自動分配測試機臺各基座ip地址的方法及該機臺的製作方法

2024-02-04 06:51:15 1

專利名稱：自動分配測試機臺各基座ip地址的方法及該機臺的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種分配IP位址的方法，尤其是一種自動分配測試機臺 的各測試基座IP位址的方法，及應用該方法的測試機臺。
背景技術：
集成電路(IC)組件已經成為幾乎所有電子設備中不可或缺的核心，
IC的可靠度，也無疑成為決定電子設備可靠度的極重要環節。
目前用來測試ic的自動化測試機臺，大致可分為由測試基座提供仿 真信號，擷取各輸出引腳輸出信號的模擬測試；以及提供實際主機板與 周邊，空出待測IC位置，將待測IC置入實際使用環境中運作的實境測試。
模擬測試雖可具體獲得被測IC完整的電氣特性，但對於每一不同的 IC，都需有針對性地撰寫對應測試軟體，設計提供仿真信號的硬體架構， 不僅需耗費大量資源除錯才能實際使用，而且當待測IC更新設計時，還 需耐心等候測試軟體與硬體臻於完善，所以建立測試環境的成本相當高， 且無法立即跟隨新產品問世而對應推出測試設備，通常會滯後一段時間。
實境測試恰恰相反，由於並不是以獲得待測IC的完整電氣特性為目 的，因此無需獲得完備的數據，而是在完全符合使用環境的測試環境中， 單獨留下待測IC的空缺，讓受測IC填補受測位置，並以實際機臺按照使 用狀態進行測試，雖然每次測試所需花費時間稍長，但可輕易獲得該待 測IC在實際使用環境下的反應狀態，並得知該待測IC是否可供實際裝機。
若所欲量測的IC為中央處理器，上述實境測試的測試電路板即為主 機板，若所測IC為顯示卡用的IC，即可以顯示卡作為測試電路板，同理，
根據實際需要也可採用網卡、PDA或手機的主板等作為測試電路板，這些 產品皆為市面上常見產品，因此實境測試的環境營造沒有任何困難。
如圖l、 2所示，以例如一中央控制模塊90控制六組測試基座92為例， 各測試基座92各分別包括一主機板920、 一硬碟922、 一網卡924和一連接 於主機板的連接器926，測試程序儲存於硬碟922中，中央控制模塊90與 各基座92間的信號則經由網卡924傳輸至主機板920，以控制各測試基座 92，並獲得來自各測試基座92的測試結果，據此判斷受測IC是否合格。 這種測試方法存在的缺點是
一方面，每次啟動生產線時，操作人員均需由中央控制模塊90設定 各測試基座92狀態參數，更換生產線時也得如此，這樣分別設定每一設 備的參數、更新硬碟922的內容，無疑造成管理上的困難，還使測試效率 難以提高。
另一方面，在頻繁測試的開關機流程後，各測試基座92的硬碟922易 於出現問題甚至損壞，無論是操作人員順手將兩測試基座92的硬碟922對 調，還是更新損壞的硬碟922，都需要更新硬碟922的內容，稍有不慎， 將造成測試程序與被測產品不一致或不對應的狀況，影響更新後的測試 結果正確性。若不慎將合格產品誤測為不合格產品，損失的僅僅是一顆 IC;反之，若誤將不合格IC測為合格，安裝於實際使用環境，無疑將損 及電子設備整體的可靠性，不僅給後續的使用者造成諸多困擾，而且還 會損害電子設備製造商的信譽並給其帶來不必要的經濟損失。
且如上述，由於工廠中生產線眾多，在單一產品測試完畢後，也可 能更換生產線上的測試產品；每次更換，操作人員又需逐一設定更改每 一測試基座數據， 一旦遺漏，也會造成上述不對應問題。況且，每位操 作人員需同時關注多個(而不是一個)機臺，更使得發生問題的機率以 等比級數倍增。
若能自動化分配IP網址而進行測試，不僅降低測試發生錯誤的成本、 提高測試精度與效率，還能有效增加測試機臺的市場接受度，也增加使 用此種機臺的經濟效益。

發明內容
因此，本發明要解決的技術問題之一是，提供一種降低測試成本的 自動分配測試機臺各測試基座IP位址的方法。
本發明要解決的另一技術問題是，提供一種大幅減少人為處理疏失 的自動分配測試機臺各測試基座IP位址的方法。
本發明要解決的再一技術問題是，提供一種測試精度與效率大大提 高的自動分配測試機臺各測試基座IP位址的方法。
本發明要解決的又一技術問題是，提供一種可自動分配測試機臺各 測試基座IP位址的測試機臺。
按照本發明提供的自動分配測試機臺各測試基座IP位址的方法，供 分辨多個供檢測多個同型號待測電路組件/裝置在一預定電路環境下的 電氣特性的測試基座，其中各該測試基座分別包括一供置放一待測電路 組件/裝置的測試電路板； 一裝設於該測試電路板且儲存有一內碼的網絡 接口裝置；及一連接該測試電路板的記憶裝置；該方法包括下列步驟
a) 單獨致能其中一個所述測試基座，激活該測試基座的測試電路板、 記憶裝置及網絡接口裝置；
b) 接收來自所述網絡接口裝置的請求，並讀取其內碼；
c) 記憶所述內碼，並分配一IP位址供該測試基座的所述記憶裝置儲 存*,及
d) 停止致能該已分配IP位址的測試基座，並致能另一尚未分配IP位址 的測試基座，其中所有分配IP位址不可重複，且重複上述步驟至所
述測試基座均被分配有IP位址，藉此，該機臺可清楚分辨各所述測 試基座。
按照本發明提供的自動分配測試機臺各測試基座IP位址的方法，還 具有如下附屬技術特徵
步驟d)還包括該機臺中的一控制裝置檢驗所有待測試基座是否均已 被分配IP位址的次步驟。
在所述步驟b)及C)間，還包括一分析確認所述測試基座是否已經被
分配IP位址的步驟e)，且當所述基座已被分配IP位址時，將該已被分配
的IP位址再次分配。
按照本發明提供的測試機臺，供檢測多個同型號待測電路組件/裝置
在一預定電路環境下的電氣特性，該機臺包括-
多個測試基座，各所述測試基座分別包括 一用於置放一所述待測 電路組件/裝置的測試電路板； 一裝設於所述測試電路板、且儲存有一內 碼的網絡接口裝置和一連接所述測試電路板的記憶裝置；及
一連接、致能並控制各所述測試基座、供接收所述待測電路組件/裝 置電氣特性、自動分配各測試基座IP位址的控制裝置。
本發明通過測試機臺統一控制各測試基座並分配各個不同的IP地 址，無需人工分配，不僅降低了人力成本，而且減少人為操作疏失而產 生的風險以及損失，提高檢測效率和精度。


圖1是現有室溫環境自動化IC測試機臺立體示意圖，說明IC供應/輸 出裝置與基座的關係；
圖2是測試基座的示意圖3是本發明IC測試機臺的結構方框示意圖4是本發明自動分配測試機臺各測試基座IP位址方法優選實施例 的流程圖。主要組件符號說明1…控制裝置 224…網絡接口裝置 21 26、 92…基座 io 226、 926…連接器31 39…步驟 90…中央控制模塊 220…電路板 920…主機板 222、 922…硬碟 924…網卡具體實施方式
-有關本發明的前述及其它技術內容、特點與功效，在以下配合附圖 給出的優選實施例的詳細說明中，將可清楚的呈現。作為本發明的一種優選實施例，如圖3所示，測試機臺l包括一控制 裝置l、六組基座21、 22、 23、 24、 25和26。儘管本實施例的測試機臺設 置有六組基座，但並不限於此。由於各基座結構相同，為簡要起見，此處僅以測試基座22作為例予 以說明。基座22包括設置有連接器226供置放待測IC的測試電路板220、 儲存相關執行軟體並連接該測試電路板作為記憶裝置的硬碟222和內置 於測試電路板220且儲存有一內碼的網絡接口裝置224。控制裝置l與基座 22電連接，控制測試電路板220的啟動和關閉，並經由網絡接口裝置224 進行與基座22的信息交流。當測試機臺開機或更換生產條件時，如圖4所示，步驟31測試機臺的 控制裝置1先致能例如未被分配IP位址的測試基座22,此時被致能的測試 基座22於步驟32激活測試電路板220、記憶裝置222及網絡接口裝置(即 網絡適配卡)224;被激活的網絡接口裝置224於步驟33將其內碼傳送給 控制裝置l，並向測試機臺的控制裝置1請求IP位址。
當測試機臺的控制裝置1收到IP位址的請求時，會先於步驟34分辨具 有該內碼的網絡接口裝置224是否已被分配IP位址，若為已分配IP位址的 內碼，則會於步驟38將原先已分配的IP位址再次分配，若為未分配IP地 址的內碼，則於步驟35由測試機臺的控制裝置1記憶該內碼，並分配一IP 地址供該測試基座22的記憶裝置222儲存，當該記憶裝置222將分配的IP 地址儲存完畢後，再於步驟36由控制裝置1停止致能該已分配IP位址的測 試基座22。步驟37時，測試機臺檢驗所有待測試基座是否均已被分配IP位址完 畢，若未分配完畢，則針對尚未分配IP位址的測試基座重複步驟31至步 驟36執行IP位址的分配，直到所有待測試基座均被分配好IP位址，則至 步驟39結束分配IP位址的動作。依照上述的方法測試機臺便可將IP位址自動分配給各個測試基座 21、 22、 23、 24、 25和26，因為此分配方法完全自動化，可無需y^力分 配，不僅降低人力成本，而且還能大幅降低人為疏失的發生機率，進而 減低生產線停擺的損失，更能有效提高測試的精度與效率，因此藉由本 發明完全能解決本發明所欲解決的技術問題，達到本發明的技術效果。上述優選實施例僅供說明本發明之用，而並非對本發明的限制。本 領域的普通技術人員，在不脫離本發明的精神和範圍內指引下，還可做 出各種變形和變換，因此所有等同技術方案皆屬於本發明的保護範圍。
權利要求
1. 一種自動分配測試機臺各測試基座IP位址的方法，供分辨多個用於檢測多個同型號待測電路組件/裝置在一預定電路環境下的電氣特性的測試基座，其中各所述測試基座分別包括一供置放一待測電路組件/裝置的測試電路板；一裝設於該測試電路板且儲存有一內碼的網絡接口裝置；及一連接所述測試電路板的記憶裝置；該方法包括下列步驟a)單獨致能其中一個所述測試基座，激活該測試基座的測試電路板、記憶裝置及網絡接口裝置；b)接收來自所述網絡接口裝置的請求，並讀取其內碼；c)記憶所述內碼，並分配一IP位址供該測試基座的所述記憶裝置儲存；及d)停止致能該已分配IP位址的測試基座，並致能另一尚未分配IP位址的測試基座，其中所有分配IP位址不可重複，且重複上述步驟至所述測試基座均被分配有IP位址，藉此，該機臺可清楚分辨各所述測試基座。
2. 根據權利要求l所述的自動分配測試機臺各測試基座IP位址的方法，其 特徵在於步驟d)還包括該機臺中的一控制裝置檢驗所有待測試基座 是否均已被分配IP位址的次步驟。
3. 根據權利要求l所述的自動分配測試機臺各測試基座IP位址的方法，其特徵在於在所述步驟b)及C)間，還包括一分析確認所述測試基座是否己經被分配IP位址的步驟e)，且當所述基座已被分配IP位址時，將 該己被分配的IP位址再次分配。
4. 一種測試機臺，供檢測多個同型號待測電路組件/裝置在一預定電路環 境下的電氣特性，該機臺包括多個測試基座，各所述測試基座分別包括；一用於置放一所述待測電路組件/裝置的測試電路板； 一裝設於所述測試電路板、且儲存有一內碼的網絡接口裝置；及 一連接所述測試電路板的記憶裝置；及 一連接、致能並控制各所述測試基座、供接收所述待測電路組件/ 裝置電氣特性、自動分配各測試基座IP位址的控制裝置。
全文摘要
一種自動分配測試機臺各測試基座IP位址的方法及應用該方法的測試機臺，測試機臺即可依照此方法自動分配IP位址給各個分別的測試基座，其中各所述測試基座分別包括一供置放一待測電路組件/裝置的測試電路板；一裝設於該測試電路板且儲存有一內碼的網絡接口裝置；及一連接該測試電路板的記憶裝置；藉此該測試機臺可統一控制各測試基座，以避免IP位址被重複分配而造成人力的浪費，以及生產線因而停工造成的損失，本發明提供的方法及應用本方法的測試機臺能有效解決上述技術問題。
文檔編號G06F11/22GK101211297SQ200610170290
公開日2008年7月2日 申請日期2006年12月27日 優先權日2006年12月27日
發明者許良宇 申請人:中茂電子(深圳)有限公司