自動分析裝置製造方法
2024-03-30 00:38:05
自動分析裝置製造方法
【專利摘要】本發明提供安裝有光散射光度計的自動分析裝置，在降低外部光線的影響，提高分析精度的同時，安全且使用方便。在本體殼體的內部具有散射光測定部，具有覆蓋本體殼體的上表面（410）的可開閉的保護蓋（610～630）。在中央的保護蓋（610）上形成有遮蔽外部光線的遮光部。此外，在保護蓋上設置有可透視內部的透視部（621，631）。遮光部通過覆蓋至少相當於散射光測定部的上方的反應盤的區域，從而減少漏入散射光測定部的外部光線，使散射光測定不受外部光線的影響。保護蓋除了分成三部分的結構外，還可以為分成二部分的結構或一片的結構。
【專利說明】自動分析裝置
【技術領域】
[0001]本發明涉及分析血液、尿等生物體試樣的自動分析裝置。
【背景技術】
[0002]在醫療診斷用的臨床檢查中，進行血液、尿等生物體試樣中的蛋白質、糖、脂質、酶、激素、無機離子、疾病標記等生化分析、免疫學分析。在臨床檢查中，因為需要對於多個檢查項目進行可靠性高且高速地處理，所以其中大部分採用自動分析裝置實施處理。
[0003]用自動分析裝置測定的反應主要有底物和酶的顯色反應、抗原和抗體的免疫反應這2種。使用前者的反應的分析稱為生化分析，作為檢查項目有LDH、ALP、AST等。生化分析例如將在血清等試樣中混合所需試劑進行反應後的反應液作為分析對象，通過測定其吸光度來進行。使用後者的反應的分析稱為免疫分析，作為檢查項目有CRP、IgG、RF等。在用後者測定的被測物質中，存在在血藥濃度低的低濃度區域需要定量的檢查項目，在這樣的項目中，使用在表面結合抗體的乳膠顆粒作為增強劑使用的乳膠免疫分析。
[0004]在專利文獻I中記載了根據散射光變化來測定液體試樣的濁度等的自動分析裝置，設置附帶分注孔的遮光用旋轉蓋用以覆蓋反應容器夾持盤。通過遮光用旋轉蓋的分注孔將試劑分注於反應容器後，通過使遮光用旋轉蓋旋轉從而使分注孔從光度計之上旋轉至相反側，使光度計在暗室狀態下測定。
[0005]現有技術文獻
[0006]專利文獻
[0007]專利文獻1:日本特開昭63 - 132169號公報
【發明內容】
[0008]發明要解決的課題
[0009]在乳膠免疫分析中，試劑中含有的乳膠顆粒表面的抗體將試樣中含有的被測物質抗原識別並與之結合，其結果，乳膠顆粒通過抗原發生凝集，生成乳膠顆粒的凝集體。在以往的自動分析裝置中，用光照射該凝集體進行分散的反應液，測定在乳膠顆粒的凝集體上未散射而透過的透光量。抗原的濃度越高，一定時間後凝集體的尺寸變得越大，因為有更多的光發生散射，所以透光量減少。因此，可以根據作為反應過程數據而測定的光量對抗原濃度定量。
[0010]近年來，期待乳膠免疫分析的更高的高靈敏度化。作為乳膠免疫分析的高靈敏度化的方法，考慮不用透射光而是採用散射光來測定乳膠凝集反應的方法。在採用散射光測定方式時，由於通過乳膠顆粒的凝集體發生散射的散射光強度微弱，所以容易受到外部光線的影響。因此，需要防止來自自動分析裝置外部的光射入光散射光度計。此外，自動分析裝置具備試樣分注機構、試劑分注機構等機構部，在運行中需要採用目視確認機構部是否正常工作。
[0011]在引用文獻I記載的技術中，為了旋轉驅動遮光用旋轉蓋，需要準備新的驅動系統。此外，由於在分析中機器上表面也處於開放狀態，所以存在塵埃等汙染機器，或操作人員不注意觸碰機器而意外受損等可能性。
[0012]本發明的目的是提供安裝有光散射光度計的自動分析裝置，該自動分析裝置降低外部光線的影響而提高分析精度，同時安全且使用方便。
[0013]本發明的自動分析裝置，在本體殼體的上表面配置有樣品盤、試劑盤、反應盤以及多個分注機構，所述樣品盤保持多個樣品，所述試劑盤保持多種試劑，所述反應盤保持多個反應單元，所述多個分注機構具備固定於轉動的臂上的噴嘴並將樣品或試劑向保持在反應盤上的反應單元內分注。在本體殼體的內部設置有散射光測定部，該散射光測定部具備向反應單元進行光照射的光源和接收通過光照射由反應單元內的反應液所產生的散射光的光接收器。另外，具備可開閉地覆蓋本體殼體的上表面的保護蓋。在保護蓋上設置有遮蔽外部光線的遮光部和可透視內部的透視部，保護蓋的遮光部覆蓋至少相當於散射光測定部的上方的反應盤的區域。
[0014]發明的效果
[0015]根據本發明，可以得到降低外部光線的影響可進行高精度的分析，並且安全、使用方便的自動分析裝置。
[0016]除上述之外的課題、構成及效果，通過以下實施方式進行說明。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0017]圖1為本發明的自動分析裝置的一例的本體殼體上表面的構件的概略配置圖。
[0018]圖2為表示自動分析裝置的整體構成例的概略圖。
[0019]圖3為散射光測定部的概略圖。
[0020]圖4為表示本發明的自動分析裝置的實施例的概略立體圖。
[0021]圖5為表示保護蓋重疊狀態的截面示意圖。
[0022]圖6為表示鎖定結構的一例的截面示意圖。
[0023]圖7為表示打開右側的保護蓋的狀態的圖。
[0024]圖8為表示打開所有保護蓋的狀態的圖。
[0025]圖9為表示保護蓋的遮光範圍的圖。
[0026]圖10為表示保護蓋和遮光壁的關係的詳細圖。
[0027]圖11為表示遮光壁和分注機構的關係的說明圖。
[0028]圖12為表示本發明的自動分析裝置的實施例的概略立體圖。
[0029]圖13為表示本發明的自動分析裝置的實施例的概略立體圖。
【具體實施方式】
[0030]以下，參照附圖來說明本發明的實施方式。
[0031]圖1為本發明的自動分析裝置的一例的本體殼體上表面410上的構件的概略配置圖。本實施例的自動分析裝置，在本體殼體的上表面配置有試樣盤110、試劑盤120、反應盤150、試樣分注機構210、試劑分注機構220。在本實施例中，在本體殼體的上表面410上，將反應盤150配置於圖的左右方向的中間，在反應盤的右側配置有試劑盤120和試劑分注機構220。此外，在反應盤150的左側配置有試樣盤110和試樣分注機構210。為了保存試劑，試劑盤具備冷藏功能，其上部由試劑盤蓋覆蓋。在此，試劑盤是一個，但當然也可以配置多個，也可根據試劑盤的數量、配置來增加試劑分注機構。
[0032]此外，自動分析裝置具備用於在反應單元內攪拌混合液的的攪拌部、用於洗淨反應單元的反應單元洗淨部、用於洗淨分注機構的噴嘴的噴嘴洗淨部等。此外，在本體殼體的內部設置有構成分析裝置的未圖示的各種設備、用於驅動這些設備的電源、控制機構、恆溫槽、洗淨泵等。因為這些作為本發明的構成並不重要，在以往的自動分析裝置中也都具備，因此將圖示及詳細的說明省略。
[0033]本發明的自動分析裝置可在執行吸光度測定的同時執行散射光測定。在本體殼體內，在反應盤150的圓周上固定的區域配置有用於測定來自反應液的散射光的散射光測定部310。在本實施例中，散射光測定部310配置於圖1中所見的偏離反應盤150的中心靠近左側的區域。此外，散射光測定部310配置於與試樣分注機構210的移動路徑重疊的區域。
[0034]圖2為表示包括圖1所示的自動分析裝置的控制系統在內的整體構成例的概略圖。
[0035]試樣盤110上配置有多個收納試樣的試樣杯111。試劑盤120上配置有多個收納試劑的試劑瓶121。反應盤150的圓周上配置有多個在內部使試樣和試劑混合形成反應液的反應單元151。試樣分注機構210具備以支柱為軸而轉動的臂和固定於臂上的噴嘴，從試樣杯111向反應單兀151分注一定量試樣。試劑分注機構220具備以支柱為軸而轉動的臂和固定於臂上的噴嘴，從試劑瓶121向反應單元151分注一定量試劑。攪拌部155在反應單元151內將試樣和試劑進行攪拌混合。反應單元洗淨部156從在分析結束後的反應單元151將反應液排出洗淨。洗淨後的反應單元151中再次由試樣分注機構210分注下一個試樣，由試劑分注機構220分注新的試劑，用於其他的反應。反應單元151浸潰於溫度流量被控制的恆溫槽內的恆溫流體157中，反應單元151及其中的反應液可在保持一定溫度的狀態下移動。恆溫流體157例如使用水，恆溫流體溫度通過控制部調溫至37±0.1°C。在反應盤150圓周上的一部分上設置有散射光測定部310。
[0036]圖3為散射光測定部的概略圖。散射光測定部設置於本體殼體的內部，具備向反應單元進行光照射的光源、接受通過光照射由反應單元內的反應液產生的散射光的光接受器。作為光源311，例如可使用LED光源，將來自光源311的照射光312射入移動中的反應單元151，通過散射光接受器314接受散射光313。來自光源311的照射光的波長，例如可以為700nm。散射光接受器314測定在相對於光軸偏離角度Θ的方向散射的散射光313。角度Θ例如可以使Θ =20 °。通過散射光接受器314接受的散射光量的數據，通過測定部輸入PC內的數據存儲部。
[0037]試樣中的被測物質的濃度定量按照以下順序進行。首先，通過試樣分注機構210將試樣杯111內的試樣向反應單元151分注一定量。接著，通過試劑分注機構220將試劑瓶121內的試劑向反應單元151內分注一定量。進行這些分注時，試樣盤110、試劑盤120、反應盤150在控制部的控制下被各自的驅動部旋轉驅動，配合分注機構210、220的分注時間而移動試樣杯111、試劑瓶121、反應單元151。接著，通過攪拌部155將分注於反應單元151內的試樣和試劑攪拌，形成反應液。來自反應液的散射光，在反應盤150旋轉的過程中，每次通過散射光測定部310時被測定，作為反應過程數據從測定部依次被儲存在數據存儲部中。測定一定時間例如約10分鐘後，通過反應單元洗淨部156將反應單元151內洗淨，進行下一個檢查項目的分析。這樣保持一定時間間隔後的反應液的反應過程數據被儲存於數據存儲部中。利用存儲的散射光測定部的反應過程數據，在解析部中求出反應一定時間的光量的變化，根據事先保存在數據存儲部中的檢測限數據，算出定量結果，從輸出部顯示出來。各部的控制分析所需要的數據，從輸入部輸入到數據存儲部。數據存儲部中存儲的各種數據、解析結果以及警示通過輸出部顯示等而被輸出。
[0038]本發明的自動分析裝置，為了提高分析精度，具備檢測由反應液散射的散射光的散射光測定部。但是由於被散射光測定部檢測的散射光微弱，不能忽視外部光線的影響，因此需要進行遮光，以免外部光線進入散射光測定部。在此，外部光線進入散射光測定部的散射光接受器的主要路徑是反應單元的上方開口部。外部光線從用於分注試樣、試劑而開口的反應單元的上部開口部進入反應單元內時，其中一部分在反應單元的壁部、周圍的構成物上發生散射從而被散射光接受器檢測出來，成為噪音的原因。此外認為，由於在反應盤上以狹窄的間隔相鄰配置有多個反應單元，因此經過與進行散射光測定的反應單元鄰接的反應單元，外部散射光射入散射光測定部的散射光接受器。因此，為了防止外部光線進入散射光接受器，對至少與散射光測定部的上方區域重疊的反應盤的區域在儘可能寬廣的範圍內進行遮光是有效的。
[0039]另一方面，由於在試樣盤上安裝新的試樣杯組套，或者通過插入裝填裝入了需要分析的試樣的試樣杯，所以產生頻繁的存取。因此，自動分析裝置需要具備在保持對散射光測定部的外部光線進行遮光的狀態下，可對試樣盤存取的結構。進而，自動分析裝置優選具有採用目視可以確認運行中分注機構等的動作的結構。
[0040]在本發明中，通過研究自動分析裝置的覆蓋本體殼體的上部的可開閉的保護蓋的結構來滿足上述要求。在保護蓋上形成遮蔽外部光線的遮光部，並且設置可透視內部的透視部。遮光部，通過至少覆蓋相當於散射光測定部的上方的反應盤的區域，降低漏入散射光測定部的外部光線，使散射光測定不受外部光線的影響。
[0041]可開閉的保護蓋可以為分成二部分的結構，也可以為分成三部分的結構。分成二部分的結構的保護蓋由形成遮光部的第I保護蓋和設置有透視部的第2保護蓋構成。此時，第2保護蓋可單獨地開閉，但形成遮光部的第I保護蓋是在打開第2保護蓋之後打開，或者是如果不與第2保護蓋同時打開就無法打開。
[0042]分成三部分結構的保護蓋由形成遮光部的第I保護蓋和分別位於第I保護蓋的兩偵U、分別設置有透視部的第2保護蓋和第3保護蓋構成。此時，第2保護蓋和第3保護蓋可分別單獨地開閉，但形成遮光部的第I保護蓋，是在打開第2保護蓋和第3保護蓋之後打開，或者是如果不與第2及第3保護蓋同時打開就無法打開的結構。
[0043]以下，對於具備可開閉的保護蓋的自動分析裝置的具體結構進行說明。
[0044]實施例1
[0045]圖4是表示本發明的自動分析裝置的第I實施例的概略立體圖。本實施例的自動分析裝置具備分析裝置主體400和操作控制部500。在本實施例中，用3片保護蓋610、620、630覆蓋分析裝置主體的殼體上表面。位於中間的第I保護蓋610是用於遮光的遮光蓋，以免外部光線進入設置於主體的殼體內部的散射光測定部，由不透光的不透明材料構成。在第I保護蓋610的左側配置的第2保護蓋620是覆蓋在試樣盤110上的保護蓋，具有由透光性材料構成的透視部621，可觀察內部狀況。此外，在第I保護蓋610的右側配置的第3保護蓋630是覆蓋試劑盤120之上的蓋子，具有由透光性材料構成的透視部631，可觀察內部狀況。透視部621、631可透視內部即可，並非一定需要由無色透明的透光率高的材料構成，也可以著色。此外，也可以用透光性材料構成第2保護蓋620、第3保護蓋630的整體。操作者在關閉保護蓋的情況下可通過保護蓋的透視部621、631，採用目視確認各種盤的狀況、分注機構的動作等，因為可容易地把握裝置的運行狀態，所以可安心地連續進行分析。
[0046]操作控制部500具有具備PC510、鍵盤520、滑鼠530的輸入部、具備顯示器540的輸出部。PC510將用於實現圖2所示的測定部、解析部、控制部、數據存儲部的各功能的軟體儲存在存儲器內。
[0047]圖5是表示3片保護蓋的重疊狀態的截面示意圖。覆蓋反應盤及散射光測定部的上方的中間的第I保護蓋610是遮光蓋，但為了確保更高的遮光性，中間的第I保護蓋610為進入位於左右的第2保護蓋620及第3保護蓋630的下面的結構。換言之，具有如下結構，在關閉全部蓋的狀態下，在第I保護蓋610的一部分之上重疊了第2保護蓋620的一部分，在第I保護蓋610的一部分之上重疊了第3保護蓋630的一部分。因為這樣的結構，第2及第3保護蓋620、630可分別單獨自由地開閉，但中間的第I保護蓋610形成為在打開左右的保護蓋之後打開，或者如果不與左右的保護蓋同時打開就無法打開的結構。
[0048]反應盤、試樣盤、試劑盤中，在自動分析裝置運行中操作員需要存取的是試樣盤和試劑盤。此外，運行中打開中間的第I保護蓋610時，外部光線進入散射光測定部的散射光接受器內產生錯誤檢測，到此為止時序測定的測定數據會全部浪費。因此，在自動分析裝置運行中，必須極力避免打開中間的第I保護蓋610。實際上，僅限於裝置維護時才需要打開中間的第I保護蓋610。從這樣的裝置運行中對試樣盤和試劑盤存取的必要性，以及對散射光測定部的外部光線維持遮光狀態的必要性來看，將打開頻率少的中間的第I保護蓋610形成為在打開左右的保護蓋620、630之後打開的結構，或者是如果不與左右的保護蓋620、630同時打開就無法打開的結構，是有意義的。
[0049]具有對外部光線遮光的功能的中間第I保護蓋610，也可設置避免發生自動分析裝置運行中不注意被打開而進行鎖定的鎖定結構。圖6為表示鎖定結構的一例的截面示意圖。本實施例的鎖定結構為，在第I保護蓋610的面對本體殼體面的位置上設置向下方延長的舌部611，通過在舌部611上形成的孔內插入固定於本體殼體的銷612，從而將第I保護蓋610固定於本體殼體上不動。銷612可以為，關閉第I保護蓋，通過將其舌部611向下方按壓動作自動地插入舌部611的孔內的結構，也可以為通過由操作控制部500指示第I保護蓋610的鎖定，從而銷612被驅動至突出方向的結構。在維護裝置時等情況下解除鎖定時，由操作控制部500指示鎖定解除。這樣，銷612進行後退離開舌部611，可打開第I保護蓋610。
[0050]此外，可以設置感知第I保護蓋610的開閉狀態的傳感器，如果第I保護蓋610沒有關閉，可在顯示部540上顯示警示，或者自動分析裝置不能開始運行。作為感知第I保護蓋610的開閉狀態的傳感器，可以使用現有的接近傳感器、接觸傳感器等任何傳感器。此夕卜，通過將利用上述鎖定結構的第I保護蓋的鎖定狀態視為保護蓋關閉、未鎖定的狀態視為保護蓋開放，從而可以將上述鎖定結構替代第I保護蓋的開閉狀態的感知傳感器使用。
[0051]圖7是表示打開覆蓋試劑盤120之上的第3保護蓋630的狀態的圖。在該狀態下，可以將覆蓋試劑盤120的上部的試劑盤蓋取下，進行試劑的追加、補充。這樣開閉頻率高的左右第2保護蓋620或者第3保護蓋630，可以在關閉中間的第I保護蓋610的狀態下打開，可維持散射光測定部對外部光線遮光的狀態，因此，在自動分析裝置運行中，在不中斷測定的情況下，任何時間均可插入試樣，進行試劑的追加、補充。
[0052]圖8是表示將第1、第2、第3保護蓋610、620、630全部打開的狀態的圖。第1、第
2、第3保護蓋的旋轉軸在各自的保護蓋的後端部，如點劃線圖示那樣設定為同軸。因此，可以將3片保護蓋順暢地同時開閉。這樣通過將3片保護蓋全部打開，可以對本體殼體上表面410進行完全存取(full access)，可以無限制地自由地進行本體殼體上表面410的清掃、試樣分注機構210或試劑分注機構220的噴嘴狀態確認及清掃、反應容器的洗淨或交換等維護作業。此外，如圖所示，在本體殼體的上表面410上，在反應盤150附近設置有與第I保護蓋610共同發揮遮光功能的一部分的遮光壁613。關於該遮光壁613的詳細情況將在以後敘述。第I保護蓋610與遮光壁613共同在散射光測定部的上方區域，形成極力降低從上方及側方進入外部光線的準封閉空間，防止通過配置於反應盤150的反應單元等外部光線射入散射光測定部的散射光接受器。
[0053]圖9是表示第I保護蓋610的遮光範圍的圖。在本實施例中，散射光測定部310配置於本體殼體內部的圖示的區域。特別是散射光測定部310，由於由反應液產生的散射光的強度弱，外部光線漏入散射光接受器時測定精度降低，因此需要對散射光測定部310遮斷外部光線。外部光線主要是通過配置於反應盤150的反應單元的上方開口部進入殼體內部，漏入配置於殼體內部的散射光測定部310的散射光接受器314內。通過進行散射光測定的反應單元漏入的外部光線對散射光測定產生最大的影響，其次是通過鄰接的反應單元進入的外部光線的影響較大，認為反應單元距離散射光接受器越遠，通過該反應單元的外部光線的影響就越小。
[0054]如果能夠對反應盤150的上方區域整體遮光當然很完美，但也需要考慮對試劑分注機構220、試樣分注機構210等結構系列的幹涉，以及對試樣盤110、試劑盤120的存取性。而且還有採用目視確認結構系列的動作的需要。因此，遮光範圍需要為可至少覆蓋相當於散射光測定部310的上方的反應盤150的區域的儘可能廣泛的範圍，但是，在本實施例中為用陰影圖示的範圍。即:在配置有試劑盤120的反應盤150的右側，即相對於反應盤150的中心，在設置有散射光測定部310的一側的相反側的殼體上部，設定遮光範圍的界限，以使其與試劑分注機構220的可動範圍不重疊。此外，在配置有試樣盤110的反應盤150的左側，即在相對於反應盤150的中心設置有散射光測定部310的一側的殼體上部，設定遮光範圍的界限，以免阻礙對試樣盤110的存取，使得試樣盤110的上方開放。
[0055]圖10是表示第I保護蓋610和遮光壁613的關係的詳細圖。在圖10 (a)中，試樣分注機構210具備上下可活動的支柱211、固定於支柱上部的臂212、和固定於臂前端向下方延長的噴嘴213。因此，進行試樣、試劑的吸引、吐出的噴嘴213的前端，在以支柱211為軸進行旋轉的同時可上下活動。向反應單元內分注試樣時，試樣分注機構210以支柱211為軸進行旋轉運動，使噴嘴213的前端在試樣盤110上表面和反應盤150上表面之間移動。此外，如圖10 (b)所示，也可為如下結構:相對於反應單元另外設置保持試劑的試劑保持區域140，從該區域140分注試劑時，試樣分注機構210以支柱211為軸進行旋轉運動，使噴嘴213的前端在試劑保持區域140上和反應盤150上之間移動。
[0056]第I保護蓋610具有主體部615和從該主體部615開始向第2保護蓋620的下方延長的突出部616。主體部615具有一定的寬度，具有與其左右的第2保護蓋620及第3保護蓋630以幾乎相同的形狀彎曲的表面，關閉3片保護蓋時，如圖4所示形成連續的一個曲面表面。在此，在本例中表示了保護蓋彎曲的例子，但也可以為以階梯狀形狀變化的結構，也可以為直線形狀。
[0057]突出部616具有拱形頂部617和側壁618，側壁618上設置有開口 619。突出部616的拱形頂部617向外伸出，以覆蓋試樣分注機構210的噴嘴移動路徑的一部分的上方，在本體殼體的上表面410上遮斷從上方射入的光線，使其不能進入由第I保護蓋610形成的內部空間。
[0058]另一方面,試樣分注機構210的臂212和噴嘴213,在試樣盤110和反應盤150之間，或者在圖10 (b)的例子中，在試劑保持區域140和反應盤150之間運動。第I保護蓋610，為了不阻礙該運動，在與試樣分注機構210的噴嘴移動路徑交叉的區域在側壁618上設置有開口 619，因此這樣地遮光不完全。因此在本實施例中，在偏離試樣分注機構210的圓弧狀的噴嘴移動路徑稍微靠近支柱211的位置，設置具有不阻礙臂212及噴嘴213的移動的形狀，沿著噴嘴移動路徑彎曲成圓弧狀的遮光臂613。通過該遮光壁613，將設置於突出部616的側壁618上的開口 619的大部分堵住，在第I保護蓋610的拱形頂部617的下側防止來自側方的外部光線射入反應盤150上,提高了遮光性。遮光壁613固定於本體殼體的上表面410上。通過設置於第I保護蓋610的與試樣分注機構210面對的側壁618的開口 619和遮光壁613，形成試樣分注機構210的臂212和噴嘴213可自由運動大小的狹縫狀的縫隙。通過這樣的結構，允許試樣分注機構210的噴嘴213在反應盤150上進行存取，同時滿足了降低漏入位於反應盤150的下方的散射光測定部310的外部光線的要求。
[0059]以上表示了在偏離試樣分注機構210的圓弧狀的噴嘴移動路徑稍微靠近支柱211的位置，設置具有不阻礙臂212及噴嘴213的移動的形狀，沿著噴嘴移動路徑彎曲成圓弧狀的遮光臂613的例子。但是，遮光壁並非需要彎曲，只要是不阻礙噴嘴移動的形狀即可。此夕卜，雖然使噴嘴213的移動路徑為圓弧狀，但並不限於此。
[0060]圖11為說明遮光壁613和試樣分注機構210的關係的圖。在遮光壁613的上部，在與使噴嘴213位於反應盤的反應單元時的臂位置相對應的位置上設置有切口 614。
[0061]圖11 (a)是表示試樣分注機構210的噴嘴213位於試樣盤上，吸引試樣的狀態的圖。為了確切地吸引保持在試樣盤的試樣杯中的試樣，使臂212下降，將噴嘴213插入試樣杯的底部的狀態下吸引。圖11 (b)是表示將吸引的試樣向保持在反應盤的反應單元吐出的狀態的圖。使臂212旋轉，使噴嘴前端位於保持在反應盤的反應單元上方。此時，試樣分注機構的臂212位於設置於遮光壁613的切口 614的上方。在此位置，使試樣分注機構的臂212及噴嘴下降。遮光壁613的切口 614，設計為在此位置不阻礙臂212下降規定量的尺寸。這樣，試樣分注機構210，將噴嘴前端確切地插入反應單元中，將吸引的試樣向反應單元中吐出。
[0062]試樣分注機構210的臂212，在設置於第I保護蓋610的側壁618的開口 619和遮光壁613的上端部之間形成的水平方向的縫隙通過，此外，噴嘴213在設置於側壁618的開口 619和遮光壁613的側端部之間形成的垂直方向的縫隙通過，因此試樣分注機構210不會阻礙運動。由設置於第I保護蓋610的側壁的開口 619和遮光壁613形成的狹縫狀的縫隙，是僅使試樣分注機構210的臂212及噴嘴213通過的狹窄的縫隙。這樣，不會阻礙試樣分注機構210運動，使從第I保護蓋610的試樣盤110側的側面射入反應盤150上的外部光線為最小限度。
[0063]實施例2
[0064]圖12為表示本發明的自動分析裝置的第2實施例的概略圖。第2實施例僅是設置於自動分析裝置的本體殼體的上部的保護蓋與第I實施例不同，其它結構與第I實施例相同。
[0065]在第I實施例中，保護蓋為由具有遮光功能的中間部的第I保護蓋、和設置於其左右的第2及第3保護蓋形成的分成三部分的結構。在本實施例中，使保護蓋為由左右2個保護蓋形成的分成二部分的結構。配置於本實施例的右側的第I保護蓋710，相當於使實施例I中說明的第I保護蓋610和第3保護蓋630形成一體化的保護蓋，擔負對散射光測定部的外部光線進行遮光的功能。此外，本實施例的配置於左側的第2保護蓋720，具有與第I實施例中的第2保護蓋620實質上相同的結構。
[0066]關閉第I保護蓋710和第2保護蓋720時，第I保護蓋710的側端部之上重疊第2保護蓋720的側端部。因此，第2保護蓋720可與第I保護蓋710無關係地單獨地開閉。另一方面，第I保護蓋710在打開第2保護蓋之後打開，或者如果不與第2保護蓋同時打開就無法打開。
[0067]因此，在自動分析裝置運行途中，在產生需要對試樣盤進行存取時，打開左側的第2保護蓋720之後可對試樣盤進行自由地存取。此時由於右側的第I保護蓋710被關閉，因此散射光測定部維持對外部光線的遮光狀態，對散射光測定無影響。此外，左右的保護蓋710,720上分別設置有透視部711、721。因此，操作者在關閉保護蓋的情況下，通過保護蓋的透視部可採用目視確認各種盤的狀況、分注機構的動作，因可容易地把握裝置的運行狀態，所以可安心地連續進行分析。透視部711、721隻要可透視內部即可，並非一定需要由無色透明透光率高的材料構成，也可以著色。此外，左側的第2保護蓋720，整體也可用透光性材料構成。
[0068]在自動分析裝置的運行中，因為需要將分析結束後的試樣和新的試樣替換，或者將希望儘早知道分析結果的試樣插入到已經安裝在試樣盤上的試樣的前面進行配置等，所以產生對試樣盤進行頻繁存取的需要。另一方面，如果在自動分析裝置運行開始之前將試劑裝填在試劑盤上，則不需要頻繁地進行追加、補充。因此，要分析的試樣數量在一定數量以下，例如已知在一天的運行時間中不需要補充試劑的使用情況下，本實施例的分成二部分結構的保護蓋也不損壞使用方便性。而且，在本實施例中，由於可防止外部光線漏入散射光測定部，所以可進行高精度的散射光測定。
[0069]左右的保護蓋710、720的旋轉軸位於各自的保護蓋的後端部，設定為同軸。因此，2片保護蓋710、720可同時順暢地進行開閉。通過同時打開2片保護蓋，可對本體殼體上表面410進行完全存取，可以無限制地自由地進行本體殼體上表面的清掃、試樣分注機構或試劑分注機構的噴嘴清掃、反應單元的洗淨或交換等的維護作業。
[0070]在本實施例中，為了避免具有對散射光測定部的外部光線遮光功能的右側的保護蓋710在運行中不注意被打開的情況，在右側的保護蓋710上也可設置與實施例1同樣的鎖定結構。此外，也可設置感知具有外部光線遮光功能的右側的保護蓋710的開閉狀態的傳感器，在右側的保護蓋未關閉時，操作控制部顯示警示，或者裝置無法運行。[0071]實施例3
[0072]圖13是表示本發明的自動分析裝置的第3實施例的概略圖。第3實施例，僅是設置於自動分析裝置的本體殼體的上部的保護蓋與第I實施例及第2實施例不同，保護蓋以外的結構與第I實施例及第2實施例相同。
[0073]本實施例的保護蓋，基本上是將第2實施例中說明的分成二部分結構類型的左右的保護蓋進行一體化而形成的I片保護蓋810。但是，實施例2的左側蓋是透明蓋，而本實施例中用具有遮光性的不透明材料構成與其相當的部分，取代其，在與試樣盤110的上方對應的區域，設置有作為透視部發揮功能的由透明材料形成的小開閉門820。因此，實施例1的以伴隨中間第I保護蓋610，被第2保護蓋620覆蓋的方式而設置的突出部616中的拱形頂部617，本實施例的保護蓋810可以將其代用，因此不需要。但是，為了提高著遮光性能，優選設置圖10中說明的突出部616的側壁618和遮光壁613。根據本實施例，因為試樣分注機構的上方被保護蓋810的具有遮光性的不透明的部分所覆蓋，因此可以減少射入散射光測定部的外部光線，有助於提高測定精度。
[0074]在本實施例中，保護蓋810具有試樣盤110存取用的小的透明開閉門820，在自動分析裝置運行途中，在產生需要對試樣盤110進行存取時，不會影響測定，能夠打開開閉門820自由地對試樣盤110進行存取。在關閉保護蓋810及開閉門820的情況下，通過透明的開閉門820，也可以確認對安裝於試樣盤的試樣的分析的進展狀況。此外，在試劑盤及試劑分注機構的上方位置設置有透視部830。因此，操作者在關閉保護蓋810的情況下，可通過透視部830採用目視確認試劑盤的狀況或試劑分注機構的動作，因可容易地把握裝置的運行狀態，所以可安心地連續進行分析。透明的開閉門820及透視部830，只要可透視內部即可，並非一定需要由無色透明、透光率高的材料構成，也可以著色。
[0075]通過打開保護蓋810可以對本體殼體上表面410完全存取，可以進行本體殼體上表面的清掃、試樣分注機構或試劑分注機構的噴嘴清掃、反應容器的洗淨或交換等的維護作業。
[0076]在本實施例中，為了避免發生具有對散射光測定部的外部光線遮光功能的保護蓋810在運行中不注意被打開的情況，在保護蓋810上也可設置如實施例1中說明的鎖定結構。此外，也可設置感知具有外部光線遮光功能的保護蓋810的開閉狀態的傳感器，在保護蓋810未關閉時,在操作控制部上顯示警示,或者裝置無法運行。
[0077]此外，本發明並非限定於上述實施例，包括各種變形例。例如上述實施例是為了使本發明容易理解而詳細說明的例子，但並非限定於一定具備說明的全部構成。此外，可以將某實施例的構成的一部分置換到其他實施例的構成中。此外，在某實施例的構成中也可加入其他實施例的構成。此外，對於各實施例的構成的一部分，也可進行其他構成的追加、刪
除、置換。
[0078]符號的說明
[0079]110試樣盤；111試樣杯；120試劑盤；121試劑瓶；150反應盤；151反應單元；155攪拌部；156洗淨部；157恆溫流體；210試樣分注機構；211支柱；212臂；213噴嘴；220試劑分注機構；310散射光測定部；311光源；313散射光；314散射光接受器；400分析裝置主體；410殼體上表面；500操作控制部；510PC ；610第I保護蓋；611舌部；612銷；613遮光壁；614切口 ；615主體部；616突出部；617拱形頂部；618側壁；619開口 ；620第2保護蓋；621透視部；630第3保護蓋；631透視部；710第I保護蓋；711透視部；720第2保護蓋；721透視部；810保護蓋；820透明的開閉門；830透視部。
【權利要求】
1.一種自動分析裝置，其特徵在於，具備: 配置於本體殼體的上表面的樣品盤、試劑盤、反應盤以及多個分注機構，所述樣品盤保持多個樣品，所述試劑盤保持多種試劑，所述反應盤保持多個反應單元，所述多個分注機構具備轉動的臂和固定於所述臂上的噴嘴並將所述樣品或所述試劑向保持在所述反應盤上的所述反應單元內分注， 設置於所述本體殼體的內部，具備向所述反應單元進行光照射的光源和接收通過所述光照射由所述反應單元內的反應液所產生的散射光的光接收器的散射光測定部，以及以覆蓋所述本體殼體的上表面的方式配置，設置有遮蔽外部光線的遮光部和可透視內部的透視部的保護蓋， 所述遮光部，覆蓋至少相當於所述散射光測定部的上方的所述反應盤的區域。
2.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特徵在於， 所述透視部的一部分能夠單獨地開閉。
3.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特徵在於， 所述保護蓋由形成所述遮光部的第I保護蓋和設置有所述透視部的第2保護蓋組成， 所述第2保護蓋能夠單獨地開閉，所述第I保護蓋在打開所述第2保護蓋之後能夠打開。
4.根據權利要求3所述的自動分析裝置，其特徵在於， 在關閉所述第I保護蓋和所述第2保護蓋的狀態下，在所述第I保護蓋的一部分之上重疊有所述第2保護蓋的一部分。
5.根據權利要求3所述的自動分析裝置，其特徵在於， 當打開所述第I保護蓋時，所述第2保護蓋也伴隨打開。
6.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特徵在於， 所述保護蓋具備:形成所述遮光部的第I保護蓋；以及分別位於該第I保護蓋的兩側，分別設置有所述透視部的第2保護蓋和第3保護蓋， 所述第2保護蓋和所述第3保護蓋能夠分別單獨地開閉。
7.根據權利要求6所述的自動分析裝置，其特徵在於， 在關閉所述第I保護蓋和所述第2保護蓋的狀態下，在所述第I保護蓋的一部分之上重疊有所述第2保護蓋的一部分， 在關閉所述第I保護蓋和所述第3保護蓋的狀態下，在所述第I保護蓋的一部分之上重疊有所述第3保護蓋的一部分。
8.根據權利要求6所述的自動分析裝置，其特徵在於， 所述第I保護蓋在打開所述第2保護蓋和所述第3保護蓋之後能夠打開。
9.根據權利要求6所述的自動分析裝置，其特徵在於， 當打開所述第I保護蓋時，所述第2保護蓋及所述第3保護蓋也伴隨打開。
10.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特徵在於， 所述遮光部為不阻礙所述分注機構的運動的形狀。
11.根據權利要求10所述的自動分析裝置，其特徵在於， 具備遮光壁，所述遮光壁具有沿著所述分注機構的噴嘴的移動路徑的形狀且配置於所述本體殼體的上表面。
12.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特徵在於，具有檢測所述遮光部處於開放的情況的檢測部。
13.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特徵在於，具有鎖定機構，所述鎖定機構進行鎖定，以使所述遮光部不能開放。
【文檔編號】G01N21/47GK103842826SQ201280047628
【公開日】2014年6月4日 申請日期:2012年7月31日 優先權日:2011年9月28日
【發明者】大沼滿, 佐藤庸子, 山崎創, 和久井章人 申請人:株式會社日立高新技術