一種雙稜鏡折射率的測量裝置製造方法
2023-10-19 21:01:47
一種雙稜鏡折射率的測量裝置製造方法
【專利摘要】一種雙稜鏡折射率的測量裝置，它涉及一種折射率的測量裝置，以解決物理實驗中測量折射率採用移測顯微鏡或分光計測量，存在準確度不高和調節要求高的問題。鈉燈、第一透鏡、可調狹縫儀、雙稜鏡、第二透鏡和測微目鏡由左至右依次設置，第一透鏡設置在可調狹縫儀上，鈉燈的中心、第一透鏡的中心、可調狹縫儀上的狹縫中心、雙稜鏡的稜脊、第二透鏡的中心和測微目鏡的中心位於同一直線上，可調狹縫儀上的狹縫寬度小於0.1mm，金屬杆一端與固定第二透鏡的透鏡二維架連接、另一端與固定測微目鏡的測微目鏡二維架連接，第二透鏡與測微目鏡的距離為第二透鏡焦距的兩倍，雙稜鏡的稜脊與可調狹縫儀上的狹縫平行設置。本實用新型用於測量雙稜鏡的折射率。
【專利說明】一種雙稜鏡折射率的測量裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種折射率的測量裝置。
【背景技術】
[0002]目前，在普通物理實驗中，通常採用以下兩種方法測量雙稜鏡折射率:一、採用移測顯微鏡測量，但其準確度不高。二、採用分光計測量，準確度雖高，但實驗操作困難，對調節要求高。
實用新型內容
[0003]本實用新型的目的是為了解決物理實驗中測量折射率採用移測顯微鏡測量或分光計測量，移測顯微鏡測量存在準確度不高，分光計測量存在對調節要求高的問題，提供一種雙稜鏡折射率的測量裝置。
[0004]本實用新型為解決上述問題採取的技術方案是:
[0005]一種雙稜鏡折射率的測量裝置，其組成包括鈉燈、第一透鏡、可調狹縫儀、雙稜鏡、第二透鏡、測微目鏡、金屬杆和一維架和數個二維架，所述鈉燈、第一透鏡、可調狹縫儀、雙稜鏡、第二透鏡和測微目鏡由左至右依次設置，第一透鏡、可調狹縫儀、雙稜鏡和第二透鏡分別安裝在相應的二維架上，測微目鏡安裝在一維架上，鈉燈的中心、第一透鏡的中心、可調狹縫儀上的狹縫中心、雙稜鏡的稜脊、第二透鏡的中心和測微目鏡的中心位於同一直線上，可調狹縫儀上的狹縫寬度小於0.1mm，金屬杆的一端與固定第二透鏡的二維架連接，金屬杆的另一端與固定測微目鏡的一維架連接，第二透鏡與測微目鏡的距離為第二透鏡焦距的兩倍，所述雙稜鏡的稜脊與可調狹縫儀上的狹縫平行設置。
[0006]上述一種雙稜鏡折射率的測量裝置，所述雙稜鏡的稜鏡楔角為45°。
[0007]本實用新型與已有技術相比具有以下有益效果:
[0008]本實驗方法利用光學的幹涉原理，通過光路將光的幹涉條紋匯聚到測微目鏡上的分劃板上，測量可調狹縫儀上的狹縫與雙稜鏡之間的距離、雙稜鏡與測微目鏡間的距離、以及通過測微目鏡觀察到的幹涉條紋的兩相鄰條紋的間距，從而實現雙稜鏡折射率的測量。本實用新型與已有技術相比測量精度、結構簡單，操作方便，實驗現象直觀明了，使學生在利用這種光學方法測量雙稜鏡折射率的同時，也可同時測量光波波長，增加光的幹涉的實驗內容。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0009]圖1是本實用新型的整體結構主視圖。
【具體實施方式】
[0010]實施例1:
[0011]一種雙稜鏡折射率的測量裝置，其組成包括鈉燈1、第一透鏡2、可調狹縫儀3、雙稜鏡4、第二透鏡5、測微目鏡6、金屬杆7和一維架8和數個二維架9，所述鈉燈1、第一透鏡
2、可調狹縫儀3、雙稜鏡4、第二透鏡5和測微目鏡6由左至右依次設置，第一透鏡2、可調狹縫儀3、雙稜鏡4和第二透鏡5分別安裝在相應的二維架9上，測微目鏡6安裝在一維架8上，鈉燈I的中心、第一透鏡2的中心、可調狹縫儀3上的狹縫中心、雙稜鏡4的稜脊、第二透鏡5的中心和測微目鏡6的中心位於同一直線上，使鈉光通過第一透鏡2、可調狹縫儀3、雙稜鏡4，以獲得清晰的明暗相間的幹涉條紋，可調狹縫儀3上的狹縫3-1寬度小於0.1mm,金屬杆7的一端與固定第二透鏡5的二維架9連接，金屬杆7的另一端與固定測微目鏡6的一維架8連接，金屬杆的兩端連接在二維架上，不影響元件拆裝，金屬杆7使得第二透鏡5與測微目鏡6的距離不變。第二透鏡5與測微目鏡6的距離S為第二透鏡5焦距的兩倍，所述雙稜鏡4的稜脊與可調狹縫儀3上的狹縫平行設置。
[0012]實施例2:
[0013]上述一種雙稜鏡折射率的測量裝置，雙稜鏡4的稜鏡楔角為45°。其它組成及連接關係與實施例1相同。
[0014]本實用新型的測量過程:使用時，鈉燈1、第一透鏡2、可調狹縫儀3、雙稜鏡4、第二透鏡5和測微目鏡6分別通過精密調節底座固定在光學防震平臺上，以增加實驗的穩定性。測量時，先將光路中的第二透鏡5去掉，使鈉光通過第一透鏡2、可調狹縫儀3、雙稜鏡4，繞水平軸旋轉狹縫或者雙稜鏡4，調節雙稜鏡4的稜脊與狹縫嚴格平行，使測微目鏡6中出現清晰的幹涉條紋，然後將第二透鏡5裝到固定第二透鏡5的二維架9上，調節使測微目鏡6中出現和虛光源一樣大的像，測量兩虛光源的間距。最後保持雙稜鏡4與狹縫的位置不動，去掉第二透鏡5，測量測微目鏡6中出現的幹涉條紋的兩相鄰條紋的間距、狹縫與雙稜鏡4之間的距離、雙稜鏡4與測微目鏡6間的距離，便可求出雙稜鏡的折射率。
【權利要求】
1.一種雙稜鏡折射率的測量裝置，其組成包括鈉燈(I)、第一透鏡(2)、可調狹縫儀(3)、雙稜鏡(4)、第二透鏡(5)、測微目鏡(6)、金屬杆(7)和一維架(8)和數個二維架(9)，所述鈉燈(I)、第一透鏡(2)、可調狹縫儀(3)、雙稜鏡(4)、第二透鏡(5)和測微目鏡(6)由左至右依次設置，第一透鏡(2)、可調狹縫儀(3)、雙稜鏡(4)和第二透鏡(5)分別安裝在相應的二維架(9)上，測微目鏡(6)安裝在一維架⑶上，其特徵是:鈉燈⑴的中心、第一透鏡(2)的中心、可調狹縫儀(3)上的狹縫中心、雙稜鏡(4)的稜脊、第二透鏡(5)的中心和測微目鏡(6)的中心位於同一直線上，可調狹縫儀(3)上的狹縫(3-1)寬度小於0.1mm，金屬杆(7)的一端與固定第二透鏡(5)的二維架(9)連接，金屬杆(7)的另一端與固定測微目鏡(6)的一維架⑶連接，第二透鏡(5)與測微目鏡(6)的距離⑶為第二透鏡(5)焦距的兩倍，所述雙稜鏡(4)的稜脊與可調狹縫儀(3)上的狹縫平行設置。
2.根據權利要求1所述一種雙稜鏡折射率的測量裝置，其特徵是:所述雙稜鏡(4)的稜鏡楔角為45°。
【文檔編號】G01M11/02GK203422213SQ201320485212
【公開日】2014年2月5日 申請日期:2013年8月5日 優先權日:2013年8月5日
【發明者】汪源源, 李琳, 趙慶輝, 張斌, 杜娜娜 申請人:哈爾濱學院