核動力堆蒸汽發生器洩漏仿真方法與流程
2023-09-13 17:26:55 1
本發明涉及核動力堆輻射監測領域,特別地,涉及一種核動力堆蒸汽發生器洩漏仿真方法。
背景技術:
核動力堆採用內嵌241Amα源的NaI(Tl)閃爍體作探測器件監測蒸汽發生器洩漏出的16N技術已有幾十年的歷史,當前仍廣泛使用。由於核動力堆蒸汽發生器發生洩漏的概率較低,例如有些核電站從投入運行起至今未發生一起蒸汽發生器的洩漏事故,為獲得核動力堆蒸汽發生器洩漏的真實情況,預先知曉洩漏規律,為將來真正發生洩漏時提供依據,進行洩漏仿真非常必要。
技術實現要素:
本發明目的在於提供一種核動力堆蒸汽發生器洩漏仿真方法,以解決沒有指導測試方向的技術問題。為實現上述目的,本發明提供了一種核動力堆蒸汽發生器洩漏仿真方法,包括如下步驟,用16N刻度源照射內含γ源的閃爍體探測裝置Ts時間N次,以及對N次測量得到的能譜進行平均後所得能譜的錄像在K*Ts時間內進行放映,其中K為16N刻度源照射內含γ源的閃爍體探測裝置在0.2-2.2MeV能區的計數率與核動力堆蒸汽發生器各洩漏級別在該能區的計數率的比值。進一步地,若K1,對N次測量得到的能譜進行平均後所得能譜的錄像在K*Ts時間內進行慢放。進一步地,內含γ源的閃爍體探測裝置的閃爍體為LaBr3:Ce閃爍體。進一步地,LaBr3:Ce閃爍體內含的天然放射性核素138La輻射的1.436MeVγ射線能量峰與K電子俘獲輻射的0.037MeVχ射線能量峰符合相加為1.473MeV的能量峰為刻度峰。進一步地,16N刻度源為238Pu-13C源。本發明具有以下有益效果:通過洩漏仿真,預先知曉洩漏規律,為將來真正發生洩漏時提供依據。除了上面所描述的目的、特徵和優點之外,本發明還有其它的目的、特徵和優點。下面將參照圖,對本發明作進一步詳細的說明。附圖說明構成本申請的一部分的附圖用來提供對本發明的進一步理解,本發明的示意性實施例及其說明用於解釋本發明,並不構成對本發明的不當限定。在附圖中:圖1是根據本發明的核動力堆蒸汽發生器洩漏仿真方法的用LaBr3:Ce探測裝置測16N刻度源50s能譜示意圖;圖2是根據本發明的核動力堆蒸汽發生器洩漏仿真方法的用NaI(Tl)探測裝置測16N刻度源50s能譜示意圖;圖3是根據本發明的核動力堆蒸汽發生器洩漏仿真方法的用LaBr3:Ce探測裝置測16N刻度源1800s能譜示意圖;以及圖4是根據本發明的核動力堆蒸汽發生器洩漏仿真方法的用NaI(Tl)探測裝置測16N刻度源1800s能譜示意圖。具體實施方式以下結合附圖對本發明的實施例進行詳細說明,但是本發明可以由權利要求限定和覆蓋的多種不同方式實施。參見圖1至圖4、表1和表2,根據本發明的洩漏仿真是指先用16N刻度源照射內含γ源的閃爍體探測裝置Ts時間N次,對N次測量得到的能譜進行平均後所得能譜的錄像在K*Ts時間內進行放映,其中K為16N刻度源照射內含γ源的閃爍體探測裝置在0.2-2.2MeV能區的計數率與核動力堆蒸汽發生器各洩漏級別在該能區的計數率的比值。通過洩漏仿真,預先知曉洩漏規律,為將來真正發生洩漏時提供依據。進一步地,若K1,對N次測量得到的能譜進行平均後所得能譜的錄像在K*Ts時間內進行慢放。內含γ源的閃爍體探測裝置的閃爍體為LaBr3:Ce閃爍體。LaBr3:Ce閃爍體內含的天然放射性核素138La輻射的1.436MeVγ射線能量峰與K電子俘獲輻射的0.037MeVχ射線能量峰符合相加為1.473MeV的能量峰為刻度峰。16N刻度源為238Pu-13C源。表1是根據本發明的核動力堆蒸汽發生器洩漏仿真方法的用LaBr3:Ce和NaI(Tl)測16N刻度源1800s的計數率對比表。表1由表1的數據可知,在0.2-2.2MeV能區的計數率分別是Np、Ne、Nc這三種洩漏級別計數率的21.3、4.26和0.25倍(該數值與所用16N刻度源的活度有關)。因此,對圖4和表1所有50s能譜的屏幕錄像延長至1066s和213s慢放,可仿真蒸汽發生器洩漏預警級和洩漏一級的積分計數隨時間的上升情況;同樣對圖1和圖2所有50s能譜的屏幕錄像縮短至12.5s快放,可仿真核動力堆蒸汽發生器洩漏二級的積分計數隨時間的上升情況。同理,也可根據2.2-4.5MeV、4.5-7MeV、0-7MeV能區的計數率或者5.11MeV、5.62MeV和6.13MeV能量峰的峰高計數率來進行核動力堆蒸汽發生器的洩漏仿真,如表2所示。表2是根據本發明的核動力堆蒸汽發生器洩漏仿真方法的洩漏仿真數據表。表2由於核動力堆蒸汽發生器發生洩漏的概率較低,例如有些核電站從投入運行起至今未發生一起蒸汽發生器的洩漏事故,為獲得核動力堆蒸汽發生器洩漏的真實情況,預先知曉洩漏規律,為將來真正發生洩漏時提供依據,進行洩漏仿真非常必要。進一步地,16N刻度源為238Pu-13C源。如圖3和圖4示,用LaBr3:Ce和NaI(Tl)閃爍體探測裝置測量16N刻度源1800s的能譜圖(對數坐標),前者對16N特徵峰的能譜顯著優於後者。註:本發明所指計數率均為淨計數率。從以上的描述中,可以看出,本發明上述的實施例實現了如下技術效果:通過洩漏仿真,預先知曉洩漏規律,為將來真正發生洩漏時提供依據。以上所述僅為本發明的優選實施例而已,並不用於限制本發明,對於本領域的技術人員來說,本發明可以有各種更改和變化。凡在本發明的精神和原則之內,所作的任何修改、等同替換、改進等,均應包含在本發明的保護範圍之內。