支持EEPROM掉電測試的仿真器的製作方法

2024-03-31 00:00:05 1

本發明涉及仿真器領域，特別是涉及一種支持EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory，電可擦可編程只讀存儲器)掉電測試的仿真器。

背景技術：

處理器晶片內有用戶開發的用戶程序，在用戶程序的編寫和調試中，所使用的工具一般是仿真器。仿真器內使用包含產品處理器晶片各項功能的仿真晶片，用於模擬產品處理器晶片的工作行為，仿真晶片與仿真器其他部件(存放用戶程序的程序存儲器、存放數據的數據存儲器，以及用戶電腦上的集成開發環境連接等)配合實現用戶程序的仿真運行和各項調試功能。

對於含有片內EEPROM的智慧卡晶片，現有的仿真器設計中，以仿真晶片替代產品晶片，同時考慮到代碼調試過程中會有大量正常和異常寫EEPROM的操作，而EEPROM的寫壽命較短，一般為十萬到數十萬次，所以為提高仿真器中仿真晶片的使用壽命，現有仿真晶片內採用SRAM(Static Random Access Memory，靜態隨機存取存儲器)來等效替代產品晶片中的EEPROM存儲器，並通過增加等效邏輯儘可能做到與真實EEPROM在訪問時序上的等效。

智慧卡晶片是通過接觸式觸點或非接觸式的載波從機具供電的，因此 在智慧卡操作過程中可能會因為機具的原因突然停止供電，即智慧卡掉電。EEPROM具有字節讀、寫、頁擦、頁寫、片擦等功能，且在頁寫前，必須先做頁擦，如果沒有完成頁擦或沒有擦乾淨(即全頁數據為0)，是無法完成頁寫的。EEPROM的頁擦和片擦耗時相對晶片其他功能的操作時間要長很多，而EEPROM擦寫的操作在功能代碼中又非常多，在擦寫過程中發生智慧卡掉電的概率很高。如果在EEPROM擦寫過程中發生掉電，就會出現EEPROM數據未擦完、數據錯誤等異常情況，故而程序代碼會對EEPROM擦寫操作過程中發生掉電進行保護和數據恢復，保障掉電發生後EEPROM數據的正確性。程序中這部分代碼就是掉電保護代碼，也需要在仿真器上調試和測試其功能正確性。這就要求仿真器儘可能真實地模擬產品晶片中EEPROM檫寫時發生掉電的特性，即EEPROM某一頁擦時發生掉電，該頁內數據部分擦除、數據錯誤等數據異常情況，程序就可以對所述發生錯誤的EEPROM頁和錯誤情況進行處理、恢復和重新操作等。但現有仿真器中，仿真晶片使用SRAM替代EEPROM，而SRAM實際不需要進行擦除就可以寫入，也沒有頁的結構，這就造成了無法模擬產品晶片EEPROM擦寫時發生掉電的情況，程序中的掉電保護代碼也無法在仿真器上調試和測試。

技術實現要素：

本發明要解決的技術問題是提供一種支持EEPROM掉電測試的仿真器，能夠方便用戶程序的開發、調試和測試，提高代碼開發效率。

為解決上述技術問題，本發明的支持EEPROM掉電測試的仿真器，包括：

一EEPROM存儲器；

一仿真晶片，通過標準數據/地址總線與所述EEPROM存儲器相連接；對EEPROM存儲器進行包括讀、寫、頁擦和片擦在內的所有EEPROM的操作；

一機具電源檢測模塊，通過復位信號線與所述仿真晶片相連接；

一電源模塊，通過電源線與所述EEPROM存儲器相連接，通過控制信號線與所述機具電源檢測模塊相連接；

所述機具電源檢測模塊能自動檢測接觸式或非接觸式機具供電情況，在機具供電時，通過復位信號線控制仿真晶片不處於復位狀態，即正常工作狀態；，

所述機具電源檢測模塊通過控制信號控制電源模塊經電源線向EEPROM存儲器供電；

所述機具電源檢測模塊在機具不供電即發生掉電時，通過復位信號線控制仿真晶片進入復位狀態，使仿真晶片不工作；通過控制信號控制電源模塊不再經電源線向EEPROM存儲器供電，即EEPROM存儲器無電源。

採用本發明的支持EEPROM掉電測試的仿真器，由於使用外置於仿真晶片之外的EEPROM存儲器替代產品晶片的EEPROM，隨機具掉電該仿真器內仿真晶片同時停止工作，EEPROM存儲器也發生掉電。所述仿真器能夠真實模擬產品晶片EEPROM擦寫時發生掉電的情況，程序中的掉電保護代碼可以在仿真器上真實地進行調試和測試。因此，本發明方便了用戶程序的開發、調試和測試，有助於提高代碼開發效率。同時，由於EEPROM 存儲器是可替換的獨立晶片，在EEPROM晶片擦寫壽命用完後也可以進行替換，保證了仿真器的整體使用壽命。

附圖說明

下面結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步詳細的說明：

附圖是所述支持EEPROM掉電測試的仿真器的結構示意圖。

具體實施方式

如圖所示，所述支持EEPROM掉電測試的仿真器1在下面的實施例中，包括仿真晶片2，機具電源檢測模塊3，電源模塊4，EEPROM存儲器5。所述仿真晶片2通過標準數據/地址總線7與EEPROM存儲器5連接，並通過復位信號線8與機具電源檢測模塊3連接。所述電源模塊4通過電源線6與EEPROM存儲器5連接，並通過控制信號線9與機具電源檢測模塊3連接。EEPROM存儲器5是獨立晶片，可以替換。

在程序調試、測試過程中，所述仿真晶片2能通過標準數據/地址總線7對EEPROM存儲器5進行讀、寫、頁擦、片擦等所有EEPROM的操作，完全可以模擬產品晶片中對EEPROM的各種操作。所述機具電源檢測模塊3能自動檢測接觸式或非接觸式機具供電情況，在機具供電時，所述機具電源檢測模塊3通過復位信號線8控制仿真晶片2不處於復位狀態(正常工作狀態)，同時電源檢測模塊3通過控制信號9控制電源模塊4經電源線6向EEPROM存儲器5供電，此時仿真晶片2可以正常執行程序，操作EEPROM存儲器5和仿真晶片2內的各個功能模塊。在機具不供電時(發生掉電)，所述機具電源檢測模塊3通過復位信號線8控制仿真晶片2進入 復位狀態(仿真晶片不工作)，通過控制信號9控制電源模塊4不再經電源線6向EEPROM存儲器5供電，即EEPROM存儲器5無電源。此時仿真晶片2不能工作也不能執行程序，模擬了產品晶片發生掉電後的狀態，如果機具掉電發生在EEPROM存儲器5執行頁擦或片擦過程中，由於隨機具掉電，機具電源檢測模塊3也同時控制電源模塊4不再向EEPROM存儲器5供電，EEPROM存儲器就非常真實地模擬出了產品晶片在頁擦、片擦時發生掉電的情況。

這樣，採用本發明的仿真器就能夠真實模擬產品晶片EEPROM擦寫時發生掉電的情況，程序中的掉電保護代碼可以在仿真器上真實地進行調試和測試了。

以上通過具體實施方式對本發明進行了詳細的說明，但這些並非構成對本發明的限制。在不脫離本發明原理的情況下，本領域的技術人員還可做出許多變形和改進，這些也應視為本發明的保護範圍。