一種二極體測試座的製作方法
2023-05-15 11:45:51 1
專利名稱：一種二極體測試座的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及二極體測試技術領域，特別是指一種二極體測試座。
背景技術：
現有的二極體測試裝置是直接將二極體與測試裝置接觸後，再進行測試，在這種方法中二極體與測試裝置接觸不牢固，很容易產生誤差，使得測試數據不準確，因此需要重複測試，嚴重影響工作效率。
實用新型內容本實用新型提出一種二極體測試座，解決了現有技術中二極體測試數據試數據不 準確的問題。本實用新型的技術方案是這樣實現的一種二極體測試座，包括用於測試二極體的定電極，所述定電極為成對使用；與所述定電極連接，用於固定所述定電極的底座；設置在所述底座上，用於啟動的觸發開關；與所述底座連接，用於與所述定電極配合使用、夾緊被檢測二極體的夾緊電極，所述夾緊電極成對使用。進一步，還包括設置在所述定電極與所述底座之間用於安裝所述定電極的底座板。 進一步，所述定電極與所述夾緊電極相對設置。進一步，所述定電極與所述夾緊電極夾緊構成V字型。進一步，兩個所述定電極之間的距離大於被測二極體的距離。進一步，兩個所述夾緊電極之間的距離大於被測二極體的距離。本實用新型技術方案通過一對所述定電極和一對所述夾緊電極的設計，通過所述定電極和所述夾緊電極一起把被檢測的二極體夾緊，使被測二極體的引線與所述定電極和所述夾緊電極緊密接觸，從而提高了二極體測試數據的精度，提高了測試速度；又因為所述定電極與所述夾緊電極組合構成V字型，使得被測二極體放入和取出都變得很方便，提高工作效率。
為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對於本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖I為本實用新型一種二極體測試座一個實施例的結構示意圖；[0018]圖2為本實用新型一種二極體測試座另一個實施例的結構示意圖；圖3為本實用新型一種二極體測試座側視圖的結構示意圖。
具體實施方式
下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本實用新型保護的範圍。如圖I所述，一種二極體測試座，包括用於測試二極體的定電極I，所述定電極I為成對使用；與所述定電極I連接，用於固定所述定電極I的底座3 ； 設置在所述底座3上，用於啟動的觸發開關4 ；與所述底座3連接，用於與所述定電極I配合使用、夾緊被檢測二極體的夾緊電極2，所述夾緊電極2成對使用。所述底座3上設置有用於啟動的所述觸發開關4，通過所述觸發開關4使電路接通；在所述底座3上安裝有用於測試二極體的定電極I和與所述定電極I配合使用、夾緊被檢測二極體的夾緊電極2，當要檢測二極體時，將被檢測的二級管放入到所述定電極I和所述夾緊電極2之間，通過所述夾緊電極2將二極體的引線與所述定電極I和所述夾緊電極2緊密接觸，按動所述觸發開關4對二極體進行檢查。進一步，還包括設置在所述定電極I與所述底座3之間用於安裝所述定電極I的底座板5。進一步，所述定電極I與所述夾緊電極2相對設置。進一步，所述定電極I與所述夾緊電極2夾緊構成V字型。進一步，兩個所述定電極I之間的距離大於被測二極體的距離。進一步，兩個所述夾緊電極2之間的距離大於被測二極體的距離。所述底座板5安裝在所述底座3上，所述定電極I和所述夾緊電極2都安裝在所述底座板5上；所述定電極I與所述夾緊電極2相對設置，且所述定電極I與所述夾緊電極2組合後構成V字型，這樣方便被測二極體的放入和取出，縮短工作時間，提高了工作效率；兩個所述定電極I之間的距離大於被測二極體的距離；兩個所述夾緊電極2之間的距離也大於被測二極體的距離；當要檢測二極體時，將被檢測的二級管放入到所述定電極I和所述夾緊電極2之間，通過所述夾緊電極2將二極體的引線與所述定電極I和所述夾緊電極2緊密接觸，按動所述觸發開關4對二極體進行檢查。以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，並不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的保護範圍之內。
權利要求1.一種二極體測試座，其特徵在於，包括 用於測試二極體的定電極，所述定電極為成對使用； 與所述定電極連接，用於固定所述定電極的底座； 設置在所述底座上，用於啟動的觸發開關； 與所述底座連接，用於與所述定電極配合使用、夾緊被檢測二極體的夾緊電極，所述夾緊電極成對使用。
2.如權利要求I所述二極體夾持式測試座，其特徵在於，還包括設置在所述定電極與所述底座之間用於安裝所述定電極的底座板。
3.如權利要求I或2所述二極體夾持式測試座，其特徵在於，所述定電極與所述夾緊電極相對設置。
4.如權利要求3所述二極體夾持式測試座，其特徵在於，所述定電極與所述夾緊電極夾緊構成V子型。
5.如權利要求4所述二極體夾持式測試座，其特徵在於，兩個所述定電極之間的距離大於被測二極體的距離。
6.如權利要求5所述二極體夾持式測試座，其特徵在於，兩個所述夾緊電極之間的距離大於被測二極體的距離。
專利摘要本實用新型提出了一種二極體測試座，包括用於測試二極體的定電極，所述定電極為成對使用；與所述定電極連接，用於固定所述定電極的底座；設置在所述底座上，用於啟動的觸發開關；與所述底座連接，用於與所述定電極配合使用、夾緊被檢測二極體的夾緊電極，所述夾緊電極成對使用。實用新型所述二極體測試座，在提高二極體測試數據的精度、測試速度的同時，又使得被測二極體放入和取出都變得很方便，提高工作效率。
文檔編號G01R1/04GK202599984SQ20122012828
公開日2012年12月12日 申請日期2012年3月30日 優先權日2012年3月30日
發明者朱新華, 宋西資 申請人:高密星合電子有限公司