一種玉米、小麥種子粒形測量器的製造方法
2024-02-26 17:21:15 1
一種玉米、小麥種子粒形測量器的製造方法
【專利摘要】本實用新型公布了一種玉米、小麥種子粒形測量器。它包括底座和測量框。測量框由置種內腔、固定種子的縱向滑動擋板和橫向頂杆構成，測量框上與縱向移動擋板相對的一側刻印有測量尺。使用本測量器測量玉米、小麥種子的長度、寬度和厚度與現有的遊標卡尺測量相比精度高，速度快，效率高。
【專利說明】一種玉米、小麥種子粒形測量器
[0001]一、
【技術領域】
[0002]一種玉米、小麥種子粒形測量器涉及一種玉米、小麥種子粒形的測量裝置。更具體地說是一種玉米、小麥種子粒形測量器。
[0003]二、
【背景技術】
[0004]玉米、小麥種子粒形測量器主要用於測量玉米小麥種子長、寬、厚的裝置。目前的玉米小麥種子長、寬、厚的測量主要是用遊標卡尺進行單粒測量，或將一定數量種子經過簡易排種後用直尺測量後折算，但是，這兩種測量方法的準確性和效率都較低。
[0005]三、實用新型內容
[0006]針對上述現有技術存在的問題，本實用新型專利的目的在於提供一種用於測定玉米、小麥粒形(長、寬、厚)的簡易測量裝置。
[0007]技術方案:
[0008]1.一種玉米、小麥種子粒形測量器，它包括底座和測量框，底座在下，測量框平置於底座之上；所述的底座和測量框分別具有以下特徵:
[0009](I)底座向上的一面為水平且光滑的平面；
[0010](2)測量框由置種內腔、固定種子的縱向滑動擋板和橫向頂杆構成；縱向滑動擋板處於測量框內，其兩端各有一根滑動軸伸入測量框兩側框壁內的移動槽中，以便於前後移動；橫向頂杆處於測量框的左側或右側，用螺絲安裝在測量框內，可左右伸縮；
[0011](3)測量框上與縱向移動擋板相對的一側印有測量尺，其上有cm、mm級的測量刻度。
[0012]2.一種玉米、小麥種子粒形測量器測定玉米、小麥種子的粒形，即長、寬、厚粒徑的方法:取10粒玉米或小麥種子，按種子的測量指標將種子首尾相接列隊，擺放在置種內腔緊貼測量刻度一側。將縱向滑動擋板向內移動，夾住小麥種子。旋動縱向頂杆，使麥種列隊的一端頂住置種內腔的O端，另一端頂住橫向頂杆的端頭，並且保持種子籽粒之間沒有間隙。讀取頂杆端頭處所對應的測量刻度，即是10粒種子的總粒徑，其平均數即為該樣本的種子平均粒徑。
[0013]本實用新型專利的有益效果是:1、本裝置測量的數據基於種子的樣本容量較大，相對於用遊標卡尺單個種子進行測量，可有效提高玉米小麥粒形(長、寬、厚)測量的準確性；2、成組批量測量可以有效提高測量效率；3、裝置結構簡單合理、易操作、價格低，使用方便。
[0014]【專利附圖】
【附圖說明】:
[0015]圖1為玉米、小麥種子粒形測量器的俯視圖。
[0016]圖2為玉米、小麥種子粒形測量器的正視圖。
[0017]圖中標記:1、置種內腔，2、縱向滑動擋板，3、移動槽，4、橫向頂杆，5、測量刻度尺，6、底座，7、測量框。
[0018]【具體實施方式】:
[0019]1.一種玉米、小麥種子粒形測量器的構造:它包括底座6和測量框7，底座6在下，測量框7平置於底座6之上；所述的底座6和測量框7分別具有以下特徵:
[0020](I)底座6向上的一面為水平且光滑的平面用於託住測量框7 ;
[0021](2)測量框7由置種內腔1、固定種子的縱向滑動擋板2和橫向頂杆4構成；縱向滑動擋板2處於測量框7內，其兩端各有一根滑動軸伸入測量框7兩側框壁內的移動槽3中，以便於前後移動；橫向頂杆4處於測量框7的左側或右側，用螺絲安裝在測量框7內，可左右伸縮；
[0022](3)測量框7上與縱向移動擋板相對的一側印有測量刻度尺5，其上有cm、mm級的測量刻度。
[0023]2.玉米、小麥種子粒形測量器的使用方法:
[0024](I)採用玉米、小麥種子粒形測量器測量小麥種子粒長:取10粒小麥種子，按麥種的長度首尾相接列隊，擺放在置種內腔I緊貼測量刻度一側。將縱向滑動擋板2向內移動，夾住小麥種子。旋動縱向頂杆，使麥種列隊的一端頂住置種內腔I的O端，另一端頂住橫向頂杆4的端頭，並且麥種籽粒之間沒有間隙。讀取頂杆端頭處所對應的測量刻度，即是10粒小麥種子的總粒長，其平均數即為本樣本的小麥種子平均粒長。
[0025](2)採用玉米、小麥種子粒形測量器測量小麥種子粒寬:取10粒小麥種子，按麥種的寬度首尾相接列隊，擺放在置種內腔I緊貼測量刻度一側。將縱向滑動擋板2向內移動，夾住小麥種子。旋動縱向頂杆，使麥種列隊的一端頂住置種內腔I的O端，另一端頂住橫向頂杆4的端頭，並且麥種籽粒之間沒有間隙。讀取頂杆端頭處所對應的測量刻度，即是10粒小麥種子的總粒寬，其平均數即為本樣本的小麥種子平均粒寬。
[0026](3)採用玉米、小麥種子粒形測量器測量小麥種子粒厚:取10粒小麥種子，按麥種的厚度首尾相接列隊，擺放在置種內腔I緊貼測量刻度一側。將縱向滑動擋板2向內移動，夾住小麥種子。旋動縱向頂杆，使麥種列隊的一端頂住置種內腔I的O端，另一端頂住橫向頂杆4的端頭，並且麥種籽粒之間沒有間隙。讀取頂杆端頭處所對應的測量刻度，即是10粒小麥種子的總粒厚，其平均數即為本樣本的小麥種子平均粒厚。
[0027]玉米種子的粒形測量如法進行。
【權利要求】
1.一種玉米、小麥種子粒形測量器，其特徵在於，它包括底座和測量框，底座在下，測量框平置於底座之上；所述的底座和測量框分別具有以下特徵: (1)底座向上的一面為水平且光滑的平面； (2)測量框由置種內腔、固定種子的縱向滑動擋板和橫向頂杆構成；縱向滑動擋板處於測量框內，其兩端各有一根滑動軸伸入測量框兩側框壁內的移動槽中，以便於前後移動；橫向頂杆處於測量框的左側或右側，用螺絲安裝在測量框內，可左右伸縮； (3)測量框上與縱向移動擋板相對的一側印有測量尺，其上有cm、mm級的測量刻度。
【文檔編號】G01B5/02GK204228059SQ201420305482
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2014年6月10日 優先權日:2014年6月10日
【發明者】李文陽, 閆素輝 申請人:安徽科技學院