開關控制com、seg任意布局功能測試通用板的製作方法
2023-09-17 23:46:40 3
專利名稱：開關控制com、seg任意布局功能測試通用板的製作方法
技術領域：
數字液晶顯示器製作過程，由於製程的特殊性，生產的產品不可避免的存在部份功能不良現象。客戶對功能不良要求很高，故而在半導體加工領域，專門為此設立電性能檢測エ位。本發明結合半導體加工技術，結合數字液晶顯示器製造エ藝，g在為電性能檢測提供便捷服務。
背景技術：
數字液晶顯示器エ藝不斷完善，客戶對產品的性能要求越來越高。由於液晶顯示器在生產過程中的質量瑕疵具有不可避免性，就勢必要完善成品液晶顯示器的檢測手段， 這是必須的程序。因為液晶顯示器的規格尺寸參數，現階段為了測試不同的產品，都是採用設計多種規格的不同型號產品專用測試板(PCB板)測試製作，這樣就會造成對雙面PCB數量要求較高，製作掩膜板數量增多，浪費大量雙面覆銅板和感光材料使用，不利於成本控制。
發明內容本實用新型的目的是提供ー種開關控制COM、SEG任意布局功能測試通用板以彌補現有技術之不足。本實用新型為達到目的採用的技術方案是開關控制COM、SEG任意布局功能測試通用板，其特徵是包括板體，板體上設置有接ロ和測試線條，在接ロ和連接控制測試線條之間設置有設置有COM開關與SEG開關。所述的開關控制COM、SEG任意布局功能測試通用板，其特徵是板體正面和反面都有測試線條。所述的開關控制COM、SEG任意布局功能測試通用板，其特徵是測試線條正面由大到小 PITCH 值 2. 54mm、2. 00mm. I. 80mm、I. 27mm、I. 00mm、0. 80mm,反面由小到大。本實用新型的有益效果在於COM與SEG布局位置任意調整，測試人員只需對照邏輯圖，對相應控制的開關，實行選取擇性開啟與關閉就可對產品實施測試。通用性方面適宜於PITCH值2. 45,2. O、I. 8,1. 0,0. 8等常規PITCH產品性能測試。雙面設計方式使測試板壽命增加I倍。
圖I為本實用新型的結構示意圖。
具體實施方式
實施例產品整體設計及製作I、統ー規劃布局通用測試板功能方案與外觀設計方案。[0013]2、根據方案設計圖紙。設計方案實施接ロ I上設置有長矩形銅質線條2，尾部鑽孔。COM設置6組開關3。SEG設置6組開關4。正面測試線條設置PITCH 為 2. 52mm、2. 54mm、2. 00mm、I. 80mm、I. 27mm、I . 00mm、0. 80mm等計48組測試線條，呈金字塔倒立狀。反面測試線條設置PITCH 為 O. 80mm、I. 00mm、I. 27mm、I. 80mm、2. 00mm、2. 54mm 等
計48組測試線條，呈金字塔狀。每組線條相應的腳相連，而且和相應的COM開關或SEG開關相連。焊錫測試接ロ、COM、SEG、測試線條。檢驗確保單面與正反面均相通。完成製作。使用過程將接ロ I插入電測機的插ロ取電，使48組測試線條都有電壓。在根據待檢測的液晶顯示器的參數，選擇相應的COM開關3和SEG4開關進行開通和關閉，並選擇合適的PITCH值的測試線條將導電膠條(豎嚮導電，橫向不導電)放在已選擇的測試線條上2，再將液晶顯示器的引腳放在導電膠條上，就使液晶顯示器獲得工作電壓，再根據液晶顯示器的顯示效果就能判斷是否合格產品。
權利要求1.開關控制COM、SEG任意布局功能測試通用板，其特徵是包括板體，板體上設置有接口和測試線條，在接口和連接控制測試線條之間設置有COM開關與SEG開關。
2.如權利要求I所述的開關控制COM、SEG任意布局功能測試通用板，其特徵是板體正面和反面都有測試線條。
專利摘要本實用新型涉及一種開關控制COM、SEG任意布局功能測試通用板，包括板體，板體上設置有接口和測試線條，在接口和連接控制測試線條之間設置有COM開關與SEG開關，在數字液晶顯示器件製作與半導體加工技術不斷發展的今天，功能性缺陷檢驗必不可少工序，在確保產品品質的情況下，為更好的節約材料成本，優化測試治具，實現測試治具創新。本實用新型的有益效果在於設計方案創新，測試人員只需對照邏輯圖，調節控制開關實現COM與SEG布局任意調整。實用效果良好，操作簡便。通用性方面較好，對目前行業絕大多數產品，均能進行通用測試。大大的節約測試治具材料成本。雙面設計方式更能使其壽命增加1倍。
文檔編號G01R1/02GK202615077SQ20122026055
公開日2012年12月19日 申請日期2012年6月5日 優先權日2012年6月5日
發明者邱成峰, 楊亮, 李彥儀, 餘強 申請人:宜賓盈泰光電有限公司