一種大功率雷射參數的測量裝置的製作方法

2023-06-10 21:12:01 4

專利名稱：一種大功率雷射參數的測量裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及大功率或大能量的雷射信號測量領域，尤其涉及ー種大功率雷射參數的測量裝置及方法。
背景技術：
應用於雷射加工或其他特殊領域的大功率雷射器，針對ー些特殊設計的大功率雷射器，由於平均功率或是脈衝能量過高，市場上沒有可以適用的雷射功率計或是能量計，通常用大型的水箱或黑體吸收入射雷射能量，通過檢測水或者黑體的溫度升高對雷射的功率或能量進行測量。為了達到能量吸收的目的，這種機構通常體積較為龐大，而且為了達到準確測量其溫升的目的，測量裝置要有良好的保溫、隔熱，測量裝置在吸收雷射能量的時候也要保證溫度分布均勻，這些都為測量裝置的研製提出了很高的要求。

發明內容
本發明的目的是針對現有技術存在的不足，提供ー種大功率雷射參數的測量裝置。本發明的目的是通過以下技術方案來實現的ー種大功率雷射參數測試裝置，它主要由分束鏡、計算機和若干個參數測試單元組成，所述分束鏡具有若干反射面，每個反射面的反射光路上置ー參數測試單元，每個參數測試單元包括一能量測試單元和一功率測試單元，所有參數測試單元的能量
測試單元和功率測試單元均與計算機相連；所述分束鏡的反射面的方程為
權利要求
1.ー種大功率雷射參數測試裝置，其特徵在於，它主要由分束鏡、計算機和若干個參數測試單元組成，所述分束鏡具有若干反射面，每個反射面的反射光路上置ー參數測試單元，姆個參數測試單元包括一能量測試單元和一功率測試單元，所有參數測試單元的能量測試單元和功率測試單元均與計算機相連；所述分束鏡的反射面的方程為
2.根據權利要求I所述大功率雷射參數測試裝置，其特徵在於，所述 ，所述分束鏡的反射酬方程為:
全文摘要
本發明公開了一種大功率雷射參數測試裝置，它主要由分束鏡、計算機和若干個參數測試單元組成，所述分束鏡具有若干反射面，每個反射面的反射光路上置一參數測試單元，每個參數測試單元包括一能量測試單元和一功率測試單元，所有參數測試單元的能量測試單元和功率測試單元均與計算機相連；本發明將大功率/能量的雷射分成多束光束，降低了對單個功率/能量探頭的量程和損傷閾值的要求，擴大了探頭可測量範圍，從而能夠便捷準確地測量大功率/能量的雷射的參數；降低了大功率/能量的雷射的測量成本。
文檔編號G01J1/00GK102853904SQ20121021520
公開日2013年1月2日 申請日期2012年6月27日 優先權日2012年6月27日
發明者項震, 黨東妮, 高衛, 孫奕帆, 王泗宏, 葉際斌 申請人:浙江大學, 北京跟蹤與通信技術研究所