免疫測定方法及免疫測定裝置製造方法
2023-12-05 05:14:41 1
免疫測定方法及免疫測定裝置製造方法
【專利摘要】本發明提供一種能進一步減少由測定對象以外的物質所導致的誤差的免疫測定方法及免疫測定裝置，檢測部件測定測定用試樣，檢測出該測定用試樣所含有的載體粒子的結合數的相關信息。控制部件根據結合數的相關信息按照結合數對測定用試樣中所含有的各粒子進行分類。再針對分類後的各組類實施第一除去處理和第二除去處理中的一種處理，根據實施除去處理所獲得的載體粒子的數據，獲取關於載體粒子的凝集度的相關信息，其中第一除去處理是指從處理對象中除去與載體粒子不同的測定對象以外的物質的數據，第二除去處理是指通過不同於所述第一除去處理的處理從處理對象中除去測定對象以外的物質的數據。
【專利說明】免疫測定方法及免疫測定裝置
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種利用粒子凝集的免疫測定方法及免疫測定裝置。
【背景技術】
[0002]人們已經知道有一種利用計數免疫分析(Counting Immunoassay, CIA)的免疫測定方法。在此免疫測定方法中，混合將測定對象物質的相應抗原或抗體致敏的載體粒子與樣本，製備測定用試樣，測定所製備的測定用試樣來獲取載體粒子的凝集程度。在此測定方法中，如果樣本中含有乳糜粒子等測定對象以外的物質，測定結果就會產生誤差。已知的用於減少這種誤差的技術比如有美國專利(U.S.Patent) N0.5527714號及美國專利申請公報(U.S.Patent Application Publication) N0.2005/148099 中記述的技術。
[0003]根據美國專利(U.S.Patent) N0.5527714中所記述的技術，在以粒徑為橫坐標、以粒子數目為縱坐標的粒度分布圖中，根據沒有出現載體粒子的區域的數據推斷測定對象以外的物質的粒度分布。然後根據從全部粒度分布減去所推斷的測定對象以外的物質的粒度分布所獲得的粒度分布獲取凝集度。
[0004]根據美國專利申請公報(U.S.Patent Application Publication) N0.2005/148099中記述的技術，在以前向散射光強度為橫坐標、以側向散射光強度或高頻電阻為縱坐標的散點圖中，設定載體粒子出現的區域和測定對象以外的物質出現的區域，根據出現在載體粒子的出現區域的粒子來獲取凝集度。
[0005]上述兩項技術雖然都能夠減少乳糜粒子等測定對象以外的物質所造成的誤差，但人們要求進一步減少誤差。
【發明內容】
[0006]本發明的範圍只由後附權利要求所規定，在任何程度上都不受這一節
【發明內容】
的陳述所限。
[0007]因此，本發明提供:
(I)一種免疫測定方法，其包括:
測定混合樣本、以及與測定對象物質相應的抗體或抗原已致敏的載體粒子所得到的測定用試樣，檢測出該測定用試樣所含有的載體粒子的結合數的相關信息；
根據所述結合數的相關信息，將測定用試樣所含有的各粒子分別按照所述結合數分類；及
根據對分類後的至少一個組類實施第一除去處理和第二除去處理中的至少一種處理所獲得的載體粒子的數據獲取載體粒子的凝集度的相關信息，其中所述第一除去處理是指從處理對象中除去與載體粒子不同的測定對象以外的物質的數據，所述第二除去處理是指通過不同於所述第一除去處理的處理從處理對象中除去測定對象以外的物質的數據。
[0008]在本形態的免疫測定方法中，針對分類後的各個組類，分別進行適當的測定對象以外的物質的數據的除去處理，由此能夠減輕測定對象以外的物質所造成的誤差的影響。[0009](2)根據(I)所述的免疫測定方法，其特徵在於:
在檢測步驟中，
用光照射所述測定用試樣，獲取所述測定用試樣中所含有的各粒子的光學信息；及 根據獲取的光學信息，檢測出前向散射光信息作為所述結合數的相關信息。
[0010]由此，能夠輕鬆、正確地獲得結合數的相關信息。
[0011](3)根據(2)所述的免疫測定方法，其特徵在於:
在檢測步驟中還根據獲取的光學信息檢測出側向散射光信息，
在獲取所述信息的步驟中，在所述第一除去處理中根據檢測出的側向散射光信息從處理對象中除去測定對象以外的物質的數據。
[0012]由此，在第一和第二除去處理中能夠輕鬆、準確地從處理對象中除去測定對象以外的物質。
[0013](4)根據(2)或(3)所述的免疫測定方法，其特徵在於:
在獲取所述信息的步驟中，在所述第二除去處理中根據檢測出的前向散射光信息從處理對象中除去測定對象以外的物質的數據。
[0014]由此就能夠輕鬆、準確地在第一和第二除去處理中從處理對象中除去測定對象以外的物質。
[0015](5)根據(I)所述的免疫測定方法，其特徵在於:
在獲取所述信息的步驟中，針對分類後的各個組類，分別選擇所述第一除去處理和第二除去處理中的其中之一作為適於除去測定對象以外的物質的數據的除去處理。
[0016]由此就能針對各個組類切實地運用恰當的除去處理。
[0017](6)根據(5)所述的免疫測定方法，其特徵在於:
在獲取所述信息的步驟中，針對分類後的組類，根據所述結合數的大小選擇所述第一除去處理和第二除去處理中的其中之一作為適於除去測定對象以外的物質的數據的除去處理。
[0018]由此就能針對分類後的各個組類切實地運用恰當的除去處理。
[0019]( 7 )根據(5 )或(6 )所述的免疫測定方法，其特徵在於:
在獲取所述信息的步驟中，在針對分類後的組類選擇了所述第一除去處理時實施所述第一除去處理。
[0020]這樣避免了在不必要的情況下實施第一除去處理，能夠提高除去處理的效率和速度。
[0021](8)根據(5)或(6)所述的免疫測定方法，其特徵在於:
在獲取所述信息的步驟中，針對分類後的各個組類實施所述第一除去處理和所述第二除去處理兩種處理；及
根據實施選擇的適於除去測定對象以外的物質的數據的除去處理所獲得的載體粒子的數據，獲取載體粒子的凝集度的相關信息。
[0022]在此方法中，根據選擇的適合除去測定對象以外的物質的數據的除去處理中的載體粒子的數據，獲取載體粒子的凝集度的相關信息，因此能夠與上述同樣地，具有進一步減輕由測定對象以外的物質引起的誤差所造成的影響的效果。
[0023](9)根據(I)所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在獲取所述信息的步驟中，針對分類後的組類中的一定組類，預先選擇所述第一除去處理和所述第二除去處理中的其中之一作為適合除去測定對象以外的物質的數據的除去處理。
[0024]此時，最好如下設置:當結合數超過一定的結合數時選擇第一除去處理，當結合數與一定的結合數相同或小於一定的結合數時選擇第二除去處理。這樣，對於一定的組類，不需要判斷第一除去處理和第二除去處理中的哪個處理更適合除去測定對象以外的物質的數據，因此能夠簡化處理。另外，如後述實施方式所提到的，對於一定的組類來說，當第一除去處理和第二除去處理中的其中一個顯然比另一個更適合除去測定對象以外的物質的數據時，本方法是一種理想的方法。
[0025](10)根據(5)所述的免疫測定方法，其特徵在於:
在獲取所述信息的步驟中，針對分類後的組類中的一定組類，判斷所述第一除去處理和所述第二除去處理中的某種處理是否適合除去測定對象以外的物質的數據；及
根據判斷結果選擇所述第一除去處理和所述第二除去處理中的其中一種處理作為適合除去測定對象以外的物質的數據的除去處理。
[0026]這樣一來，針對該一定的組類，與測定用試樣相應地動態選擇更加適合的除去處理，因此能夠更恰當地除去測定對象以外的物質。另外，如後述實施方式所言，對於一定的組類來說，當第一除去處理和第二除去處理中的哪個更適合除去測定對象以外的物質的數據不明顯時，本方法是一種理想的方法。
[0027](11)根據(5)所述的免疫測定方法，其特徵在於:
在獲取所述信息的步驟中，預先設定用於判斷所述第一除去處理是否適合除去測定對象以外的物質的數據的判斷條件，對於滿足所述判斷條件的組類選擇所述第一除去處理，對於不滿足所述判斷條件的組類選擇所述第二除去處理。
[0028]由此能夠更加切實、輕鬆地選擇適合分類後的各個組類的除去處理。
[0029]( 12 )根據(10 )或(11)所述的免疫測定方法，其特徵在於:
在獲取所述信息的步驟中，
在所述第一除去處理中，針對分類後的各個組類，分別根據表示粒子的特徵量的一定的特徵信息設定區分載體粒子的數據與測定對象以外的物質的數據的界線，
根據包括所述界線在內的一定範圍中的、包括所述特徵信息在內的粒子的粒子數，針對分類後的各個組類分別判斷所述第一除去處理是否適合除去測定對象以外的物質的數據。
[0030]由此能夠更加切實且輕鬆地針對分類後的各組類分別選擇適當的除去處理。
[0031](13)根據(12)所述的免疫測定方法，其特徵在於:
在獲取所述信息的步驟中，
當所述一定範圍中包括所述特徵信息在內的粒子的粒子數在分類後的組類中所含有的粒子的粒子數中所佔比例與一定的閾值相同或小於所述一定閾值時，判斷所述第一除去處理適合除去測定對象以外的物質的數據。
[0032]如此，當載體粒子與測定對象物質之間的界線分明時選擇第一除去處理，由此能夠恰當地從處理對象中除去測定對象以外的物質。
[0033](14)根據(12)所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在獲取所述信息的步驟中，
當所述一定範圍內包括所述特徵信息在內的粒子的粒子數與一定閾值相同或小於所述一定閾值時，判斷所述第一除去處理適合除去測定對象以外的物質的數據。
[0034]此時同上，當載體粒子與測定對象物質之間的界線分明時選擇第一除去處理，因此能夠恰當地從處理對象中除去測定對象以外的物質。
[0035](15)根據(12)所述的免疫測定方法，其特徵在於:
在檢測步驟中，
用光照射所述測定用試樣，獲取所述測定用試樣所含有的各粒子的光學信息；及 根據獲取的光學信息獲取側向散射光信息作為所述特徵信息。
[0036]另外，特徵信息除了可以使用側向散射光信息以外，還可以與美國專利申請公報(U.S.Patent Application Publication) N0.2005/148099 同樣地使用高頻電阻。
[0037](16)根據(I)所述的免疫測定方法，其特徵在於:
在獲取所述信息的步驟中，
所述第二除去處理包括:推斷測定對象以外的物質的分布狀況的處理、以及根據分類後的各組類中所含有的粒子的分布中減去所推斷的測定對象以外的物質的分布的處理。
[0038]以此，第二除去處理能夠在適當的組類中進一步減少由測定對象以外的物質所引起的誤差造成的影響。
[0039](17)根據(9)所述的免疫測定方法，其特徵在於:
在獲取所述信息的步驟中，
關於分類後的組類中的一定組類，當所述結合數超過一定的結合數時選擇所述第一除去處理，當所述結合數與一定的結合數相等或小於一定的結合數時選擇所述第二除去處理。
[0040]如此，不需要針對一定的組類判斷第一除去處理和第二除去處理中的哪個適合除去測定對象以外的物質的數據，由此能夠簡化處理。
[0041](18) 一種免疫測定裝置，其包括:
檢測部件，測定混合樣本、以及與測定對象物質相應的抗體或抗原已致敏的載體粒子而得到的測定用試樣，檢測出該測定用試樣所含有的載體粒子的結合數的相關信息；及一個用於執行以下操作的控制部件:
根據所述結合數的相關信息，將測定用試樣所含有的各粒子分別按照所述結合數分
類；
對於分類後的至少一個組類實施第一除去處理和第二除去處理中的至少其中之一，其中第一除去處理是指從處理對象中除去與載體粒子不同的測定對象以外的物質的數據，第二除去處理是指通過不同於所述第一除去處理的處理從處理對象中除去測定對象以外的物質的數據；及
根據實施除去處理所得到的載體粒子的數據，獲取載體粒子的凝集度的相關信息。
[0042]在本形態的免疫測定裝置中，與以上第一形態的免疫測定方法同樣地，針對根據載體粒子結合數分類的組類適當選用除去測定對象以外的物質的數據的除去處理，由此能夠進一步減少由測定對象以外的物質引起的誤差所造成的影響。
[0043](19)根據(18)所述的免疫測定裝置，其特徵在於: 所述控制部件分別針對分類後的各個組類選擇所述第一除去處理和第二除去處理中的其中之一作為適合除去測定對象以外的物質的數據的除去處理。
[0044]由此就能針對各個分類後的組類切實地運用適當的除去處理。
[0045](20)根據(19)所述的免疫測定裝置，其特徵在於:
針對分類後的組類，所述控制部件根據所述結合數的大小選擇所述第一除去處理和第二除去處理中的其中之一作為適合除去測定對象以外的物質的數據的除去處理。
[0046]由此，分類後的各個組類都能切實地運用適當的除去處理。
[0047](21)根據(18)至(20)中的任意一項所述的免疫測定裝置，其特徵在於:
所述檢測部件具有光照所述測定用試樣的光源和接受來自所述測定用試樣所含有的
各粒子的光的受光部件，
根據所述受光部件所接受的光的信息，檢測出前向散射光信息作為所述結合數的相關信息。
[0048]由此就能輕鬆、正確地獲取結合數的相關信息。
[0049](22)根據(21)所述的免疫測定裝置，其特徵在於:
所述檢測部件還根據所述受光部件接受的光的信息檢測出側向散射光信息。
[0050]由此就能輕鬆、正確地從處理對象中除去測定對象以外的物質。
[0051](23) 一種免疫測定方法，其包括:
測定混合樣本、以及與測定對象物質相應的抗體或抗原已致敏的載體粒子所得到的測定用試樣，檢測出該測定用試樣所含有的載體粒子的結合數的相關信息；
根據所述結合數的相關信息，將測定用試樣中所含有的各粒子分別按照所述結合數進行分類；及
對於分類後的至少一個組類，根據實施第一處理和第二處理中的至少其中一種處理所得到的載體粒子的數據，獲取載體粒子的凝集度的相關信息，其中第一處理是指從該組類所含有的粒子數據中識別載體粒子的數據，第二處理是指通過不同於所述第一處理的處理識別載體粒子的數據。
[0052](24) 一種免疫測定裝置，其包括:
檢測部件，測定混合樣本、以及與測定對象物質相應的抗體或抗原已致敏的載體粒子而得到的測定用試樣，檢測出該測定用試樣所含有的載體粒子的結合數的相關信息；及一個用於執行以下操作的控制部件:
根據所述結合數的相關信息，將測定用試樣中所含有的各粒子分別按照所述結合數分類；及
對於分類後的至少一個組類，根據實施第一處理和第二處理中的至少一種處理所得到的載體粒子的數據獲取載體粒子的凝集度的相關信息，其中第一處理是指從該組類所含有的粒子數據中識別出載體粒子的數據，第二處理是指通過不同於所述第一處理的處理識別載體粒子的數據。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0053]圖1a為免疫測定裝置的外觀結構圖；
圖1b為免疫測定裝置的內部結構圖； 圖2a為試樣製備部件的結構示意圖；
圖2b為測定部件的結構示意圖；
圖2c為流動室的結構不意圖；
圖3為免疫測定裝置的結構框圖；
圖4為控制部件實施的處理的流程圖；
圖5a是以前向散射光強度和側向散射光強度為參數的各粒子的散點圖的例示圖；
圖5b為圖5a所示散點圖中設定的劃分線的示圖；
圖6a是以前向散射光強度和粒子數為參數的各粒子的直方圖的例示圖；
圖6b是用於設定劃分線的值的示圖；
圖7為計數處理的流程圖；
圖8a為選擇處理的流程圖；
圖8b為圖7的S105的具體處理流程圖；
圖9a?圖9d是說明計數處理的過程的圖；
圖1Oa是推斷表示測定對象以外的物質的分布的曲線時所使用的直方圖的例示；
圖1Ob是表示充當對象粒子的未凝集粒子和凝集粒子的分布的直方圖的例示；
圖11為本實施方式的免疫測定裝置實際得到的測定對象物質的濃度的計算結果說明
圖；
圖12為變更例I中的計數處理的流程圖；
圖13a為變更例2中的計數處理的流程圖；
圖13b為變更例2中的計數處理所使用的表的示圖；
圖14a為變更例3中的計數處理的流程圖；
圖14b為變更例3中的計數處理所使用的表的示圖。
【具體實施方式】
[0054]下面參照附圖，詳細說明本發明的優選實施方式。
[0055]在本實施方式中，將本發明用於以下:用粒子凝集法檢測出測定對象物質和載體粒子混合所產生的凝集，並根據檢測結果對測定對象物質進行定量的免疫測定方法和免疫測定裝置。
[0056]在粒子凝集法中，先混合含有測定對象物質的樣本、與測定對象物質相應的抗體或抗原已致敏的載體粒子。若樣本中存在測定對象物質，載體粒子會因抗原抗體反應而凝集。關於被載體粒子致敏的抗體或抗原，如果測定對象物質是抗體，則使用與該抗體發生特異性抗原抗體反應的抗原。如果測定對象物質是抗原，則使用與該抗原發生特異性抗原抗體反應的抗體。比如，如果測定對象物質是癌胚抗原(CEA抗原)，則載體粒子中抗CEA抗體致敏。載體粒子只要是能夠用於粒子凝集法的普通粒子即可，如膠乳粒子、金屬粒子、樹狀大分子等。
[0057]下面參照附圖就本實施方式的免疫測定裝置I進行說明。
[0058]圖1a為免疫測定裝置I的外觀結構圖。圖1b為免疫測定裝置I的內部結構圖。
[0059]免疫測定裝置I的前面配置有罩la、開始開關lb、具有觸控螢幕的顯示輸入部件2。免疫測定裝置I內右側的空間處配置有用於控制各部件的控制部件3，免疫測定裝置I內左下方空間處配置有用於從測定試樣檢測出信號的測定部件4。免疫測定裝置I內的其餘空間處配置有用於製備測定試樣的試樣製備部件5。
[0060]圖2a為試樣製備部件5的結構示意圖。
[0061]試樣製備部件5具有樣本放置部件51、試劑放置部件52、反應部件53、分裝裝置54、以及送液裝置55。用戶打開罩Ia就能將各種容器放置到樣本放置部件51和試劑放置部件52。樣本放置部件51用於放置裝包含測定對象物質在內的血液或尿等樣本的容器。試劑放置部件52用於放置裝載體粒子懸浮液的容器和裝反應緩衝液的容器。載體粒子懸浮液是使載體粒子懸浮於水或緩衝液等適當液體中而得到的液體。反應緩衝液是與載體粒子懸浮液一起添加到樣本中的、用於調整促成抗原抗體反應的環境的液體。反應部件53用於放置空的反應杯。
[0062]分裝裝置54具有能夠從前端吸移和排出一定量液體的管，且該分裝裝置54在驅動裝置(無圖示)的驅動下能夠向上下左右前後方向移動。通過分裝裝置54，將樣本、載體粒子懸浮液和反應緩衝液適當地分裝到反應部件53的反應杯。反應部件53具有使反應杯內的溶液保持一定溫度的溫度調節構件(無圖示)、以及用於攪拌反應杯內的溶液的攪拌構件(無圖示)。樣本、載體粒子懸浮液和反應緩衝液在放置到反應部件53中的反應杯內混合，製備測定試樣。
[0063]送液裝置55具有用於吸移測定試樣的吸管55a、將從吸管55a吸移的測定試樣送入測定部件4的送液管55b、以及吸移測定試樣並將其送往測定部件4的泵55c。送液裝置55在驅動裝置(無圖示)的驅動下能夠向上下左右前後方向移動。放置在反應部件53中的反應杯內的測定試樣通過送液裝置55送入測定部件4。
[0064]圖2b為測定部件4的結構示意圖。圖2c為流動室41的結構示意圖。
[0065]測定部件4具有流動室41、雷射光源42、聚光鏡43、聚光鏡44和45、針孔46和47、光電二極體48、光電倍增管49。流動室41是一個小室，用於讓試樣製備部件5製備的測定試樣在被鞘液包被的狀態下從中流過。流動室41如圖2c所示，具有對著微孔部分41d向上噴射測定試樣的試樣噴嘴41a、鞘液供應口 41b、廢液口 41c。
[0066]從雷射光源42射出的雷射通過聚光鏡43照射到流動室41的微孔部分41d。以此，雷射照射到從微孔部分41d內流過的測定試樣上。聚光鏡44、45分別聚集從雷射照射下的測定試樣中的一個個粒子獲得的前向散射光和側向散射光。光電二極體48接受通過了針孔46的前向散射光，對接受的前向散射光進行光電轉換，生成前向散射光信號。光電倍增管49接受通過了針孔47的側向散射光，對接受的側向散射光進行光電轉換，生成側向散射光信號。針對測定試樣中的各個粒子分別生成前向散射光信號和側向散射光信號，生成的前向散射光信號和側向散射光信號輸送到控制部件3。
[0067]控制部件3根據接收到的前向散射光信號和側向散射光信號分別算出前向散射光強度和側向散射光強度，將這些強度存入存儲部件31 (參照圖3)。
[0068]在此，將通過了流動室41的微孔部分41d的各個粒子中所含有的載體粒子的數量稱為「結合數」。將未凝集的載體粒子一即結合數為I的粒子稱為「未凝集粒子」，將測定對象物質與載體粒子發生抗原抗體反應所產生的凝集塊一即結合數大於等於2的粒子稱為「凝集粒子」。凝集粒子中結合數為2、3、4的粒子分別稱為「兩個凝集粒子」、「3個凝集粒子」、「4個凝集粒子」，結合數大於等於5的粒子統稱為「結合數為5的粒子」或「5個凝集粒子」。結合數為1~5的粒子一即未凝集粒子、兩個凝集粒子、3個凝集粒子、4個凝集粒子及5個凝集粒子依次順序逐漸增大。如此，粒子大小隨結合數而變化，因此，控制部件3能夠根據前向散射光強度的大小判斷從流動室41的微孔部分41d通過的粒子是上述五種分類的粒子中的哪一類。控制部件3還能區分並計數未凝集粒子和凝集粒子，故能算出凝集度。本實施方式中，根據未凝集粒子數(M)、凝集粒子數(P)、以及M與P之和的總粒子數(T)計算出的P/T值被採用作為凝集度。
[0069]圖3為免疫測定裝置I的結構框圖。
[0070]控制部件3具有以下部分:具有CPU以及ROM和RAM等存儲裝置的微型計算機、以及用於處理各種信號的電路等。控制部件3因此具備存儲部件31、分析部件32和作業控制部件33的功能。
[0071]存儲部件31存儲著根據從測定部件4收到的前向散射光信號和側向散射光信號計算前向散射光強度和側向散射光強度的程序、根據前向散射光強度和側向散射光強度分析測定試樣的分析程序、以及控制裝置各部分的作業的控制程序。存儲部件31還存儲計算出的前向散射光強度和側向散射光強度的數據以及基於分析程序的分析結果，此外還存儲各種設定內容。分析部件32基於分析程序對測定試樣進行分析，生成關於測定試樣的分析結果。在分析部件32生成的分析結果輸出到顯示輸入部件2。作業控制部件33基於存儲部件31所存儲的控制程序控制裝置各部分的作業。
[0072]圖4為控制部件3實施的處理的流程圖。
[0073]在圖4所示處理之前，用戶先打開罩la，將裝樣本的容器和裝試劑的容器分別放置到樣本放置部件51和試劑放置部件52。然後，用戶按下開始開關lb，開始進行處理。
[0074]按下開始開關Ib後(Sll:是)，控制部件3製備測定試樣(S12)。具體而言，分裝裝置54將樣本放置部件51中放置的容器中的樣本分裝一定量(比如10 μ L)到反應部件53中放置的反應杯中。然後，分裝裝置54將試劑放置部件52中放置的容器中的反應緩衝液分裝一定量(比如80 μ L)到反應部件53中放置的反應杯中，將試劑放置部件52中放置的容器中的載體粒子懸浮液分裝一定量(比如IOyL)到反應部件53中放置的反應杯中。然後,控制部件3通過反應部件53使反應杯保持一定溫度(如45°C)，並同時攪拌反應杯內的試樣一定時間(如5分鐘)。以此在反應杯中製備測定試樣。之後，反應部件53的反應杯內的一定量的測定試樣由送液裝置55送往測定部件4的流動室41。
[0075]然後，控制部件3通過測定部件4進行測定(S13)。具體而言，由測定部件4根據從測定試樣中的各粒子獲得的前向散射光和側向散射光生成前向散射光信號和側向散射光信號。控制部件3根據前向散射光信號和側向散射光信號分別算出前向散射光強度和側向散射光強度，並將這些強度存入存儲部件31。然後，控制部件3讀取存儲部件31中存儲的前向散射光強度和側向散射光強度(S14),開始分析測定試樣。
[0076]在本說明書中，為方便說明，適當參考散點圖和直方圖。這些散點圖和直方圖未必要製作成圖形或圖表形式，只要通過數據處理能獲得同樣結果即可。另外，在製作散點圖和直方圖的步驟中，不一定要製作有兩個坐標的圖表，只要根據存儲部件31所存儲的前向散射光強度和側向散射光強度的數據生成與上述散點圖和直方圖具有同等數據結構的數據即可。
[0077] 圖5a為圖4的S14讀取的各粒子以前向散射光強度(稱為「FSC」)和側向散射光強度(稱為「SSC」)為參數的散點圖SGl的例示圖。橫坐標表示FSC，縱坐標表示SSC。FSC是反映粒子大小的信息，粒子大小隨著向散點圖SGl的右側推移而逐漸變大。SSC是反映粒子的內部信息(密度)的信息，粒子的內部信息(密度)隨著向散點圖SGl的上方推移而逐漸變大。
[0078]在散點圖SGl中，結合數為1~5的粒子一即未凝集粒子、兩個凝集粒子、3個凝集粒子、4個凝集粒子、以及5個凝集粒子依此順序從左下方向右上方分布。如此，未凝集粒子和凝集粒子根據其結合數的不同而在散點圖SGl呈現不同的分布，因此，只要設定各粒子的分布區域就能區分並計數各粒子。
[0079]返回圖4，如圖5b所示，控制部件3設定用於將散點圖SGl劃分為未凝集粒子和兩個飛個凝集粒子各自的分布區域Alf A15的劃分線Llf L14 (S15)。如後所述，劃分線L1TL14是基於直方圖HGl設定的。
[0080]圖6a是以圖4的S14讀取的各粒子的FSC和粒子數為參數的直方圖HGl的例示圖。橫坐標表示FSC,縱坐標表示粒子數。如直方圖HGl的曲線Gl所示，結合數為1~5的粒子一即未凝集粒子、兩個凝集粒子、3個凝集粒子、4個凝集粒子、以及5個凝集粒子分別分布在粒子數達到波峰時的FSC值(峰值PfP5)附近。因此，用於劃分圖5b所示區域Alf A15的劃分線Llf L14分別設定在相鄰的峰值之間。
[0081]也可以將劃分線Llf L14固定為從經驗上和統計上認為是恰當的位置。然而，即使是在同一種樣本中，各個測定試樣的劃分線Llf L14也會略有偏差，因此，要提高區域Α~Α15的劃分 精度，最好按照各個測定試樣分別對劃分線Llf L14進行微調。因此，在本實施方式中，預先設定經驗上和統計上認為恰當的劃分線Llf L14的固定值vlf vl4，與測定試樣中未凝集粒子的波峰位置(峰值Pl)相應地分別調整上述固定值vlf vl4，以此求出用於規定劃分線Llf L14的值Vl 1114。
[0082]即，如圖6b所示，存儲部件31存儲憑經驗和統計而確定了其位置的FSC的固定值Pl作為未凝集粒子的波峰。存儲部件31還分別存儲憑經驗和統計而確定了其位置的FSC的固定值vlf vl4，並將其作為未凝集和兩個凝集、兩個凝集和3個凝集、3個凝集和4個凝集、4個凝集和5個凝集的分布界線。
[0083]當直方圖HGl為圖6a所示狀態時，控制部件3用固定值vlfvl4乘以此時的峰值Pl除以固定值Pl所得數值(Pl/pl)，以此來計算出值VlfV14。即，值V11~V14分別為vllX (PI / pl)、vl2X (PI / pl)、vl3X (PI / pl)、vl4X (PI / pi)。控制部件 3 按照算出的值VlfV14如圖5b所示地設定向上下方向延伸的劃分線Llf L14。
[0084]存儲部件31除了存儲憑經驗和統計而確定其位置的FSC的固定值pi作為未凝集粒子的波峰，還可以存儲憑經驗和統計而確定其位置的FSC的固定值p2、5作為兩個飛個凝集粒子的波峰。此時，例如，值VlfV14分別通過vllX (PI / pl)、vl2X (P2 / p2)、vl3X (P3 / p3)、vl4X (P4 / p4)求出。
[0085]然後返回圖4，控制部件3如圖5b所示，用劃分線Llf L14劃分整個散點圖SGl的區域，設定結合數為廣5的粒子各自分布的區域AlfA15 (S16)0然後，控制部件3進行計數處理(S17)，該計數處理是指對區域Alf A15中分別包含的未凝集粒子和2飛個凝集粒子進行計數。
[0086]例如圖5a的區域AO所示，散點圖SGl的下部有時會分布有乳糜粒子等測定對象以外的物質。此時，圖5b的區域AlfA15中除了包含未凝集粒子或凝集粒子以外還含有測定對象以外的物質。因此，如果單純設定與結合數相應的區域Alf A15並對區域Alf A15所包含的粒子進行計數的話，將會無法精確計數區域Alf A15中所包含的未凝集粒子和凝集粒子。
[0087]因此，在本實施方式中，通過圖4所示計數處理(S17)從計數對象中除去區域Α11~Α15中所含有的測定對象以外的物質，精確計數結合數為1~5的各粒子。關於計數處理(S17 )，隨後將參照圖7和圖8a進行說明。
[0088]返回圖4，接下來，控制部件3根據計數的各粒子數算出凝集度和濃度(S18)。具體而言，控制部件3合計計數處理中得到的2飛個凝集粒子的計數值，求出合計粒子數(P)，再將未凝集粒子的粒子數(M)與合計粒子數(P)相加，求出總粒子數(T)。然後，控制部件3根據求出的合計粒子數(P)和總粒子數(T)算出凝集度(P/T)，再根據算出的凝集度和預先製作的標準曲線，算出此樣本中所含有的測定對象物質的濃度。
[0089]接下來，控制部件3將S18算出的結果存入存儲部件31 (S19)。算出的測定對象物質的濃度適當地顯示在免疫測定裝置I的顯示輸入部件2 (參照圖1a)上。至此，控制部件3進行的處理結束。
[0090]圖7為計數處理(S17)的流程圖。
[0091]控制部件3首先將存儲部件31所存儲的變量i設為I (S101)。然後，控制部件3對圖5b的區域Ali (在此變量i為I所以是區域All)實施S102~S109的處理。即，控制部件3對區域All進行從計數對象中除去測定對象以外的物質的第一除去處理(S102、S103、S108)，還進行處理來計數除去了測定對象以外的物質後的剩餘粒子，獲取第一計數值Cll(Siog)0此時，控制部件3還進行處理來判斷第一除去處理是否適於除去測定對象以外的物質的數據，並將與是否適合的結果相應的值設定為標記Fl (S10rS107)o
[0092]如此，當對區域All的處理結束後，控制部件3在變量i上加I (S110)，並判斷加I後的變量i的值是否超過5 (Slll)0如果變量i未超過5 (S111:否)，則返回S102，對區域Ali實施S102飛109的處理。在此，變量i的值變為了 2，故對圖5b的區域A12實施S102~S109的處理，獲取第一計數值C12和標記F2。
[0093]其後，在變量i的值超過5之前控制部件3反覆進行S102~S109的處理。以此，針對圖5b的區域A13、A14、A15分別獲取第一計數值C13、C14、C15和標記F3、F4、F5。
[0094]關於在S102~S109的具體處理，以對圖5b的區域A13 (變量i=3)進行的處理為例進行說明。另外，對圖5b的區域All (變量i=l)、A12 (變量i=2)、A14 (變量i=4)、A15 (變量i=5)所進行的處理也是通過同樣的步驟進行的。 [0095]圖9a~圖9d為對區域A13進行的處理的過程示意圖。
[0096]針對圖9a所示散點圖SGl的區域A13所含有的粒子，控制部件3繪製以SSC和粒子數為參數的直方圖HG2(S102)。然後，控制部件3在直方圖HG2中設定用於區分區域A13所含有的對象粒子(此時為3個凝集粒子)與測定對象以外的物質的劃分線L21 (S103)。
[0097]圖9b為直方圖HG2的波形圖。在直方圖HG2中，左側的山丘狀部分是與測定對象以外的物質相對應的部分，右側的山丘狀部分是與3個凝集粒子相對應的部分。在圖7的S102中，控制部件3首先對直方圖HG2的波形進行平滑處理，使直方圖HG2的波形變得平滑化。在此基礎上，控制部件3在左側的山丘狀部分的波峰和右側的山丘狀部分的波峰之間獲取粒子數最少時的SSC值V21。然後，控制部件3按照獲取的值V21設定向上下方向延伸的劃分線L21。此劃分線L21如圖9c所示，在散點圖SGl上相當於劃分線L22。
[0098]接著，控制部件3設定包括劃分線L21在內的一定幅度的區域A23 (S104)，以便判斷用劃分線L21劃分對象粒子與測定對象以外的物質是否恰當。即，如圖9d所示，針對劃分線L21，控制部件3設定一個在SSC縮小的方向和增大的方向上各有一定範圍的區域A23。此區域A23如圖9c所示，在散點圖SGl上相當於區域A24。
[0099]在此，如果區域A23所包含的粒子數很少，則意味著劃分線L21附近的對象粒子和測定對象以外的物質很少，因此控制部件3判斷在區域A13中對象粒子所對應的區域和測定對象以外的物質的區域分離良好。此時，控制部件3判斷用劃分線L21劃分對象粒子和測定對象以外的物質是恰當的。另一方面，如果區域A23所包含的粒子數很多，則意味著劃分線L21附近混合存在著對象粒子和測定對象以外的物質，因此控制部件3判斷在區域A13中對象粒子所對應的區域和測定對象以外的物質的區域分離地不好。此時，控制部件3判斷用劃分線L21劃分對象粒子和測定對象以外的物質是不恰當的。
[0100]如上所述，控制部件3根據包括劃分線L21在內的一定幅度的區域A23中所包含的粒子數，判斷用劃分線L2 1劃分對象粒子和測定對象以外的物質是否恰當(S105)。然後，如果控制部件3判斷用劃分線L21進行劃分是恰當的(S105:是)，則標記F3設定為I(S106)，如果用劃分線L21進行的劃分是不恰當的(S105:否)，則標記F3設為2 (S107)。
[0101]圖8b為S105的具體處理示圖。控制部件3計數區域A23中所含有的粒子數Ca(S105a)，再計數區域A13 (變量i=3)中所含有的粒子數Cb (S105b)。然後，控制部件3判斷粒子數Ca在粒子數Cb中的比例Ca/Cb是否等於一定的閾值Cshl、是否小於一定閾值Cshl(S105c)，當Ca/Cb這一比例與閾值Cshl相同或小於閾值Cshl時(S105c:是)，判斷用劃分線L21進行劃分是恰當的，在圖7的S106將標記Fi設為I。而當Ca/Cb這一比例超過閾值Cshl時(S105c:否)，控制部件3進一步判斷區域A23所含有的粒子數Ca是否等於一定的閾值Csh2、小於一定閾值Csh2 (S105d)。當粒子數Ca與閾值Csh2相同或小於閾值Csh2時(S105d:是)，控制部件3判斷用劃分線L21進行劃分是恰當的，在圖7的S106將標記Fi設為1，當粒子數Ca超過閾值Csh2時(S105d:否)，判斷用劃分線L21進行劃分是不恰當的，在圖?的S107將標記Fi設為2。
[0102]返回圖7，如此，判斷用劃分線L21劃分對象粒子和測定對象以外的物質是否恰當後，控制部件3如圖9b所示，用劃分線L21劃分直方圖HG2，設定除去了測定對象以外的物質的分布區域A21以後的區域A22—即對象粒子的分布區域A22 (SlOS)0然後，控制部件3計數區域A22所含有的粒子數，獲取該計數值作為區域A13的第一計數值C13 (S109)。
[0103]在本實施方式中，如圖7的流程圖所示，除了在S105判斷用劃分線L21進行劃分是恰當的這一情況(S105:是)之外，在判斷用劃分線L21進行劃分是不恰當的情況下(S105:否)，也會在S108、S109設定區域A22，獲取第一計數值C13。
[0104]如此，針對區域A13獲取第一計數值C13，設定標記F3。關於其他區域All、A12、A14、A15，也通過實施S102飛109的處理與上述同樣地設定劃分線L21，獲取第一計數值(:11、(:12、(:14、(:15，並設定標記卩1、卩2、卩4、卩5。
[0105]在圖7的S102~S109的處理中，通過S108的處理從處理對象除去了測定對象以外的物質的分布區域A21，因此在S109獲取的第一計數值Cli中，測定對象以外的物質的影響得到了抑制。然而，如圖5a和圖5b所示，在4個凝集及5個凝集所對應的區域A14、A15等結合數較大的區域中，雖然測定對象以外的物質明確地與對象粒子分離，但是隨著結合數變少，測定對象以外的物質與對象粒子之間的界線逐漸不明朗。因此，對於結合數較大的區域(區域A14、A15等)，用圖7的第一除去處理(S102、S103、S108)就能精確地除去測定對象以外的物質，而對於結合數較小的區域(區域A11、A12等)，用第一除去處理除去測定對象以外的物質的數據時精度會降低。
[0106]在圖7的流程圖中，第一除去處理(S102、S103、S108)是否適合除去區域Ali中的測定對象以外的物質的數據由S106、S107設定的標記Fi的值表示。即，如果在S105判斷用劃分線L21進行劃分是恰當的(S105:是)，則認為第一除去處理合適，標記Fi設為I。另一方面，如果在S105判斷用劃分線L21進行劃分是不恰當的(S105:否)，則認為第一除去處理不合適，標記Fi設為2。在判斷選擇第一計數值Cli與S112~S118獲取的第二計數值C2i中的哪個作為區域Ali的對象粒子的計數值時，將會參照如上設定的標記Fi。
[0107]上述處理完成後，控制部件3進行從計數對象中除去測定對象以外的物質的第二除去處理(S112~S114)，並進行處理來計數除去了測定對象以外的物質後的剩餘粒子，獲取結合數為廣5的粒子的計數值一即第二計數值C2fC25 (S115~S118)。 [0108]也就是說，控制部件3根據圖1Oa所示直方圖HGl推斷表示測定對象以外的物質的分布的曲線G2(S112)。圖1Oa所示直方圖HGl與圖6a所示直方圖HGl相同。具體而言，控制部件3以圖1Oa所示曲線Gl為基礎，通過樣條函數推斷表示測定對象以外的物質的分布的曲線G2。然後，控制部件3從曲線Gl減去曲線G2，由此繪製圖1Ob所示直方圖HG3，設定表示對象粒子(未凝集粒子和凝集粒子)的分布的曲線G3 (S113)。這種曲線G3的設定方法在美國專利(U.S.Patent)第5527714號上有詳細記載。
[0109]接下來，如圖1Ob所示，控制部件3根據圖4的S15算出的值V11~V14(參照圖6b)劃分設定了曲線G3的直方圖HG3，設定區域A3fA35 (SlH)0
[0110]然後，控制部件3將變量i設為I (S115)。控制部件3接著計數區域A3i中所含有的粒子(結合數為i的粒子)，獲取該計數值並將其作為第二計數值C2i(S116)。在此，變量i的值為1，因此區域A31中所含有的粒子的計數值被作為第二計數值C21獲取。其後，控制部件3將變量i加1(S117)，當變量i的值小於或等於5時(S118:否)，處理返回S116，對區域A3i進行第二計數值C2i的獲取處理。在此，通過SI 17的處理，變量i的值變為了2，因此，對區域A32實施第二計數值C22的獲取處理。這種第二計數值C2i的獲取處理反覆進行，直至變量i的值超過5 (S118:是)。這樣，依次對區域Α31~Α35進行S116飛117的處理，就結合數為I飛的粒子分別獲取第二計數值C2fC25。
[0111]在圖7的S112飛116的處理中，在S113從直方圖HGl上的曲線Gl減去表示測定對象以外的物質的分布的曲線G2，繪製了直方圖HG3，因此，在計數直方圖HG3中設定的區域Α31『Α35中所含有的粒子後獲得的第二計數值C2i中，測定對象以外的物質的影響得到了抑制。此時，如圖1Oa所示，在FSC較小的區域中，測定對象以外的物質的數量較多，因此能夠精確地推斷測定對象以外的物質的分布。因此，在FSC較低的區域中，用第二除去處理(S112飛114 )除去測定對象以外的物質的數據時的精度得以提高。
[0112]然而，如圖1Oa所示，隨著FSC增大，測定對象以外的物質的數目逐漸接近0，因此，在FSC較大的區域，很難精確地推斷測定對象以外的物質的分布。因此，用第二除去處理(S112飛114)除去測定對象以外的物質的數據時，精度隨著FSC的增大而逐漸降低。
[0113]因此，在結合數較小的區域(區域A31、A32等)中，用第二除去處理(S112~S114)除去測定對象以外的物質的數據的精度較高，但在結合數較大的區域(區域A34、A35等)中的精度會降低。
[0114]對此，如上所述，用第一除去處理(S102、103、S108)除去測定對象以外的物質的數據時的精度與第二除去處理(S112~S114)相反，在結合數較大的區域(區域A34、A35等)精度高，在結合數較小的區域(區域A31、A32等)精度低。因此，最好在第一除去處理的精度高的區域一即標記Fi為I的區域採用第一除去處理，在第一除去處理的精度低的區域一即標記Fi為2的區域採用第二除去處理。
[0115]因此，在本實施方式中，根據標記Fi的值，實施第一除去處理(S102、103、S108)後獲得的第一計數值Cli和實施第二除去處理(S112~S114)後獲得的第二計數值C2i中的其中之一將會被選定為結合數i的粒子的計數值。
[0116]圖8a為此選擇處理的流程圖。圖8a的流程圖顯示的是圖7的S118之後的處理。
[0117]即，控制部件3將變量i設為I (S119)，並判斷在S106或S107設置的標記Fi的值是否為I (S120)。當標記Fi的值為I時(S120:是)，控制部件3採用第一計數值Cli作為結合數為i的粒子的數目(S121)，當標記Fi的值為2時(S120:否)，控制部件3採用第二計數值C2i作為結合數為i的粒子的數目(S122)。在S123，在變量i上加I。S12(TS123的處理反覆進行，直至變量i超過5(S124)。如此，分別採用第一計數值Cli和第二計數值C2i中的其中之一作為結合數為廣5的粒子的粒子數。至此,計數處理結束。
[0118]如此，分別根據標記FfF5的值採用第一計數值和第二計數值中的其中之一作為結合數為廣5的粒子的粒子數，比起僅採用第一計數值Cli作為結合數為1飛的粒子的粒子數、僅採用第二計數值C2i作為結合數為1-5的粒子的粒子數，本發明的方法採用了精度更高的計數值。即，如上所述，就結合數較大的粒子而言，第一除去處理的精度高，因此第一計數值Cli的精度會有增高趨勢，就結合數較小的粒子而言，第二除去處理的精度高，因此第二計數值C2i的精度會有增高趨勢。因此，對於結合數較大的粒子宜採用第一計數值，對於結合數較小的粒子宜採用第二計數值。在本實施方式中，在S105判斷是否應採用第一計數值，根據這一判斷結果採用第一和第二計數值中的其中之一，因此能夠精確地獲取結合數為廣5的粒子的粒子數。由此，在圖4的S18就能算出較為精確的凝集度和濃度。
[0119] 下面按照圖4、圖7和圖8a的流程圖說明用免疫測定裝置I實際得到的測定對象物質的濃度的計算結果。
[0120]圖11顯示的是用七個測定試樣C(TC6通過下述處理所獲得的結果:圖4、圖7和圖8a所示處理(本實施方式)、僅獲取第一計數值的處理(比較例I)、僅獲取第二計數值的處理(比較例2)。
[0121]本測定使用希森美康株式會社生產的「Ranream HBsAg」作為測定試樣C(TC6。這是一種HBs抗原測定用試劑盒，由HBsAg膠乳試劑、HBsAg緩衝液、HBsAg樣本稀釋液、HBsAg校準品構成。本測定用HBsAg校準品作為樣本，使用HBsAg緩衝液作為反應緩衝液。載體粒子懸浮液是另行生成的用於本測定的懸浮液。另外，在本測定中，乳糜試樣使用的是希森美康株式會社生產的「幹擾檢查/A plus」(日語名稱為「幹渉子工〃。A 7° 7 ?在本測定中，在反應部件53的反應杯混合的樣本、反應緩衝液、載體粒子懸浮液保持在45°C中並攪拌5分鐘。樣本的分裝量為10 μ L，反應緩衝液的分裝量為80 μ L，載體粒子懸浮液的分裝量為10 μ L。
[0122]HBsAg膠乳試劑是使抗HBs抗體致敏的膠乳粒子的懸浮液。HBs抗原是B肝病毒(HBV)的表面抗原，用HBs抗原測定用試劑就能檢查是否處於HBV感染狀態。
[0123]在圖11中，在針對每個測定試樣設定的六個「項目」中分別顯示了凝集度(Ρ/Τ)、結合數為1~5的粒子(未凝集飛個凝集粒子)的相關信息。「實施方式」、「比較例1」、「比較例2」顯示了混有乳糜試樣的測定試樣的結果，「真值」中顯示了未混入乳糜試樣的測定試樣的結果。在實施方式與比較例1、比較例2中，「獲取值」中顯示了獲取的凝集度和獲取的粒子數，「偏離度」中顯示了與「真值」的值的偏離度。實施方式的「選擇」中顯示的是按照圖7和圖8a所示計數處理採用了比較例I (第一計數值)還是比較例2 (第二計數值)。
[0124]在本實施方式中，結合數為1~5的粒子的粒子數採用了比較例1、2中偏離度的絕對值較小的一方的計數值。比如，關於測定試樣C2的未凝集粒子，比較例I的偏離度為3.82%，比較例2的偏離度為-0.40%。本實施方式的偏離度為偏離度絕對值較小的一方一即比較例2的計數值(78985)。另外，關於測定試樣C2的3個凝集粒子，比較例I的偏離度為16.32%，比較例2的偏離度為-37.89%。本實施方式的偏離度為偏離度絕對值較小的一方一即比較例I的計數值(221)。如此，在本實施方式中採用比較例1、2中偏離度絕對值較小的一方的計數值，即更接近真值的計數值。
[0125]在本實施方式中，結合數為1~5的粒子分別採用了比較例1、2中接近真值的計數值，因此，根據結合數為1~5的粒子的粒子數算出的凝集度的偏離度絕對值或與比較例1、2相同，或小於比較例1、2。如，關於測定試樣Cl，比較例I的凝集度為1.96%，與真值的偏離度為17.76%，比較例2的凝集度為1.68%，與真值的偏離度為0.52%。與此相對，本實施方式的凝集度為1.68%，與比較例2同值。關於測定試樣C3，比較例I的凝集度為8.56%，與真值的偏離度為3.34%，比較例2的凝集度為8.50%,與真值的偏離度為2.63%。與此相對，本實施方式的凝集度為8.18%，與真值的偏離度為-1.28%。如此，在本實施方式中，凝集度的偏離度絕對值與比較例1、2相同，或小於比較例1、2，即凝集度的精度與比較例1、2相同，或比比較例1、2高。
[0126]如本實施方式的「選擇」值所示，在各測定試樣中，對於結合數較小的粒子採用比較例2 (第二計數值)，對於結合數較大的粒子採用比較例I (第一計數值)。關於結合數為中等的粒子，選擇並採用比較例I (第一計數值)和比較例2 (第二計數值)中的其中之一。
[0127]根據本實施方式，控制部件3分別針對散點圖SGl的區域Α11~Α15判斷劃分線L21能否進行恰當的劃分。如果控制部件3判斷能夠進行正確劃分，則選擇通過第一除去處理獲得的第一計數值，如果判斷不能進行恰當劃分，則選擇通過第二除去處理獲得的第二計數值。以此就能更加有效地減輕由測定對象以外的物質引起的誤差而造成的對凝集度和濃度的影響。
[0128]在本實施方式中，在S105中，控制部件3分別判斷圖9d所示區域A23中所含有的粒子數、以及區域A23所含有的粒子數在直方圖HG2整體所含有的粒子數中的比率是否等於一定閾值Csh2、Cshl、是否小於一定閾值Csh2、Cshl。通過上述判斷就能恰當地判斷在直方圖HG2中，與測定對象以外的物質相對應的左側的山丘狀部分以及與對象粒子相對應的右側的山丘狀部分的界線是否明確。由此，通過S105的判斷就能恰當地判斷第一除去處理是否合適，能夠恰當地對第一計數值和第二計數值進行選擇。
[0129]在上述實施方式中，用散點圖SGl和直方圖HGf HG3說明了圖4、圖7和圖8a所示處理，在這些圖中標明了劃分線和區域。然而，如上所述，沒必要實際將這些圖和劃分線、區域畫出來並對其進行例如顯示在顯示輸入部件2等的操作，僅將其作為控制部件3的分析部件32所實施的處理進行設定即可。具體而言，比如，在存儲部件31所存儲的全部粒子的信息中附加上表示粒子被分類為結合數廣5的粒子還是測定對象以外的物質的粒子，劃分線和區域則通過表示坐標的數值設定。
[0130]以上對本發明的實施方式進行了說明，但本發明的實施方式不限於此。
[0131]比如，在上述 實施方式中，對所有結合數的粒子實施第一和第二除去處理，獲取第一和第二計數值，然後選擇某一方的計數值。但是不限於此，也可以只獲取第一和第二計數值中恰當的計數值。
[0132]圖12為此時的計數處理的流程圖(變更例I)。在圖12所示計數處理中，圖7和圖8a所示計數處理的S109、S116分別更換為S131、S133，在S115之後追加S132。另外，在S107的處理之後，改為處理前進到S110。此外，在圖12所示計數處理中省略圖8a的S119~S124。
[0133]此時，關於結合數為i的粒子，如果用劃分線L21進行劃分是不恰當的(S105:否)，則控制部件3將標記Fi設為2 (S107)，並將處理推進到S110。即，在本變更例中，如果用劃分線L21進行劃分是不恰當的(S105:否)，則第一除去處理(S108)和粒子數計數值的獲取處理(S131)將會被跳過。另一方面，關於結合數為i的粒子，如果用劃分線L21進行劃分是恰當的(S105:是)，則控制部件3將標記Fi設為I (S106)，對通過劃分線L21劃分的A22中所含有的粒子數進行計數，獲取該計數值作為結合數為i的粒子的粒子數(S131)。
[0134]控制部件3在S115將變量i設為I後，判斷標記Fi的值是否為2 (S132)。當標記Fi的值不為2時(S132:否)，控制部件3跳過粒子數的計數值的獲取處理(S133)。另外，當標記Fi的值為2時(S132:是)，控制部件3計數區域A3i中所含有的粒子的粒子數，獲取該計數值作為結合數為i的粒子的粒子數(S133)。
[0135]通過圖12所示計數處理，與上述實施方式同樣地，能夠精確地獲取結合數為1-5的粒子的粒子數。此外，當第一除去處理不合適時(S105:否)，不實施第一除去處理(S108)，因此能夠提高處理的效率及速度。另外，當第一除去處理不恰當時(S105:否)，跳過S131的計數值的獲取處理，當第二除去處理不恰當時(S132:否)，跳過S133的計數值的獲取處理，因此，與上述實施方式相比，計數處理的效率和速度能夠得到提高。
[0136]在上述實施方式中，針對結合數為f 5的5個種類的全部粒子，分別在S105判斷第一除去處理是否恰當。但也可以不進行此判斷，預先就各個結合數選擇第一除去處理和第二除去處理中的其中之一作為適合除去測定對象以外的物質的數據的處理。
[0137]圖13a為此時的計數處理的流程圖(變更例2)。在圖13a的計數處理中，向圖12所示計數處理追加了 S201，並刪除了 S103~S106。此外，存儲部件31中儲存圖13b所示表，表示選擇第一除去處理還是第二除去處理的標記Ff F5與其值之間建立關聯。如果標記Fi的值為1，則選擇第一除去處理(S102、S103、S108)作為恰當的除去處理，如果標記Fi的值為2，則選擇第二除去處理(S112~S114)作為恰當的除去處理。
[0138]控制部件3將變量i設為I (SlOl)，判斷存儲部件31中存儲的標記Fi的值是否為I (S201)。在此，如果標記Fi的值不為I (S201:否)，則控制部件3跳過第一除去處理(S102、S103、S108)和粒子數的計數值的獲取處理(S131)，並在變量i上加I (SllO)0另一方面，如果標記Fi的值為I (S201:是)，則控制部件3實施第一除去處理(S102、S103、S108),設定區域A22，再計數所設定的區域A22中所含有的粒子的粒子數，獲取該計數值作為結合數為i的粒子的粒子數(S131)。
[0139]上述處理反覆進行，直至變量i的值超過5。以此，僅就標記Fi的值為I的結合數的粒子獲取粒子數。當如圖13b所示地設定了標記Fi時，通過S102、S103、S108、S131的處理，僅就結合數為3、4、5的粒子獲取粒子數，結合數為1、2的粒子不獲取粒子數。對於結合數為1、2的粒子，通過S132、S133的處理獲取粒子數。
[0140]通過圖13a所示計數處理，與上述實施方式同樣地，能夠精確地獲得結合數為廣5的粒子的粒子數。此外，由於不用判斷第一除去處理(S102、S103、S108)是否適合除去測定對象以外的物質的數據，因此能夠使處理變得更加簡單而迅速。
[0141]如上所述，對於結合數較大的粒子，第一除去處理的精度高，對於結合數較小的粒子，第二除去處理的精度高。因此，也可以根據此傾向預先選擇第一除去處理和第二除去處理中的其中之一作為適合除去測定對象以外的物質的數據的除去處理。圖13b所示標記Fi的設定內容反映了此傾向。即，關於與結合數較大的粒子相對應的標記F4、F5，因為第一除去處理的精度高，因此設定表示選擇第一除去處理的數值1，關於與結合數較小的粒子相對應的標記F1、F2，因為第二除去處理的精度高，因此設定表示選擇第二除去處理的數值2。從圖11所示驗證結果也可以知道，對於結合數為4、5的粒子來說第一除去處理的精度高，對於結合數為1、2的粒子來說第二除去處理的精度高。
[0142]如此，預先選擇和設定第一除去處理和第二除去處理中的其中之一，在對該結合數的粒子來說哪種除去處理更合適從統計上和經驗上是顯而易見的情況下，這一方法特別適合。
[0143]從圖11所示驗證結果來看，關於結合數為3的粒子，第一除去處理和第二除去處理中的哪個更適合除去測定對象以外的物質的數據會因測定對象試樣的不同而各異。對此，在圖13b所示標記Fi的設定中，對於結合數為3的粒子選擇第一除去處理。因此可以想像到，在有的測定對象試樣中，就結合數為3的粒子獲取的粒子數中可能包含著由測定對象以外的物質引起的誤差。
[0144]然而，雖然如上所述，就結合數為3的粒子獲取的粒子數的精度有可能較低，但就其他結合數的粒子獲取的粒子數的精度卻維持在很高水平。因此，本變更例也能夠提高圖4的S18算出的凝集度和濃度的精度。
[0145]在圖13a的計數處理中，也可以如下設置:僅僅就第一除去處理和第二除去處理中的哪個更適合除去測定對象以外的物質的數據這一結果不明確的結合數的粒子(在此是結合數為3的粒子)判斷第一除去處理和第二除去處理中的某個是否適合除去測定對象以外的物質的數據。
[0146]圖14a為此時的計數處理的流程圖(變更例3)。在圖14a所示流程圖中，Slll以後的處理步驟與圖13a所示流程圖相同。圖14a的計數處理是在圖13的計數處理中追加了 S2lfS216。存儲部件31中存儲著圖14b所示表，表示選擇第一除去處理和第二除去處理中的哪一個或者是表示進行判斷處理的標記Ff F5與其值之間建立起關聯。如果標記Fi的值為I，選擇第一除去處理(S102、S103、S108)作為恰當的除去處理，如果標記Fi的值為2，選擇第二除去處理(S112?S114，參照圖13a)作為恰當的除去處理，如果標記Fi的值為3，選擇判斷第一除去處理和第二除去處理中的哪一個適合除去測定對象以外的物質的數據的判斷處理。
[0147]在S201，當判斷標記Fi的值不是I時(S201:否)，控制部件3再判斷標記Fi的值是不是2(S211)。在此，如果標記Fi的值為2(S211:是)，控制部件3將處理推進到S110。另一方面，當標記Fi的值不是2時，即當標記Fi的值為3時(S211:否)，控制部件3對區域Ali實施S212?S215的判斷處理。在此，在S212?S215的處理分別與圖7的S102?S105的處
理相同。
[0148]在S215，如果判斷用劃分線L21進行劃分是合適的，即，如果判斷第一除去處理適合除去測定對象以外的物質的數據(S215:是)，則控制部件3使處理進入S108，對區域Ali(在此為區域A13)進行粒子數的計數值的獲取處理(S108、S131)。而如果判斷用劃分線L21進行劃分是不合適的，即，如果判斷第一除去處理不適於除去測定對象以外的物質的數據(S215:否)，則控制部件3暫時將標記Fi改寫成2(S216)，並使處理進入S110。此時，對於結合數為i的粒子(在此是結合數為3的粒子)，圖13a的S132的判斷結果為是，實施S133的計數值的獲取處理，獲取基於第二除去處理的粒子數。
[0149]通過圖14a所示計數處理，與上述實施方式同樣地，能夠精確地獲取結合數為廣5的粒子的粒子數。而且，僅僅針對第一除去處理和第二除去處理中的哪個適合除去測定對象以外的物質的數據這一事項不明確的結合數的粒子進行判斷處理，因此能夠在提高粒子數的計數精度的同時實現處理的簡化和快速化。
[0150]如此，第一除去處理和第二除去處理中的哪個更適合除去測定對象以外的物質的數據的判斷處理特別適合下述情況:統計上和經驗上不明確哪種除去處理適合該結合數的粒子。
[0151]當如圖14a所示地進行計數處理時，免疫測定裝置I也可以在存儲部件31中存儲複數個圖14b所示表(標記Ff F5的值)，並使得這些表(標記Ff F5的值)能根據測定對象物質和測定條件等適當更換。如此，即使測定對象物質或測定條件等發生變化也能夠精確獲取粒子數。
[0152]在上述實施方式中，散點圖SGl的橫坐標和直方圖HG1、HG3的橫坐標使用了 FSC，但也可以使用粒子從直流電流動的電極間通過時所獲得的直流電阻這一電信息代替FSC。此外，散點圖SGl的縱坐標和直方圖HG2的橫坐標使用了 SSC，但也可以使用粒子從高頻電流流動的電極間通過時所獲得的高頻電阻這一電信息代替SSC。
[0153]此外，本發明的實施方式在權利要求所示技術思想的範圍內可以進行各種適當變更。
【權利要求】
1.一種免疫測定方法，包括: 測定混合樣本以及與測定對象物質相應的抗體或抗原已致敏的載體粒子所得到的測定用試樣，檢測出該測定用試樣所含有的載體粒子的結合數的相關信息； 根據所述結合數的相關信息，將測定用試樣所含有的各粒子分別按照所述結合數分類；以及 根據對分類後的至少一個組類實施第一除去處理和第二除去處理中的至少一種處理所獲得的載體粒子的數據獲取載體粒子的凝集度的相關信息，其中所述第一除去處理是指從處理對象中除去與載體粒子不同的測定對象以外的物質的數據，所述第二除去處理是指通過不同於所述第一除去處理的處理從處理對象中除去測定對象以外的物質的數據。
2.根據權利要求1所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在檢測步驟中，用光照射所述測定用試樣，獲取所述測定用試樣中所含有的各粒子的光學信息；以及，根據獲取的光學信息，檢測出前向散射光信息作為所述結合數的相關信肩、O
3.根據權利要求2所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在檢測步驟中還根據獲取的光學信息檢測出側向散射光信息； 在獲取所述信息的步驟中，在所述第一除去處理中根據檢測出的側向散射光信息從處理對象中除去測定對 象以外的物質的數據。
4.根據權利要求2或3所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在獲取所述信息的步驟中，在所述第二除去處理中根據檢測出的前向散射光信息從處理對象中除去測定對象以外的物質的數據。
5.根據權利要求1所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在獲取所述信息的步驟中，針對分類後的各個組類，分別選擇所述第一除去處理和第二除去處理中的其中之一作為適於除去測定對象以外的物質的數據的除去處理。
6.根據權利要求5所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在獲取所述信息的步驟中，針對分類後的組類，根據所述結合數的大小選擇所述第一除去處理和第二除去處理中的其中之一作為適於除去測定對象以外的物質的數據的除去處理。
7.根據權利要求5或6所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在獲取所述信息的步驟中，在針對分類後的組類選擇了所述第一除去處理時實施所述第一除去處理。
8.根據權利要求5或6所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在獲取所述信息的步驟中，針對分類後的各個組類實施所述第一除去處理和所述第二除去處理兩種處理；以及，根據實施選擇的適於除去測定對象以外的物質的數據的除去處理所獲得的載體粒子的數據，獲取載體粒子的凝集度的相關信息。
9.根據權利要求1所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在獲取所述信息的步驟中，針對分類後的組類中的一定組類，預先選擇所述第一除去處理和所述第二除去處理中的其中之一作為適合除去測定對象以外的物質的數據的除去處理。
10.根據權利要求5所述的免疫測定方法，其特徵在於:在獲取所述信息的步驟中，針對分類後的組類中的一定組類，判斷所述第一除去處理和所述第二除去處理中的某種處理是否適合除去測定對象以外的物質的數據；以及，根據判斷結果選擇所述第一除去處理和所述第二除去處理中的其中一種處理作為適合除去測定對象以外的物質的數據的除去處理。
11.根據權利要求5所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在獲取所述信息的步驟中，預先設定用於判斷所述第一除去處理是否適合除去測定對象以外的物質的數據的判斷條件，對於滿足所述判斷條件的組類選擇所述第一除去處理，對於不滿足所述判斷條件的組類選擇所述第二除去處理。
12.根據權利要求10或11所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在獲取所述信息的步驟中，在所述第一除去處理中，針對分類後的各個組類，分別根據表示粒子的特徵量的一定的特徵信息設定區分載體粒子的數據與測定對象以外的物質的數據的界線；根據包括所述界線在內的一定範圍中的、包含所述特徵信息的粒子數，針對分類後的各個組類分別判斷所述第一除去處理是否適合除去測定對象以外的物質的數據。
13.根據權利要求12所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在獲取所述信息的步驟中，當所述一定範圍中包含所述特徵信息的粒子數在分類後的組類中所含有的粒子數中所佔比例與一定的閾值相同或小於所述一定閾值時，判斷所述第一除去處理適合除去測定對象以外的物質的數據。
14.根據權利要求12所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在獲取所述信息的步驟中，當所述一定範圍內包含所述特徵信息的粒子數與一定閾值相同或小於所述一定閾值時，判斷所述第一除去處理適合除去測定對象以外的物質的數據。
15.根據權利要求12所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在檢測步驟中，用光照射所述測定用試樣，獲取所述測定用試樣所含有的各粒子的光學信息；以及，根據獲取的光學信息獲取側向散射光信息作為所述特徵信息。
16.根據權利要求1所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在獲取所述信息的步驟中，所述第二除去處理包括:推斷測定對象以外的物質的分布狀況的處理、以及在分類後的各組類中所含有的粒子的分布中減去所推斷的測定對象以外的物質的分布的處理。
17.根據權利要求9所述的免疫測定方法，其特徵在於: 在獲取所述信息的步驟中，關於分類後的組類中的一定組類，當所述結合數超過一定的結合數時選擇所述第一除去處理，當所述結合數與一定的結合數相等或小於所述一定的結合數時選擇所述第二除去處理。
18.一種免疫測定裝置，包括: 檢測部件，測定混合樣本以及與測定對象物質相應的抗體或抗原已致敏的載體粒子而得到的測定用試樣，檢測出該測定用試樣所含有的載體粒子的結合數的相關信息；以及 控制部件能夠根據所述結合數的相關信息，將測定用試樣所含有的各粒子分別按照所述結合數分類，對於分類後的至少一個組類實施第一除去處理和第二除去處理中的至少其中之一，其中第一除去處理是指從處理對象中除去與載體粒子不同的測定對象以外的物質的數據，第二除去處理是指通過不同於所述第一除去處理的處理從處理對象中除去測定對象以外的物質的數據，以及根據實施除去處理所得到的載體粒子的數據，獲取載體粒子的凝集度的相關信息。
19.根據權利要求18所述的免疫測定裝置，其特徵在於: 所述控制部件分別針對分類後的各個組類選擇所述第一除去處理和第二除去處理中的其中之一作為適合除去測定對象以外的物質的數據的除去處理。
20.根據權利要求19所述的免疫測定裝置，其特徵在於: 針對分類後的組類，所述控制部件根據所述結合數的大小選擇所述第一除去處理和第二除去處理中的其中之一作為適合除去測定對象以外的物質的數據的除去處理。
21.根據權利要求18至20中的任意一項所述的免疫測定裝置，其特徵在於: 所述檢測部件具有光照所述測定用試樣的光源和接受來自所述測定用試樣所含有的各粒子的光的受光部件； 根據所述受光部件所接受的光的信息，檢測出前向散射光信息作為所述結合數的相關信息。
22.根據權利要求21所述的免疫測定裝置，其特徵在於: 所述檢測部件還根據所述受光部件接受的光的信息檢測出側向散射光信息。
23.一種免疫測定方法，包括: 測定混合樣本以及與測定對象物質相應的抗體或抗原已致敏的載體粒子所得到的測定用試樣，檢測出該測定用試樣所含有的載體粒子的結合數的相關信息； 根據所述結合數的相關信息，將測定用試樣中所含有的各粒子分別按照所述結合數進行分類；以及 對於分類後的至少一個組類，根據實施第一處理和第二處理中的至少其中一種處理所得到的載體粒子的數據，獲取載體粒子的凝集度的相關信息，其中第一處理是指從該組類所含有的粒子數據中識別載體粒子的數據，第二處理是指通過不同於所述第一處理的處理識別載體粒子的數據。
24.一種免疫測定裝置，其包括: 檢測部件，測定混合樣本以及與測定對象物質相應的抗體或抗原已致敏的載體粒子而得到的測定用試樣，檢測出該測定用試樣所含有的載體粒子的結合數的相關信息；以及 控制部件能夠根據所述結合數的相關信息，將測定用試樣中所含有的各粒子分別按照所述結合數分類，以及對於分類後的至少一個組類，根據實施第一處理和第二處理中的至少一種處理所得到的載體粒子的數據獲取載體粒子的凝集度的相關信息，其中第一處理是指從該組類所含有的粒子數據中識別出載體粒子的數據，第二處理是指通過不同於所述第一處理的處理識別載體粒子的數據。
【文檔編號】G01N33/543GK103983768SQ201410037190
【公開日】2014年8月13日 申請日期:2014年1月26日 優先權日:2013年1月31日
【發明者】越村直人 申請人:希森美康株式會社