可根據待測物阻抗調整操作頻寬的負載裝置與調整方法
2023-05-22 02:35:21 3
專利名稱：可根據待測物阻抗調整操作頻寬的負載裝置與調整方法
技術領域：
本發明是關於一種負載裝置，特別是指一種預先測出所述的待測物的一 輸出阻抗值，再比對相對應的經驗值，而得到符合測試待測物的操作頻寬的 可根據待測物阻抗調整操作頻寬的負載裝置與調整方法。
背景技術：
一般電子產品於開發階段時，皆需要對其作測試，使用者往往利用實際 或模擬的電子負載來測試待測物，開發時若可以使用爾後將應用的待測物來 作測試最符合實際需求，但這樣的方式將使測試過程中充滿限制， 一旦要開 發一種電子產品，則須取得所述的電子產品待測物以供測試，相當不切實際， 因此， 一般電子產品的開發者會利用電阻、電感、電容等被動元件來模擬負 載電路以模擬待測物的特性，但這樣的作法若要變換負載大小，就得做電阻、 電感、電容的大小變化，可是實際元件的體積大且不易調整，無法確切地模 擬出真實情況。
因此，爾後發展出電子負載來模擬真實的負載情況，以純被動元件(電阻、 電感、電容)為例，其頻寬無窮大，反應速度快，因此當做負載時會隨著輸入
電壓變化反應在拉載電流上，相當穩定；但電子負載為模擬式負載，反應本 並無法與純被動元件相比，對電子負載而言，待測物的輸出阻抗會影響系統 可操作頻寬，而電子負載往往採取固定的頻寬設計，使用者若在不熟悉待測 物輸出情形下進行大電流(功率)操作，將會導致整個系統動作不正常，更甚者 會讓待測物或負載因振蕩而燒毀，因電子產品的輸出阻抗不一，所以固定頻 寬的電子負載設計並無法應付五花八門的電子產品輸出特性，因此使電子負 載使用領域受到嚴重限制。因此本發明提出可變頻寬機制，利用測量待測物輸出阻抗技術取得待測 物阻抗，以的對照已先建好阻抗頻寬表，取得合適的頻寬信息，並藉以設定 最適合系統操作的負載頻寬，期藉由本案的提出，改善現行技術的缺失，以 對相關設計製造業者有所裨益。
發明內容
本發明的一目的在於提供一種可根據待測物阻抗調整操作頻寬的負載裝 置與調整方法，利用所測得的待測物的阻抗來調整負載裝置的操作頻寬，進 而達到符合測試要求的目標，也避免因阻抗頻寬不匹配所導致的嚴重後果。
本發明的一種可根據待測物阻抗調整操作頻寬的負載裝置，包括一中央 處理單元，具有一阻抗頻寬對照表； 一電子負載模塊，所述的電子負載模塊
包括 一控制模塊，包括一頻寬調整模塊；及一功率模塊；由所述的中央處 理單元輸出一拉載信號，再由所述的控制模塊要求所述的功率模塊對一待測 物進行拉載的動作，以自所述的待測物拉載出一電流，待測物於是輸出一定 量的電流，中央處理單元量取此時待測物的電壓與電流，並利用所述的電流 以及所述的電壓分析得出待測物的一輸出阻抗值，再依所述的輸出阻抗值對 照所述的阻抗頻寬對照表，即可取得對應的一操作頻寬，再利用所述的頻寬 調整模塊將頻寬設定為所述的操作頻寬。
本發明的一種可根據待測物阻抗調整操作頻寬的方法，包括(a)開始；(b) 由一中央處理單元輸出一拉載信號；(c)由一控制模塊要求一功率模塊對一待 測物進行拉載的動作，以自所述的待測物拉載出一電流；(d)待測物輸出一定 量'的電流；(e)所述的中央處理單元量取此時待測物的電壓及電流；(f)中央處 理單元利用所述的電流以及所述的電壓分析得出待測物的一輸出阻抗值；(g) 依所述的輸出阻抗值對照所述的阻抗頻寬對照表，'即取得對應的一操作頻寬； (h)所述的頻寬調整模塊將頻寬設定為所述的操作頻寬；及(i)結束。
關於本發明所述的可根據待測物阻抗調整操作頻寬的負載裝置與調整方法，可以藉由以下發明詳述及附圖，得到進一步的了解。
圖1為本發明的可根據待測物阻抗調整操作頻寬的負載裝置的示意圖； 圖2為本發明的可根據待測物阻抗調整操作頻寬的方法的流程圖；及 圖3為本發明的可根據待測物阻抗調整操作頻寬的負載裝置的線路示意圖。
附圖標號
110負載裝置
120待測物
130中央處理單元
130，拉載信號
131阻抗頻寬對照表
140電子負載模塊
141控制模塊
142功率模塊
143頻寬調整模塊
(S1廣(S9)各個步驟編號
具體實施例方式
市面上的交流產品其輸出特性皆不相同，且無法以一蓋之，據了解其輸 出阻抗以電感性居多，且感量分布皆不相等，在不同範圍裡進行主動式電子 負載操作，其所對應的頻寬當然各不相同，因此針對這樣的待測物特性須先 行建表了解輸出阻抗與操作頻寬的關係，然後利用待測物輸出阻抗測量技術 取得當時的待測物輸出阻抗，依據此數據對照之前所建的阻抗頻寬對照表後， 得以設定電子負載的操作頻寬為對照所得的頻寬，如此一來即可避免因阻抗不穩定的情形發生，有關本發明的設計將予以 下詳細敘述。
請參閱圖1與圖3，為本發明的可根據待測物阻抗調整操作頻寬的負載裝 置的示意圖與線路示意圖，所述的負載裝置110包括一中央處理單元130，具
有一阻抗頻寬對照表131; —電子負載模塊140，包括 一控制模塊141，包 括一頻寬調整模塊143;及一功率模塊142;由所述的中央處理單元130輸出 一拉載信號130，，再由所述的控制模塊141要求所述的功率模塊142對一待 測物120進行拉載的動作，以自所述的待測物120拉載出一電流，待測物120 於是輸出一定量的電流，中央處理單元130量取此時待測物120的電壓與電 流，並利用所述的電流以及所述的電壓分析得出待測物120的一輸出阻抗值， 再依所述的輸出阻抗值對照所述的阻抗頻寬對照表131，即可取得對應的一操 作頻寬，再利用所述的頻寬調整模塊143將頻寬設定為所述的操作頻寬。因 此，可避免在不熟悉待測物120輸出情形下，進行大電流(大功率)操作時導致 整個系統動作不正常的狀況。
其中，待測物120可以為直流待測物或交流待測物。
請參閱圖2，為本發明的可根據待測物阻抗調整操作頻寬的方法的流程 圖，包括以下步驟 步驟S1:開始；
步驟S2:由一中央處理單元輸出一拉載信號；
步驟S3:由一控制模塊要求一功率模塊對一待測物進行拉載的動作，以 自所述的待測物拉載出一電流；
步驟S4:待測物輸出一定量的電流；
步驟S5:所述的中央處理單元量取此時待測物的電壓及電流； 步驟S6:中央處理單元利用所述的電流以及所述的電壓分析得出待測物 的一輸出阻抗值；
步驟S7:依所述的輸出阻抗值對照所述的阻抗頻寬對照表，即取得對應的一操作頻寬；
步驟S8:所述的頻寬調整模塊將頻寬設定為所述的操作頻寬；及 步驟S9:結束。
其中，待測物可以為直流待測物或交流待測物。
綜上所述，本發明利用中央處理單元操作電子負載模塊，以進行待測物 阻抗的測量，而後根據所測得的阻抗值去對照中央處理單元內建的阻抗頻寬 對照表，以選擇合適的系統操作頻寬，再進行負載裝置的頻寬設定，完成後 才開始正常的操作，如此則可避免因待測物的阻抗頻寬不匹配所導致的嚴重 後果。
本發明雖以較佳實例闡明如上，然其並非用以限定本發明的精神與發明 實體僅止於上述實施例。因此，在不脫離本發明的精神與範圍內所作的修改， 均應包括在權利要求範圍內。
權利要求
1. 一種可根據待測物阻抗調整操作頻寬的負載裝置，其特徵在於，所述的可根據待測物阻抗調整操作頻寬的負載裝置可對待測物進行測試，包括一中央處理單元，具有一阻抗頻寬對照表；一電子負載模塊，包括一控制模塊，包括一頻寬調整模塊；及一功率模塊；由所述的中央處理單元輸出一拉載信號，再由所述的控制模塊要求所述的功率模塊對一待測物進行拉載的動作，以自所述的待測物拉載出一電流，待測物將輸出一定量的電流，中央處理單元量取此時待測物的電壓與電流，並利用所述的電流以及所述的電壓分析得出待測物的一輸出阻抗值，依所述的輸出阻抗值對照所述的阻抗頻寬對照表，即可取得對應的一操作頻寬，再利用所述的頻寬調整模塊將頻寬設定為所述的操作頻寬。
2. 如權利要求1所述的可根據待測物阻抗調整操作頻寬的負載裝置，其 特徵在於，其中，所述的待測物可為下列任一種直流待測物與交流待測物。
3. —種可根據待測物阻抗調整操作頻寬的方法，其特徵在於，所述的可 根據待測物阻抗調整操作頻寬的方法包括(a) 開始；(b) 由一中央處理單元輸出一拉載信號；(C)由一控制模塊要求一功率模塊對一待測物進行拉載的動作，以自所述 的待測物拉載出一電流；(d) 待測物輸出一定量的電流；(e) 所述的中央處理單元量取此時待測物的電壓及電流；(f) 中央處理單元利用所述的電流以及所述的電壓分析得出待測物的一 輸出阻抗值；(g) 依所述的輸出阻抗值對照所述的阻抗頻寬對照表，即取得對應的一操作頻寬；(h) 所述的頻寬調整模塊將頻寬設定為所述的操作頻寬；及(i) 結束。
4.如權利要求3所述的可根據待測物阻抗調整操作頻寬的方法，其特徵在於，其中，所述的待測物可為下列任一種直流待測物與交流待測物。
全文摘要
本發明是一種可根據待測物阻抗調整操作頻寬的負載裝置與調整方法，所述的可根據待測物阻抗調整操作頻寬的負載裝置，包括一中央處理單元，具有一阻抗頻寬對照表；一電子負載模塊，包括一控制模塊，包括一頻寬調整模塊；及一功率模塊；由所述的中央處理單元輸出一拉載信號，再由所述的控制模塊要求所述的功率模塊對一待測物進行拉載的動作，以自所述的待測物拉載出一電流，待測物於是輸出一定量的電流，中央處理單元量取此時待測物的電壓與電流，並利用所述的電流以及所述的電壓分析得出待測物的一輸出阻抗值，再依所述的輸出阻抗值對照所述的阻抗頻寬對照表，即可取得對應的一操作頻寬，再利用所述的頻寬調整模塊將頻寬設定為所述的操作頻寬。
文檔編號G01R27/08GK101498753SQ20081000942
公開日2009年8月5日 申請日期2008年2月1日 優先權日2008年2月1日
發明者劉國成, 鄒明穎, 陳文鍾, 高宏祥 申請人:中茂電子(深圳)有限公司