高功率半導體雷射器可靠性檢測系統的製作方法
2023-05-28 20:12:16
高功率半導體雷射器可靠性檢測系統的製作方法
【專利摘要】一種高功率半導體雷射器可靠性檢測系統屬於高功率半導體雷射器可靠性檢測裝置領域，該系統包括驅動電源、測試盒、放大器、數據採集處理單元、參數提取單元、存儲單元和列印及顯示單元。該高功率半導體雷射器可靠性檢測系統精度高、性能可靠，體積小巧而且便於攜帶，能夠便捷、高效地滿足高功率半導體雷射器在各種環境條件下的可靠性檢測需求，此外，該可靠性檢測系統還具有結構簡單實用，操作方便，成本低廉，便於推廣普及等優點。
【專利說明】高功率半導體雷射器可靠性檢測系統
【技術領域】
[0001]本實用新型屬於高功率半導體雷射器可靠性檢測裝置領域，具體涉及一種高功率半導體雷射器可靠性檢測系統。
【背景技術】
[0002]雷射器的腔面存在缺陷、發生表面漏電或p-n結退化等老化現象的發生，都會使穩態工作下的高功率半導體雷射器造成過剩電噪聲。這些缺陷在雷射器的老化過程中生長、攀移，將導致器件的量子效率降低，閾值電流升高，進一步加速器件的退化。因此，檢測和考察雷射器兩端的電噪聲信號，就可以作為表徵和評定高功率半導體雷射器工作可靠性的重要指標。
[0003]現有的基於噪聲檢測的高功率半導體雷射器可靠性檢測方法通常是:直接測試待檢測高功率半導體雷射器兩端的電噪聲，然後利用數字頻譜儀對採集到的噪聲信號進行數據採樣分析，並依據其分析結果對所測試的高功率半導體雷射器的可靠性指標進行評價。
[0004]然而，上述的採樣過程操作繁瑣，所得數據分析不夠準確，而且數字頻譜儀沉重、龐大，不具便攜性，因此，研發一種針對高功率半導體雷射器的新型可靠性檢測裝置具有重要意義。
實用新型內容
[0005]為了解決現有高功率半導體雷射器可靠性檢測方法普遍利用數字頻譜儀對採集到的噪聲信號進行數據採樣分析，其採樣過程操作繁瑣，所得數據分析不夠準確，而且數字頻譜儀沉重、龐大，不具便攜性的技術問題，本實用新型提供一種高功率半導體雷射器可靠性檢測系統。
[0006]本實用新型解決技術問題所採取的技術方案如下:
[0007]高功率半導體雷射器可靠性檢測系統包括驅動電源、測試盒、放大器、數據採集處理單元、參數提取單元、存儲單元和列印及顯示單元；其特徵在於，所述驅動電源分別與放大器、數據採集處理單元、參數提取單元、存儲單元和列印及顯示單元相連，並為上述各單元供電；放大器與測試盒相連，數據採集處理單元與放大器相連，參數提取單元與數據採集處理單元相連，存儲單元與參數提取單元相連，列印及顯示單元與存儲單元相連。
[0008]本實用新型的有益效果是:該高功率半導體雷射器可靠性檢測系統精度高、性能可靠，體積小巧且便於攜帶，能夠便捷、高效地滿足高功率半導體雷射器在各種環境條件下的可靠性檢測需求，此外該可靠性檢測系統還具有結構簡單實用，操作方便，成本低廉，便於推廣普及等優點。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0009]圖1是本實用新型高功率半導體雷射器可靠性檢測系統的結構框圖。【具體實施方式】
[0010]下面結合附圖對本實用新型做進一步詳細說明。
[0011]如圖1所示，本實用新型的高功率半導體雷射器可靠性檢測系統包括驅動電源、測試盒、放大器、數據採集處理單元、參數提取單元、存儲單元和列印及顯示單元。驅動電源分別與放大器、數據採集處理單元、參數提取單元、存儲單元和列印及顯示單元相連，並為上述各單元供電。放大器與測試盒相連，數據採集處理單元與放大器相連，參數提取單元與數據採集處理單元相連，存儲單元與參數提取單元相連，列印及顯示單元與存儲單元相連。
[0012]驅動電源選用12V蓄電池，測試盒的外殼採用鐵框架方盒，並外敷銅質薄金屬盒作為屏蔽層。放大器選用DeltaTr0n2671型前置放大器，數據採集處理單元選用PC1-6014型數據採集卡，存儲單元採用聯想PC機、列印及顯示單元根據不同需求，可選用電腦顯示器顯示或使用佳能印表機列印輸出。
[0013]具體應用本實用新型的高功率半導體雷射器可靠性檢測系統時，將待測試的高功率半導體雷射器樣品放入測試盒，在驅動電源的驅動下，待測試的高功率半導體雷射器進入穩態工作，此時，通過放大器對由雷射器傳遞給測試盒的的噪聲信號進行採樣，該噪聲信號經放大器採樣並放大後輸出給數據採集處理單元，數據採集處理單元濾除雜波信號後輸出信號給參數提取單元，參數提取單元利用領域內通用的壓縮感知法從收到的信號中提取出用以檢測待測雷射器可靠性的有效信號，並將依據有效信號得到的檢測結果輸出給存儲單元，存儲單元存儲檢測結果並將檢測結果傳送給列印及顯示單元，列印及顯示單元根據用戶需要對檢測結果進行列印或顯示。
[0014]本實用新型的高功率半導體雷射器可靠性檢測系統精度高、性能可靠，體積小巧而且便於攜帶，能夠便捷、高效地滿足高功率半導體雷射器在各種環境條件下的可靠性檢測需求，此外該可靠性檢測系統還具有結構簡單實用，操作方便，成本低廉，便於推廣普及等優點。
【權利要求】
1.高功率半導體雷射器可靠性檢測系統，包括驅動電源、測試盒、放大器、數據採集處理單元、參數提取單元、存儲單元和列印及顯示單元；其特徵在於，所述驅動電源分別與放大器、數據採集處理單元、參數提取單元、存儲單元和列印及顯示單元相連，並為上述各單元供電；放大器與測試盒相連，數據採集處理單元與放大器相連，參數提取單元與數據採集處理單元相連，存儲單元與參數提取單元相連，列印及顯示單元與存儲單元相連。
【文檔編號】G01R31/26GK203606464SQ201320802753
【公開日】2014年5月21日 申請日期:2013年12月9日 優先權日:2013年12月9日
【發明者】白端元, 高欣, 薄報學, 周路 申請人:長春理工大學