一種半導體測試機的線材接線頭裝置的製作方法

2023-06-02 01:49:46 1

專利名稱：一種半導體測試機的線材接線頭裝置的製作方法
技術領域：
一種半導體測試機的線材接線頭裝置技術領域[0001]本實用新型涉及半導體元器件測試技術領域，特別涉及一種半導體測試機的線材接線頭裝置。
背景技術：
[0002]現有技術中，半導體測試機外殼與線材連接的線材接線頭僅設有一接線頭外殼， 線材由於重力的作用會產生向下的作用力，但由於接線頭外殼不與重力方向相同，在線材連接到接線頭外殼上時，線材表面會與接線頭外殼形成一定的角度，從而造成擠壓。[0003]在生產測試使用過程中，測試機經常需要拖擺在不同的地方，在這過程中測試機主體上的測試線材接線頭與線材容易出現損傷，從而造成整體設備的不穩定。實用新型內容[0004]本實用新型的目的在於避免上述現有技術中的不足之處而提供一種避免線材與線材接線頭由於相互摩擦而產生的磨損的線材接線頭。[0005]本實用新型的目的通過以下技術方案實現[0006]提供了一種半導體測試機的線材接線頭裝置，包括有固定於設備外殼的接線頭公外殼和與所述接線頭公外殼連接的接線頭母外殼，所述接線頭公外殼之間設有接觸線材的接線頭探針，所述接線頭母外殼包括連接部和彎折部，所述彎折部與重力方向一致。[0007]其中，所述接線頭母外殼套接於所述接線頭公外殼。[0008]其中，所述接線頭公外殼套接於所述接線頭母外殼。[0009]其中，所述接線頭探針設於所述接線頭公外殼中間。[0010]其中，所述接線頭探針包括有接線頭公探針和接線頭母探針，所述接線頭公探針的一端固定於所述設備外殼，所述接線頭公探針的另一端與所述接線頭母探針的一端連接，所述接線頭母探針的另一端與線材連接。[0011]本實用新型的有益效果[0012]提供了一種半導體測試機的線材接線頭裝置，包括有固定於設備外殼的接線頭公外殼和與所述接線頭公外殼連接的接線頭母外殼，所述接線頭公外殼之間設有接觸線材的接線頭探針，所述接線頭母外殼包括連接部和彎折部，所述彎折部與重力方向一致。線材連接至線材接線頭的彎折部，由於彎折部與重力方向一致，線材表面與彎折部平行，從而避免線材與線材接線頭由於相互摩擦而產生的磨損。


[0013]利用附圖對本實用新型作進一步說明，但附圖中的實施例不構成對本實用新型的任何限制，對於本領域的普通技術人員，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據以下附圖獲得其它的附圖。[0014]圖I為本實用新型的一種半導體測試機的線材接線頭裝置的實施例I的結構示意[0015]圖2為本實用新型的一種半導體測試機的線材接線頭裝置的實施例2的結構示意圖。[0016]附圖標記[0017]I-設備外殼、2-接線頭公外殼、31-連接部、32-彎折部、41-接線頭公探針、42-接線頭母探針、5-線材。
具體實施方式
[0018]結合以下實施例對本實用新型作進一步描述。[0019]實施例I[0020]本實用新型的一種半導體測試機的線材接線頭裝置的具體實施方式
之一，如圖I 所示，包括有固定於設備外殼I的接線頭公外殼2和與所述接線頭公外殼2連接的接線頭母外殼，所述接線頭公外殼2之間設有接觸線材5的接線頭探針，所述接線頭母外殼包括連接部31和彎折部32，所述彎折部32與重力方向一致。[0021]線材5連接至線材5接線頭，即線材5連接至所述彎折部32，由於彎折部32與重力方向一致，線材5表面與彎折部32平行，從而避免線材5與線材5接線頭由於相互摩擦而產生的磨損。[0022]在本實施例中，所述接線頭母外殼套接於所述接線頭公外殼2。[0023]其中，所述接線頭探針設於所述接線頭公外殼2中間。所述接線頭探針用於與線材5接觸連接，並通過次連接設備進行工作。[0024]所述接線頭探針包括有接線頭公探針41和接線頭母探針42，所述接線頭公探針 41的一端固定於所述設備外殼1，所述接線頭公探針41的另一端與所述接線頭母探針42 的一端連接，所述接線頭母探針42的另一端與線材5連接。[0025]所述接線頭探針接觸部分為易損件，所述接線頭探針分為兩部分便於接線頭探針的更換和維護。[0026]實施例2[0027]本實用新型的一種半導體測試機的線材接線頭裝置的具體實施方式
之二，本實施例的主要技術方案與實施例I相同，在本實施例中未解釋的特徵，採用實施例I中的解釋， 在此不再進行贅述。本實施例與實施例I的區別在於所述接線頭公外殼2套接於所述接線頭母外殼。[0028]最後應當說明的是，以上實施例僅用以說明本實用新型的技術方案，而非對本實用新型保護範圍的限制，儘管參照較佳實施例對本實用新型作了詳細地說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本實用新型的技術方案進行修改或者等同替換，而不脫離本實用新型技術方案的實質和範圍。
權利要求1.一種半導體測試機的線材接線頭裝置，包括有固定於設備外殼的接線頭公外殼和與所述接線頭公外殼連接的接線頭母外殼，所述接線頭公外殼之間設有接觸線材的接線頭探針，其特徵在於所述接線頭母外殼包括連接部和彎折部，所述彎折部與重力方向一致。
2.根據權利要求I所述一種半導體測試機的線材接線頭裝置，其特徵在於所述接線頭母外殼套接於所述接線頭公外殼。
3.根據權利要求I所述一種半導體測試機的線材接線頭裝置，其特徵在於所述接線頭公外殼套接於所述接線頭母外殼。
4.根據權利要求I至3中任一項所述一種半導體測試機的線材接線頭裝置，其特徵在於所述接線頭探針設於所述接線頭公外殼中間。
5.根據權利要求4所述一種半導體測試機的線材接線頭裝置，其特徵在於所述接線頭探針包括有接線頭公探針和接線頭母探針，所述接線頭公探針的一端固定於所述設備外殼，所述接線頭公探針的另一端與所述接線頭母探針的一端連接，所述接線頭母探針的另一端與線材連接。
專利摘要本實用新型涉及接線頭技術領域，特別涉及一種半導體測試機的線材接線頭裝置；其結構包括有固定於設備外殼的接線頭公外殼和與所述接線頭公外殼連接的接線頭母外殼，所述接線頭公外殼之間設有接觸線材的接線頭探針，其特徵在於所述接線頭母外殼包括連接部和彎折部，所述彎折部與重力方向一致；本實用新型提供一種避免線材與線材接線頭由於相互摩擦而產生的磨損半導體測試機的線材接線頭。
文檔編號G01R31/00GK202815109SQ20122044052
公開日2013年3月20日 申請日期2012年8月31日 優先權日2012年8月31日
發明者李健, 羅徑華, 何錦文 申請人:傑群電子科技(東莞)有限公司