一種精確測量光學投影儀的製作方法
2024-03-10 15:03:15
專利名稱：一種精確測量光學投影儀的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種精確測量光學投影儀，所屬工具製造技術領域。
背景技術：
申請號022955879.9公布的一種高清晰度投影儀裝置。由光源、聚光鏡、反光鏡、平面反光鏡、大物鏡組、場鏡、小物鏡組、主反光鏡和付主反光鏡、投影屏和裝持所述的光源、所述的聚光鏡的套筒、裝持所述的反光鏡、所述的大物鏡組、所述的場鏡、所述的小物鏡組的套筒和裝持所述的主反光鏡和所述的付主反光鏡、所述的投影屏的投影屏箱組成，所述的平面反光鏡為凹面聚光反光鏡，所述的反光鏡的中部有一通孔。現有的投影儀裝置雖有測量同心圓或長度尺寸的刻度分劃板，但需要更換分劃板達到測量圓弧或長度的目的，而且無法精確地測量工件的尺寸。
發明內容
為了克服現有投影儀裝置的測量精度的不足，本實用新型提供一種精確測量光學投影儀，能方便地同時達到精確測量圓弧或長度的目的。
本實用新型解決其技術問題所採用的技術方案是本實用新型由光學投影裝置和影象測量裝置組成，光學投影裝置有投影屏、投影屏箱、鏡筒、照明光源組、大物鏡組、場鏡、小物鏡組、主反光鏡和付主反光鏡組成，影象測量裝置有測量同心圓和長度尺寸的刻度分劃板和十字坐標移動讀數機構組成，一個分劃板上刻有同心圓和遊標，另一個分劃板上刻有360度分度盤刻度和十字長度刻度，刻有同心圓和遊標的分劃板固定在投影屏箱內，刻有360度分度盤刻度和十字長度刻度的分劃板安裝在投影屏箱內沿投影屏箱內的軌道旋轉。影象測量裝置有XY十字滑軌移動導軌副和微分尺，微分尺分別與X十字滑軌移動導軌副和Y十字滑軌移動導軌副連接並一同移動。
本實用新型的有益效果是光學投影儀的成象平面與2個分劃板共面，成象清晰，尺寸測量準確，精度高，結構簡單，同時可測量圓弧或長度，並有遊標分度和細小尺寸刻度。可以獨立作為投影測量裝置，移動和攜帶方便，也可安裝在超硬刀具磨床、數控工具機上實現在機測量。
以下結合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。
圖1是本實用新型的光路原理圖。
圖2是本實用新型的整體示意圖。
圖3是投影屏箱的正面示意圖。
圖4是本實用新型的實施例側面示意圖。
圖5是分劃板示意圖。
圖6是分劃板示意圖。
具體實施方式
實施例1本實用新型由光學投影裝置和影象測量裝置組成，光學投影裝置有投影屏、投影屏箱、鏡筒、照明光源組、大物鏡組、場鏡、小物鏡組、主反光鏡和付主反光鏡組成，在圖1中，大物鏡組6、場鏡7、小物鏡組8、主反光鏡9和付主反光鏡10、投影屏12組成了本實用新型的光路圖，有測量同心圓和長度尺寸的刻度分劃板11，如圖6所示，一個分劃板上刻有同心圓和遊標，同心圓尺寸為R0.05mm至3mm或6mm，遊標分度值為0.02；如圖7所示，另一個分劃板上刻有十字長度測量線，刻度360度分度盤刻度為每格1度和長度刻度為每格0.02mm，刻有同心圓和遊標的分劃板固定在投影屏箱內，刻有360度分度盤刻度和長度刻度的分劃板安裝在投影屏箱內沿投影屏箱內的軌道旋轉。
投影光源1通過聚光鏡組2、濾光片3以單色平行光形式將光線投射於45度帶孔反光鏡4，將單色平行光沿垂直向下方向投射，經下置反光鏡5反射後，將置於物鏡焦平面上的工件照亮。光束穿過45度反光鏡4的斜孔後，經第一物鏡組6，將工件的外形輪廓成像於場景鏡7上，再經第一物鏡組8放大後，經大反光鏡9和小反光鏡10使工件的外形輪廓成像於投影儀屏幕12，屏幕12前有測量同心圓和長度尺寸的刻度分劃板11。
45度反光鏡4A可替換45度帶孔反光鏡4，使光源聚光於刀具或工件的表面上，經刀具或工件上表面反射後使刀具或工件的上表面形狀成像於投影儀屏幕12上。
當儀器採用下照射光耀時，可摘掉45度反光鏡4A及45度帶孔反光鏡4，使工件外形輪廓經光路直接成像於投影儀屏幕12上。
影象測量裝置有XY十字滑軌移動導軌副，XY十字滑軌移動導軌副有支撐板73，支撐板73上有X十字滑軌移動導軌副由軸承座固定軸承，2個軸承座66、67支撐1根軸65，2個軸承座66、67之間有X工作檯移動塊68連接於所述的軸65上，所述的2個軸承座66、67和X工作檯移動塊68有2副安裝在X工作檯60的兩側，支撐板73上有微分尺支撐座62，微分尺64固定在微分尺支撐座62其測量杆穿過微分尺支撐座62，頂在X工作檯60的側面，在X工作檯60的側面相對的另一側的側面有一軸接觸61，所述的軸61由彈簧63包圍，所述的軸61穿過與微分尺支撐座62一體的另一測的支撐座為調整杆；在X工作檯60上有Y十字滑軌移動導軌副由軸承座固定軸承，2個軸承座52、53支撐1根軸54，2個軸承座52、53之間有Y工作檯移動塊59連接於所述的軸54上，所述的2個軸承座52、53和Y工作檯移動塊59有2副安裝在Y工作檯58的兩側，X工作檯60上有微分尺支撐座51，微分尺50固定在微分尺支撐座51其測量杆穿過微分尺支撐座51，頂在Y工作檯58的側面，在Y工作檯58的側面相對的另一側的側面有一軸55接觸，所述的軸55由彈簧56包圍，所述的軸55穿過與微分尺支撐座51一體的另一測的支撐座57為調整杆；在Y工作檯58上安裝光學投影裝置20。物鏡組71和照射裝置72安裝在連接板69的下部。
實施例2同實施例1所述的結構的連接板69固定連接支撐板73，連接板69與連接軸70連接，連接軸70固定在一工作檯74，連接板69與連接軸70可上下移動，調整高度，連接方式可有螺旋扣上下移動結構，有齒輪和齒條上下移動結構等。成為獨立式或可攜式投影測量裝置。
實施例3同實施例1所述的結構的連接板69固定連接支撐板73，連接板69安裝在工具機上，成為超硬刀具磨床、改型工具磨床、數控工具機上在機測量裝置。
權利要求1.一種精確測量光學投影儀，由光學投影裝置和影象測量裝置組成，光學投影裝置有投影屏、投影屏箱、鏡筒、照明光源組、大物鏡組、場鏡、小物鏡組、主反光鏡和付主反光鏡組成，其特徵是影象測量裝置有測量同心圓和長度尺寸的刻度分劃板和十字坐標移動讀數機構組成，一個分劃板上刻有同心圓和遊標，另一個分劃板上刻有360度分度盤刻度和十字長度刻度，刻有同心圓和遊標的分劃板固定在投影屏箱內，刻有360度分度盤刻度和十字長度刻度的分劃板安裝在投影屏箱內沿投影屏箱內的軌道旋轉，影象測量裝置有XY十字滑軌移動導軌副和微分尺，微分尺分別與X十字滑軌移動導軌副和Y十字滑軌移動導軌副連接並一同移動。
2.根據權利要求1所述的一種精確測量光學投影儀，其特徵是影象測量裝置有XY十字滑軌移動導軌副，XY十字滑軌移動導軌副有支撐板，支撐板上有X十字滑軌移動導軌副由軸承座固定軸承，2個軸承座支撐1根軸，2個軸承座之間有X工作檯移動塊連接於所述的軸上，所述的2個軸承座和X工作檯移動塊有2副安裝在X工作檯的兩側，支撐板上有微分尺支撐座，微分尺固定在微分尺支撐座其測量杆穿過微分尺支撐座，頂在X工作檯的側面，在X工作檯的側面相對的另一側的側面有一軸接觸，所述的軸由彈簧包圍，所述的軸穿過與微分尺支撐座一體的另一測的支撐座為調整杆；在X工作檯上有Y十字滑軌移動導軌副由軸承座固定軸承，2個軸承座支撐1根軸，2個軸承座之間有Y工作檯移動塊連接於所述的軸上，所述的2個軸承座和Y工作檯移動塊有2副安裝在Y工作檯的兩側，X工作檯上有微分尺支撐座，微分尺固定在微分尺支撐座其測量杆穿過微分尺支撐座，頂在Y工作檯的側面，在Y工作檯的側面相對的另一側的側面有一軸接觸，所述的軸由彈簧包圍，所述的軸穿過與微分尺支撐座一體的另一測的支撐座為調整杆；在Y工作檯上安裝光學投影裝置，物鏡組和照射裝置安裝在連接板的下部。
3.根據權利要求1或2所述的一種精確測量光學投影儀，其特徵是連接板固定連接支撐板，連接板與連接軸連接，連接軸固定在一工作檯，連接板與連接軸可上下移動，調整高度，連接方式為螺旋扣上下移動結構，或有齒輪和齒條上下移動結構。
4.根據權利要求3所述的一種精確測量光學投影儀，其特徵是連接板安裝在工具機上。
專利摘要一種精確測量光學投影儀，由光學投影裝置和影象測量裝置組成，影象測量裝置有測量同心圓和長度尺寸的刻度分劃板和XY十字滑軌移動導軌副和微分尺，微分尺分別與X十字滑軌移動導軌副和Y十字滑軌移動導軌副連接並一同移動。有益效果是光學投影儀的成象平面與2個分劃板共面，成象清晰，同時可測量圓弧或長度，並有遊標分度和細小尺寸刻度，尺寸測量準確，精度高，結構簡單。可以獨立作為投影測量裝置，移動和攜帶方便，也可安裝在超硬刀具磨床、數控工具機上在機測量。
文檔編號G01B9/08GK2743788SQ20042000917
公開日2005年11月30日 申請日期2004年7月7日 優先權日2004年7月7日
發明者陳用威 申請人:陳用威