測量主軸外錐面裝置的製作方法

2023-12-10 04:52:06 1

專利名稱：測量主軸外錐面裝置的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種測量主軸外錐面的裝置，尤其是一種用於主軸短錐以及類似短錐零件測量的裝置。
背景技術：
現有的1:4短錐外圓大端直徑的測量方法主要包括:(I)三角函數計算法:加工的零件如圖1所示。錐度1:4的主軸短錐外圓的大端直徑為Φ106.375
T mm，它是錐外圓與軸肩面的空間相交尺寸。為此，在測量中用二根直徑為Φ8Π1Π1的標準
圓柱量棒，放在該主軸錐面上，並緊貼軸肩面，用Φ 100 Φ 125mm的外徑千分尺進行測量H值。然後，按圖2進行計算。如圖2所示，已知:短錐外圓的錐度為1:4(半角=7°7' 30")，量棒的直徑D為Φ8πιπι，圓心到錐度1:4的主軸短錐外圓的距離OI為X，經推理和計算:K=D+2X=15.062mm式中:X=4/COS(7°7' 30")故:工件大端尺寸(空間)=分釐卡實際測量尺寸-K+1，因此，短錐外圓的大端直徑尺寸等於千分尺的示值減去15.062_。採用上述測量手段，存在許多不便:I)在加工過程中，零件需經過多次裝卸，多次測量和多次磨削後才能完成；2)在測量過程中需要輔助人員協助；3)測量時間長，效率低；4)千分尺、圓柱量棒和量塊的誤差都會影響測量精度；5)計算複雜,容易產生計算錯誤,造成零件不合格。(2)軸向放大測量法軸向放大測量法就是把主軸的徑向直徑尺寸轉化為軸向長度尺寸進行測量。主軸錐度1:4，大端直徑尺寸為Φ 106.375 T臟，其公差帶為0.01mm。經過換算，其長度公差帶為:上偏差+0.01 X4=+0.04mm，下偏差OX4=0mm，用圖3所示的測量裝置，對零件主軸
短錐大端直徑進行測量。為了提高測量精度，如圖3所示，平面環規2的平面度< 0.001mm。測量時，先將裝有兩隻千分表I的短錐環規，放在平面環規2上對千分表I進行零位校整，然後，再到主軸短錐外圓上進行測量，根據千分表讀數計算尺寸。該測量方法在實際使用中也存在諸多不便:I)在加工過程中，零件需要經過多次裝卸，多次測量和多次磨削後才能完成；2)在測量過程中，需要輔助人員協助；3)測量時間長，效率低；4)稍有垃圾或毛刺就會造成測量誤差。發明內容為了從根本上解決上述方法存在測量難的問題，本實用新型提供一種測量主軸外錐面裝置。為實現上述目的，本實用新型採用的技術方案是:一種測量主軸外錐面裝置，包括測量弓架、千分表、上、下測量頭，其特點是:測量弓架上端孔內裝有千分表及可上下移動的上測量頭，下端設有下測量頭，且下測量頭為固定支點。下測量頭與測量弓架下面的孔配合連接，且下測量頭與測量弓架之間裝有位於測量弓架下面凹槽中的調節螺母和用於緊固的擰緊捏手。測量弓架上端孔中用鎖緊螺釘固定千分表表杆。本實用新型的有益效果是:(I)操作方便，不需要輔助人員協助；(2)可靠性強，零件的尺寸精度有效地得到了保證，大大提高了產品合格率；(3)節省了測量時間和輔助時間，成倍地提高了生產效率。

圖1是加工的零件圖；圖2是三角函數計算示意圖；圖3是軸向測量裝置；`圖4是本實用新型的結構示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖與實施例對本實用新型作進一步說明。如圖4所示，本實用新型的測量主軸外錐面裝置，包括測量弓架3、千分表1、上、下測量頭4，5、調節螺母8、鎖緊螺釘6、擰緊捏手7等。測量弓架3上端孔內裝有千分表I及可上下移動的上測量頭4，下端設有下測量頭5，且下測量頭5為固定支點。下測量頭5與測量弓架3下面的孔配合連接，且下測量頭5與測量弓架3之間裝有位於測量弓架下面凹槽中的調節螺母8和用於緊固的擰緊捏手7。測量弓架3上端孔中用鎖緊螺釘6固定千分表I表杆。本實用新型以軸肩面限位，與錐外圓兩點接觸，上測量頭4可以上下移動，下測量頭為固定支點，考慮到錐外圓的長度，選用裝置厚度為13.6_，裝置左側基準寬度為25_，平面度為0.005mm,以保證接觸基準面的穩定性。I)裝置的測量精度:裝置的示值誤差彡0.003mm。用兩個已標註的差值為
0.0Olmm的1:4短錐外圓進行檢定。裝置的示值穩定性< 0.001mm。儘管千分表I的活塞杆(上測量頭4)與千分表I的表杆的Φ8Η7孔配有0.005mm間隙，而在測量弓架3下面Φ8Η7孔配製的下測量頭5的活塞杆用調節螺母8調節距離完成後，就用鎖緊螺釘6固定了。因此，下測量頭5的活塞杆被固定後，測量時就不會產生移動。測量弓架3上面Φ8Η7孔內裝有千分表1，其千分表I的表杆放入孔後用鎖緊螺釘6擰緊，其實也是固定的。因此上測量頭4在千分表I的表杆內滑動，雖然會產生微量偏移，但是，這個偏移量是由千分表量程來保證。在測量過程中，由於短錐大端對測量頭的作用力，造成測量頭始終向小端偏移。因此，裝置上千分表I的上測量頭4的位移，幾乎對示值穩定性不會造成影響。本實用新型的使用方法:在使用測量主軸外錐面裝置時，只需要選擇一件通過計量後得出定值的錐外圓(與零件短錐相同)，對裝置進行校正後(可轉動測量弓架3上的千分表I面值至零位，或調整千分表I的活塞杆的距離，然後用鎖緊螺釘6鎖緊)，直接對零件10進行測量。測量時，裝置的左側面的平面和零件10被測基準肩面要保持清潔，兩手將裝置左側平面貼緊在主軸肩面上，然後以下面支撐點作為支點向上託住。並使裝置漸漸地前後滑移，從千分表I示值中得到其最高點上的數值，即為實際數值。這時不必再按錐度比換數(注:測量方法基本上和普通的帶表千分尺測量直外圓的方法相同，只需要稍加軸向力，使測量弓架3左側面與軸肩面緊貼)，測量過程中應遵循測量鏈封閉原則，測量前後應進行零位復校。
權利要求1.種測量主軸外錐面裝置，包括測量弓架(3)、千分表(I)、上、下測量頭(4，5)，其特徵在於:所述測量弓架(3)上端孔內裝有千分表(910)及可上下移動的上測量頭(4)，下端設有下測量頭(5)，且下測量頭(5)為固定支點。
2.據權利要求1所述的測量主軸外錐面裝置，其特徵在於:所述下測量頭(5)與測量弓架(3)下面的孔配合連接，且下測量頭(5)與測量弓架(3)之間裝有位於測量弓架(3)下面凹槽中的調節螺母(98)和用於緊固的擰緊捏手(7)。
3.據權利要求1所述的測量主軸外錐面裝置，其特徵在於:所述測量弓架(3)上端孔中用鎖緊螺釘(6 )固定千分表(I)表杆。
專利摘要本實用新型涉及到一種測量主軸外錐面裝置，包括測量弓架、千分表、上、下測量頭，測量弓架上端孔內裝有千分表及可上下移動的上測量頭，下端設有下測量頭，且下測量頭為固定支點。下測量頭與測量弓架下面的孔配合連接，且下測量頭與測量弓架之間裝有位於測量弓架下面凹槽中的調節螺母和用於緊固的擰緊捏手。測量弓架上端孔中用鎖緊螺釘固定千分表表杆。本實用新型操作方便，不需要輔助人員協助；可靠性強，零件的尺寸精度有效地得到了保證，大大提高了產品合格率；節省了測量時間和輔助時間，成倍地提高了生產效率。
文檔編號G01B5/00GK202928484SQ201220570328
公開日2013年5月8日 申請日期2012年11月1日 優先權日2012年11月1日
發明者李雲龍, 黃裕華, 張劍飛 申請人:上海工具機廠有限公司