雷射器指向穩定性測試系統的製作方法
2023-05-12 13:37:56 1
雷射器指向穩定性測試系統的製作方法
【專利摘要】本實用新型揭示了一種雷射器指向穩定性測試系統，包括一高低溫循環爐，所述高低溫循環爐內固定設有一測試平臺座，所述測試平臺座上依次設有位於同一光路上的一待測雷射器，一衰減片，一聚焦透鏡和一光斑位置探測器，所述高低溫循環爐外設置有分別與所述光斑位置探測器電連接的一光斑位置探測器驅動裝置和一計算機，以及一與所述待測雷射器電連接的雷射器驅動裝置。本實用新型提供了一種雷射器指向穩定性測試系統，通過該系統可以精確測試在高低溫循環、恆溫等環境下雷射器光斑指向穩定性，有效監測雷射器指向穩定性數據，從而保證了雷射器的光束質量，結構簡單，測試準確，操作方便。
【專利說明】雷射器指向穩定性測試系統
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及半導體雷射器領域，尤其涉及一種雷射器指向穩定性測試系統。【背景技術】
[0002]近年來，隨著光電子技術的發展，半導體雷射器得到了越來越廣泛的應用，其具有光電轉換效率高、覆蓋波長範圍廣、使用壽命長、體積小、重量輕、價格便宜等特點。在醫療衛生等應用領域，雷射器的指向穩定性尤為重要。但是由於溫度變化、平臺震動、雷射器指向漂移等原因，光束方向會發生改變，產生光束抖動、光束漂移，導致較大指向誤差的產生。不同波長、不同雷射源的雷射光束指向誤差是否可以忽略，或雷射光束指向是否需要進行準直以滿足使用需要，還需要依靠精確的測量做出決定。因此，需要研製測量精度高、結構簡單、穩定可靠的光束指向性測試系統。
實用新型內容
[0003]鑑於上述現有技術存在的缺陷，本實用新型的目的是提出一種雷射器指向穩定性測試系統。
[0004]本實用新型的目的將通過以下技術方案得以實現:
[0005]一種雷射器指向穩定性測試系統，包括一高低溫循環爐，所述高低溫循環爐內固定設有一測試平臺座，所述測試平臺座上依次設有位於同一光路上的一待測雷射器，一衰減片，一聚焦透鏡和一光斑位置探測器，所述高低溫循環爐外設置有分別與所述光斑位置探測器電連接的一光斑位置探測器驅動裝置和一計算機，以及一與所述待測雷射器電連接的雷射器驅動裝置。
[0006]優選的，上述的雷射器指向穩定性測試系統，其中:所述測試平臺座通過螺栓固定於高低溫循環爐內。
[0007]優選的，上述的雷射器指向穩定性測試系統，其中:所述測試平臺座上設有一熱沉座，一雷射器熱沉通過螺釘可調節地固定於所述熱沉座上，所述待測雷射器通過螺釘可調節地固定於所述雷射器熱沉上。
[0008]優選的，上述的雷射器指向穩定性測試系統，其中:所述待測雷射器為光纖雷射器、多色雷射器或者自由空間雷射器中的任意一種。
[0009]優選的，上述的雷射器指向穩定性測試系統，其中:所述衰減片固定設置在一衰減片座上，所述衰減片座通過螺釘可調節地固定於所述測試平臺座上。
[0010]優選的，上述的雷射器指向穩定性測試系統，其中:所述聚焦透鏡固定設置在一聚焦透鏡座上，所述聚焦透鏡座通過螺釘可調節地固定於所述測試平臺座上。
[0011]優選的，上述的雷射器指向穩定性測試系統，其中:所述光斑位置探測器固定設置在一光斑位置探測器座上，所述光斑位置探測器座通過螺釘可調節地固定於所述測試平臺座上。
[0012]本實用新型的突出效果為:本實用新型提供了一種雷射器指向穩定性測試系統，通過該系統可以精確測試在高低溫循環、恆溫等環境下雷射器光斑指向穩定性，有效監測雷射器指向穩定性數據，從而保證了雷射器的光束質量，結構簡單，測試準確，操作方便。
[0013]以下便結合實施例附圖，對本實用新型的【具體實施方式】作進一步的詳述，以使本實用新型技術方案更易於理解、掌握。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0014]圖1是本實用新型實施例的高低溫循環爐外部結構示意圖；
[0015]圖2是本實用新型實施例的高低溫循環爐內部結構示意圖；
[0016]圖3是本實用新型實施例的測試結果圖。
【具體實施方式】
[0017]實施例:
[0018]本實施例的一種雷射器指向穩定性測試系統，如圖f圖2所示，包括高低溫循環爐1，高低溫循環爐I內固定設有測試平臺座2，測試平臺座2上依次設有位於同一光路上的待測雷射器3，衰減片4，聚焦透鏡5和光斑位置探測器6，高低溫循環爐I外設置有分別與光斑位置探測器6電連接的光斑位置探測器驅動裝置7和計算機8，以及與待測雷射器3電連接的雷射器驅動裝置9。計算機8內置有光斑位置探測器6所對應的軟體。測試平臺座2通過螺栓固定於高低溫循環爐I內。測試平臺座2上設有熱沉座10，雷射器熱沉11通過螺釘可調節地固定於41熱沉座10上，待測雷射器3通過螺釘可調節地固定於雷射器熱沉11上。待測雷射器3可以為光纖雷射器、多色雷射器或者自由空間雷射器中的任意一種。衰減片4通過藍膠點膠固定設置在衰減片座41上，衰減片座41通過螺釘可調節地固定於測試平臺座2上。聚焦透鏡5通過藍膠點膠固定設置在聚焦透鏡座51上，聚焦透鏡座51通過螺釘可調節地固定於測試平臺座2上。光斑位置探測器6通過螺釘固定設置在光斑位置探測器座61上，光斑位置探測器座61通過螺釘可調節地固定於測試平臺座2上。
[0019]應用本實施例時，打開計算機8中的光斑位置探測器測試軟體，調整衰減片座41、聚焦透鏡座51和光斑位置探測器座61的X、Y、Z方向，至合適位置後固定，以使光斑Χ、Υ與軟體上讀數趨近於O μ m。調整完畢後，在光斑位置探測器測試軟體中設定測試時間、參數等進行長時間測試，測試結果，如圖3所示。待測試完畢後，分析測試結果，定量分析待測雷射器3在不同溫度下指向穩定性等參數。
[0020]本實施例的一種雷射器指向穩定性測試系統，通過該系統可以精確測試在高低溫循環、恆溫等環境下雷射器光斑指向穩定性，有效監測雷射器指向穩定性數據，從而保證了雷射器的光束質量，結構簡單，測試準確，操作方便。
[0021]本實用新型尚有多種實施方式，凡採用等同變換或者等效變換而形成的所有技術方案，均落在本實用新型的保護範圍之內。
【權利要求】
1.一種雷射器指向穩定性測試系統，其特徵在於:包括一高低溫循環爐，所述高低溫循環爐內固定設有一測試平臺座，所述測試平臺座上依次設有位於同一光路上的一待測雷射器，一衰減片，一聚焦透鏡和一光斑位置探測器，所述高低溫循環爐外設置有分別與所述光斑位置探測器電連接的一光斑位置探測器驅動裝置和一計算機，以及一與所述待測雷射器電連接的雷射器驅動裝置。
2.根據權利要求1所述的雷射器指向穩定性測試系統，其特徵在於:所述測試平臺座通過螺栓固定於高低溫循環爐內。
3.根據權利要求1所述的雷射器指向穩定性測試系統，其特徵在於:所述測試平臺座上設有一熱沉座，一雷射器熱沉通過螺釘可調節地固定於所述熱沉座上，所述待測雷射器通過螺釘可調節地固定於所述雷射器熱沉上。
4.根據權利要求1所述的雷射器指向穩定性測試系統，其特徵在於:所述待測雷射器為光纖雷射器、多色雷射器或者自由空間雷射器中的任意一種。
5.根據權利要求1所述的雷射器指向穩定性測試系統，其特徵在於:所述衰減片固定設置在一衰減片座上，所述衰減片座通過螺釘可調節地固定於所述測試平臺座上。
6.根據權利要求1所述的雷射器指向穩定性測試系統，其特徵在於:所述聚焦透鏡固定設置在一聚焦透鏡座上，所述聚焦透鏡座通過螺釘可調節地固定於所述測試平臺座上。
7.根據權利要求1所述的雷射器指向穩定性測試系統，其特徵在於:所述光斑位置探測器固定設置在一光斑位置探測器座上，所述光斑位置探測器座通過螺釘可調節地固定於所述測試平臺座上。
【文檔編號】G01M11/02GK203688198SQ201420018034
【公開日】2014年7月2日 申請日期:2014年1月13日 優先權日:2014年1月13日
【發明者】倪秀付, 季朝華, 方慧 申請人:維林光電(蘇州)有限公司