細下夾頭楊氏模量儀的製作方法

2024-01-25 03:15:15

專利名稱：細下夾頭楊氏模量儀的製作方法
技術領域：
本發明屬於物理實驗儀器領域，涉及一種細下夾頭楊氏模量儀。
背景技術：
常用的楊氏模量儀的下夾頭直徑略小於平臺上的第一圓孔的直徑，其主要作用是防止在增減砝碼的過程中，下夾頭晃動太厲害導致光槓桿後足從下夾頭上表面滑落，使實驗無法進行。但經常發生的情況是下夾頭側面與第一圓孔的孔壁很容易產生摩擦，增大了測量誤差。

發明內容
為了解決存在的問題，本發明的目的是提供一種細下夾頭楊氏模量儀，徹底解決了下夾頭側面與第一圓孔的孔壁產生摩擦的問題，提高了測量精度。申請號為201210458496. 8的發明專利很好地解決了在增減砝碼的過程中楊氏模量儀的防晃動問題。本發明是在該專利的基礎上進一步完善，本發明解決其技術問題所採用的技術方案是細下夾頭楊氏模量儀，包括細下夾頭，螺釘和第一圓孔，其特徵在於所述細下夾頭為圓環體形，內徑即第二圓孔的直徑略大於金屬絲的直徑，外徑小於第一圓孔的直徑I釐米左右，側面設置有與第二圓孔垂直相通的螺孔，螺孔為全螺紋沉頭螺釘螺孔，所述螺釘與螺孔適配並滿足，旋緊螺釘時，螺釘可把穿過第二圓孔的金屬絲與細下夾頭完全固定在一起。使用時，將金屬絲的下端依次穿過第二圓孔和第一圓孔，在豎直方向上拉緊金屬絲，調整細下夾頭的位置，當其上側面與平臺上側面平齊時，旋緊螺釘使金屬絲與細下夾頭完全固定在一起，再安裝好楊氏模量儀的其它配件，將光槓桿的前兩足放在平臺的凹槽內，後足放在細下夾頭的上側面上，調整好儀器，即可開始實驗。由於細下夾頭的外徑小於第一圓孔的直徑I釐米左右，細下夾頭的側面不與第一圓孔的孔壁接觸，徹底解決了下夾頭側面與第一圓孔的孔壁產生摩擦的問題，提高了測量精度。本發明的有益效果是，簡單方便實用，實驗效果明顯、安全。


圖1為常用楊氏模量儀結構示意 圖2為本發明細下夾頭楊氏模量儀切面示意圖。圖中1-底盤2-砝碼託盤3-平臺4-下夾頭5-金屬絲6-立柱7_上夾頭8-橫梁9-光槓桿21-第一圓孔22-第二圓孔23-細下夾頭24-螺釘25-螺孔
具體實施例方式下面結合附圖對本發明做進一步詳細的說明
如圖1、圖2所示，本發明細下夾頭楊氏模量儀，包括細下夾頭23，螺釘24和第一圓孔21，其特徵在於所述細下夾頭23為圓環體形，內徑即第二圓孔22的直徑略大於金屬絲5的直徑，外徑小於第一圓孔21的直徑I釐米左右，側面設置有與第二圓孔22垂直相通的螺孔25，螺孔25為全螺紋沉頭螺釘螺孔，所述螺釘24與螺孔25適配並滿足，旋緊螺釘24時，螺釘24可把穿過第二圓孔22的金屬絲5與細下夾頭23完全固定在一起。使用時，將金屬絲5的下端依次穿過第二圓孔22和第一圓孔21，在豎直方向上拉緊金屬絲5，調整細下夾頭23的位置，當其上側面與平臺3上側面平齊時，旋緊螺釘24使金屬絲5與細下夾頭23完全固定在一起，再安裝好楊氏模量儀的其它配件，將光槓桿9的前兩足放在平臺3的凹槽內，後足放在細下夾頭23的上側面上，調整好儀器，即可開始實驗。由於細下夾頭23的外徑小於第一圓孔21的直徑I釐米左右，細下夾頭23的側面不與第一圓孔的孔壁接觸，徹底解決了下夾頭側面與第一圓孔的孔壁產生摩擦的問題，提高了測量精度。
權利要求
1.細下夾頭楊氏模量儀，包括細下夾頭，螺釘和第一圓孔，其特徵在於所述細下夾頭為圓環體形，內徑即第二圓孔的直徑略大於金屬絲的直徑，外徑小於第一圓孔的直徑I釐米左右，側面設置有與第二圓孔垂直相通的螺孔，螺孔為全螺紋沉頭螺釘螺孔，所述螺釘與螺孔適配並滿足，旋緊螺釘時，螺釘可把穿過第二圓孔的金屬絲與細下夾頭完全固定在一起。
全文摘要
細下夾頭楊氏模量儀，包括細下夾頭，螺釘和第一圓孔，細下夾頭為圓環體形，內徑即第二圓孔的直徑略大於金屬絲的直徑，外徑小於第一圓孔的直徑1釐米左右，側面設置有與第二圓孔垂直相通的螺孔，螺孔為全螺紋沉頭螺釘螺孔，螺釘與螺孔適配並滿足，旋緊螺釘時，螺釘可把穿過第二圓孔的金屬絲與細下夾頭完全固定在一起。使用時，將金屬絲的下端依次穿過第二圓孔和第一圓孔，調整細下夾頭的位置，當其上側面與平臺上側面平齊時，旋緊螺釘。由於細下夾頭的側面不與第一圓孔的孔壁接觸，徹底解決了下夾頭側面與第一圓孔的孔壁產生摩擦的問題，提高了測量精度。有益效果是，簡單方便實用，實驗效果明顯、安全。
文檔編號G01N3/14GK103063524SQ201310000310
公開日2013年4月24日 申請日期2013年1月4日 優先權日2013年1月4日
發明者餘偉, 杜莉瑋, 王廷志 申請人:江南大學