一種pcb板上細間距排針的測試裝置的製作方法

2023-06-07 08:12:26 2

專利名稱：一種pcb板上細間距排針的測試裝置的製作方法
技術領域：
—種PCB板上細間距排針的測試裝置
技術領域：
本實用新型涉及一種PCB板上插座的測試裝置，特別涉及一種PCB板上細間距排針的測試裝置。
背景技術：
在PCB測試行業中，有一種標準通用的測試點規程，四密度和雙密度，每一個測試點必須與等測試電路連接。現有的PCB板測試方法都是通過連線將測試電路引腳直接焊接在測試接觸點，進行測試工作，然而現在的電路板集成度越來越高，焊點越來越小，密度越來越密。PCB板的布局空間越來越小。引出測試點越發困難。因此現有的測試裝置難以適應高密度的測試，或者由於測試間距太近時，針套容易彎折，導致燒毀PCB板上器件。

發明內容本實用新型要解決的技術問題，在於提供一種PCB板上細間距排針的測試裝置， 它能夠用於高密度插座的測試，而且克服了相鄰兩根針之間接觸導致短路的問題。本實用新型是這樣實現的一種PCB板上細間距排針的測試裝置，它包括一針床， 所述針床上設置有PCB定位銷，所述針床的面板上設置有與所述插座相對應的插座定位框，所述插座定位框內設置有與插座中的插針相對應的探針，相鄰兩探針之間通過探針定位框相隔離，所述探針對應連接於測試裝置上的測試電路。進一步的，所述探針的頂端設置為與插針的形狀大小相對應的漏鬥形。本實用新型的優點在於本實用新型採用插座定位框，實現探針與插座插針的初步定位，所述探針的頂端設置為與插針的形狀大小相對應的漏鬥形，使得插針和對應的探針會一一對應，本實用新型使用了探針定位框，測試時相對應的探針和插針都退入探針定位框中，保證相鄰兩根針之間完全隔離，保證相鄰探針不接觸，因此本發明無需引出測試點，可以直接測試高密度插座，並防止燒毀PCB板上器件。

下面參照附圖結合實施例對本實用新型作進一步的說明。圖I是本實用新型的剖面結構示意圖。
具體實施方式請參閱圖I所示，對本實用新型的實施例進行詳細的說明。如圖I，本實用新型一種PCB板上細間距排針的測試裝置，它包括一針床I，所述針床I上設置有PCB定位銷2，所述針床I的面板上設置有與所述插座3相對應的插座定位框
4，所述插座定位框4內設置有與插座3中的插針5相對應的探針6，所述探針6的頂端設置為與插針5的形狀大小相對應的漏鬥形。相鄰兩探針6之間通過探針定位框7相隔離，所述探針6對應連接於測試裝置上的測試電路。將待測PCB8放置在針床I面板上，開始測試的時候，將待測PCB8緊密的壓在針床 I面板上，PCB定位銷2的彈性被抵消，此時，插座3內的插針5與針床I上的插座定位框4 內的探針6—一對應接觸，而探針6與針床I上的開關卡(測試裝置的主測試單元)上的對應的點接觸，即在待測PCB8和開關卡之間形成了一個迴路。此時，測試裝置就可以對該待測PCB8的電氣性能進行判定了。在測試的時候，通過插座定位框4的預定位，使得插座3內的插針5與探針6達到初步定位；因為所述探針6的頂端設置為與插針5的形狀大小相對應的漏鬥形，插針5會進入對應探針6頂端的漏鬥形內，因此插針5和對應的探針6會——對應。將待測PCB8繼續壓下的時候，相對應的探針6和插針5都退入探針定位框7中， 從而保證了相鄰兩根插針5或者探針6不會短路，影響測試。本實用新型測試適用於PCB板上高密度插座的測試，比如1. 27間距引線的測試。以上所述，僅為本實用新型較佳實施例而已，故不能依此限定本實用新型實施的範圍，即依本實用新型專利範圍及說明書內容所作的等效變化與修飾，皆應仍屬本實用新型涵蓋的範圍內。
權利要求1.一種PCB板上細間距排針的測試裝置，它包括一針床，所述針床上設置有PCB定位銷，其特徵在於所述針床的面板上設置有與所述插座相對應的插座定位框，所述插座定位框內設置有與插座中的插針相對應的探針，相鄰兩探針之間通過探針定位框相隔離，所述探針對應連接於測試裝置上的測試電路。
2.根據權利要求I所述的一種PCB板上細間距排針的測試裝置，其特在於所述探針的頂端設置為與插針的形狀大小相對應的漏鬥形。
專利摘要本實用新型提供了一種PCB板上細間距排針的測試裝置，它包括一針床，所述針床上設置有PCB定位銷，所述針床的面板上設置有與所述插座相對應的插座定位框，所述插座定位框內設置有與插座中的插針相對應的探針，相鄰兩探針之間通過探針定位框相隔離，所述探針對應連接於測試裝置上的測試電路。本實用新型能夠用於高密度插座的測試，而且克服了相鄰兩根針之間接觸導致短路的問題。
文檔編號G01R31/00GK202351345SQ201120449188
公開日2012年7月25日 申請日期2011年11月14日 優先權日2011年11月14日
發明者曹小蘇, 李登希, 蘇龍, 許宗庚 申請人:福建聯迪商用設備有限公司