一種延長總劑量試驗中輻照與測試間隔時間的方法

2023-12-01 22:31:41

專利名稱：一種延長總劑量試驗中輻照與測試間隔時間的方法
技術領域：
本發明涉及輻射效應試驗與評價領域，特別是，涉及一種延長總劑量試驗中輻照與測試間隔時間的方法。
背景技術：
衛星故障分析定位顯示表明，星用元器件在軌加電期間，易受空間輻射環境誘發總劑量效應，導致器件電性能漂移，甚至功能喪失，嚴重威脅衛星高可靠性，開展地面模擬輻照試驗，科學評估參試器件抗總劑量能力，為工程選用元器件提供試驗數據。考慮到總劑量效應具有退火特點，一般要求輻照結束後至電測試的時間間隔短。例如，現行標準GJB548方法1019穩態輻射總劑量試驗方法規定輻照結束至電測試開始時間間隔不超過1小時；兩次輻照時間間隔不超過2小時。GJB548方法1019規定的輻照至測試時間間隔，具有科學性，已被廣泛接受，但隨著集成電路規模越來越大，功能越來越複雜，測試機臺也就越來越大，測試環境也越來越苛刻，總之，不易搬遷。但是輻照源一般遠離測試場所，輻照結束至電測試時間間隔1小時很難滿足。導致該方法可操作性差。急需探索出一種新的可操作性方法。

發明內容
本發明的目的是提供一種延長總劑量試驗中輻照與測試間隔時間的方法，以解決大規模集成輻照後測不便利的問題。根據阿列尼烏斯模型(如下公式如示)，同一器件同一失效模式下，激活能一定， 則溫度越低，器件累積到失效時間越長。
_ Af =根據這個原理，本發明提出一種低溫保持被輻照樣品延長總劑量效應退火時間的方法-「乾冰法」。本發明提供一種延長總劑量試驗中輻照與測試間隔時間的方法，包括用_60°C的乾冰冷藏試驗樣品。優選地，用-60°c的乾冰冷藏試驗樣品1-72小時。其中，所述試驗樣品優選衛星用元器件。所述延長總劑量試驗中輻照與測試間隔時間的方法，包括下述步驟1)延長輻照結束至電測試的時間間隔在輻照結束後半小時內，把被輻照的試驗樣品冷藏在_60°C的乾冰中，冷藏期間， 樣品所有的引腳短接；電測試前半個小時，從乾冰中取出試驗樣品，讓試驗樣品恢復至室溫，再開始測試；這樣可以使原輻照結束至電測試時間間隔1小時延長至72小時。2)延長兩次輻照的時間間隔在前次輻照後的電測試結束後半小時內，把測試後的樣品冷藏在_60°C的乾冰中，冷藏期間，樣品所有的引腳短接；輻照前半個小時，從乾冰中取出試驗樣品，讓試驗樣品恢復至室溫，再開始輻照。這樣可以使電測試結束至輻照開始時間間隔延長至72小時。其中，優選地，步驟1)和2)中用乾冰冷藏的時間均為1-72小時。優選地，適用於該方法的試驗樣品要求激活能ΔΕ大於0.四。本發明還提供阿列尼烏斯模型在延長總劑量試驗中輻照與測試間隔時間中的應用，其公式如下
權利要求
1.一種延長總劑量試驗中輻照與測試間隔時間的方法，包括用-60°C的乾冰冷藏試驗樣品。
2.根據權利要求1所述的方法，其特徵在於，用_60°C的乾冰冷藏試驗樣品1-72小時。
3.根據權利要求1或2所述的方法，其特徵在於，所述試驗樣品為衛星用元器件。
4.根據權利要求1或2所述的方法，包括下述步驟1)延長輻照結束至電測試的時間間隔在輻照結束後半小時內，把被輻照的試驗樣品冷藏在_60°C的乾冰中小時，冷藏期間， 樣品所有的引腳短接；電測試前半個小時，從乾冰中取出試驗樣品，讓試驗樣品恢復至室溫，再開始測試；2)延長兩次輻照的時間間隔在前次輻照後的電測試結束後半小時內，把測試後的樣品冷藏在_60°C的乾冰中，冷藏期間，樣品所有的引腳短接；輻照前半個小時，從乾冰中取出試驗樣品，讓試驗樣品恢復至室溫，再開始輻照。
5.根據權利要求1或2所述的方法，其特徵在於，所述試驗樣品的激活能ΔΕ大於`0. 29 ο
全文摘要
本發明涉及一種延長總劑量試驗中輻照與測試間隔時間的方法，包括用-60℃的乾冰冷藏試驗樣品。本發明方法能使輻照-測試時間間隔由原1h延長至72h；使兩次輻照時間間隔由原2h延長至144小時；能增強現行輻照試驗方法標準的可操作性，可提高輻照試驗結果的準確，使試驗結果更科學。
文檔編號G01R31/00GK102445609SQ20101051304
公開日2012年5月9日 申請日期2010年10月12日 優先權日2010年10月12日
發明者劉燕芳, 吳文章, 宋巖, 王群勇, 白樺, 鍾徵宇, 陽輝, 陳冬梅, 陳宇 申請人:北京聖濤平試驗工程技術研究院有限責任公司