一種高效農藥殘留測量裝置的製作方法
2023-04-27 22:33:02 1

本發明涉及農藥殘留測量領域,具體涉及一種高效農藥殘留測量裝置。
背景技術:
農藥及其殘留對人體健康的危害和造成對環境的汙染是人所共知的,特別是蔬菜中由於使用高毒農藥或禁用農藥而引起的中毒。目前農藥殘留檢測方法主要分為三類:生物測定技術、理化檢測方法和快速檢測法。但是這三種方法不能實現無損檢測。光譜測量能夠實現無損檢測,但是現有的光譜測量,檢測點單一,並且一次檢測的樣品有限。
技術實現要素:
發明目的:本發明旨在克服現有技術的缺陷,提供一種農藥殘留測量裝置。
技術方案:一種農藥殘留測量裝置,包括機殼、轉盤、帶動所述轉盤轉動的轉軸、驅動所述轉軸轉動的第一驅動電機、光杆、絲杆、驅動所述絲杆轉動的第二驅動電機、滑塊、一端與所述滑塊相連的電動伸縮杆、與所述電動伸縮杆另一端相連的固定塊;所述滑塊具有被所述光杆穿過的通孔和被所述絲杆穿過的螺紋孔;所述固定塊上具有條形碼讀取裝置和光譜測量裝置,所述條形碼讀取裝置包括閃光燈和圖像採集裝置,所述光譜測量裝置包括光譜探頭、與所述光譜探頭連接的Y型光纖、與Y型光纖一端連接雷射發射器、與Y型光纖另一端連接的光譜儀;所述轉盤上沿圓周方向分布有多個樣品放置區域,每個樣品放置區域包括第一凹槽和第二凹槽,所述第一凹槽用於貼條形碼,所述第二凹槽用於放置被測樣品。
進一步地,所述轉盤上具有6個樣品放置區域,每個樣品放置區域具有一個第一凹槽和一個第二凹槽,所述第一凹槽相對於所述第二凹槽更靠近圓盤的圓心。
進一步地,所述測量裝置還包括計算機,所述光譜儀、第一驅動電機、第二驅動電機和電動伸縮杆均與所述計算機相連。
進一步地,所述轉軸為截面呈矩形的轉軸,所述轉軸上設有限位塊,所述轉盤下方包括與其一體成型的立柱,所述轉盤具有貫穿轉盤上表面和立柱底端的貫通孔,所述轉軸上套設有多個所述轉盤,所述測量裝置還包括用於將轉盤從所述轉軸上取下的機械手單元以及用於放置所述轉盤的轉盤放置單元。
進一步地,所述轉盤放置單元包括底板和固定在所述底板上的截面呈矩形的立杆。
有益效果:本發明的測量裝置,檢測方便,實現自動化。且一次能夠進行一批樣品的檢測,對且通過條形碼實現對各個樣品的追溯。同時一次能夠實現對同一樣品多個測量點的檢測,檢測結果更加準確。
附圖說明
圖1為轉盤布局示意圖;
圖2為轉盤配合條形碼讀取裝置、光譜測量裝置工作示意圖;
圖3為光譜測量裝置測量原理示意圖;
圖4為另一實施例測量裝置示意圖。
具體實施方式
附圖標記:1轉盤;2轉軸;3光杆;4絲杆;5固定塊;5.1條形碼讀取裝置;5.2光譜測量裝置;6第二驅動電機;7電動伸縮杆;8滑塊;1.1樣品放置區域;1.2第一凹槽;1.3第二凹槽;11光譜探頭;12Y型光纖;13雷射器;14光譜儀;15計算機;16樣品;20底板;21立杆;22機械手單元;限位塊23;1.6立柱。
一種高效農藥殘留測量裝置,包括機殼、轉盤1、帶動所述轉盤1轉動的轉軸2、驅動所述轉軸2轉動的第一驅動電機、光杆3、絲杆4、驅動所述絲杆4轉動的第二驅動電機6、滑塊8、一端與所述滑塊8相連的電動伸縮杆7、與所述電動伸縮杆7另一端相連的固定塊5;所述滑塊8具有被所述光杆3穿過的通孔和被所述絲杆4穿過的螺紋孔;所述固定塊5上具有條形碼讀取裝置5.1和光譜測量裝置5.2,所述條形碼讀取裝置5.1包括閃光燈和圖像採集裝置,所述光譜測量裝置5.2包括光譜探頭11、與所述光譜探頭11連接的Y型光纖12、與Y型光纖12一端連接雷射發射器13、與Y型光纖12另一端連接的光譜儀14;所述轉盤1上沿圓周方向分布有多個樣品放置區域1.1,每個樣品放置區域1.1包括第一凹槽1.2和第二凹槽1.3,所述第一凹槽1.2用於貼條形碼,所述第二凹槽1.3用於放置被測樣品。所述轉盤上具有6個樣品放置區域,每個樣品放置區域具有一個第一凹槽1.2和一個第二凹槽1.3,所述第一凹槽相對於所述第二凹槽更靠近圓盤的圓心。所述測量裝置還包括計算機15,所述光譜儀14、第一驅動電機、第二驅動電機和電動伸縮杆均與所述計算機相連。
測量時,將樣品及樣品的條形碼分別放入第二凹槽和第一凹槽,圓盤帶動樣品轉動,當轉動到檢測位置時,首先條形碼讀取裝置讀取條形碼,接著通過電動伸縮杆調節光譜探頭的高度,並通過滑塊的位移採集樣品多個測量點的檢測信息。採集完畢後,轉盤繼續轉動測量下一個樣品。這樣可以實現一次測量6個樣品,並且對於每個樣品能夠進行多個測量點的測量。
本發明的另一個實施例如下:在上面的方案的基礎上,還具有以下特點,所述轉軸為截面呈矩形的轉軸,所述轉軸上設有限位塊23,所述轉盤1下方包括與其一體成型的立柱1.6,所述轉盤具有貫穿轉盤上表面和立柱底端的貫通孔,所述轉軸上套設有多個所述轉盤,所述測量裝置還包括用於將轉盤從所述轉軸上取下的機械手單元22以及用於放置所述轉盤的轉盤放置單元。所述轉盤放置單元,包括底板20和固定在所述底板20上的截面呈矩形的立杆21。
這樣,可以在轉軸上疊放多個轉盤,可以處理更多的樣品,當地一層的樣品檢測完畢後,機械手單元可以將第一層的圓盤從轉軸上取下,將其套在圓盤放置單元的立杆上,接著進行第二層圓盤上樣品的測量。這樣一側可以測量更多的樣品,測量效率更高。所述機殼能夠提供一個封閉的暗室,使測量不受環境光的幹擾。光譜探頭髮射光照射的樣品,經樣品反射後進入光譜探頭,最終被光譜儀接收進行分析。
儘管本發明就優選實施方式進行了示意和描述,但本領域的技術人員應當理解,只要不超出本發明的權利要求所限定的範圍,可以對本發明進行各種變化和修改。