測針器的製造方法
2023-06-05 01:28:21 1
測針器的製造方法
【專利摘要】本實用新型提供一種測針器，其包括：光源、光學組件、測量平臺、圖像傳感器、顯示模塊及控制晶片；光學組件包括光源調整透鏡和測量放大透鏡，光源位於所述光學調整透鏡的一側，測量平臺位於所述光源調整透鏡和測量放大透鏡之間的光路上，所述光源發出的光線經光源調整透鏡改變入射角度後，通過所述測量放大透鏡，所述圖像傳感器接收通過測量放大透鏡的光線，並進行成像；所述控制晶片與所述圖像傳感器進行數據傳輸，並接收圖像傳感器上圖像的幀信息；所述顯示模塊用於顯示控制晶片的計算結果。本實用新型的測針器能夠更精準測量出刀具鑽孔及成型加工之前的直徑，解決細小刀具在加工之前針位放錯問題，及加工之前對刀具下鑽及加工深度的精準識別問題。
【專利說明】測針器
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種用於對刀具的直徑、加工精度進行測量的裝置。
【背景技術】
[0002]現有對位儀器只能提供深度對位，無法識別刀具直徑。同時只有機械的對位方法，由於機械對位方法自身存在的缺陷，無法滿足細小刀具精準對位的需求，從而導致細小刀具在加工之前經常容易發生針位放錯，影響了使用細小刀具的工藝的生產加工效率。
[0003]有鑑於此，針對上述問題，有必要提出進一步的解決方案。
實用新型內容
[0004]本實用新型的目的在於提供一種測針器，以克服現有的對位儀器無法對細小刀具的直徑和加工精度進行精確測量的問題。
[0005]為實現上述實用新型目的，本實用新型的一種測針器，其包括:源、光學組件、測量平臺、圖像傳感器、顯示模塊及控制晶片；
[0006]所述光學組件包括光源調整透鏡和測量放大透鏡，所述光源位於所述光學調整透鏡的一側，所述測量平臺位於所述光源調整透鏡和測量放大透鏡之間的光路上，所述光源發出的光線經光源調整透鏡改變入射角度後，通過所述測量放大透鏡，所述圖像傳感器接收通過測量放大透鏡的光線，並進行成像；
[0007]所述控制晶片與所述圖像傳感器進行數據傳輸，並接收圖像傳感器上圖像的幀信息;
[0008]所述顯示模塊用於顯示控制晶片的計算結果。
[0009]作為本實用新型的測針器的改進，所述測針器還包括光源擋板，所述光源擋板相對設置，所述光源發出的光線通過所述光源擋板之間空間入射到所述光源調整透鏡上。
[0010]作為本實用新型的測針器的改進，所述測針器還包括透鏡固定架，所述光源調整透鏡和測量放大透鏡分別固定於所述相應的透鏡固定架上。
[0011]作為本實用新型的測針器的改進，所述光源為紅外LED燈。
[0012]作為本實用新型的測針器的改進，所述測針器還包括外殼，所述光源、光學組件、測量平臺、圖像傳感器安裝於所述外殼內部。
[0013]作為本實用新型的測針器的改進，所述圖像傳感器為CMOS圖像傳感器。
[0014]作為本實用新型的測針器的改進，所述控制晶片與所述顯示模塊進行電性連接。
[0015]與現有技術相比，本實用新型的有益效果是:本實用新型的測針器能夠更精準測量出刀具鑽孔及成型加工之前的直徑，解決細小刀具在加工之前針位放錯問題，及加工之前對刀具下鑽及加工深度的精準識別問題。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0016]圖1為本實用新型的測針器一【具體實施方式】的模塊示意圖。
【具體實施方式】
[0017]下面結合附圖所示的各實施方式對本實用新型進行詳細說明，但應當說明的是，這些實施方式並非對本實用新型的限制，本領域普通技術人員根據這些實施方式所作的功能、方法、或者結構上的等效變換或替代，均屬於本實用新型的保護範圍之內。
[0018]如圖1所示，本實用新型的測針器100包括:光源10、光學組件20、測量平臺30、圖像傳感器40、控制晶片50及顯示模塊90。
[0019]所述光學組件20包括光源調整透鏡21和測量放大透鏡22，其中，光源調整透鏡21用於對自光源10發出的光線的入射角度進行改變，所述測量放大透鏡22用於放大被測量刀具直徑的尺寸。具體地，所述光源10位於所述光學調整透鏡21的一側，所述測量平臺30位於所述光源調整透鏡21和測量放大透鏡22之間的光路上，所述光源10發出的光線經光源調整透鏡21改變入射角度後，通過所述測量放大透鏡22。所述測量平臺30用於放置帶測量的刀具，由於測量平臺30位於光源調整透鏡21和測量放大透鏡22之間的光路上，從而，經光源調整透鏡21改變入射角度後的光線照射在被測測量刀具上，被測量刀具的尺寸則經測量放大透鏡22進行放大。
[0020]上述實施方式中，所述光源10為紅外LED燈，所述測針器100還包括光源擋板60，該光源擋板60用於使光源發出的光線集中照射到光源調整透鏡21上。具體地，所述光源擋板60相對設置，所述光源10發出的光線通過所述光源擋板60之間空間入射到所述光源調整透鏡21上。
[0021]進一步地，所述測針器100還包括透鏡固定架70，所述光源調整透鏡21和測量放大透鏡22分別固定於所述相應的透鏡固定架70上。
[0022]所述圖像傳感器40用於接收通過測量放大透鏡22的光線，並對經過尺寸放大的被測量刀具進行成像，優選地，所述圖像傳感器40為CMOS圖像傳感器。
[0023]所述控制晶片50具有若干引腳，通過該若干引腳，控制晶片50與所述顯示模塊90進行電性連接。同時，控制晶片50根據圖像傳感器上的影像，通過圖像傳感器顯示被測刀具的直徑、下鑽及加工精度。顯示模塊90用於顯示控制晶片50的計算結果。具體地，被測量刀具成像後，控制晶片接收圖像傳感器上圖像幀信息，控制晶片根據所呈圖像的放大倍數及幀信息，確定被測刀具的直徑、下鑽及加工精度。
[0024]所述測針器還包括外殼80，所述光源10、光學組件20、測量平臺30、圖像傳感器40安裝於所述外殼80內部，該外殼80對光學組件20、測量平臺30、圖像傳感器40進行保護，所述外殼80上還安裝有蓋板，當需要對相應刀具進行測量時，打開蓋板即可進行刀具的測量。
[0025]綜上所述，本實用新型的測針器能夠更精準測量出刀具鑽孔及成型加工之前的直徑，解決細小刀具在加工之前針位放錯問題，及加工之前對刀具下鑽及加工深度的精準識另IJ問題。
[0026]對於本領域技術人員而言，顯然本實用新型不限於上述示範性實施例的細節，而且在不背離本實用新型的精神或基本特徵的情況下，能夠以其他的具體形式實現本實用新型。因此，無論從哪一點來看，均應將實施例看作是示範性的，而且是非限制性的，本實用新型的範圍由所附權利要求而不是上述說明限定，因此旨在將落在權利要求的等同要件的含義和範圍內的所有變化囊括在本實用新型內。不應將權利要求中的任何附圖標記視為限制所涉及的權利要求。
[0027]此外，應當理解，雖然本說明書按照實施方式加以描述，但並非每個實施方式僅包含一個獨立的技術方案，說明書的這種敘述方式僅僅是為清楚起見，本領域技術人員應當將說明書作為一個整體，各實施例中的技術方案也可以經適當組合，形成本領域技術人員可以理解的其他實施方式。
【權利要求】
1.一種測針器，其特徵在於，所述測針器包括:光源、光學組件、測量平臺、圖像傳感器、顯示模塊及控制晶片； 所述光學組件包括光源調整透鏡和測量放大透鏡，所述光源位於所述光學調整透鏡的一側，所述測量平臺位於所述光源調整透鏡和測量放大透鏡之間的光路上，所述光源發出的光線經光源調整透鏡改變入射角度後，通過所述測量放大透鏡，所述圖像傳感器接收通過測量放大透鏡的光線，並進行成像； 所述控制晶片與所述圖像傳感器進行數據傳輸，並接收圖像傳感器上圖像的幀信息； 所述顯示模塊用於顯示控制晶片的計算結果。
2.根據權利要求1所述的測針器，其特徵在於，所述測針器還包括光源擋板，所述光源擋板相對設置，所述光源發出的光線通過所述光源擋板之間空間入射到所述光源調整透鏡上。
3.根據權利要求1所述的測針器，其特徵在於，所述測針器還包括透鏡固定架，所述光源調整透鏡和測量放大透鏡分別固定於相應的透鏡固定架上。
4.根據權利要求1所述的測針器，其特徵在於，所述光源為紅外LED燈。
5.根據權利要求1所述的測針器，其特徵在於，所述測針器還包括外殼，所述光源、光學組件、測量平臺、圖像傳感器安裝於所述外殼內部。
6.根據權利要求1所述的測針器，其特徵在於，所述圖像傳感器為CMOS圖像傳感器。
7.根據權利要求1所述的測針器，其特徵在於，所述控制晶片與所述顯示模塊進行電性連接。
【文檔編號】G01B11/08GK204202559SQ201420701111
【公開日】2015年3月11日 申請日期:2014年11月20日 優先權日:2014年11月20日
【發明者】莊漢錚 申請人:崑山鴻富洋機電有限公司