一種測試系統中多個測試通道的轉換方法
2023-06-23 09:36:21 1
專利名稱：一種測試系統中多個測試通道的轉換方法
技術領域：
本發明涉及電子產品測試領域，尤其涉及一種電子產品測試系統中的多個測試通道自動轉換的方法。
背景技術：
目前電子產品的測試手段大都為利用規模化生產的產品的物理尺寸、電子特性一致的特點，採用測試模具的方法，將被測產品放入測試模具中實現與測試儀器儀表等設備的快速連接，用計算機集成控制從而完成各項參數測試。由於測試儀器較貴，出於成本和設備體積等因素的考慮，幾乎都採用單套測試儀器配合通道切換來實現對多個產品的流水線式測試。該方法應用非常普遍，較適合電子產品的多PCB板聯板測試，具有連接可靠、測試效率高的優點。尤其採用流水線模式測試，使測試設備基本不間斷地進行測試，有效提高了測試設備的利用效率。但是有一些產品由於產品特性的原因，不能夠進行聯板狀態的自動化流水線模式測試，需要由操作人員手工操作放入測試模具進行測試，這樣在產品放入測試模具和從測試模具中取出過程中，測試儀器儀表就會處於等待狀態，不能進行測試，導致測試儀表的使用效率較低，造成測試能力的浪費。對此狀況，通常是採用一套測試儀表連接A、B兩個測試模具，即A進行測試時，操作人員對B進行更換被測產品的工作，A測試完成後，操作人員發出指令讓測試系統切換至B進行測試，反之亦然。如此往復交替，來提高測試儀器的使用效率。對於大部分產品的測試，尤其測試周期較長的，該方法是有效的，但是對於測試周期非常短的產品，效果就不太明顯，比如如果測試時間比更換被測產品的時間短很多的情況下，測試儀表的使用效率就非常低。如果增加測試通道，如圖1所示，比如增加C、D測試模具或更多測試模具，會解決該問題，但一個操作人員操作兩個以上或更多的測試模具，極易疲勞，不能保證操作準確。若是多個操作人員進行操作，需要解決多人操作的協調問題。如果還採用傳統的流水線式測試模式，即按照A- > B- > C- > D- > A- >唚的順序進行測試，每次流水線都會對各通道進行逐一判斷，如圖2所示的流程，如果其中任一或多個通道未被使用，這種工作就沒有必要，也浪費時間。
發明內容
有鑑於現有技術的上述缺陷，本發明所要解決的技術問題是在現有技術的電子產品測試系統的多個測試通道流水線切換方式的基礎上，提供了一種能提高測試設備利用效率的多個測試通道自動轉換的方法。為實現上述目的，本發明提供了一種測試通道自動切換的方法，技術方案如下:在每個測試通道的末端設置用於判斷該通道是否準備就緒的開關；創建一個啟動測試命令隊列，用於存放所有測試通道的啟動測試命令；步驟1，依次判斷每個測試通道是否準備就緒，若準備就緒，將該測試通道的啟動測試命令存入所創建的啟動測試命令隊列中。如此以一定的時間間隔反覆執行。
步驟2，從啟動測試命令隊列中提取啟動測試命令，並啟動相應測試通道的測試，測試完成後再從啟動測試命令隊列中提取下一命令，如此反覆執行。其中步驟I和步驟2獨立工作，通過啟動測試命令隊列中的數據協調配合，進行測試過程中的測試通道自動轉換的控制。進一步地，所述時間間隔小於所有待測產品的單件測試時間的最小值。進一步地，所述時間間隔為20ms。進一步地，所述時間間隔包括依次判斷各通道是否準備就緒步驟所需的去抖判斷時間。進一步地，依次判斷各測試通道是否準備就緒的步驟是通過測試通道末端的開關的狀態來進行判斷的。進一步地，各測試通道的末端設置有測試模具，待測電子產品是放置在測試模具上進行測試的。進一步地，測試通道末端的開關是設置於測試通道末端的測試模具上的。進一步地，設置於測試通道末端的測試模具上的開關為限位開關。本發明的有益效果在於:在對現有技術的電子產品測試系統硬體結構基本無需改動的情況下，將判斷各測試通道的狀態和啟動測試這兩個過程分開。進一步地，通過一個定時地依次判斷各測試通道是否準備就緒，並將準備就緒的測試通道的啟動測試命令存入預先創建的測試命令隊列的步驟和另外一個從啟動測試命令隊列中提取啟動測試命令並啟動相應測試通道的測試的步驟的獨立工作，控制整個測試系統，減少了測試過程中等待的時間，實現各測試通道之間的自動轉換。相對於現有技術的流水線式測試方法，特別是在有一個或多個測試通道未使用的情況下，本發明的方法可以明顯減少測試系統在測試過程中的空餘等待時間。同時結合待測產品的實際情況，合理地設置步驟一中的時間間隔，也可以減少測試系統在測試過程中的空餘等待時間。所以，利用本發明的方法，可以明顯地提高測試儀器的使用效率。以下將結合附圖對本發明的構思、具體結構及產生的技術效果作進一步說明，以充分地了解本發明的目的、特徵和效果。
圖1是現有技術中電子產品測試系統的系統連接圖(以四個測試通道為例)。圖2是現有技術中的電子產品測試系統的控制流程圖(以四個測試通道為例)。圖3是使用本發明的電子產品測試系統的控制流程圖(以四個測試通道為例)。
具體實施例方式下面結合附圖來具體說明本發明的實施例。如圖1所示的電子產品測試系統，可以看到，該測試系統有四個測試通道A、B、C和D，各測試通道的一端通過測試通道轉換設備分別連接於測試儀器和控制該測試系統的計算機，另一端連接於各自的測試模具，整個測試過程由計算機集成控制。在現有技術中，利用如圖2所示的流水線式測試方法，對各個測試通道依次進行如下工作:判斷該測試通道是否準備就緒，若準備就緒，就啟動該測試通道的測試，若沒有準備就緒或者該測試通道未使用，則進入下一個測試通道。而將本發明的技術方案應用於該測試系統，在每一個測試模具上設置一個限位開關，當被測電子產品在測試模具中被放置到位時，限位開關導通，當被測產品從測試模具中被拿出後，限位開關斷開。如圖3所示，在控制該測試系統的計算機控制程序中開闢一個線程，如圖3中的線程一，該線程以20ms(其中包含IOms的去抖判斷時間)的周期依次記錄並存儲各測試通道的限位開關的狀態，並依次對每個測試通道所記錄的限位開關的狀態和存儲的該測試通道限位開關前一次的紀錄狀態進行比較來判斷該測試通道是否準備就緒。如果一個測試通道的限位開關前一次記錄的狀態為斷開，而本次記錄的狀態為導通，則判斷為該測試通道已經準備就緒，並將一個該測試通道的啟動測試命令存入啟動測試命令隊列。而控制測試系統的計算機控制程序的另外一個線程，如圖3所示的線程二，該線程從啟動測試命令隊列中依次提取啟動測試命令，並根據啟動測試命令啟動相應通道的測試，該通道的測試完成後再到啟動測試命令隊列中提取下一個啟動測試命令，依次反覆進行。兩個線程獨立工作，通過啟動測試命令隊列的數據協調配合，實現測試過程中的測試通道自動切換。通過以上技術方案，實現了在測試系統硬體結構基本沒有改動的情況下，多個測試通道的自動切換，減少了測試過程中的空餘等待時間，提高了測試儀器的使用效率。在本實施例中，測試系統的測試通道的數目為四個。當然，本發明並不限於此，實際使用中可以根據需要，自由增減測試通道，實現多個測試通道之間的自動切換。以上詳細描述了本發明的較佳具體實施例。應當理解，本領域的普通技術人員無需創造性勞動就可以根據本發明的構思做出諸多修改和變化。因此，凡本技術領域的技術人員依本發明的構思在現有技術的基礎上通過邏輯分析、推理或者有限的實驗可以得到的技術方案，皆應在由權利要求書所確定的保護範圍內。
權利要求
1.一種電子產品測試系統中多個測試通道的轉換方法，其特徵在於， 在所述電子產品測試系統的每個測試通道的末端設置一個用於判斷該測試通道是否準備就緒的開關； 創建一個用於存放所述測試系統的所有測試通道的啟動測試命令的隊列； 步驟1，以一定的時間間隔反覆執行如下步驟:依次判斷所述測試系統的所述每個測試通道是否準備就緒，若準備就緒，將該準備就緒的測試通道的所述啟動測試命令存入所述啟動測試命令隊列中； 步驟2，反覆執行如下步驟:從所述啟動測試命令隊列中提取所述啟動測試命令並啟動所述相應通道的測試，測試完成後再從所述啟動測試命令隊列中提取下一啟動測試命令； 其中，步驟I和步驟2獨立工作，通過所述啟動測試命令隊列的數據協調配合，進行所述測試系統的測試通道的自動轉換的控制。
2.根據權利要求1所述的電子產品測試系統中多個測試通道的轉換方法，其特徵在於，所述時間間隔小於所有待測電子產品的單件測試時間的最小值。
3.根據權利要求2所述的電子產品測試系統中多個測試通道的轉換方法，其特徵在於，所述時間間隔包括依次判斷該通道是否準備就緒的步驟所需的去抖判斷時間。
4.根據權利要求3所述的電子產品測試系統中多個測試通道的轉換方法，其特徵在於，所述時間間隔為20ms。
5.根據權利要求1或4所述的電子產品測試系統中多個測試通道的轉換方法，其特徵在於，依次判斷各測試通道是否準備就緒的步驟是通過測試通道末端的開關的狀態來進行判斷的。
6.根據權利要求5所述的電子產品測試系統中多個測試通道的轉換方法，其特徵在於，各測試通道的末端設置有測試模具，待測電子產品是放置在測試模具上進行測試的。
7.根據權利要求6所述的電子產品測試系統中多個測試通道的轉換方法，其特徵在於，所述測試通道末端的開關是設置於測試通道末端的測試模具上的。
8.根據權利要求7所述的電子產品測試系統中多個測試通道的轉換方法，其特徵在於，所述測試通道末端的開關為限位開關。
全文摘要
本發明公開了一種電子產品測試系統中多個測試通道的轉換方法，該技術方案包括在測試系統的每個測試通道的末端設置一個用於判斷該測試通道是否準備就緒的開關；創建一個用於存放測試系統的所有測試通道的啟動測試命令的隊列；步驟1，依次判斷測試系統的每個測試通道是否準備就緒，若準備就緒，將該準備就緒的測試通道的啟動測試命令存入啟動測試命令隊列中，每隔一定的時間間隔如此反覆；步驟2，從啟動測試命令隊列中提取啟動測試命令並啟動相應通道的測試，測試完成後再從啟動測試命令隊列中提取下一啟動測試命令，如此反覆；其中，步驟1和步驟2獨立工作，通過啟動測試命令隊列的數據協調配合，實現測試系統的測試通道的自動轉換。通過該轉換方法，實現電子產品測試系統中的多測試通道的自動轉換，提高了測試儀器的利用效率。
文檔編號G01R31/01GK103163407SQ20111041331
公開日2013年6月19日 申請日期2011年12月13日 優先權日2011年12月13日
發明者高強 申請人:上海明凱照明有限公司, 上海市照明燈具研究所有限公司