源11會先發出一平行光，該平行光 以圖1中箭頭A方向進入缺口 14中，另外檢測結構10的針腳13會與檢測 板22電連接，而圖像傳感器20接收到光信號後，會產生一電信號，通過針 腳13將此電信號回傳至檢測結構10的電路板，藉以判定圖像傳感器20是 否能夠正常使用。
現有檢測結構IO在提供檢測時通常提供平行光進入圖像傳感器20中， 然而，平常使用者在使用圖像傳感器20時，外在環境的光線條件不可能為 檢測時的平行光，故利用現有檢測結構10檢測出的結果，並不能貼近一般 使用狀態下的結果，即現有檢測結構10無法仿真圖像傳感器在最終端使用 時的光源，導致檢測結果有誤差或是在使用圖像傳感器20前必須重新調校。
發明內容
本發明提供一種檢測結構，用以檢測圖像傳感器，圖像傳感器電連接於 晶片上並且圖像傳感器與晶片之間設有檢測板，檢測結構包括平行光源、針 腳以及濾光片，平行光源發射平行光，針腳與檢測板電連接，濾光片位於平 行光源以及針腳之間，其中，平行光源發射的平行光通過濾光片到達晶片以 及圖像傳感器上。
上述的檢測結構，其中優選地，其還包括一承載件，該承載件位於該濾 光片以及該針腳之間。
上述的檢測結構，其中優選地，其還包括一透鏡，該透鏡通過該承載件 設置於該濾光片以及該針腳之間。
上述的檢測結構，其中優選地，該承載件包括一調節機構，該調節機構 包括一容置槽以及一微調螺絲，該容置槽用以容置該透鏡，並且該微調螺絲 與該透鏡連接，轉動該微調螺絲時可使該透鏡移動。
上述的檢測結構，其中優選地，該容置槽的孔徑略大於該透鏡的直徑。
上述的檢測結構，其中優選地，其還包括一電路板，該電路板與該針腳 電連接。
本發明還提供一種檢測方法，用以檢測圖像傳感器，圖像傳感器電連接 於晶片上，並且圖像傳感器與晶片之間設有檢測板，檢測方法的步驟包括提
供一檢測結構，該檢測結構包括一平行光、 一針腳、 一濾光片以及一透鏡; 使該平行光通過該濾光片;通過該濾光片後的該平行光變成一漫射光;以及成 像於該圖像傳感器上。
上述的檢測方法，其中優選地，檢測方法的步驟還包括使漫射光通過透鏡。
上述的檢測方法，其中優選地，檢測方法的步驟還包括使針腳與檢測板 電連接。
通過本發明的檢測方法，可仿真圖像傳感器在終端使用時的自然光(漫射 光)，仿真終端使用環境來檢測以增加檢測的準確性，另外，由於圖像傳感器 在終端使用時常常與透鏡一起搭配使用，故使漫射光再通過透鏡，可更加貼 近圖像傳感器在終端使用的環境，增加檢測時的準確性。
圖1為現有檢測結構的示意圖2為本發明檢測結構的示意圖3為本發明檢測結構的另一實施例示意圖4為本發明的承載件及透鏡的另一實施例示意圖5為應用本發明檢測結構檢測方法的流程圖。
其中，附圖標記ij
現有技術
10~檢測結構
13~針腳
21~晶片
本發明
20 圖像傳感器 30、 40 檢測結構 33、 43~針腳 46、 56~承載件 564 微調螺絲 B、 C 箭頭
口下
11-平行光源
14~缺口
22~檢測板
21~晶片
31、 41~平行光源 34、 44~濾光片 562-調節機構 Dl 孔徑
12~電路板 20 圖像傳感器
22 檢測板 32、 42~電路板 45、 55 透鏡 563 容置槽 D2 直徑
具體實施例方式
為讓本發明的上述和其它目的、特徵、和優點能更明顯易懂，下文特舉
出較佳實施例，並配合附圖，作詳細說明如下
請參閱圖2，圖2為本發明檢測結構30的示意圖，本實施例的檢測結構 30用以檢測圖像傳感器20，圖像傳感器20電連接於晶片21上，並且圖像 傳感器20與晶片21之間設有檢測板22，其中，檢測結構30包括平行光源 31、電路板32、針腳33以及濾光片34，平行光源31發射平行光，針腳33 與電路板32電連接，而濾光片34位於平行光源31以及針腳33之間，其中， 平行光以箭頭B方向通過濾光片34後，即變成漫射光(如箭頭C所示)，之 後到達圖像傳感器20，另夕卜，檢測結構30的針腳33會接觸到檢測板22並 且彼此電連接，到達圖像傳感器20後的漫射光會促使圖像傳感器20以及晶 片21傳遞出一電信號，該電信號經針腳33傳回至檢測結構30的電路板32， 以判定圖像傳感器20是否能夠正常使用，本實施例的檢測結構30通過增設 濾光片34以仿真圖像傳感器20在終端使用時的自然光(漫射光)，仿真終端 使用環境來檢測以增加檢測的準確性，應注意的是，本發明的圖像傳感器20 可為電荷耦合元件(CCD)或接觸式圖像傳感器(CIS)。
請參閱圖3，圖3為本發明檢測結構40的另一實施例示意圖，本實施例
的檢測結構40用以檢測圖像傳感器20，圖像傳感器20電連接於晶片21上， 並且圖像傳感器20與晶片21之間設有檢測板22，其中，檢測結構40包括 平行光源41、電路板42、針腳43、濾光片44、透鏡45以及承載件46，平 行光源41發射平行光，針腳43與電路板42電連接，而濾光片44位於平行 光源41以及針腳43之間，承載件46用以承載透鏡45，並且承載件46位於 濾光片44以及針腳43之間，其中，平行光以箭頭B方向通過濾光片34後， 即變成漫射光(如箭頭C所示)，漫射光會通過透鏡45使圖像聚焦後再到達圖 像傳感器20，另外，檢測結構40的針腳43會接觸到檢測板22並且彼此電 連接，到達圖像傳感器20後的漫射光會促使圖像傳感器20以及晶片21傳 遞出一電信號，該電信號經針腳43傳回至檢測結構40的電路板42，以判定 圖像傳感器20是否能夠正常使用，本實施例的檢測結構40通過增設濾光片 34以仿真圖像傳感器20在終端使用時的自然光(漫射光)，仿真終端使用環 境來檢測以增加檢測的準確性，另外，由於圖像傳感器20在終端使用時常 常與透鏡45 —起搭配使用，故本實施例還於濾光片44及針腳43之間增設 透鏡45，可更加貼近圖像傳感器20在終端使用的環境，增加檢測時的準確 性，應注意的是，本發明的圖像傳感器20可為電荷耦合元件(CCD)或接觸式 圖像傳感器(CIS)。
再請參閱圖4，圖4為本發明的承載件56及透鏡55的另一實施例示意 圖，其中承載件56包括調節機構562，調節機構562包括容置槽563以及微 調螺絲564，容置槽563用以容置透鏡55，並且微調螺絲564與透鏡55連 接，轉動微調螺絲564時可使透鏡55移動，應注意的是，容置槽563的孔 徑Dl略大於透鏡55的直徑D2。
最後請搭配參考圖5，圖5為應用本發明檢測結構40檢測方法的流程圖， 其用以檢測圖像傳感器20，請搭配參閱圖3，圖像傳感器20電連接於晶片 21上，並且圖像傳感器20與晶片21之間設有一檢測板22，檢測方法的步 驟包括首先，步驟1提供檢測結構40，檢測結構40包括平行光、針腳43、 濾光片44以及透鏡45，接著，步驟b.使平行光通過濾光片44，步驟c.通過 濾光片44後的平行光變成一漫射光，步驟d.使漫射光通過透鏡45 ，步驟e.使 針腳43與檢測板22電連接，最後，步驟f.成像於該圖像圖像傳感器20上， 通過本發明的檢測方法可仿真圖像傳感器20在終端使用時的自然光(漫射
光)，仿真終端使用環境來檢測以增加檢測的準確性，另外，由於圖像傳感器
20在終端使用時常常與透鏡45 —起搭配使用，故使漫射光再通過透鏡45， 可更加貼近圖像傳感器20在終端使用的環境，增加檢測時的準確性，應注 意的是，本發明的圖像傳感器20可為電荷耦合元件(CCD)或接觸式圖像傳感 器(CIS)。
雖然本發明已以較佳實施例揭示如上，然而其並非用以限定本發明，任 何本領域技術人員，在不脫離本發明的精神和範圍內，仍可作些許的更動與 潤飾，因此本發明的保護範圍當視權利要求所界定的範圍為準。
權利要求
1.一種檢測結構，用以檢測一圖像傳感器，該圖像傳感器電連接於一晶片上並且該圖像傳感器與該晶片之間設有一檢測板，該檢測結構包括一平行光源，發射一平行光；一針腳，該針腳與該檢測板電連接；以及一濾光片，該濾光片位於該平行光源以及該針腳之間；其中該平行光源發射的該平行光通過該濾光片到達該圖像傳感器以及該晶片上。
2. 如權利要求1所述的檢測結構，其還包括一承載件，該承載件位於該 濾光片以及該針腳之間。
3. 如權利要求2所述的檢測結構，其還包括一透鏡，該透鏡通過該承載 件設置於該濾光片以及該針腳之間。
4. 如權利要求3所述的檢測結構，其中該承載件包括一調節機構，該調 節機構包括一容置槽以及一微調螺絲，該容置槽用以容置該透鏡，並且該微 調螺絲與該透鏡連接，轉動該微調螺絲時可使該透鏡移動。
5. 如權利要求4所述的檢測結構，其中該容置槽的孔徑略大於該透鏡的 直徑。
6. 如權利要求1所述的檢測結構，其還包括一電路板，該電路板與該針 腳電連接。
7. —種檢測方法，用以檢測一圖像傳感器，該圖像傳感器電連接於一晶 片上並且該圖像傳感器與該晶片之間設有一檢測板，其步驟包括提供一檢測結構，該檢測結構包括一平行光、 一針腳、 一濾光片以及一 透鏡；使該平行光通過該濾光片；通過該濾光片後的該平行光變成一漫射光;以及成像於該圖像傳感器上。
8. 如權利要求7所述的檢測方法，其步驟還包括使該漫射光通過該透鏡。
9. 如權利要求7所述的檢測方法，其步驟還包括使該針腳與該檢測板電 連接。
全文摘要
本發明提供一種檢測結構以及檢測方法。該檢測結構用以檢測圖像傳感器，圖像傳感器電連接於晶片上並且圖像傳感器與晶片之間設有檢測板，檢測結構包括平行光源、針腳以及濾光片，平行光源發射平行光，針腳與檢測板電連接，濾光片位於平行光源以及針腳之間，其中，平行光源發射的平行光通過濾光片到達晶片上的圖像傳感器。通過本發明的檢測方法，可仿真圖像傳感器在終端使用時的自然光(漫射光)，仿真終端使用環境來檢測以增加檢測的準確性。
文檔編號G01R31/26GK101359021SQ20071013991
公開日2009年2月4日 申請日期2007年8月3日 優先權日2007年8月3日
發明者盧笙豐, 張財盛, 秦立銘, 許仕樺, 陳士銘 申請人:採鈺科技股份有限公司