靜電放電測試裝置及靜電放電測試方法與流程

2023-05-29 17:19:01

本發明涉及靜電放電(electro-staticdischarge,esd)測試領域，具體涉及一種靜電放電測試裝置及靜電放電測試方法。

背景技術：

現有的電子設備為了實現更好的便利性和擴充性，大都配備有多個外接埠，例如usbport(通用串行總線接口)等。由於此類電子設備支持熱插拔功能，在系統運行的過程中電子設備可能會受到因使用者插拔外接設備產生的靜電放電所帶來的襲擊，而造成系統宕機或數據損失。因此，現今電子設備都必須通過靜電放電測試。

在現有的靜電放電測試過程中，一般是選取不同標準的esd器件對待測試設備(equipmentundertest,eut)進行靜電放電，然後檢查待測試設備的功能及狀態是否符合要求。在整個測試過程中，靜電放電的能量無法量化，不利於測試人員有目的性的選擇esd器件。

技術實現要素：

有鑑於此，本發明提供一種靜電放電測試裝置及靜電放電測試方法，能夠量化測試過程中靜電放電的能量，有利於測試人員有目的性的選擇esd器件。

本發明一實施例的靜電放電測試裝置，包括示波器和同軸線，同軸線用於實現示波器和待測試設備之間的連接，示波器用於獲取待測試設備在靜電放電測試過程中產生的電信號，並將電信號進行圖像化標識。

本發明一實施例的靜電放電測試方法，包括：

通過同軸線實現待測試設備和示波器之間的連接；

所述示波器獲取待測試設備在靜電放電測試過程中產生的電信號，並將所述電信號進行圖像化標識。

有益效果：本發明通過與待測試設備連接的示波器獲取待測試設備在靜電放電測試過程中產生的電信號，並將電信號進行圖像化標識，因此能夠量化測試過程中靜電放電的能量，有利於測試人員有目的性的選擇esd器件。

附圖說明

圖1是本發明一實施例的靜電放電測試裝置的結構示意圖；

圖2是本發明另一實施例的靜電放電測試裝置的結構示意圖；

圖3是本發明一實施例的靜電放電測試方法的流程示意圖；

圖4是本發明另一實施例的靜電放電測試方法的流程示意圖。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明所提供的各個示例性的實施例的技術方案進行清楚、完整地描述。在不衝突的情況下，下述各個實施例以及實施例中的特徵可以相互組合。

請參閱圖1，為本發明一實施例的靜電放電測試裝置。所述靜電放電測試裝置10包括同軸線11和示波器12。

同軸線11可以包括至少三層結構，最內層是用於傳送高電平信號(即靜電放電測試過程中產生的電信號)的導電金屬芯，例如銅芯，中間層是包裹導電金屬芯的絕緣材料，最外層是用於傳送低電平信號的筒狀導電金屬薄層，該筒狀導電金屬薄層與導電金屬芯共軸，起到屏蔽外界信號的作用。

同軸線11作為一種信號傳輸線，其用於實現示波器12和待測試設備之間的連接，將待測試設備在靜電放電測試過程中產生的電信號傳輸至示波器12。其中，同軸線11的兩端可以設置有sma(subminiatureatype,迷你型)連接器，基於此，同軸線11通過其兩端設置的sma連接器分別與示波器12和待測試設備連接。

示波器12用於獲取待測試設備在靜電放電測試過程中產生的電信號(即靜電放電的能量)，並將電信號進行圖像化標識。

在測試過程中，esd器件對待測試設備進行靜電放電，靜電放電所產生的瞬態電信號通過同軸線11傳輸至示波器12，示波器12將該瞬態電信號以圖像化形式顯示在其屏幕上。具體地，該瞬態電信號表現為一波形信號，通過示波器12屏幕上標識的量化坐標，本實施例能夠量化測試過程中靜電放電的能量，測試人員可以直觀的讀取靜電放電的能量數值，繼而再根據待測試設備的功能及狀態是否符合要求有目的性的選擇其他esd器件以進行下一次測試。

請參閱圖2，為本發明一實施例的靜電放電測試裝置。除了同軸線21和示波器22之外，所述靜電放電測試裝置20還可以包括電壓衰減組件23和電磁屏蔽組件24中的至少一個。

在本實施例中，同軸線21和示波器22的結構與原理可參閱上述對同軸線11和示波器12的描述，此處不再贅述。

電壓衰減組件23連接於同軸線21和待測試設備之間，並用於調整靜電放電測試過程中產生的電信號，例如使得所述電信號衰減1000倍，使得示波器22獲取調整後的電信號。也就是說，電壓衰減組件23能夠將靜電放電測試過程中產生的電信號進行衰減，以避免過大的電信號功率損壞示波器22。在實際應用場景中，電壓衰減組件23可以由一個或級聯的多個電壓衰減器組成，例如電壓衰減組件23可以由三個衰減量為-10db的電壓衰減器級聯組成，此時，同軸線11可通過sma連接器與第一個電壓衰減器連接，而最後一個電壓衰減器可以連接有焊接點或金屬探針，並通過焊接點或金屬探針與待測試設備連接，由此電壓衰減組件23能夠將靜電放電測試過程中產生的電信號衰減1000倍。

電磁屏蔽組件24的內部設有容置空間，在esd測試過程中示波器22放置於該容置空間，從而能夠屏蔽外界電磁信號對示波器22的影響，確保esd測試結果的可靠性。在實際應用場景中，電磁屏蔽組件24包括但不限於為法拉第電磁籠。

請參閱圖3，為本發明一實施例的靜電放電測試方法。所述靜電放電測試方法可以包括步驟s31和s32。

s31：通過同軸線實現待測試設備和示波器之間的連接。

同軸線可以包括至少三層結構，最內層是用於傳送靜電放電測試過程中產生的電信號的導電金屬芯，例如銅芯，中間層是包裹導電金屬芯的絕緣材料，最外層是用於傳送低電平信號的筒狀導電金屬薄層，該筒狀導電金屬薄層與導電金屬芯共軸，起到屏蔽外界信號的作用。

同軸線的兩端可以設置有sma連接器，基於此，同軸線可以通過其兩端設置的sma連接器分別與示波器和待測試設備連接。

s32：示波器獲取待測試設備在靜電放電測試過程中產生的電信號，並將所述電信號進行圖像化標識。

在測試過程中，esd器件對待測試設備進行靜電放電，靜電放電所產生的瞬態電信號通過同軸線傳輸至示波器，示波器將該瞬態電信號以圖像化形式顯示在其屏幕上。具體地，該瞬態電信號表現為一波形信號，通過示波器屏幕上標識的量化坐標，本實施例能夠量化測試過程中靜電放電的能量，測試人員可以直觀的讀取靜電放電的能量數值，繼而再根據待測試設備的功能及狀態是否符合要求有目的性的選擇其他esd器件以進行下一次測試。

本實施例的靜電放電測試方法可以由圖1所述實施例的靜電放電測試裝置10的各個元件對應執行，因此具有與其相同的技術效果。

請參閱圖4，為本發明另一實施例的靜電放電測試方法。所述靜電放電測試方法可以包括步驟s41～s43。

s41：在同軸線和待測試設備之間連接電壓衰減組件，並通過同軸線連接電壓衰減組件和待測試設備。

為了屏蔽外界電磁信號對示波器的影響，確保esd測試結果的可靠性，本實施例可以將示波器放置於電磁屏蔽組件內部開設的容置空間中，該電磁屏蔽組件包括但不限於為法拉第電磁籠。

s42：電壓衰減組件調整待測試設備在靜電放電測試過程中產生的電信號。

電壓衰減組件連接於同軸線和待測試設備之間，並用於調整靜電放電測試過程中產生的電信號，例如使得所述電信號衰減1000倍，使得示波器獲取調整後的電信號。也就是說，電壓衰減組件能夠將靜電放電測試過程中產生的電信號進行衰減，以避免過大的電信號功率損壞示波器。在實際應用場景中，電壓衰減組件可以由一個或級聯的多個電壓衰減器組成，例如電壓衰減組件可以由三個衰減量為-10db的電壓衰減器級聯組成，此時，同軸線可通過sma連接器與第一個電壓衰減器連接，而最後一個電壓衰減器可以連接有焊接點或金屬探針，並通過焊接點或金屬探針與待測試設備連接，由此電壓衰減組件能夠將靜電放電測試過程中產生的電信號衰減1000倍。

s43：示波器獲取調整後的電信號，並將調整後的電信號進行圖像化標識。

本實施例的靜電放電測試方法可以由圖2所述實施例的靜電放電測試裝置20的各個元件對應執行，因此具有與其相同的技術效果。

以上所述僅為本發明的實施例，並非因此限制本發明的專利範圍，凡是利用本發明說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，例如各實施例之間技術特徵的相互結合，或直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本發明的專利保護範圍內。