缺陷檢測裝置和顯示面板的製作方法
2024-01-31 19:33:15 1
專利名稱：缺陷檢測裝置和顯示面板的製作方法
技術領域：
一個或多個實施例涉及一種用於檢測包括在顯示裝置中的線路和/或分用器的缺陷的方法和裝置、以及包括缺陷檢測裝置的顯示面板。
背景技術：
紅色、綠色和藍色(RGB) -DC電壓和柵極信號被用來檢查有源矩陣方法的顯示面板。在這樣的顯示面板中，與柵極信號同步地向多個紅色像素提供紅色(R) DC電壓，與柵極信號同步地向多個綠色像素提供綠色(G) DC電壓，與柵極信號同步地向多個藍色像素提供藍色(B) DC電壓。紅色像素、綠色像素和藍色像素因RDC電壓、⑶C電壓和BDC電壓而發光，並在發光狀態下檢查mura斑,其中mura斑是黑/白點、線缺陷、等等。在這樣的檢查操作期間，位於顯示面板和數據驅動電路之間的分用器處於截止狀態。因此，可能沒有檢測形成分用器的薄膜電晶體(TFT)的缺陷以及分用器和數據驅動電路之間的線路的缺陷。在本背景技術部分中公開的上述信息僅用於增加對本實用新型的背景的理解，因此，其可以包含不構成作為本國的本領域普通技術人員已知的現有技術的信息。
實用新型內容為了解決現有技術中的例如可能沒有檢測形成分用器的薄膜電晶體(TFT)以及分用器和數據驅動電路之間的線路的缺陷等問題和/或其他問題，一個或多個實施例提供一種檢測線路和分用器的缺陷的方法和裝置。一個或多個實施例提供一種用於檢測線路和/或分用器中的缺陷的方法和裝置以及包括該裝置的顯示面板。一個或多個實施例提供一種使用分用器的缺陷檢測裝置，分用器將多條數據線中的對應的數據線連接到多條線路，所述缺陷檢測裝置包括:第一 DC線路至第三DC線路，向第一 DC線路至第三DC線路提供第一 DC電壓至第三DC電壓；多個第一開關，所述多個第一開關連接到第一 DC線路至第三DC線路，並被構造為根據第一柵極信號而將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發送到所述多條數據線中的多條第一數據線；多個第二開關，所述多個第二開關連接到第一 DC線路至第三DC線路，並被構造為根據第二柵極信號而將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發送到所述多條數據線中的多條第二數據線。分用器可以包括:多個第一 TFT，所述多個第一 TFT連接所述多條線路中的多條第一線路和所述多條數據線中的對應的數據線；多個第二 TFT，所述多個第二 TFT連接所述多條線路中的多條第二線路和所述多條數據線中的對應的數據線，其中，當所述缺陷檢測裝置檢測多條線路中的短路缺陷時，所述多個第一開關和所述多個第二開關處於導通狀態，且僅所述多個第一 TFT或所述多個第二 TFT中的一個TFT處於導通狀態。[0011]當所述多個第一 TFT處於導通狀態時，所述多條線路和所述多條數據線中的對應的線路和數據線分別通過所述多個第一 TFT連接，當所述多條線路中的一條線路短路時，經所述多條數據線中的對應的數據線連接到該短路的線路的多個像素根據因短路的線路而導致的短路電壓而發光。當所述多個第二 TFT處於導通狀態時，所述多條線路和所述多條數據線中的對應的線路和數據線分別通過所述多個第二 TFT連接，當所述多條線路中的一條線路短路時，經所述多條數據線中的對應的數據線連接到該短路的線路的多個像素根據因短路的線路而導致的短路電壓而發光。分用器可以包括:多個第一 TFT，所述多個第一 TFT連接多條線路和所述多條數據線中的對應的數據線；多個第二 TFT，所述多個第二 TFT連接多條線路和所述多條數據線中的對應的數據線；當所述缺陷檢測裝置檢測所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT中的缺陷時，所述多個第一 TFT和所述第二 TFT處於導通狀態，且僅所述多個第一開關或所述多個第二開關之一處於導通狀態。當所述多個第一開關處於導通狀態、且所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT處於導通狀態時，對應地連接到處於導通狀態的所述多個第一開關的第一數據線通過所述多個第一 TFT和/或所述多個第二 TFT中的對應的TFT而連接到所述多條第二數據線中的對應的第二數據線。當所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT中的至少一個TFT有缺陷時，所述多條第二數據線中的對應的第二數據線不接收和/或發送第一 DC電壓至第三DC電壓中的對應的DC電壓。當所述多個第二開關處於導通狀態、且所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT處於導通狀態時，對應地連接到處於導通狀態的所述多個第二開關的第二數據線通過所述多個第一 TFT和/或所述多個第二 TFT中的對應的TFT而連接到所述多條第一數據線中的對應的第一數據線。當所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT中的至少一個TFT有缺陷時，所述多條第一數據線中的對應的第一數據線不接收和/或發送第一 DC電壓至第三DC電壓中的對應的DC電壓。所述多個第一開關中的每個第一開關可以包括被構造為接收第一柵極信號的柵電極、連接到第一 DC線路至第三DC線路中的對應的DC線路的第一電極、以及連接到所述多條第一數據線中的對應的數據線的第二電極。所述多個第二開關中的每個第二開關可以包括被構造為接收第二柵極信號的柵電極、連接到第一 DC線路至第三DC線路中的對應的DC線路的第一電極、以及連接到所述多條第二數據線中的對應的數據線的第二電極。一個或多個實施例提供一種用於通過第一 TFT和第二 TFT連接到與第一像素陣列對應的第一數據線以及與第二像素陣列對應的第二數據線的線路的缺陷檢測方法，所述缺陷檢測方法包括下述步驟:將第一 DC電壓提供到第一數據線和第二數據線；僅導通第一TFT和第二 TFT中的一個TFT ;根據連接到第一 TFT和第二 TFT中的導通的TFT的第一像素陣列或第二像素陣列的發光狀態來檢測缺陷。當第一 TFT導通時，檢測缺陷的步驟可以包括:當第一像素陣列處於產生相對於預定的亮度來說是暗線或亮線的發光狀態時，將該線路檢測為是有缺陷的。檢測缺陷的步驟可以包括:當第一像素陣列處於產生相對於灰度級範圍中的中間灰度級來說是暗線或亮線的發光狀態時，將該線路檢測為是有缺陷的。當第二 TFT導通時，檢測缺陷的步驟可以包括:當第二像素陣列處於產生相對於預定的亮度來說是暗線或亮線的發光狀態時，將該線路檢測為是有缺陷的。一個或多個實施例提供一種用於包括連接到與第一開關和第一像素陣列連接的第一數據線的第一 TFT和連接到與第二開關和第二像素陣列連接的第二數據線的第二 TFT的分用器的缺陷檢測方法，所述缺陷檢測方法包括下述步驟:僅導通第一開關和第二開關之一；導通第一TFT和第二TFT ;根據第一像素陣列和第二像素陣列的發光狀態來檢測第一TFT和/或第二 TFT中的缺陷。檢測缺陷的步驟可以包括:當第一像素陣列的發光狀態和第二像素陣列的發光狀態不同時，檢測第一 TFT和/或第二 TFT中的缺陷。當第一開關導通時，檢測缺陷的步驟可以包括:當第一像素陣列顯示黑色且第二像素陣列以預定的亮度進行顯示時，將第一 TFT和第二 TFT中的至少一個TFT檢測為是有缺陷的。當第二開關導通時，檢測缺陷的步驟可以包括:當第二像素陣列顯示黑色且第一像素陣列以預定的亮度進行顯示時，將第一 TFT和第二 TFT中的至少一個TFT檢測為是有缺陷的。一個或多個實施例提供一種顯示面板，所述顯示面板包括:多條數據線；多個像素，所述多個像素分別連接到所述多條數據線；分用器，分用器將多條數據線連接到對應的多條線路；缺陷檢測裝置，缺陷檢測裝置被構造為檢測多條線路和/或分用器中的缺陷，缺陷檢測裝置包括:多個第一開關，所述多個第一開關被構造為根據第一柵極信號將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發送到多條數據線中的對應的多條第一數據線，多個第二開關，所述多個第二開關被構造為根據第二柵極信號將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發送到多條數據線中的對應的多條第二數據線。
通過參照附圖對示例性實施例進行詳細描述，多種特徵對於本領域普通技術人員將變得清楚，在附圖中:圖1示出了根據示例性實施例的包括缺陷檢測裝置的顯示裝置的示意圖；圖2示出了圖1的顯示裝置的像素的示例性實施例的示意圖；圖3示出了在缺陷狀態下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖；圖4示出了在另一缺陷狀態下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖；圖5示出了在另一缺陷狀態下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖；圖6示出了在另一缺陷狀態下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖；圖7示出了在另一缺陷狀態下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖；圖8示出了在另一缺陷狀態下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖；圖9示出了在另一缺陷狀態下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖；圖10示出了在另一缺陷狀態下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖。
具體實施方式
在下面的具體實施方式
部分中，僅通過舉例說明的方式對本實用新型的特定的示例性實施例進行了示出和描述。如本領域技術人員應認識到的，描述的實施例可以以各種不同的方式進行修改，所有這些均不脫離本實用新型的精神或範圍。因此，附圖和描述在本質上應被認為是在進行舉例說明而非限制性的。貫穿本說明書，相同的標號指示相同的元件。貫穿本說明書和權利要求書，當將元件描述為「結合」到另一元件時，該元件可以「直接結合」到另一元件，或者通過第三元件「電結合」到另一元件。另外，除非明確地進行了相反地描述，否則詞語「包括」和其變型將被理解為暗示包括陳述的元件但不排除任何其他的元件。將參照附圖來描述缺陷檢測方法、缺陷檢測裝置、以及包括缺陷檢測裝置的顯示裝置的示例性實施例。圖1示出了包括缺陷檢測裝置100、分用器200、和/或顯示單元300的顯示裝置的示例性實施例的示意圖。顯示單元300可以包括多條掃描線Sl-Sn、多條數據線Dl_Dm、以及形成在多條掃描線Sl-Sn和多條數據線Dl-Dm的交叉區域處的多個像素PX_R、PX_G、PX_B。缺陷檢測裝置100可以連接到多條數據線Dl-Dm，並可以根據多個(例如，兩個)測試柵極信號將紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓GDV和藍色DC電壓BDV發送到多條數據線Dl-Dm0缺陷檢測裝置100可以包括多條(例如，兩條)柵極線TGl和TG2、紅色DC線路DC_R、綠色DC線路DC_G、藍色DC線路DC_B、多個第一控制開關Tll_Tla、以及多個第二控制開關 T21-T2b。參照圖1，第一柵極線TGl可以連接到多個第一控制開關Tll-Tla的柵電極，第二柵極線TG2可以連接到多個第二控制開關T21-T2b的柵電極。第一柵極信號可以通過第一柵極線TGl被發送到多個第一控制開關Tl 1-Tla的柵電極。第二柵極信號可以通過第二柵極線TG2被發送到多個第二控制開關T21-T2b的柵電極。可以通過P溝道電晶體來實現多個第一控制開關Tll-Tla和多個第二控制開關T21-T2b。在這樣的實施例中，第一柵極信號和第二柵極信號的啟用電平是低電平，停用電平是高電平。多個第一控制開關Tll-Tla均可以包括連接到紅色DC線路DC_R、綠色DC線路DC_G和藍色DC線路DC_B中的對應的一條DC線路的源電極，並可以包括連接到多條數據線Dl-Dm中的對應的數據線的漏電極。多個第二控制開關T21_T2b均可以包括連接到紅色DC線路DC_R、綠色DC線路DC_G和藍色DC線路DC_B中的對應的一條DC線路的源電極，並可以包括連接到多條數據線Dl-Dm中的對應的數據線的漏電極。在一個或多個實施例中，當通過缺陷檢測裝置100來確定線路Ll-Lk中的缺陷時，第一柵極信號和第二柵極信號均處於啟用電平。在一個或多個實施例中，當通過缺陷檢測裝置100來確定分用器200中的缺陷時，僅第一柵極信號和第二柵極信號之一處於啟用電平。在顯示單元300中，多條掃描線Sl-Sn可以被布置為沿行方向延伸，一行的多個像素PX_R、PX_G和PX_B可以連接到相同的掃描線。多條數據線Dl-Dm可以被布置為沿列方向延伸，一列的多個像素PX_R、PX_G和PX_B可以連接到相同的數據線。多個像素PX_R、PX_G和PX_B中的每個像素可以包括驅動電路和發光元件。多個像素PX_R、PX_G和PX_B的每個驅動電路可以因通過對應的掃描線發送的掃描信號而寫入通過對應的數據線發送的數據信號，可以產生根據寫入的數據信號的驅動電流，並可以將其提供到各發光元件中。圖2示出了圖1的顯示裝置的像素PXij的示例性實施例的示意圖。像素PXij可以對應於顯示單元300的多個像素PX_B中的一個像素、一些像素或所有的像素。在圖2中示出的像素PXij是連接到第i掃描線Si和第j數據線Dj的像素。示例性實施例不限於此。如在圖2中所示出的，像素PXij可以包括開關電晶體TS、驅動電晶體TD、電容器C、以及有機發光裝置(OLED)。開關晶體 管TS可以包括連接到掃描線Si的柵電極、連接到數據線Dj的第一電極、以及連接到驅動電晶體TD的柵電極的第二電極。驅動電晶體TD可以包括連接到第一電壓源ELVDD的源電極、連接到有機發光裝置(OLED)的陽極的漏電極、以及連接到開關晶體掛TS的柵電極。電容器C可以連接在驅動電晶體TD的柵電極和源電極之間，OLED的陰極連接到第二電壓源ELVSS。當通過掃描線Si發送的掃描信號為低電平時，開關電晶體TS導通，電容器C被通過數據線Dj發送的數據信號充電。對於下一次的掃描，電容器C恆定地保持驅動電晶體TD的柵極電壓，根據驅動電晶體TD的柵極-源極電壓差來產生驅動電晶體TD的驅動電流。有機發光裝置(OLED)可以根據驅動電流而發光。分用器200可以連接在多條線路Ll-Lk和多條數據線Dl-Dm之間。多條線路Ll-Lk連接到多個焊盤ro1-PDk，通過多條線路Ll-Lk將輸入到多個焊盤ro1-PDk的多個數據信號發送到分用器200。分用器200可以通過多個TFT，將通過多條線路Ll-Lk發送的多個數據信號發送到多條對應的數據線。分用器200可以包括多個第一 TFT TA1、TA3、……、TAm、多個第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1、第一控制線CLA、以及第二控制線CLB。第一控制線CLA連接到多個第一 TFT TA1、TA3、……、TAm的柵電極。用於控制多個第一 TFT TA1、TA3、……、TAm的第一控制信號CONl通過第一控制線CLA被發送到第一TFT TA1、TA3、......、TAm 的柵電極。第二控制線CLB連接到多個第二 TFT TB2、TB4、……、TBm-1的柵電極。用於控制多個第二 TFT TB2、TB4、……、TBm-1的第二控制信號C0N2通過第二控制線CLB被發送到多個第二 TFT TB2、TB4、......、TBm-1的柵電極。在多個焊盤ro1-PDk連接到數據驅動電路(未示出)的一個或多個實施例中，可以從數據驅動電路將多個數據信號輸入到多個焊盤ro1-PDk。在一個或多個實施例中，如果多個第一 TFT TAl、TA3、……、TAm因第一控制信號CONl而導通，則多條數據線Dl、D3、……、Dm可以發送對應的數據信號，如果多個第二 TFT
TB2、TB4、......、TBm-l因第二控制信號C0N2而導通，則多條數據線D2、D4、......、Dm_l可
以發送對應的數據信號。在一個或多個實施例中，可以確定的是，如果多個第一 TFT TAl、TA3、……、TAm、多個第二 TFT TB2、TB4、……、TBm_l、以及多個焊盤TOl-PDk沒有連接到數據驅動電路，則在線路Ll-Lk中的一條或多條線路中存在缺陷和/或在分用器200中存在缺陷。當檢測多條線路Ll-Lk中的缺陷時，多個第一 TFT TA1、TA3、……、TAm和多個第二 TFT TB2、TB4、……、TBm_l中僅一組TFT可以處於導通狀態。當檢測多個第一 TFT TAU
TA3、......、TAm和多個第二 TFT TB2、TB4、......、TBm-1中的缺陷時，兩組TFT均可以處於
導通狀態。接下來，將參照圖3至圖6來描述檢測線缺陷的方法的示例性實施例。為了更好地進行理解並簡化描述，在圖3-圖6中僅示出九(9)個像素以作為多個像素的示例。為了檢測線缺陷，多條掃描線Sl-Sn發送具有用於導通相應的開關電晶體TS的電平的多個掃描信號。當檢測線缺陷時，根據檢測條件來確定紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍色DC電壓BDV。例如，如果線路短接到第二電壓源ELVSS，則連接到短接的線路的像素陣列以很高的亮度發光。可選擇地，如 果線路短接到第一電壓源ELVDD，則連接到短接的線路的像素陣列不發光。因此，可以使用紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍色DC電壓BDV的電平等級來區分連接到普通的線路的像素陣列和連接於短接到第一電壓源ELVDD或第二電壓源ELVSS的線路的像素陣列。在一個或多個實施例中，紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍色DC電壓BDV可以被確定為電平與對應於灰度級範圍中的中間灰度級的數據電壓的電平相同。圖3示出了在缺陷狀態(例如，線路LI短接到第一電壓源ELVDD)下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。如圖3中所示，多個第一開關Tll-Tla和多個第二開關T21_T2b因第一柵極信號
和第二柵極信號而全部處於導通狀態,多個第一 TFT TA1、TA3、......、TAm因第一控制信號
CONl而處於導通狀態。因此，多條線路Ll-Lk通過導通的多個第一 TFT TA1、TA3、……、TAm而連接到多條數據線Dl-Dm。在圖3的示例性實施例中，通過對應的第一開關(或第二開關)而向多條數據線Dl-Dm提供紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍色DC電壓BDV中的對應的DC電壓，多個焊盤HH-PDk沒有連接到數據驅動電路，因而處於浮置狀態。因此，通過多條數據線Dl-Dm發送的紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓GDV和藍色DC電壓BDV被發送到多個像素PX_R、PX_G、PX_B，多個像素PX_R、PX_G、PX_B根據紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍色DC電壓BDV而發光。此時，如果在多條線路Ll-Lk中產生短路的線路，則連接到短路的線路的數據線因短路的線路而短路，多個像素PX_R、PX_G、PX_B中的連接到短路的數據線的對應的像素以與連接到未短路的線路的像素的亮度不同的亮度進行發光。[0079]例如，如圖3中所示，假設線路I短接到第一電壓源ELVDD。在線路LI和第一電壓源ELVDD之間可以存在有一定的電阻。線路LI通過導通的第一 TFT TAl而連接到數據線Dl。因此，向數據線路Dl提供與第一電壓源ELVDD的電壓相似的高電平的電壓。因此，通過在圖2中示出的開關電晶體TS向驅動電晶體TD的柵電極提供高電平的電壓。因此，連接到數據線Dl的多個像素PX_RW非常低的亮度發光。即，與數據線Dl對應地出現暗線。如上所述，可以將電連接到與該像素列連接的數據線Dl的線路檢測為短路的線路。在圖3的示例性實施例中，線路LI短接到第一電壓源ELVDD，在一個或多個實施例中，一條或多條線路可能短接到其他的組件，例如，線路Ll-Lk可能短接到第二電壓源ELVSS。圖4示出了在另一缺陷狀態(S卩，線路LI短接到第二電源電壓ELVSS)下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。更具體地講，圖4示出了線路LI短接到電壓ELVSS的狀態。因此，向數據線Dl提供與第二電壓源ELVSS的電壓相似的低電平的電壓。因此，通過相應的開關電晶體TS向驅動電晶體TD的柵電極提供低電平的電壓。因此，連接到數據線Dl的多個像素PX_RW非常高的亮度發光。即，與數據線Dl對應地出現亮線。如上所述，作為亮度水平的結果，例如，可以將電連接到與像素列連接的對應的數據線(例如，在當前的實施例中為數據線Dl)的線路檢測為是短路的。如上所述，在一個或多個實施例中，可以將與多個像素列中的顯示相對暗的線或相對量的線的像素列對應的線路確定為是短路的。此外，在圖4的條件和示例性實施例中，當線路L2短路時，連接到數據線D5的像素列將顯示為暗線或亮線，當線路L3短路時，連接到數據線D3的像素列將顯示為暗線或亮線，當線路L4短路時，連接到數據線D7的像素列將顯示為暗線或亮線 。在圖3和圖4的示例性實施例中，對多個第一 TFT TA1、TA3、……、TAm處於導通狀態的情況進行了描述，然而，在一個或多個實施例中，多個第二 TFT TB2、TB4、……、TBm_l而非多個第一 TFT TA1、TA3、......、TAm可以處於導通狀態。圖5示出了在另一缺陷狀態下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。總的來說，下面對不同的示例性缺陷狀態之間的區別進行描述。如圖5中所示，當多個第二 TFT TB2、TB4、……、TBm-1處於導通狀態時，僅與短路的線路(例如，短接到第一電壓源ELVDD的線路LI)對應的像素陣列的操作與上面描述的處於普通狀態(B卩，未短接狀態)下的像素有所不同。在圖5中，假設線路LI短接到電壓ELVDD。在線路LI和電壓ELVDD之間可能存在著電阻。線路LI通過導通的第二 TFT TB4而連接到數據線D4。因此，向數據線D4提供與第一電壓源ELVDD的電壓相似的高電平的電壓。因此，通過在圖2中示出的相應的開關電晶體TS向相應的驅動電晶體TD的柵電極提供高電平的電壓。因此，連接到數據線D4的多個像素PX_R以非常低的亮度發光。即，與數據線D4對應地出現暗線。如上所述，可以將電連接到與顯示為暗線的像素列連接的數據線Dl的線路檢測為短路。圖6示出了在另一缺陷狀態(例如，產生了短路的線路)下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。更具體地講，圖6示出了線路LI短接到電壓ELVSS的狀態。如圖6中所示，多個第一開關Tll-Tla和多個第二開關T21-T2b因第一柵極信號和第二柵極信號而全部處於導通狀態，多個第二 TFT TB1、TB3、……、TBm因第二控制信號CON2而處於導通狀態。因此，向數據線D4提供與電壓ELVSS相似的低電平的電壓。因此，通過開關電晶體TS向驅動電晶體TD的柵電極提供低電平的電壓。因此，連接到數據線D4的多個像素PX_R&非常高的亮度發光。即，與數據線D4對應地出現亮線。如上所述，可以將電連接到與顯示為亮線的像素列連接的數據線的線路檢測為是短路的。通過這樣的方法，可以將與多個像素列中的顯示暗線或亮線的像素列對應的像素列對應的線路檢測為是短路的。當線路L2短路，則連接到數據線D2的像素列顯示為亮線(即，相對亮的線)或暗線(即，相對暗的線)，當線路L3短路時，連接到數據線D6的像素列顯示為亮線或暗線，當線路L4短路時，連接到數據線DlO (未示出)的像素列顯示為亮線或暗線。接下來，將參照圖7至圖10來描述分用器200的缺陷檢測方法的示例性實施例。與圖3-圖6相同，為了便於進行描述和進行理解，圖7-圖10示例性地示出了九
(9)個像素列。此外，為了檢測分用器的缺陷，向多條掃描線Sl-Sn發送具有用於導通開關電晶體TS的電平的多個掃描信號。當檢測分用器的缺陷時，可以將紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓GDV和藍色DC電壓BDV的電平確定為能夠檢測在分用器中產生的有缺陷的TFT的適當的電壓。 圖7示出了在另一缺陷狀態(例如，產生了短路的線路)下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。如圖7中所示，僅多個第一開關Tll-Tla和多個第二開關T21_T2b中的一組的開關因第一柵極信號TGSl和第二柵極信號而處於導通狀態。在圖7的示例性實施例中，多個第二開關T21_T2b因第二柵極信號導通，多個第一開關Tll-Tla因第一柵極信號而處於截止狀態。此外，多個第一 TFT TAl、TA3、……、TAm因第一控制信號CONl而處於導通狀態，多個第二 TFT TB2、TB4、……、TBm-1因第二控制信號C0N2而處於導通狀態。因此，紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍色DC電壓BDV通過導通的多個第
二開關 T21-T2b、多個第一 TFT TA1、TA3、......、TAm、以及多個第二 TFT TB2、TB4、......、
TBm-1而連接到多條數據線Dl-Dm。S卩，向顯示單元300的所有的紅色像素PX_R、綠色像素PX_G和藍色像素PX_B提供對應的紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍色DC電壓BDV。在示例性實施例中，用於檢測分用器300的缺陷的紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓GDV和藍色DC電壓BDV可以被確定為與沒有光從對應的像素髮出時的電壓對應的電壓。詳細地講，形成了包括第二開關T21、數據線D4、第二 TFT TB4、第一 TFT TAl和數據線Dl的路徑，將紅色DC電壓RDV提供到與數據線Dl和數據線D4連接的紅色像素PX_R0形成了包括第二開關T22、數據線D5、第一 TFT TA5、第二 TFT TB2和數據線D2的路徑，將綠色DC電壓⑶V提供到與數據線D2和數據線D5連接的多個綠色像素PX_G。形成了包括第二開關T23、數據線D6、第二 TFT TB6、第一 TFT TA3和數據線D3的路徑，將藍色DC電壓BDV提供到與數據線D3和數據線D6連接的多個藍色像素PX_B。通過這樣的方法，如果向所有的像素提供對應的DC電壓，則整個顯示單元300顯示黑色。然而，當在形成分用器200的多個第一 TFT TA1、TA3、……、TAm和多個第二 TFTTB2、TB4、……、TBm-1中產生有缺陷的TFT時，沒有向包括有缺陷的TFT的路徑的數據線提供對應的DC電壓。圖8示出了在另一缺陷狀態(例如，產生了有缺陷的TFT)下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。例如，假設在第二 TFT TB6和第一 TFT TA3中的至少一個TFT是有缺陷的。當第二 TFT TB6是有缺陷的，則沒有向數據線D3提供藍色DC電壓BDV。因此，連接到數據線D3的多個像素PX_B沒有顯示黑色，並以預定的亮度發光。S卩，產生了亮線。當有缺陷的TFT是第一 TFT TA3而非第二 TFT TB6時，連接到數據線D3的像素列顯示亮線。即，連接到該數據線的第一 TFT和第二 TFT中的至少一個TFT是有缺陷的。通過這樣的方法，可以根據亮線產生的位置來檢測第一 TFT或第二 TFT的缺陷。然而，實 施例不限於此，導通的開關可以是多個第一開關Tll-Tla而非多個第二開關 T21-T2b。圖9示出了在另一缺陷狀態下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。如圖9中所示，假設多個第二開關T21_T2b因第二柵極信號而截止，多個第一開關Tll-Tla因第一柵極信號而導通。此外，多個第一 TFT TAl、TA3、……、TAm因第一控制信號CONl而處於導通狀態，多個第二 TFT TB2、TB4、……、TBm-1因第二控制信號C0N2而處於導通狀態。因此，紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍色DC電壓BDV通過導通的多個第
一開關 Tll-Tla、多個第一 TFT TA1、TA3、......、TAm、以及多個第二 TFT TB2、TB4、......、
TBm-1連接到多條數據線Dl-Dm。S卩，可向顯示單元300的所有的紅色像素PX_R、綠色像素PX_G和藍色像素？乂_8提供對應的紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍色DC電壓BDV，用於檢測分用器300的缺陷的紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓GDV和藍色DC電壓BDV可以被確定為可以使像素髮光的電壓。詳細地說，形成了包括第一開關T11、數據線D1、第一 TFT TA1、第二 TFT TB4和數據線D4的路徑，將紅色DC電壓RDV提供到與數據線Dl和數據線D4連接的多個紅色像素PX_R。形成了包括第一開關T12、數據線D2、第二 TFT TB2、第一 TFT TA5和數據線D5的路徑，將綠色DC電壓GDV提供到與數據線D2和數據線D5連接的多個綠色像素PX_G。形成了包括第一開關T13、數據線D3、第一 TFT TA3、第二 TFT TB6和數據線D6的路徑，將藍色DC電壓BDV提供到與數據線D3和數據線D6連接的多個藍色像素PX_G。如果向所有的像素提供對應的DC電壓，則整個顯示單元300顯示黑色。然而，當
在多個第一 TFT TA1、TA3、......、TAm 和多個第二 TFT TB2、TB4、......、TBm-1 中產生了有
缺陷的TFT時，沒有向包括有缺陷的TFT的數據線提供對應的DC電壓。圖10示出了在另一缺陷狀態下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。例如，與圖8中相同，假設第二 TFT TB6和第一 TFT TA3中的至少一個TFT有缺陷。當第二 TFT TB6有缺陷時，則沒有向數據線D6提供藍色DC電壓BDV。因此，連接到數據線D6的多個像素PX_B沒有顯示黑色，而是以預定的亮度進行發光。即，產生了亮線。當有缺陷的TFT是第一 TFT TA3而非第二 TFTTB6時，則連接到數據線D6的像素列仍顯示亮線。即，連接到該數據線的第一 TFT和第二 TFT中的至少一個TFT是有缺陷的。通過這樣的方法，可以根據亮線產生的位置來檢測第一 TFT或第二 TFT中的缺陷。附圖標記說明缺陷檢測裝置100數據線Dl-Dm紅色DC電壓RDV綠色DC電壓⑶V藍色DC電壓BDV柵極線TGl和TG2紅色DC線路DC_R綠色DC線路DC_G藍色DC線路DC_B第一控制開關Tll-Tla顯示單元300第二控制開關T21_T2b掃描線Sl-Sn像素PX_R、PX_G、PX_B開關電晶體TS驅動電晶體TD電容器C有機發光元件OLED第一TFT TA1、TA3、......、TAm第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1第一控制線CLA第二控制線CLB線路Ll-Lk焊盤F1Dl-PDk已經在此對示例性實施例進行了描述，雖然採用了特定性的術語，但是它們僅被用作且僅意在被解釋為是一般性的和舉例說明性的術語而不是處於限制的目的的數據。因此，本領域技術人員應該理解的是，在不脫離如在權利要求中闡述的本實用新型的精神和範圍的情況下，可以在形式和細節方面進行各種改變。
權利要求1.一種使用分用器的缺陷檢測裝置，其特徵在於，分用器將多條數據線中的對應的數據線連接到多條線路，所述缺陷檢測裝置包括: 第一 DC線路至第三DC線路，向第一 DC線路至第三DC線路提供第一 DC電壓至第三DC電壓； 多個第一開關，所述多個第一開關連接到第一 DC線路至第三DC線路，並被構造為根據第一柵極信號而將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發送到所述多條數據線中的多條第一數據線； 多個第二開關，所述多個第二開關連接到第一 DC線路至第三DC線路，並被構造為根據第二柵極信號而將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發送到所述多條數據線中的多條第二數據線。
2.如權利要求1所述的缺陷檢測裝置，其特徵在於，分用器包括: 多個第一 TFT，所述多個第一 TFT連接所述多條線路中的多條第一線路和所述多條數據線中的對應的數據線； 多個第二 TFT，所述多個第二 TFT連接所述多條線路中的多條第二線路和所述多條數據線中的對應的數據線， 其中: 所述缺陷檢測裝置被構造為在當所述多個第一開關和所述多個第二開關處於導通狀態、且僅所述多個第一 TFT或所述多個第二 TFT中的一個TFT處於導通狀態時的狀態下，檢測所述多條線路中的短路缺陷。
3.如權利要求2所述的缺陷檢測裝置，其特徵在於: 當所述多個第一 TFT處於導通狀態時，所述多條線路和所述多條數據線中的對應的線路和數據線分別通過所述多個第一 TFT連接， 當所述多條線路中的一條線路短路時，經所述多條數據線中的對應的數據線連接到該短路的線路的多個像素根據因短路的線路而導致的短路電壓而發光。
4.如權利要求2所述的缺陷檢測裝置，其特徵在於: 當所述多個第二 TFT處於導通狀態時，所述多條線路和所述多條數據線中的對應的線路和數據線分別通過所述多個第二 TFT連接， 當所述多條線路中的一條線路短路時，經所述多條數據線中的對應的數據線連接到該短路的線路的多個像素根據因短路的線路而導致的短路電壓而發光。
5.如權利要求1所述的缺陷檢測裝置，其特徵在於，分用器包括: 多個第一 TFT，所述多個第一 TFT連接多條線路和所述多條數據線中的對應的數據線； 多個第二 TFT，所述多個第二 TFT連接多條線路和所述多條數據線中的對應的數據線； 所述缺陷檢測裝置被構造為在當所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT處於導通狀態、且僅所述多個第一開關或所述多個第二開關中的一個開關處於導通狀態時的狀態下，檢測所述所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT中的短路缺陷。
6.如權利要求5所述的缺陷檢測裝置，其特徵在於: 當所述多個第一開關處於導通狀態、且所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT處於導通狀態時，對應地連接到處於導通狀態的所述多個第一開關的第一數據線通過所述多個第一 TFT和/或所述多個第二 TFT中的對應的TFT而連接到所述多條第二數據線中的對應的第二數據線。
7.如權利要求6所述的缺陷檢測裝置，其特徵在於: 當所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT中的至少一個TFT有缺陷時，所述多條第二數據線中的對應的第二數據線不接收和/或發送第一 DC電壓至第三DC電壓中的DC電壓中的對應的DC電壓。
8.如權利要求5所述的缺陷檢測裝置，其特徵在於: 當所述多個第二開關處於導通狀態、且所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT處於導通狀態時，對應地連接到處於導通狀態的所述多個第二開關的第二數據線通過所述多個第一 TFT和/或所述多個第二 TFT中的對應的TFT而連接到所述多條第一數據線中的對應的第一數據線。
9.如權利要求8所述的缺陷檢測裝置，其特徵在於: 當所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT中的至少一個TFT有缺陷時，所述多條第一數據線中的對應的第一數據線不接收和/或發送第一 DC電壓至第三DC電壓中的DC電壓中的對應的DC電壓。
10.如權利要求1所述的缺陷檢測裝置，其特徵在於: 所述多個第一開關中的每個第一開關包括被構造為接收第一柵極信號的柵電極、連接到第一 DC線路至第三DC線路中的對應的DC線路的第一電極、以及連接到所述多條第一數據線中的對應的數據線的第二電極。
11.如權利要求1所述 的缺陷檢測裝置，其特徵在於: 所述多個第二開關中的每個第二開關包括被構造為接收第二柵極信號的柵電極、連接到第一 DC線路至第三DC線路中的對應的DC線路的第一電極、以及連接到所述多條第二數據線中的對應的數據線的第二電極。
12.—種顯示面板，其特徵在於，所述顯示面板包括: 多條數據線； 多個像素，所述多個像素分別連接到所述多條數據線； 分用器，分用器將多條數據線連接到對應的多條線路； 缺陷檢測裝置，缺陷檢測裝置被構造為檢測多條線路和/或分用器中的缺陷，缺陷檢測裝置包括:多個第一開關，所述多個第一開關被構造為根據第一柵極信號將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發送到多條數據線中的對應的多條第一數據線；多個第二開關，所述多個第二開關被構造為根據第二柵極信號將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發送到多條數據線中的對應的多條第二數據線。
專利摘要本實用新型的實施例涉及一種缺陷檢測裝置和包括該缺陷檢測裝置的顯示面板。分用器可以將多條數據線連接到對應的多條線路。缺陷檢測裝置包括提供有相應的DC電壓的DC線路、連接到DC線路並被構造為根據第一柵極信號將相應的DC電壓發送到多條數據線中的對應的第一數據線的第一開關、以及連接到第一DC線路至第三DC線路並被構造為根據第二柵極信號將各DC電壓中的一個DC電壓發送到所條數據線中的對應的第二數據線的第二開關。因此，可以檢測線路和分用器的缺陷。
文檔編號G09G3/00GK202976770SQ201220563878
公開日2013年6月5日 申請日期2012年10月30日 優先權日2011年12月1日
發明者賈智鉉, 鄭鎮泰 申請人:三星顯示有限公司