低溫原位生長In的製作方法
2023-05-03 18:16:16
專利名稱:低溫原位生長In的製作方法
技術領域:
本發明屬於納米材料製備技術領域,具體說是一種低溫原位生長In2O3納米線的方法。
背景技術:
In2O3是重要的寬禁帶半導體,在場發射(Li,S.Y.;Lee,C.Y.;Lin,P.;Tseng,T.Y.Nanotechnology,2005,16,451),傳感器(Li,C.;Zhang,D.H.;Liu,X.L.;Han,S.;Tang,T.;Han,J.;Zhou,C.W.;Appl.Phys.Lett.2003,82,1613),場效應電晶體(Nguyen,P.;Ng,H.T.;Yamada,T.;Smith,M.K.;Li,J.;Han,J.;Meyyappan,M.;Nano Lett.2004,4,651)等方面有潛在應用。目前有許多製備In2O3納米線的方法,如物理蒸發(Zeng,F.;Zhang,X.;Wang,J.;Wang,L.;Zhang,L.;Nanotechnology 2004,15,596),雷射燒蝕(Li,C.;Zhang,D.H.;Han,S.;Liu,X.L;Tang,T.;Zhou,C.W.;Adv.Mater.2003,15,143)等。但是這些方法通常都涉及到較高的生長溫度(700℃以上)。高溫使得這些方法不適合在玻璃基片上原位生長In2O3納米線。
發明內容
為了解決現有技術中生長溫度過高等問題,本發明的目的是提供一種低溫原位生長In2O3納米線的方法。用這種方法可以在玻璃基片上原位製備In2O3納米線場發射器件,傳感器和場效應電晶體等。
本發明提供的低溫原位生長In2O3納米線的方法,該方法包括以下具體步驟(1)採用常規方法在基片上先鍍上厚度在100-2000納米範圍內的In膜,然後再鍍上厚度在20-100納米範圍的Au膜;(2)將鍍有In膜和Au膜的基片放入一個真空加熱系統中,對真空加熱系統抽真空至0.5帕以下後,再用高純氬氣對真空加熱系統洗氣至少2遍,向真空加熱系統內通高純Ar氣,流量為20-100釐米3/分鐘;(3)對鍍有In膜和Au膜的基片加熱進行第一次退火,使其迅速升溫至130℃,並在該溫度下維持20-30分鐘,整個退火過程中用機械泵對真空加熱系統進行抽低壓至10-100託;(4)在鍍有In膜和Au膜的基片溫度降至室溫後,重新對真空加熱系統抽真空至0.5帕以下,將通入真空加熱系統的高純Ar氣改為由高純Ar氣和高純O2氣組成的混合氣體,混合氣體中高純O2氣含量範圍為0.03%-0.1%,混合氣體流量為20-100釐米3/分鐘;(5)對鍍有In膜和Au膜的基片加熱進行第二次退火,使其迅速升溫至400℃,並在該溫度下維持20-30分鐘;整個退火過程中用機械泵對真空加熱系統進行抽低壓至10-100託;待真空加熱系統降至室溫後取出樣品,即可得到原位生長的In2O3納米線。
本發明通過深入研究和反覆試驗,選優後得到上述低溫原位生長In2O3納米線的方法,有效解決了現有技術中生長溫度過高等問題。
圖1是細直In2O3納米線的掃描電子顯微鏡圖。
圖2是錐形In2O3納米線的掃描電子顯微鏡圖。
具體實施例方式
實施例1從玻璃基片上的In膜上原位生長直徑均勻的細直In2O3納米線。
首先採用高真空熱蒸發裝置,當真空度達到6×10-4帕左右時,在玻璃基片上沉積300納米厚的In膜;然後,採用濺射裝置在銦膜上再沉積50納米厚的Au膜;將50納米厚Au膜/300納米厚In膜/玻璃基片放入一個真空加熱系統的園盤狀加熱器上,對真空加熱系統抽真空至0.5帕後,用高純氬氣對真空室洗氣2遍,然後向真空加熱系統內通高純Ar氣,流量為50釐米3/分鐘;對50納米厚Au膜/300納米厚In膜/玻璃基片加熱進行第一次退火,使其迅速升溫至130℃,並在該溫度下維持20分鐘,整個退火過程中用機械泵對真空加熱系統進行抽低壓至50託;在50納米厚Au膜/300納米厚In膜/玻璃基片溫度降至室溫後,重新對真空加熱系統抽真空至0.5帕,將通入真空加熱系統的高純Ar氣改為由99.95%的高純Ar氣和0.05%的高純O2氣組成的混合氣體,流量為50釐米3/分鐘;對50納米厚Au膜/300納米厚In膜/玻璃基片加熱進行第二次退火,使其迅速升溫至400℃,並在該溫度下維持20分鐘;整個退火過程中用機械泵對真空加熱系統進行抽低壓至50託;待真空加熱系統降至室溫後取出樣品,即可得到在玻璃基片上原位生長的直徑為~10納米的細直In2O3納米線,如圖1所示。
實施例2從玻璃基片上的In膜上原位生長錐形In2O3納米線。
首先採用高真空熱蒸發裝置,當真空度達到6×10-4帕左右時,在玻璃基片上沉積1微米厚的In膜;然後,採用濺射裝置在銦膜上再沉積50納米厚的Au膜;將50納米厚Au膜/1微米厚In膜/玻璃基片放入一個真空加熱系統的園盤狀加熱器上,對真空加熱系統抽真空至0.5帕後,用高純氬氣對真空室洗氣2遍,然後向真空加熱系統內通高純Ar氣,流量為50釐米3/分鐘;對50納米厚Au膜/1微米厚In膜/玻璃基片加熱進行第一次退火,使其迅速升溫至130℃,並在該溫度下維持20分鐘,整個退火過程中用機械泵對真空加熱系統進行抽低壓至50託;在50納米厚Au膜/1微米厚In膜/玻璃基片溫度降至室溫後,重新對真空加熱系統抽真空至0.5帕,將通入真空加熱系統的高純Ar氣改為由99.95%的高純Ar氣和0.05%的高純O2氣組成的混合氣體,流量為50釐米3/分鐘;對50納米厚Au膜/1微米厚In膜/玻璃基片加熱進行第二次退火,使其迅速升溫至400℃,並在該溫度下維持20分鐘;整個退火過程中用機械泵對真空加熱系統進行抽低壓至50託;待真空加熱系統降至室溫後取出樣品,即可得到在玻璃基片上原位生長的尖端直徑為~10納米的錐形In2O3納米線,如圖2所示。
權利要求
1.一種低溫原位生長In2O3納米線的方法,其特徵在於,該方法的步驟如下(1)採用常規方法在基片上先鍍上厚度在100-2000納米範圍內的In膜,然後再鍍上厚度在20-100納米範圍的Au膜;(2)將鍍有In膜和Au膜的基片放入一個真空加熱系統中,對真空加熱系統抽真空至0.5帕以下後,再用高純氬氣對真空加熱系統洗氣至少2遍,向真空加熱系統內通高純Ar氣,流量為20-100釐米3/分鐘;(3)對鍍有In膜和Au膜的基片加熱進行第一次退火,使其迅速升溫至130℃,並在該溫度下維持20-30分鐘,整個退火過程中用機械泵對真空加熱系統進行抽低壓至10-100託;(4)在鍍有In膜和Au膜的基片溫度降至室溫後,重新對真空加熱系統抽真空至0.5帕以下,將通入真空加熱系統的高純Ar氣改為由高純Ar氣和高純O2氣組成的混合氣體,混合氣體中高純O2氣含量範圍為0.03%-0.1%,混合氣體流量為20-100釐米3/分鐘;(5)對鍍有In膜和Au膜的基片加熱進行第二次退火,使其迅速升溫至400℃,並在該溫度下維持20-30分鐘;整個退火過程中用機械泵對真空加熱系統進行抽低壓至10-100託;待真空加熱系統降至室溫後取出樣品。
2.根據權利1所述的低溫原位生長In2O3納米線的方法,其特徵在於所用的真空加熱系統為配備有圓盤狀加熱器的真空裝置。
全文摘要
一種製備In
文檔編號C01G15/00GK101062779SQ20061003159
公開日2007年10月31日 申請日期2006年4月29日 優先權日2006年4月29日
發明者李社強, 梁迎新, 聶稜, 萬青, 王巖國, 鄒炳鎖, 王太宏 申請人:湖南大學