內孔槽深度測試儀的製作方法
2024-03-21 06:55:05
專利名稱：內孔槽深度測試儀的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及檢測工具領域，特別涉及一種內孔槽深度測試儀。
背景技術：
在現有的測量工具中，測量內孔槽深度，一般使用遊標卡尺或者或者投影測試儀，使用遊標卡尺由於人手操作會導致認為誤差大，使用投影測試儀對於一些小成本的模具測試，測試成本高，這些不便於測量軸套類內孔槽深度。在測量的過程中，要儘量減少人為誤差和機器誤差才有可能提高測量精度，但同時需要降低測量成本，為此設計一種可以滿足上述條件的測試儀成為必要。
發明內容本實用新型目的在於摒棄現有技術之缺點，提供一種操作方便，測量精度高，準確性高的測試儀。為解決上述技術問題，本新型採用的技術方案如下內孔槽深度測試儀，包括測量導杆和千分表，還包括導軌底座、擋板、滑塊、導柱、支撐架，所述的支撐架設置在所述的導柱上，所述的千分表插在所述的支撐架的孔內，並用螺絲鎖緊，所述的千分表下端設置所述的測量導杆，另外所述的導軌底座上設有導軌，在所述的導軌的一端設置所述的擋板，並且在所述的導軌內設置所述的滑塊，所述的滑塊上端設置凹槽。所述的凹槽為V型槽。所述的測量導杆與所述的導軌底座平行。所述的凹槽與所述的測量導杆平行。所述的導柱垂直於所述的導軌底座，並且所述的導柱設置在所述導軌底座的一端，在所述導軌底座的另一端設置所述擋板。所述的支撐架由兩個調整塊組成，該兩調整塊構成兩個或以上的孔，所述的調整塊通過一螺絲連接。所述的導柱穿過所述支撐架的孔內，該孔與千分表所插入的孔相異。本新型的有益效果是在滑塊的凹槽內設置工件，通過移動滑塊可以使工件水平向測量導杆移動，可以減少人工移動工件導致工件位置偏離的測量誤差，在導軌上底座上設置的擋板能夠限制滑塊的移動位置，當然可以在導軌底座上設置不同的定位銷用來限定距離的滑動，其次支撐架與導柱的連接方式是通過兩調整塊實現的，可以實現支撐架在導柱上下調整位置，滿足不同測試工件的要求。
圖1是本新型的立體示意圖。圖中1、導軌底座；2、擋板；3、滑塊、；4、導柱；5、支撐架；6、千分表；7、測量導杆；8、工件；9、調整塊；10、導軌。
具體實施方式
[0011]
以下結合附圖和具體實施例對本新型作進一步詳述如圖1所示，內孔槽深度測試儀，包括測量導杆7和千分表6還包括導軌底座1、擋板2、滑塊3、導柱4、支撐架5，所述的支撐架5設置在所述的導柱4上，所述的千分表6插在所述的支撐架5的孔內，並用螺絲鎖緊，所述的支撐架的由兩個調整塊9，該調整塊9組合後形成兩個或以上的孔，該孔以來設置導柱4和千分表6，該調整塊9通過一螺絲連接，螺絲穿過兩調整塊9使其相互緊貼，使支撐架5的孔緊閉，當打開螺絲，兩個調整9塊就會分開，支撐架5的孔就會由於調整塊9的分開而鬆開導柱4，此時支撐架5可以在導柱4上下移動，旋緊所述螺絲使兩調整塊9緊貼就可以使所述的支撐架5固定在導柱4上。所述的千分表6下端設置所述的測量導杆7，另外所述的導軌底座I上設有導軌10，所述的導軌10可以在所述的導軌底座I上滑動，在所述的導軌10的一端設置所述的擋板2，並且在所述的導軌10內設置所述的滑塊3，擋板2用以限制所述滑塊3的滑動位置。所述的滑塊3上端設置凹槽，優選地所述的凹槽為V型槽，任何外部形狀的工件都可放置在V槽內測量。所述的測量導杆7與所述的導軌底座I平行。所述的凹槽與所述的測量導杆7平行。所述的導柱4垂直於所述的導軌底座1，並且所述的導柱4設置在所述導軌底座I的一端，在所述導軌底座I的另一端設置所述擋板2。所述的支撐架5由兩個調整塊9組成，該兩調整塊9構成兩個或以上的孔，所述的調整塊9通過一螺絲連接。所述的導柱4穿過所述支撐架5的孔內，該孔與千分表6所插入的孔相異。以下提供本實用新型的具體工作方式如圖1所示，千分表6插在支撐架5的孔內，並用螺絲鎖緊。支撐架5固定在導柱4上，可上下調整高度，千分表6下端用螺絲把測量導杆7固定，導軌底座I上設有導軌10，滑塊3在導軌10內，可沿導軌10作軸向自由滑動，導軌底座擋板2鎖在導軌10的一端，用以限制滑塊3的滑動行程。滑塊3上端「V」型槽用以擺放要測量的軸套類工件。為了提高工件8測量的品質及效率，可在滑塊3上增設定位銷用以限位。以上所述，僅是本新型的較佳實施例而已，並非對新型的技術範圍作任何限制，故凡是依據本新型的技術實質對以上實施例所作的任何細微修改、等同變化與修飾，均仍屬於本等同實用新型技術方案的範圍內。
權利要求1.內孔槽深度測試儀，包括測量導杆和千分表，其特徵在於，還包括導軌底座、擋板、滑塊、導柱、支撐架，所述的支撐架設置在所述的導柱上，所述的千分表插在所述的支撐架的孔內，並用螺絲鎖緊，所述的千分表下端設置所述的測量導杆，另外所述的導軌底座上設有導軌，在所述的導軌的一端設置所述的擋板，並且在所述的導軌內設置所述的滑塊，所述的滑塊上端設置凹槽。
2.根據權利要求1所述的內孔槽深度測試儀，其特徵在於，所述的凹槽為V型槽。
3.根據權利要求1所述的內孔槽深度測試儀，其特徵在於，所述的測量導杆與所述的導軌底座平行。
4.根據權利要求1所述的內孔槽深度測試儀，其特徵在於，所述的凹槽與所述的測量導杆平行。
5.根據權利要求1所述的內孔槽深度測試儀，其特徵在於，所述的導柱垂直於所述的導軌底座，並且所述的導柱設置在所述導軌底座的一端，在所述導軌底座的另一端設置所述擋板。
6.根據權利要求1所述的內孔槽深度測試儀，其特徵在於，所述的支撐架由兩個調整塊組成，該兩調整塊構成兩個或以上的孔，所述的調整塊通過一螺絲連接。
7.根據權利要求1所述的內孔槽深度測試儀，其特徵在於，所述的導柱穿過所述支撐架的孔內，該孔與千分表所插入的孔相異。
專利摘要內孔槽深度測試儀，涉及檢測工具領域，特別涉及一種內孔槽深度測試儀，包括測量導杆和千分表，還包括導軌底座、擋板、滑塊、導柱、支撐架，所述的支撐架設置在所述的導柱上，所述的千分表插在所述的支撐架的孔內，並用螺絲鎖緊，所述的千分表下端設置所述的測量導杆，另外所述的導軌底座上設有導軌，在所述的導軌的一端設置所述的擋板，並且在所述的導軌內設置所述的滑塊，所述的滑塊上端設置凹槽，本實用新型測量軸套內的深度，具有精度高，準確性真實等優點。
文檔編號G01B5/18GK202885734SQ20122051950
公開日2013年4月17日 申請日期2012年10月11日 優先權日2012年10月11日
發明者陳文生 申請人:東莞市科隆電機有限公司