一種探針單元及顯示面板的檢測裝置的製作方法

2023-12-05 15:07:21

本實用新型涉及顯示面板製造技術領域，尤其涉及一種探針單元及顯示面板的檢測裝置。

背景技術：

在顯示面板的製造過程中，通常需要對顯示面板進行檢測，以及時發現顯示面板的各種不良問題。用於檢測顯示面板的裝置主要包括探針單元(Probe Unit)，如圖1和圖2所示，探針單元100包括：基座1、PCB(Printed Circuit Board，印刷線路板)2、連接件3及至少一個探針塊4，其中，每個探針塊4包括：FPC(Flexible Printed Circuit，柔性電路板)41、信號處理部件42及若干探針43。檢測時，將探針單元100的探針塊4上的探針43與待測顯示面板的檢測信號端(由顯示面板內部的柵線和數據線以特定方式所引出的信號端)相連，利用探針43向柵線和數據線施加檢測信號，點亮顯示面板，檢查顯示時是否存在Mura(姆拉)、暗線等不良。

根據探針單元點亮顯示面板的方式的不同，對顯示面板的檢測可大致分為全接觸式(Full Contact)和短路棒式(Shorting Bar)兩種。對於全接觸式檢測，所需要的探針單元具體為全接觸探針單元，其所包括的PCB和探針塊為適配的全接觸PCB和全接觸探針塊，全接觸探針塊所包括的信號處理部件具體為驅動晶片，且其所包括的探針與待測顯示面板的柵線和數據線一一對應。全接觸式檢測能夠實現對待測顯示面板的每個像素獨自施加檢測信號，因此可以點亮顯示面板的任何畫面，對檢測Mura類不良有優勢。但是，全接觸式檢測存在如下缺陷：只要有一根探針損壞就會給畫面造成一個亮線，因此這種檢測方式很容易出現探針缺失(Pin Miss)，影響人員檢測。

短路棒式檢測可分為普通短路棒式(Normal Shorting Bar)、開關短路棒式(Switch Shorting Bar)和6D短路棒式(6D Shorting Bar)。其中，對於6D短路棒式檢測，所需要的探針單元具體為6D短路棒探針單元，其所包括的PCB和探針塊為適配的6D短路棒PCB和6D短路棒探針塊，6D短路棒探針塊所包括的信號處理部件具體為6D短路棒信號處理部件，且其所包括的探針類似全接觸式探針塊也與待測顯示面板的柵線和數據線一一對應。進行6D短路棒式檢測需要將待測顯示面板的數據線分組各自短接(例如將對應R/G/B像素的數據線各自短接)，但是柵線不短接(以下稱這種待測顯示面板為6D短路棒式顯示面板)，探針向相短接數據線所施加的是相同的數據檢測信號，這樣即便用於施加數據檢測信號的探針有損壞，由於數據線短接，因此也能夠保證損壞的探針所對應的數據線接收到數據檢測信號，從而減少探針缺失，降低亮線對人員檢測造成的影響。但是，6D短路棒式檢測存在如下缺陷：由於數據線短接，因此無法準確得到不良坐標。

對於6D短路棒式顯示面板，進行檢測時，通常會優先採用6D短路棒式檢測，當發現不良但是無法準確得到不良坐標時，還需要採用全接觸式檢測。但是，由6D短路棒探針單元切換至全接觸探針單元，需要大量的時間對設備進行調試，嚴重降低檢測效率，進而造成產能降低；並且，測試同一規格的6D短路棒式顯示面板需要配備6D短路棒和全接觸兩種探針單元，增加了生產成本；同時，由於需要維修的顯示面板相對於量產的顯示面板來說是少數，因此全接觸探針單元的稼動率不高。

技術實現要素：

本實用新型提供一種探針單元及顯示面板的檢測裝置，以解決6D短路棒式顯示面板的檢測工序中所存在檢測效率低、生產成本高、及全接觸探針單元的稼動率低的問題。

為達到上述目的，本實用新型採用如下技術方案：

本實用新型的第一方面提供了一種探針單元，所述探針單元包括：6D短路棒PCB；與所述6D短路棒PCB連接的6D短路棒信號處理部件；與所述6D短路棒信號處理部件連接的信號轉換部件；能夠與所述信號轉換部件可拆卸連接的全接觸探針塊；能夠與所述全接觸探針塊可拆卸連接的全接觸PCB；其中，所述6D短路棒PCB用於生成m個數據檢測信號，m為進行6D短路棒式檢測所需的數據檢測信號的數量；所述信號轉換部件用於將m個所述數據檢測信號轉換n個所述數據檢測信號，n為所述全接觸探針塊的驅動晶片所需要的檢測信號的數量。

當採用本實用新型所提供的探針單元對6D短路棒式顯示面板進行檢測時，將6D短路棒PCB、6D短路棒信號處理部件、信號轉換部件和全接觸探針塊依次連接，6D短路棒PCB生成進行6D短路棒式檢測所需的m個數據檢測信號，信號轉換部件將數據檢測信號的數量由m個轉換為全接觸探針塊的驅動晶片所需要n個，使得6D短路棒PCB所生成的數據檢測信號數量適配於全接觸探針塊，從而全接觸探針塊向顯示面板中相短接的數據線輸入相同的數據檢測信號，實現了6D短路棒式檢測。

當對該顯示面板進行全接觸式檢測時，由於全接觸探針塊能夠與信號轉換部件和全接觸PCB可拆卸連接，因此僅需將全接觸探針塊從信號轉換部件上拆卸下來，然後將全接觸探針塊與全接觸PCB相連，即可實現全接觸式檢測。

可見，相比現有技術中切換檢測方式時需要對探針單元進行整體替換的狀況，本實用新型利用同樣的全接觸探針塊，僅僅進行簡單的拆裝即可實現檢測方式的切換，因此也就無需花費大量的時間對設備進行調試，極大地提高了檢測效率，提高了產能。並且，本實用新型中的探針單元能夠實現6D短路棒式和全接觸式兩種檢測，避免了測試同一規格的6D短路棒式顯示面板需要配備6D短路棒和全接觸兩種探針單元的問題，有利於生產成本的降低，同時也避免了全接觸探針單元的稼動率低的問題。

本實用新型的第二方面提供了一種顯示面板的檢測裝置，所述顯示面板的檢測裝置包括如第一方面所述的探針單元。

本實用新型所提供的顯示面板的檢測裝置的有益效果與本實用新型所提供的探針單元的有益效果相同，此處不再贅述。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對於本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其它的附圖。

圖1為現有技術中探針單元的結構示意圖；

圖2為現有技術中探針單元的探針塊的結構示意圖；

圖3為本實用新型實施例所提供的探針單元的分解結構示意圖；

圖4為本實用新型實施例所提供的探針單元用於進行6D短路棒式檢測時的結構示意圖；

圖5為本實用新型實施例所提供的探針單元用於進行全接觸式檢測時的結構示意圖。

附圖標記說明：

100-探針單元； 1-基座；

2-PCB； 2a-6D短路棒PCB；

2b-全接觸PCB； 3-連接件；

4-探針塊； 4b-全接觸探針塊；

41-FPC； 41a-6D短路棒FPC；

41b-全接觸FPC； 42-信號處理部件；

42a-6D短路棒信號處理部件； 42b-驅動晶片；

43-探針； 5-信號轉換部件；

6-轉接板。

具體實施方式

為使本實用新型的上述目的、特徵和優點能夠更加明顯易懂，下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述。顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動的前提下所獲得的所有其它實施例，均屬於本實用新型保護的範圍。

如圖3所示，本實施例提供了一種探針單元，該探針單元包括：6D短路棒PCB 2a、6D短路棒信號處理部件42a、信號轉換部件5、全接觸探針塊4b和全接觸PCB 2b。其中，6D短路棒PCB 2a、6D短路棒信號處理部件42a和信號轉換部件5依次相連。全接觸探針塊4b能夠與信號轉換部件5可拆卸連接，全接觸探針塊4b也能夠與全接觸PCB 2b可拆卸連接。全接觸探針塊4b的具體包括：全接觸FPC 41b、驅動晶片42b和若干探針43，全接觸FPC 41b能夠與信號轉換部件5和全接觸PCB 2b進行可拆卸連接，驅動晶片42b與全接觸FPC 41b連接，探針43與驅動晶片42b連接。

在上述探針單元中，6D短路棒PCB 2a用於生成進行6D短路棒式檢測所需的m個數據檢測信號。當然6D短路棒PCB 2a還能夠生成進行6D短路棒式檢測所需的柵檢測信號及其它輔助信號。

6D短路棒信號處理部件42a用於對6D短路棒PCB 2a所生成的數據檢測信號、柵檢測信號及其它輔助信號進行相應的數據處理操作。

信號轉換部件5用於將m個數據檢測信號的數量轉換為全接觸探針塊4b的驅動晶片42b所需要n個數據檢測信號。由於6D短路棒PCB 2a所生成的m個數據檢測信號相同，因此經信號轉換部件5轉換得到的n個數據檢測信號也相同。

全接觸探針塊4b中的全接觸FPC 41b用於傳輸轉換得到的n個數據檢測信號，當然同時傳輸的還包括柵檢測信號及其它輔助信號；驅動晶片42b用於控制數據檢測信號、柵檢測信號及其它輔助信號的輸入；若干探針43與待測的6D短路棒式顯示面板的各柵線和各數據線一一對應，用於向6D短路棒式顯示面板施加檢測信號，該檢測信號包括柵檢測信號、數據檢測信號及其它輔助信號。

全接觸PCB 2b用於生成進行全接觸式檢測所需的數據檢測信號。當然全接觸PCB 2b還能夠生成進行全接觸式檢測所需的柵檢測信號及其它輔助信號。

當採用上述探針單元對6D短路棒式顯示面板進行檢測時，首先進行6D短路棒式檢測，具體過程為：如圖4所示，將6D短路棒PCB 2b、6D短路棒信號處理部件42a、信號轉換部件5和全接觸探針塊4b依次連接，6D短路棒PCB 2b生成進行6D短路棒式檢測所需的m個數據檢測信號，信號轉換部件5將數據檢測信號的數量由m個轉換為全接觸探針塊4b的驅動晶片42b所需要n個，使得6D短路棒PCB 2b所生成的數據檢測信號數量適配於全接觸探針塊4b，從而全接觸探針塊4b向顯示面板中相短接的數據線輸入相同的數據檢測信號，實現了6D短路棒式檢測。

當發現不良但是無法準確得到不良坐標時，需要對6D短路棒式顯示面板進行全接觸式檢測，具體過程為：如圖5所示，將全接觸探針塊4b從信號轉換部件5上拆卸下來，然後直接將全接觸探針塊4b與全接觸PCB 2b連接，全接觸PCB 2b生成進行全接觸式檢測所需的柵檢測信號、數據檢測信號及其它輔助信號，全接觸探針塊4b將這些檢測信號施加於待測顯示面板上，實現全接觸式檢測。需要說明的是，在進行全接觸式檢測檢測前，需要首先對6D短路棒式顯示面板上用於短接數據線的電路進行切除，以便於後續在進行全接觸式檢測的過程中，可向不同的數據線施加不同的數據檢測信號。

由上述探針單元的結構及應用過程不難發現，相比現有技術中切換檢測方式時需要對探針單元進行整體替換的狀況，本實施例中的探針單元在進行6D短路棒式檢測和全接觸式檢測時共用相同的全接觸探針塊4b，僅僅進行全接觸探針塊4b與其它部件簡單的拆裝即可實現檢測方式的切換，因此也就無需花費大量的時間對設備進行調試，極大地提高了檢測效率，提高了產能。

並且，本實施例中的探針單元能夠實現6D短路棒式和全接觸式兩種檢測，避免了測試同一規格的6D短路棒式顯示面板需要配備6D短路棒和全接觸兩種探針單元的問題，有利於生產成本的降低，同時也避免了全接觸探針單元的稼動率低的問題。此外，6D短路棒式和全接觸式檢測共用探針塊，因此在與現有技術中相同投資的前提下，本實施例的技術方案可增加備件數量。

基於上述探針單元，優選的，如圖3所示，可在6D短路棒PCB 2a與6D短路棒信號處理部件42a之間增設6D短路棒FPC 41a，通過6D短路棒FPC 41a將6D短路棒PCB 2a與6D短路棒信號處理部件42a連接起來。6D短路棒FPC 41a的作用為將6D短路棒PCB 2a所生成的用於進行6D短路棒式檢測的檢測信號傳輸至6D短路棒信號處理部件42a。

請繼續參見圖3，為了簡化探針單元的結構，可設置一轉接板6，將6D短路棒信號處理部件42a和信號轉換部件5均設置於該轉接板6上。其中，6D短路棒信號處理部件42a通過轉接板6實現與6D短路棒FPC 41a的連接，進而實現與6D短路棒PCB 2a的連接；信號轉換部件5通過轉接板6實現與全接觸探針塊4b的可拆卸連接。

對於不同規格的6D短路棒式顯示面板的測試，需要不同的檢測信號，因而需要配備不同的信號轉換部件5。基於上述轉接板的技術方案，為了實現探針單元中其餘部件的共用，優選的可使6D短路棒FPC 41a與轉接板6的連接方式也為可拆卸連接，這樣僅需通過更換轉接板6就能夠實現信號轉換部件5的更換，從而使探針單元適用於多種規格的6D短路棒式顯示面板的測試，進一步節省了成本。

為了使本實施例所提供的技術方案更加清楚易懂，下面結合具體的示例進行說明。

對於一個6D短路棒式顯示面板，假設其包括R、G、B三種像素，對應R像素的數據線為M1條且相短接，對應G像素的數據線為M2條且相短接，對應B像素的數據線均為M3條且相短接，另外該6D短路棒式顯示面板的柵線為P條，則若對該6D短路棒式顯示面板進行6D短路棒式檢測需要3個數據檢測信號(分別為1個R數據檢測信號、1個G數據檢測信號、1個B數據檢測信號)、P個柵檢測信號和N個其它輔助信號，若對該6D短路棒式顯示面板進行全接觸式檢測需要M1+M2+M3個數據檢測信號、P個柵檢測信號和N個其它輔助信號。

當採用本實施例中的探針單元對上述6D短路棒式顯示面板進行6D短路棒式檢測時，將6D短路棒PCB 2b、6D短路棒信號處理部件42a、信號轉換部件5和全接觸探針塊4b依次連接，6D短路棒PCB 2b生成進行6D短路棒式檢測所需的3個數據檢測信號、P個柵檢測信號和N個其它輔助信號，信號轉換部件5將1個R數據檢測信號轉換為M1個R數據檢測信號，將1個G數據檢測信號轉換為M2個G數據檢測信號，將1個B數據檢測信號轉換為M3個B數據檢測信號，使得6D短路棒PCB 2b所生成的數據檢測信號數量適配於全接觸探針塊4b，從而全接觸探針塊4b向相短接的數據線輸入相同的數據檢測信號，同時全接觸探針塊4b向顯示面板輸入P個柵檢測信號和N個其它輔助信號，實現了6D短路棒式檢測。

當採用本實施例中的探針單元對上述6D短路棒式顯示面板進行全接觸式檢測時，將全接觸探針塊4b與全接觸PCB 2b連接，全接觸PCB 2b生成進行全接觸式檢測所需的M1+M2+M3個數據檢測信號、P個柵檢測信號和N個其它輔助信號，全接觸探針塊4b將這些檢測信號施加於待測顯示面板上，實現全接觸式檢測。

當採用本實施例中的探針單元對不同規格的6D短路棒式顯示面板進行檢測時，例如，對於包括R、G、B三種像素的顯示面板和包括W、R、G、B四種像素的顯示面板，假設包括R、G、B三種像素的顯示面板中對應R/G/B像素的數據線各自短接，包括W、R、G、B四種像素的顯示面板中對應W/R/G/B像素的數據線各自短接，由於兩種顯示面板的規格不同，因此現有的一種6D短路棒探針單元不能同時滿足這兩種顯示面板的測試需要。採用本實施例中的探針單元，可直接將轉接板進行更換，以更換適用於上述某種規格的顯示面板的信號轉換部件42，即可實現對對應規格的顯示面板的檢測。

通常情況下，待測顯示面板所需要的全接觸探針塊4b的數量為多個，因此在本實施例中，6D短路棒FPC 41a、6D短路棒信號處理部件42a及信號轉換部件5的數量也應為多個，均與全接觸探針塊4b的數量相等，且6D短路棒FPC 41a、6D短路棒信號處理部件42a、信號轉換部件5及全接觸探針塊4b一一對應。

本實施例中，可在探針單元中增設第一基板，將6D短路棒PCB 2a固定安裝於該第一基板上。還可在探針單元中增設第二基板，將全接觸PCB 2b固定安裝於該第二基板上。

本實施例還提供了一種顯示面板的檢測裝置，該顯示面板的檢測裝置包括如上所述的探針單元。該顯示面板的檢測裝置能夠產生與上述探針單元相同的有益效果，具體可參見本實施例中對上述探針單元的描述，此處不再贅述。

以上所述僅為本實用新型的具體實施方式，但本實用新型的保護範圍並不局限於此，任何熟悉本技術領域的技術人員在本實用新型揭露的技術範圍內，可輕易想到的變化或替換，都應涵蓋在本實用新型的保護範圍之內。因此，本實用新型的保護範圍應以所述權利要求的保護範圍為準。