電話pos終端的測試裝置製造方法

2023-09-18 21:04:05 3

電話pos終端的測試裝置製造方法
【專利摘要】本實用新型提供了一種電話POS終端的測試裝置，包括依次相連的一串口、一微處理器、一鍵盤矩陣模塊以及一鍵盤接口，所述串口與計算機相連，所述鍵盤接口與所述電話POS終端相連。本實用新型的優點在於：在不破壞電話POS終端軟硬體完整性的情況下，計算機端發出的測試指令通過串口通訊下發串口指令控制電話POS終端按鍵操作，實現自動化按鍵測試代替人工按鍵，提高測試效率，大大減少測試時間和測試工作量，節約測試成本。
【專利說明】電話POS終端的測試裝置
【【技術領域】】
[0001]本實用新型涉及一種測試裝置，特別涉及一種電話POS終端的測試裝置。
【【背景技術】】
[0002]目前電話POS終端在執行各種測試操作時，均需要通過操作電話POS終端上的按鍵來完成。有時候在執行針對軟體的強度測試時，需要重複執行非常多次的按鍵操作，重複執行按鍵操作不僅耗費很多的時間，也耗費了測試人員極大的體力，增加了測試的成本。
【
【發明內容】
】
[0003]本實用新型要解決的技術問題，在於提供一種電話POS終端的測試裝置，為實現電話POS終端自動化測試提供硬體平臺，提高測試的效率，大大減少測試時間和測試工作量。
[0004]本實用新型是這樣實現的:
[0005]電話POS終端的測試裝置，包括依次相連的一串口、一微處理器、一鍵盤矩陣模塊以及一鍵盤接口，所述串口與計算機相連，所述鍵盤接口與所述電話POS終端相連。
[0006]進一步地，所述鍵盤矩陣模塊包括複數個行MOS管和複數個列MOS管，各所述行MOS管和各所述列MOS管的G極均連接至所述微處理器，各所述行MOS管的D極均連接至所述鍵盤接口，各所述列MOS管的S極均連接至所述鍵盤接口，各所述行MOS管的S極與各所述列MOS管的D極全部連接在一起。
[0007]進一步地，所述鍵盤矩陣模塊包括複數個行MOS管和複數個列MOS管，各所述行MOS管和各所述列MOS管的G極均連接至所述微處理器，各所述行MOS管的S極均連接至所述鍵盤接口，各所述列MOS管的D極均連接至所述鍵盤接口，各所述行MOS管的D極與各所述列MOS管的S極全部連接在一起。
[0008]本實用新型的優點在於:在不破壞電話POS終端軟硬體完整性的情況下，計算機端發出的測試指令通過串口通訊下發串口指令控制電話POS終端按鍵操作，實現自動化按鍵測試代替人工按鍵，提高測試效率，大大減少測試時間和測試工作量，節約測試成本。
【【專利附圖】

【附圖說明】】
[0009]下面參照附圖結合實施例對本實用新型作進一步的說明。
[0010]圖1是本實用新型的結構示意圖。
[0011]圖2是本實用新型鍵盤矩陣模塊的結構示意圖。
【【具體實施方式】】
[0012]請參閱圖1和圖2所示，對本實用新型的實施例進行詳細的說明。
[0013]請參閱圖1，電話POS終端的測試裝置，包括依次相連的一串口 1、一微處理器2、一鍵盤矩陣模塊3以及一鍵盤接口 4，所述串口 I與計算機5相連，所述鍵盤接口 4與所述電話POS終端6相連。
[0014]所述鍵盤矩陣模塊有兩種實施方式，分別為:
[0015]1、請參閱圖2，所述鍵盤矩陣模塊包括複數個行MOS管Al、A2、A3、A4和複數個列MOS管B1、B2、B3、B4 (圖中顯示4個行MOS管和4個列MOS管)，各所述行MOS管Al、A2、A3、A4和各所述列MOS管B1、B2、B3、B4的G極均連接至所述微處理器2，各所述行MOS管A1、A2、A3、A4的D極均連接至所述鍵盤接口 4，各所述列MOS管B1、B2、B3、B4的S極均連接至所述鍵盤接口 4，各所述行MOS管Al、A2、A3、A4的S極與各所述列MOS管B1、B2、B3、B4的D極全部連接在一起。
[0016]2、所述鍵盤矩陣模塊包括複數個行MOS管和複數個列MOS管，各所述行MOS管和各所述列MOS管的G極均連接至所述微處理器，各所述行MOS管的S極均連接至所述鍵盤接口，各所述列MOS管的D極均連接至所述鍵盤接口，各所述行MOS管的D極與各所述列MOS管的S極全部連接在一起(未圖示)。
[0017]本實用新型的工作原理:
[0018]PC端根據以下協議下發按鍵指令數據給測試裝置，測試裝置解析對應的按鍵指令數據，並通過鍵盤矩陣模塊，將其轉換為對應的按鍵數據，通過鍵盤接口反饋給電話POS終端，實現按鍵功能。
[0019]所述協議格式定義可參照下表I和表2:
[0020]表1:
【權利要求】
1.電話POS終端的測試裝置，其特徵在於:包括依次相連的一串口、一微處理器、一鍵盤矩陣模塊以及一鍵盤接口，所述串口與計算機相連，所述鍵盤接口與所述電話POS終端相連。
2.根據權利要求1所述的電話POS終端的測試裝置，其特徵在於:所述鍵盤矩陣模塊包括複數個行MOS管和複數個列MOS管，各所述行MOS管和各所述列MOS管的G極均連接至所述微處理器，各所述行MOS管的D極均連接至所述鍵盤接口，各所述列MOS管的S極均連接至所述鍵盤接口，各所述行MOS管的S極與各所述列MOS管的D極全部連接在一起。
3.根據權利要求1所述的電話POS終端的測試裝置，其特徵在於:所述鍵盤矩陣模塊包括複數個行MOS管和複數個列MOS管，各所述行MOS管和各所述列MOS管的G極均連接至所述微處理器，各所述行MOS管的S極均連接至所述鍵盤接口，各所述列MOS管的D極均連接至所述鍵盤接口，各所述行MOS管的D極與各所述列MOS管的S極全部連接在一起。
【文檔編號】H04M1/24GK203399174SQ201320375722
【公開日】2014年1月15日 申請日期:2013年6月27日 優先權日:2013年6月27日
【發明者】吳振盛, 張登峰, 餘杭軍, 柯梓豐 申請人:福建升騰資訊有限公司