增加模擬/數字轉換晶片合格率的方法及其產品的製作方法

2023-05-18 00:21:56

專利名稱：增加模擬/數字轉換晶片合格率的方法及其產品的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種增加集成電路晶片合格率的方法及其產品，特別涉及一種增加模擬/數字轉換晶片合格率的方法及其模擬/數字轉換晶片。
之後，便以此特徵曲線作為規格去測量其他ADC晶片的好壞，但是在批量生產時，因為製作過程因素會造成ADC晶片特徵曲線有所差異如圖2所繪示，在圖2的b直線為當初所訂定的規格，若以b直線為測量基準時，則具有a直線特性的ADC晶片或c直線特性的ADC晶片在測量的過程中就會是失敗產品，結果將導致ADC晶片的產出合格率不佳。
本發明的目的是這樣實現的本發明提供一種增加模擬/數字轉換晶片合格率的方法是用來增加模擬/數字轉換晶片的合格率，其方法具有下列步驟首先提供規格曲線以及提供模擬/數字轉換晶片的特徵曲線，再依據規格曲線以及特徵曲線作對應後，產生調整模式，最後根據調整模式，將模擬/數字轉換晶片的特徵曲線值，轉換成該規格曲線上所對應的值，達到調整模擬/數字轉換晶片的特徵曲線的結果。
具體地講，本發明提供一種增加模擬/數字轉換晶片合格率的方法，用於增加一模擬/數字轉換晶片的合格率，它包括下列步驟提供一規格曲線；提供該模擬/數字轉換晶片的一特徵曲線；依據該規格曲線以及該特徵曲線作對應後，產生一調整模式；以及根據該調整模式，調整該模擬/數字轉換晶片的該特徵曲線。
所述的提供該模擬/數字轉換晶片的該特徵曲線還包括下列步驟提供一第一輸入電壓及一第二輸入電壓；根據該第一輸入電壓以及該第二輸入電壓輸入至該模擬/數字轉換晶片，使得該模擬/數字轉換晶片產生一第一輸出電壓以及一第二輸出電壓；令該第一輸入電壓、該第二輸入電壓、該第一輸出電壓以及該第二輸出電壓帶入一直線方程式S＝(y2-y1)/(x2-x1)求得一斜率值，其中S為該斜率值、y2為該第二輸出電壓、y1為該第一輸出電壓、x2為該第二輸入電壓以及x1為該第一輸入電壓，根據一測量輸入電壓輸入至該模擬/數字轉換晶片，使得該模擬/數字轉換晶片產生一測量輸出電壓；根據該測量輸入電壓帶入該直線方程式，求得一預測輸出電壓；根據該測量輸出電壓減去該預測輸出電壓以及該預測輸出電壓減去該測量輸出電壓二者擇一，求得一誤差值；以及當該誤差值小於一允許值時，取得該模擬/數字轉換晶片的該特徵曲線。
所述的調整模式是將該模擬/數字轉換晶片的該特徵曲線的值，轉換成該規格曲線上所對應的值。
本發明還提供利用上述方法得到的產品，即一種模擬/數字轉換晶片，此晶片具有模擬數字轉換裝置，以及調整裝置。模擬數字轉換裝置可接收模擬輸入信號，並依據此模擬數字轉換裝置的模擬-數字轉換特徵曲線將此模擬輸入信號轉換為一個數字輸出信號。當調整裝置接收此數字輸出信號時，就可依據內建的調整模式，將此數字輸出信號轉換成符合規格曲線的一個調整後輸出信號。
具體地講，本發明提供一種模擬/數字轉換晶片，具有與所定的一規格曲線相異的一模擬/數字轉換特徵曲線，該模擬/數字轉換晶片包括一模擬數字轉換裝置，用於將一模擬輸入信號根據該模擬/數字轉換特徵曲線轉換為一數字輸出信號；以及一調整裝置，接收該數字輸出信號，並依據一調整模式將該數字輸出信號轉換為符合該規格曲線的一調整後輸出信號。
所述的調整模式是將該數字輸出信號，轉換成該模擬輸入信號於該規格曲線上所對應的一數字輸出值，並以該數字輸出值為該調整後輸出信號。
所述的調整裝置是將該調整模式以硬體電路實現。
所述的調整裝置是將該調整模式以軟體實現。
利用本發明的所提供的方法及晶片，使用同一個模擬/數字轉換晶片去做合格率測試，用本身去測量本身的合格率，不必只受限規格上的限制，再利用調整模式將模擬/數字轉換晶片的特徵曲線調整到規格曲線，以提高合格率。
為讓本發明的上述和其他目的、特徵、和優點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，並配合附圖，作詳細說明如下。


圖1是現有的ADC晶片的特徵曲線圖；圖2是現有的三種ADC晶片的特徵曲線圖；圖3是本發明的一較佳實施例的增加模擬/數字轉換晶片合格率的方法的流程圖；圖4是本發明的一較佳實施例的取得ADC晶片的特徵曲線的流程圖；圖5是本發明的一較佳實施例的ADC晶片特徵曲線圖；以及圖6是本發明的一較佳實施例的ADC晶片。
例如此ADC晶片輸入電壓X1＝3V時對應的輸出電壓Y1＝6V，且所對應的規格曲線SPC X1＝3V時，對應的輸出電壓Y3＝1V，因此這個調整模式為每當此ADC晶片所輸出的電壓都向下調整5V，這樣此ADC晶片就會符合規格曲線。
本實施例提供一種取得ADC晶片的特徵曲線的方法，其方法如下請合併參考圖4與圖5，其中，圖4是本發明的一較佳實施例的取得ADC晶片的特徵曲線的流程圖，而圖5則是本發明的一較佳實施例的ADC晶片特徵曲線圖。首先執行步驟40，將二個輸入電壓(如圖5x1以及x2)輸入到要測量的模擬/數字轉換晶片，模擬/數字轉換晶片就會輸出二個輸出電壓(如圖5y1以及y2)。
當得到輸入電壓x1、輸入電壓x2、輸出電壓y1以及輸出電壓y2之間的關係時，便執行步驟42，令輸入電壓x1、輸入電壓x2、輸出電壓y1以及輸出電壓y2帶入直線方程式LS＝(y2-y1)/(x2-x1)求到斜率值S。
當得到要測量的ADC晶片的直線方程式後，再去執行步驟44，將測量輸入電壓輸入到ADC晶片，使得ADC晶片產生測量輸出電壓。將測量輸入電壓帶入直線方程式L，例如把測量輸入電壓當成x1，且將已知的斜率值S、輸入電壓x2以及輸出電壓y2同時帶入直線方程式L中，求得y1就是預測輸出電壓，其中在此原則下，可使用其他方法利用直線方程式L求得預測輸出電壓。最後將測量輸出電壓減去預測輸出電壓或預測輸出電壓減去測量輸出電壓，然後取絕對值求得誤差值。
取得誤差值後，執行步驟46判斷誤差值是否小於允許值，當誤差值小於允許值時，執行步驟48取得此ADC晶片的特徵曲線如圖5L，其中允許值表示所能容忍的誤差範圍值。
請參考圖6，是根據本發明的一較佳實施例的ADC晶片。此ADC晶片具有ADC裝置60及調整裝置62，且ADC裝置60耦接至調整裝置62。當模擬數字轉換裝置60接收到模擬輸入信號後，依據模擬數字轉換裝置60的模擬-數字轉換特徵曲線將模擬輸入信號轉換為數字輸出信號再傳送數字輸出信號到調整裝置62。當調整裝置62接收數字輸出信號時，就可依據內建的調整模式，將數字輸出信號轉換成模擬輸入信號於規格曲線上所對應的數字輸出值，並將數字輸出值當作調整後輸出信號。其中調整裝置62可以用硬體電路或軟體來實現。
由以上所述，本發明將部分不符合規格曲線，但其誤差仍在特徵曲線的可接受範圍內的ADC晶片，如具有a直線特性的ADC晶片或c直線特性的ADC晶片，利用調整裝置，將ADC晶片的特徵曲線轉換成規格的曲線，以提高合格率。
雖然本發明已以一較佳實施例公開如上，然其並非用於限定本發明，本領域技術人員，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作各種的更動與潤飾，因此本發明的保護範圍以權利要求為準。
權利要求
1.一種增加模擬/數字轉換晶片合格率的方法，用於增加一模擬/數字轉換晶片的合格率，其特徵在於，它包括下列步驟提供一規格曲線；提供該模擬/數字轉換晶片的一特徵曲線；依據該規格曲線以及該特徵曲線作對應後，產生一調整模式；以及根據該調整模式，調整該模擬/數字轉換晶片的該特徵曲線。
2.如權利要求1所述的增加模擬/數字轉換晶片合格率的方法，其特徵在於所述的提供該模擬/數字轉換晶片的該特徵曲線還包括下列步驟提供一第一輸入電壓及一第二輸入電壓；根據該第一輸入電壓以及該第二輸入電壓輸入至該模擬/數字轉換晶片，使得該模擬/數字轉換晶片產生一第一輸出電壓以及一第二輸出電壓；令該第一輸入電壓、該第二輸入電壓、該第一輸出電壓以及該第二輸出電壓帶入一直線方程式S＝(y2-y1)/(x2-x1)求得一斜率值，其中S為該斜率值、y2為該第二輸出電壓、y1為該第一輸出電壓、x2為該第二輸入電壓以及x1為該第一輸入電壓，根據一測量輸入電壓輸入至該模擬/數字轉換晶片，使得該模擬/數字轉換晶片產生一測量輸出電壓；根據該測量輸入電壓帶入該直線方程式，求得一預測輸出電壓；根據該測量輸出電壓減去該預測輸出電壓以及該預測輸出電壓減去該測量輸出電壓二者擇一，求得一誤差值；以及當該誤差值小於一允許值時，取得該模擬/數字轉換晶片的該特徵曲線。
3.如權利要求1所述的增加模擬/數字轉換晶片合格率的方法，其特徵在於所述的調整模式是將該模擬/數字轉換晶片的該特徵曲線的值，轉換成該規格曲線上所對應的值。
4.一種模擬/數字轉換晶片，具有與所定的一規格曲線相異的一模擬/數字轉換特徵曲線，其特徵在於，該模擬/數字轉換晶片包括一模擬數字轉換裝置，用於將一模擬輸入信號根據該模擬/數字轉換特徵曲線轉換為一數字輸出信號；以及一調整裝置，接收該數字輸出信號，並依據一調整模式將該數字輸出信號轉換為符合該規格曲線的一調整後輸出信號。
5.如權利要求4所述的模擬/數字轉換晶片，其特徵在於所述的調整模式是將該數字輸出信號，轉換成該模擬輸入信號於該規格曲線上所對應的一數字輸出值，並以該數字輸出值為該調整後輸出信號。
6.如權利要求4所述的模擬/數字轉換晶片，其特徵在於所述的調整裝置是將該調整模式以硬體電路實現。
7.如權利要求4所述的模擬/數字轉換晶片，其特徵在於所述的調整裝置是將該調整模式以軟體實現。
全文摘要
本發明涉及一種增加模擬/數字轉換晶片合格率的方法及其模擬/數字轉換晶片，方法具有以下步驟首先提供規格曲線及模擬/數字轉換晶片的特徵曲線，再依據規格曲線以及特徵曲線作對應後，產生調整模式，最後根據調整模式，調整模擬/數字轉換晶片的特徵曲線。此模擬/數字轉換晶片具有調整裝置及模擬數字轉換裝置，此模擬數字轉換裝置將模擬輸入信號轉換為數字輸出信號，調整裝置依據調整模式轉換數字輸出信號為輸出符合規格的調整後輸出信號。
文檔編號H03M1/12GK1448982SQ02108169
公開日2003年10月15日 申請日期2002年3月28日 優先權日2002年3月28日
發明者陳維新, 遊原泉, 黃裕欽 申請人:華邦電子股份有限公司